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专利名称：一种用于测量槽、孔深度的千分尺的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及ー种测量工具，尤其是涉及ー种用于测量槽、孔深度的千分尺。
背景技术：
现有技术中，千分尺是对物品外形尺寸进行测量的常用工具，千分尺包括弓形尺架和设置于弓形尺架两端的测头，其工作方式一般是通过测头与物品的外表面接触来获取数据，在测量过程中，测头与物品表面的接触状况影响结果的准确性。而对于物品不规则的外表面而言，测头与外表面的接触受到物品外形的限制，如对外表面的凹槽深度测量过程中，测头需深入凹槽内进行測量，其測量结果的准确性受到测头能否伸入凹槽内、继而能否与凹槽内表面最低点接触成为测量数据是否准确的主要影响因素。如测量图I所示的圆形 刀片的上表面凹槽深度H时，如采用图2所示的标准千分尺，则因其上下测头大小相同，一般为直径均为Φ6. 5mm，而凹槽宽度小于6. 5mm，上测头无法深入凹槽内，而对于被测物品下表面较大的圆形刀片而言，Φ6. 5mm的测头端面不足以有效支撑，或使圆形刀片等被测物品无法平稳地置于测头上，以使其保持正确的测量角度，底面难以形成正确的测量基准，无法快速准确地完成測量。

实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种用于测量槽、孔深度的千分尺，它可用于测量被测物品上的槽、孔深度，具有測量准确、操作方便的优点。本实用新型所采用的技术方案为一种用于测量槽、孔深度的千分尺，包括弓形尺架和设置于弓形尺架两端的上测头和下测头，其特征在干所述的上测头的柱体下端为针式测头，所述下测头柱体的上端设置有面积大于测头柱体的接触片。作为对本实用新型的进ー步改进，所述针式测头的针头点与上测头柱体同轴设置，所述接触片是与下测头柱体同心设置的圆盘。作为对本实用新型的进ー步改进，所述的接触片与下测头柱体的直径比例为3、
Io作为对本实用新型的进ー步改进，所述的上下测头和接触片是由硬质合金材料做成。作为对本实用新型的进ー步改进，所述的接触片的直径为Φ2(Γ30πιπι，厚度为3 Dmm0本实用新型的有益效果在干由于本实用新型的上测头下端设置有针形上测头，可方便上测头深入需要测量的槽、孔中，可避免因上测头柱体过大无法完成测量的问题，另一方面，本实用新型在的下测头设置有面积较大的接触片，可增大测量工具与被测物品的接触面积，以利于被测物品处于正确的接触状态，形成符合原设计要求的測量基准。使上测头的下端头与上测头的上平面所形成的測量空间与理论被测參数相同。这种针式上测头可以更准的接触到槽、孔的最大深度，从而最大限度地减小测量误差，保证测量数据的准确性，且操作方便，被测物品置于接触片上后的測量准备时间短，作业效率高。本实用新型可以作为标准的深度千分尺使用，尤其适用于硬质合金数控刀片或硬质合金带槽刀片的槽型深度測量。
以下结合附图
对本实用新型作进ー步补充说明。图I为被测量物品结构示意图。图2为现有技术中千分尺的结构示意图。 图3为本实用新型的结构示意图。图中1-弓形尺架，2-测头201-上测头，202-下测头，3、下测头接触片，4、控制装置，5-针式测头。
具体实施方式
为了使本实用新型所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，
以下结合附图对本实用新型进行进一歩详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。实施例I一种用于测量槽、孔深度的千分尺，如图3所示，包括弓形尺架I和设置于弓形架两端的测头2，测头2包括上测头201及下测头202，由设置于弓形尺架I另一端点上的控制装置4控制，可相对于下测头202移动上测头201，上下测头均为Φ直径6. 5mm的圆柱体。上测头201端部设置针式测头5，下测头端部设置大于测头2柱体的接触片3，接触片3直径Φ 20mm,厚度为2mm，上测头201针式测头5的针尖与测头2柱体同心同轴，下测头202与测头2柱体同心设置，接触片3与上测头201是由硬质合金材料做成，加工过程中保证针式测头5、接触片3和测头2柱体同心度，平面度符合国家标准要求。实施例2一种用于测量槽、孔深度的千分尺，如图3所示，包括弓形尺架I和设置于弓形架两端的测头2，测头2包括上测头201及下测头202，由设置于弓形尺架I另一端点上的控制装置4控制，可相对于下测头202移动上测头201，上下测头均为Φ直径6. 5mm的圆柱体。上测头201端部设置针式测头5，下测头端部设置大于测头2柱体的接触片3，接触片3直径Φ 30mm，厚度为4mm，上测头201的针式测头5的针尖与测头2柱体同心同轴，下测头202与测头2柱体同心设置，接触片3与上测头201是由硬质合金材料做成，加工过程中保证针式测头5、接触片3和测头2柱体同心度，平面度符合国家标准要求。由于本实用新型的上测头设置有针式测头5，上测头可方便地深入需要测量的槽、孔中，如深入到图I所示的圆刀片上表面的凹槽中，并与凹槽的底面最深点接触，而由于本实用新型在的下测头设置有面积较大的接触片3，可增大测量工具与被测物品的接触面积，如圆刀片的下表面由接触片3托持，使刀片底面形成符合原设计要求的測量基准，从而最大限度地减小测量误差，保证测量数据的准确性，且操作方便，被测物品置于接触片3上后的測量准备时间短，作业效率高。[0023]以上实施例仅为本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本领 域技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，所作出的若干改进，也应视为本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种用于测量槽、孔深度的千分尺，包括弓形尺架和设置于弓形尺架两端的上测头和下测头，其特征在于所述的上测头的柱体下端为针式测头，所述下测头柱体的上端设置有面积大于测头柱体的接触片。
2.根据权利要求I所述的用于测量槽、孔深度的千分尺，其特征在于所述针式测头的针头点与上测头柱体同轴设置，所述接触片是与下测头柱体同心设置的圆盘。
3.根据权利要求I所述的用于测量槽、孔深度的千分尺，其特征在于所述的接触片与下测头柱体的直径比例为3飞1。
4.根据权利要求I所述的用于测量槽、孔深度的千分尺，其特征在于所述的上下测头和接触片是由硬质合金材料做成。
5.根据权利要求I所述的用于测量槽、孔深度的千分尺，其特征在于所述的接触片的直径为Φ 20 30mm,厚度为3 5mm。
专利摘要一种用于测量槽、孔深度的千分尺，包括弓形尺架和设置于弓形尺架两端的上测头和下测头，其特征在于所述的上测头的柱体下端为针式测头，所述下测头柱体的上端设置有面积大于测头柱体的接触片。由于本实用新型的上测头设置有针形上测头，可方便上测头深入需要测量的槽、孔中，可避免因上测头柱体过大无法完成测量的问题，另一方面，本实用新型在的下测头设置有面积较大的接触片，可增大测量工具与被测物品的接触面积，以利于被测物品处于正确的接触状态，形成符合原设计要求的测量基准。它具有测量准确、操作方便的优点。
文档编号G01B3/18GK202452909SQ201220078270
公开日2012年9月26日 申请日期2012年3月5日 优先权日2012年3月5日
发明者陈明, 黄舟 申请人:株洲精工硬质合金有限公司