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专利名称：基于脚本控制的芯片测试方法、装置及系统的制作方法
技术领域：
本申请涉及自动测试领域，特别是涉及一种基于脚本控制的芯片测试方法装置及 系统。
背景技术：
现有的集成电路芯片初期测试通常在实验室中手动完成，需要测试人员花费大量 的时间重复性的对芯片性能指标进行统计测试，而且对测试仪器按键损耗较大，也容易导 致错误的频繁发生，同时测试条件受到各种人为因素的制约(不同的测试人员会用不同的 测试习惯和读数习惯等)，从而影响测试数据的效果。通常做法是使用编程工具如Visual C++编程，调用仪器接口库文件，将可编程仪 器标准命令SCPI写入程序代码中，然后进行编译形成可执行文件。连接测试仪器和待测电 路形成测试系统，运行该程序，调整参数选项进行远程分布式测试。但是上述运用编程的方法，需要将SCPI命令编写到程序源代码中，即将具体测试 内容与测试系统的源代码紧密融合在一起，编译后成为可执行文件。修改调整测试内容时， 需要将仪器的SCPI命令从源程序代码中找出，进行增删，修改程序重新编译；这需要精通 该编程语言的程序员来编制，受到大量与测试内容非紧密相关的程序源代码干扰，编程时 工作量大，难度大，容易出错。并且这种方法因为需要第三方编译器的介入，实现过程比较 繁琐。另外，其面对的是较固定的测试项目，可扩展性差。

发明内容
为解决上述技术问题，本申请实施例提供一种基于脚本控制的芯片测试方法、装 置及系统，将具体测试内容置于脚本文件中，而与测试平台分离，达到远程测试的简便，灵 活的目的。技术方案如下一种基于脚本控制的芯片测试方法，包括主控制服务器启动测试平台，在所述测试平台中运行脚本，并发送可编程仪器标 准命令SCPI到信号源；所述信号源根据所述可编程仪器标准命令SCPI将产生的激励信号输送到待测集 成电路；所述待测集成电路在所述激励信号的作用下改变电路状态；
分析仪器检测所述待测集成电路的电路状态；主控制服务器发送可编程仪器标准命令SCPI到所述分析仪器，采集所述分析仪 器检测的所述待测集成电路的电路状态数据。上述的方法，优选的，所述测试平台运行脚本的过程为所述测试平台接收用户导入的脚本；对所述脚本进行预处理，解析所述脚本中含有的仪器对象和远程接口，并打开所述仪器对象；分析所述经过预处理脚本的逻辑关系；根据所述逻辑关系对所述仪器对象进行远程指令控制。一种基于脚本控制的芯片测试装置，包括含有测试平台的主控制服务器、信号 源、分析仪器和待测集成电路；其中所述主控制服务器用于启动所述测试平台，在所述测试平台中运行用户上 传的脚本，并发送SCPI命令到所述信号源和所述分析仪器，并采集所述分析仪器检测的所 述待测集成电路的电路状态数据；所述信号源用于根据所述SCPI命令将其产生的激励信号输送到待测集成电路；所述待测集成电路用于接收所述激励信号，并在所述激励信号的作用下改变电路 状态；所述分析仪器用于检测所述待测集成电路的电路状态。上述的装置，优选的，所述测试平台包括用户操作单元、脚本接收单元、脚本预处理单元、脚本解释单元、虚拟仪器接口单 元和数据保存单元；所述用户操作单元用于用户对脚本进行编辑，并将编辑的脚本导入所述脚本接收 单元；所述脚本接收单元用于接收所述用户操作单元导入的脚本，并将所述脚本发送至 脚本预处理单元；所述脚本预处理单元用于对脚本进行预处理，解析所述脚本中含有的仪器对象和 远程接口，并打开所述仪器对象；所述脚本解释单元用于分析经过所述脚本预处理单元预处理的脚本的逻辑关系， 并根据所述逻辑关系，对所述仪器对象进行远程指令控制；所述虚拟仪器接口单元用于屏蔽远程接口之间的差异，使脚本中的仪器对象只需 用名称即可标识和访问；所述数据保存单元用于对采集的所述分析仪器检测的所述待测集成电路的电路 状态数据进行保存。上述的装置，优选的，所述数据保存单元保存的数据格式为电子表格格式。一种基于脚本控制的芯片测试系统，包括客户端、应用端及基于脚本控制的芯片 测试装置。由以上本申请实施例提供的技术方案可见，本申请将脚本引入到测试过程中，将 测试运行平台与控制逻辑和仪器控制指令分离开来；使得测试运行平台是相对固定的，经 常修改变化的内容通过脚本来体现。测试运行平台提供了脚本运行的平台，而与测试的项 目具体内容没有关联，所以是相对固定的，系统运行更加稳定安全。脚本修改简便易行，大 大减少了程序编制的难度和工作量，也提高了测试效率。


为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下， 还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本申请实施例实现基于脚本控制的芯片测试方法的流程图；图2为本申请实施例公开的测试平台运行脚本的流程图；图3为本申请实施例公开的基于脚本控制的芯片测试装置结构图；图4为本申请实施例公开的基于脚本控制的芯片测试装置的又一结构图；图5为本申请实施例公开的测试平台的具体结构图；图6为本申请实施例公开的基于脚本控制的芯片测试系统的结构图。
