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专利名称：Led灯具寿命测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及检测试验仪器技术领域，尤其涉及一种LED灯具寿命测试系统。
背景技术：
LED以其体积小、发光效率高和寿命长等三大特点著称，被认为是下一代的绿色照 明光源。理论上LED芯片的使用寿命可达到10万小时，但是由于LED的封装结构和工艺的 影响，实际LED寿命没有10万小时，特别是白光LED目前其使用寿命远远小于10万小时， 有些甚至只有几千小时。由于LED芯片质量和封装技术的差别，LED的寿命良莠不齐，具有 很大的差异，而要想测试LED真正的使用寿命又十分困难。如果一颗LED的寿命有5万小 时，那么正常测完这颗LED就需要至少5. 8年的时间。同样，将LED设计成照明灯具之后， 如果正常测试也要花很长的时间才能得出真正的寿命结果，几乎所有LED灯具生产企业都 无法给出其LED产品的使用寿命，消费者就无从知晓所购买的LED灯能使用多久。因此如 何快速、正确地得到LED灯具的使用寿命成为了一个必须解决的难题。

实用新型内容有鉴于此，为了解决上述问题，本实用新型提出一种LED灯具寿命测试系统，可减 少LED灯具寿命检测耗时长的问题。本实用新型的目的是这样实现的LED灯具寿命测试系统，包括测试箱和信号处 理计算机，测试箱内设置有实时温控系统、光探测系统和LED安装供电系统，实时冷热温控 系统和光探测系统与信号处理计算机电连接。进一步，所述测试箱包括箱体、箱体的一侧设置有箱门；所述箱体内壁设有漫反射 层；进一步，所述LED安装供电系统包括可置换安装夹具和恒流电源，恒流电源与可 置换安装夹具的电源输入端口电连接；进一步，所述实时冷热温控系统包括温度探头、温度控制器和冷热交换片，所述冷 热交换片与温度探头分别与温度控制器电连接，所述温度控制器与信号处理计算机电连 接；进一步，所述冷热交换片设置于箱体内的一侧，冷热交换片的一侧设置有挡板，挡 板上设置有进风口和出风口，进风口处设置有风扇；进一步，所述光感探测系统包括光信号收集头和光信号探测器；光信号收集头设 置于箱体内，光信号收集头上覆盖有不透明挡板，光信号探测器与光信号收集头电连接，光 信号探测器与信号处理计算机电连接。本实用新型LED灯具寿命测试系统工作时，用户输入灯具类型、用途、LED等信息， 计算机通过温控系统控制箱体内测试温度为一恒定值，并在一段时间内通过光探测系统收 集光信息、温度信息，将收集到的信息经由传输线送回计算机，计算机上软件通过查找数据 库方式确定灯具寿命范围。[0011]整个测试过程在1-2小时内完成，解决了现有技术中LED灯具寿命测试时间过长 的问题。本实用新型的其它优点、目标，和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐 述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或 者可以从本实用新型的实践中得到教导。本实用新型的目标和其它优点可以通过下面的说 明书，权利要求书，以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

为了使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用 新型作进一步的详细描述图1是LED灯具寿命测试系统箱体结构示意图；图2是LED灯具寿命测试系统结构示意图。
具体实施方式
以下将对本实用新型的优选实施例进行详细的描述。参见图1、图2，LED灯具寿命测试系统，包括测试箱和信号处理计算机，测试箱内 设置有实时温控系统、光探测系统和LED安装供电系统，实时冷热温控系统和光探测系统 与信号处理计算机60电连接。所述测试箱包括箱体10、箱体10的一侧设置有箱门11 ；所述箱体10内壁设有漫