具体实施例方式本申请实施例提供一种基于脚本的芯片测试方法、装置和系统。主控制服务器运 行自动测试软件和脚本，发送SCPI命令到信号源，信号源将其产生的激励信号输送到待测 集成电路，待测集成电路发生的变化被所连接的分析仪器检测，主控制服务器通过发送控 制指令到分析仪器采集相关数据，然后保存到主控制服务器中。以上是本申请的核心思想，为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案。下 面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显 然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实 施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应 当属于本申请保护的范围。本申请实施例实现基于脚本控制的芯片测试方法的流程图如图1所示，实现步骤 如下步骤S101 主控制服务器启动测试平台，在所述测试平台中运行脚本，并发送可 编程仪器标准命令SCPI到信号源；步骤S102 信号源根据可编程仪器标准命令SCPI将产生的激励信号输送到待测 集成电路；步骤S103 待测集成电路在激励信号的作用下改变电路状态；步骤S104 分析仪器检测待测集成电路的电路状态；步骤S105 主控制服务器发送可编程仪器标准命令SCPI到分析仪器，采集分析仪 器检测的待测集成电路的电路状态数据。本申请实施例公开的测试平台运行脚本的流程图如图2所示，实现步骤如下步骤S201 测试平台接收用户导入的脚本；步骤S202 对脚本进行预处理，解析脚本中含有的仪器对象和远程接口，并打开 仪器对象；步骤S203 分析经过预处理脚本的逻辑关系；步骤S204 根据逻辑关系对仪器对象进行远程指令控制。本申请实施例公开的基于脚本控制的芯片测试装置结构图如图3所示，包括含 有测试平台312的主控制服务器301、信号源302、分析仪器304和待测集成电路303 ；主控制服务器301用于启动测试平台312，在测试平台312中运行用户上传的脚本 311，发送SCPI命令到信号源302和分析仪器304，并采集分析仪器304检测的待测集成电路303的电路状态数据；信号源302用于根据SCPI命令将其产生的激励信号输送到待测集成电路303 ；待测集成电路303用于接收信号源302发送的激励信号，并在激励信号的作用下 改变电路状态；分析仪器304用于检测待测集成电路303的电路状态。在应用本申请实施例公开的基于脚本控制的芯片测试装置前，首先需要连接远程 联机接口，通常是GPIB接口、串口、以太网等硬件接口等；用户需要使用脚本语言编写脚本文件；编写的脚本是一个计算机文件，有文件名， 其内容可包含顺序执行、条件执行、循环执行等结构，用户按照测试项目需求编写脚本文 件，并将远程联机接口定义和控制指令编入脚本，其中指令以字符串形式，两边加引号，在 脚本文件中增加数据采集和保存的指令，使测试数据能够采集和保存，多测试项可以放到 同一个脚本文件进行测试。脚本文件中也可以只描述测试逻辑关系，控制命令，而仪器定义部分另外描述或 使用测试平台软件查找、添加；用户打开测试平台，导入编好的脚本文件，即可运行。本申请实施例公开的基于脚本控制的芯片测试装置的又一结构图如图4所示，由 图4知，本申请实施例公开的装置通过可编程标准命令SCPI联网控制多个测试仪器协同测
试o主控制服务器可以发送SCPI命令给多个信号源，每个信号源在主控制服务器发 送的SCPI命令下分别将其产生的激励信号发送到待测集成电路；分析仪器检测待测集成电路在与其分析仪器相对应的信号源发送的激励信号的 作用下的电路状态；主控制服务器还可以发送与发送给信号源的SCPI命令相对应的SCPI 命令给分析仪器，获取分析仪器检测的待测集成电路的电路状态数据。本申请实施例公开的测试平台的具体结构图如图5所示，包括用户操作单元 401、脚本接收单元402、脚本预处理单元403、脚本解释单元404、虚拟仪器接口单元405和 数据保存单元406;用户操作单元401用于用户对脚本进行编辑，并将编辑的脚本导入脚本接收单元 402 ；脚本接收单元402用于接收所述用户操作单元401导入的脚本，并将脚本发送至 脚本预处理单元403 ；脚本预处理单元403用于对脚本进行预处理，解析所述脚本中含有的仪器对象和 远程接口，并打开所述仪器对象；脚本解释单元404用于分析经过所述脚本预处理单元403预处理的脚本的逻辑关 系，并根据经过预处理单元403处理的脚本中的逻辑关系，对仪器对象进行远程指令控制；虚拟仪器接口单元405用于屏蔽远程接口之间的差异，使脚本中的仪器对象只需 用名称即可标识和访问；虚拟接口单元405提供各种接口的驱动程序，统一接口的操作方 法，使得应用程序通过访问句柄可以访问各种通讯协议的仪器，如RS232，LXI,GPIB, PXI等 通讯协议。 数据保存单元406用于对采集的分析仪器304检测的待测集成电路的电路状态数 据进行保存，将电路状态数据保存成电子表格格式或其他文件格式。
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脚本预处理单元403对脚本预处理过程具体为先在脚本文件首部中找出联网仪 器并定义关键字，分离该文本行，获取脚本中的引用名称和仪器访问地址；然后通过访问地 址打开仪器，得到仪器的访问句柄，利用一个二维数组存储该仪器引用名称和访问句柄，形 成两者对应关系。后续通过在二维数组中查找引用名称，可以得到对应得仪器访问句柄，因 此，脚本文件中引用名称可变换为访问句柄，进而访问和操作对应仪器。依次处理脚本文件 所有定义的联网仪器，建立引用名称到联网仪器的一一映射的关系。因此，本发明能够同时 定义多个远程仪器，在测试中操作多个联网仪器协同工作。脚本解释单元将脚本文件中其余的内容逐行读入，分析其中的逻辑关系，作用的 仪器对象，脚本中仪器使用的SCPI命令。本申请实施例公开的基于脚本控制的芯片测试系统的结构图如图6所示，包括: 客户端501、基于脚本控制的芯片测试装置502和应用端503 ；其中客户端501用于为客户提供可操作的平台；基于脚本控制的芯片测试装置502用于对远程仪器进行测试；应用端503用于具体实施测试过程。本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部 分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。以上所述仅是本 申请的具体实施方式
，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原 理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。
权利要求
一种基于脚本控制的芯片测试方法，其特征在于，包括主控制服务器启动测试平台，在所述测试平台中运行脚本，并发送可编程仪器标准命令SCPI到信号源；所述信号源根据所述可编程仪器标准命令SCPI将产生的激励信号输送到待测集成电路；所述待测集成电路在所述激励信号的作用下改变电路状态；分析仪器检测所述待测集成电路的电路状态；主控制服务器发送可编程仪器标准命令SCPI到所述分析仪器，采集所述分析仪器检测的所述待测集成电路的电路状态数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试平台运行脚本的过程为 所述测试平台接收用户导入的脚本；对所述脚本进行预处理，解析所述脚本中含有的仪器对象和远程接口，并打开所述仪 器对象；分析所述经过预处理脚本的逻辑关系；根据所述逻辑关系对所述仪器对象进行远程指令控制。
3.一种基于脚本控制的芯片测试装置，其特征在于，包括含有测试平台的主控制服 务器、信号源、分析仪器和待测集成电路；其中所述主控制服务器用于启动所述测试平台，在所述测试平台中运行用户上传的 脚本，并发送SCPI命令到所述信号源和所述分析仪器，并采集所述分析仪器检测的所述待 测集成电路的电路状态数据；所述信号源用于根据所述SCPI命令将其产生的激励信号输送到待测集成电路； 所述待测集成电路用于接收所述激励信号，并在所述激励信号的作用下改变电路状态；所述分析仪器用于检测所述待测集成电路的电路状态。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述测试平台包括用户操作单元、脚本接收单元、脚本预处理单元、脚本解释单元、虚拟仪器接口单元和 数据保存单元；所述用户操作单元用于用户对脚本进行编辑，并将编辑的脚本导入所述脚本接收单元；所述脚本接收单元用于接收所述用户操作单元导入的脚本，并将所述脚本发送至脚本 预处理单元；所述脚本预处理单元用于对脚本进行预处理，解析所述脚本中含有的仪器对象和远程 接口，并打开所述仪器对象；所述脚本解释单元用于分析经过所述脚本预处理单元预处理的脚本的逻辑关系，并根 据所述逻辑关系，对所述仪器对象进行远程指令控制；所述虚拟仪器接口单元用于屏蔽远程接口之间的差异，使脚本中的仪器对象只需用名 称即可标识和访问；所述数据保存单元用于对采集的所述分析仪器检测的所述待测集成电路的电路状态 数据进行保存。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述数据保存单元保存的数据格式为电 子表格格式。
6.一种基于脚本控制的芯片测试系统，其特征在于，包括客户端、应用端及权利要求 3 5任一项所述的基于脚本控制的芯片测试装置。
全文摘要
本申请公开了一种基于脚本控制的芯片测试方法、装置和系统，其特征在于，包括主控制服务器启动测试平台，在测试平台中运行脚本，发送可编程仪器标准命令SCPI到信号源；信号源根据可编程仪器标准命令SCPI将产生的激励信号输送到待测集成电路；待测集成电路在激励信号的作用下改变电路状态；分析仪器检测待测集成电路的电路状态；主控制服务器发送可编程仪器标准命令SCPI到分析仪器，采集分析仪器检测的待测集成电路的电路状态数据。本申请公开的方法将脚本引入到测试过程中，脚本修改简便易行，大大减少了程序编制的难度和工作量，也提高了测试效率。
文档编号G01R31/00GK101799506SQ20101015305
公开日2010年8月11日 申请日期2010年4月21日 优先权日2010年4月21日
发明者叶晖, 李俊鸿, 郑卫国 申请人:广州市广晟微电子有限公司