反射层。所述LED安装供电系统包括可置换安装夹具20和恒流电源22，恒流电源22与可 置换安装夹具20的电源输入端口电连接；恒流电源22为被测LED日光灯管21提供工作电 流；安装夹具20可根据被测灯具的不同而更换。所述实时冷热温控系统包括温度探头40、温度控制器31和冷热交换片30，所述冷 热交换片30与温度探头40分别与温度控制器31电连接，所述冷热交换片30设置于箱体 10内的一侧，冷热交换片30的一侧设置有挡板，挡板上设置有进风口 34和出风口 33，进风 口 34处设置有风扇32，所述温度控制器31与信号处理计算机电连接。冷热交换片30由温 度控制器31来控制并驱动。温度探头40将温度信号转换为电信号通过温度控制器31传 输给计算机60，计算机60根据箱内温度将控制信号反馈给温度控制器31调整温度，使箱内 温度恒定；工作时风扇32转动，空气从出风口 33流出，从进风口 34流回，使箱内各点温度 均勻。所述光感探测系统包括光信号收集头50和光信号探测器52 ；光信号收集头50设 置于箱体10内，光信号收集头50上覆盖有不透明挡板51，光信号探测器52与光信号收集 头50电连接，光信号探测器52与信号处理计算机电连接；不透明挡板51防止被测LED灯 具所发出的光直接进入光信号收集头50 ；光信号收集头50将被测LED日光灯管所发出的 光采样收集并传输给光信号探测器52，光信号探测器52再将光信号转变为电信号并传输 回信号处理计算机60进行分析。以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并不用于限制本实用新型，显然，本领域 的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这
4样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之 内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
权利要求LED灯具寿命测试系统，其特征在于包括测试箱和信号处理计算机，测试箱内设置有实时温控系统、光探测系统和LED安装供电系统，实时冷热温控系统和光探测系统与信号处理计算机电连接。
2.如权利要求1所述的LED灯具寿命测试系统，其特征在于所述测试箱包括箱体 (10)、箱体(10)的一侧设置有箱门(11)；所述箱体(10)内壁设有漫反射层。
3.如权利要求1所述的LED灯具寿命测试系统，其特征在于所述LED安装供电系统 包括可置换安装夹具(20)和恒流电源(22)，恒流电源(22)与可置换安装夹具(20)的电源 输入端口电连接。
4.如权利要求1所述的LED灯具寿命测试系统，其特征在于所述实时冷热温控系统 包括温度探头(40)、温度控制器(31)和冷热交换片(30)，所述冷热交换片(30)与温度探 头(40)分别与温度控制器(31)电连接，所述温度控制器(31)与信号处理计算机电连接。
5.如权利要求4所述的LED灯具寿命测试系统，其特征在于所述冷热交换片(30)设 置于箱体(10)内的一侧，冷热交换片(30)的一侧设置有挡板，挡板上设置有进风口(34) 和出风口(33)，进风口(34)处设置有风扇(32)，
6.如权利要求1所述的LED灯具寿命测试系统，其特征在于所述光感探测系统包括 光信号收集头(50)和光信号探测器(52)；光信号收集头(50)设置于箱体(10)内，光信号 收集头(50)上覆盖有不透明挡板，光信号探测器(52)与光信号收集头(50)电连接，光信 号探测器(52)与信号处理计算机电连接。
专利摘要本实用新型提供一种LED灯具寿命测试系统，能在较短时间内对LED灯具的寿命作出评价；包括测试箱、信号处理计算机；测试箱内设置有实时冷热温控系统、光探测系统和LED安装供电系统；实时冷热温控系统和光探测系统与信号处理计算机电连接。利用实时冷热温控系统可确保系统工作在设置的恒温环境下；采用将一段时间内采集到的光和温度信号传回信号处理计算机进行软件处理作出灯具寿命评价的测试方式，缩短了LED灯具寿命测试的时间。
文档编号G01R31/44GK201607524SQ20092029432
公开日2010年10月13日 申请日期2009年12月31日 优先权日2009年12月31日
发明者张继皇 申请人:重庆四联启蓝半导体照明有限公司