专利名称：检测用探针的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种检测用探针，特别是涉及一种在探针的上、下端之间以一体成型方式设有一弹性体，并在探针底端位置直接装接有一连设于电路测试机的导线所构成的检测用探针。藉此，该必须以弹性伸缩动作形态实施检测运作的探针，将不但具有制作更简洁、方便与经济的效果，尤其更具有构成材料更为节省、导电性更佳及讯号更不失真的积极效果。
背景技术：
一般具有复数个待测点(如电子组件接点)的诸如印刷电路板、半导体封装组件或晶圆等制成后，均需通过一种专用治具予以检测，藉以确认是否为良品或有无断路现象。又，按现有产业间所采用的检测该诸如印刷电路板、半导体封装组件或晶圆等待测物的方式，大抵如图1所示，该现有习用的检测用探针，是在一治具10的上表面设置有若干支探针20，该若干支探针20且为配合待测物30底面的各待测点(图中未示)的位置而没置；另，在治具10的下方设有一底座11，以及在底座11的四周配置有接头12，而该等接头12且与电路测试机的排线(图中未示)相连接导通。
当检测待测物30时，是预先将电路测试机的排线插入接头12，接续将待测物30对应放置在治具10的探针20上，藉由探针20与待测物30底面的待测点接触后，电路测试机便可显示待测物30是否有断路或不良等的现象。
又，为了使待测物30的诸待测点的检测具有确实性，以及为了使待测物30下压于探针20实施检测时，该探针20或待测点不会发生被破坏的现象，该诸探针20是设置为呈可弹性伸缩动作。即，如图2、图3所示，该诸探针20是分别插置在一探针套筒21内，而该诸探针套筒21是分别插置定位在与待测物30的诸待测点呈相对应的针板13的插孔131内；其中，该诸探针套筒21的底端分别安置有一导线22并连接于相对应的接头12，以及在里部装设有一弹簧23，而当探针20插入探针套筒21后，其底端并恰好为弹簧23顶承而可产生弹性伸缩的动作。
不可否认，上述现有的检测用探针的设置暨安置的方式，确实可达到检测待测物的应时效果，惟，在历经使用后，业者却明显的发觉其存在有下述缺失有待改善1、为了使探针20具有弹性伸缩的动作性，该在针板13预定的插孔131位置将必须逐一安置一探针套筒21，及在探针套筒21里部必须设置有弹簧23，然而，由于该检测用探针20的直径极细，故在提供其插置容纳的探针套筒21直径是连带甚�。约叭菽捎谀诘牡�23是相对更为细小的情形下，显然的，不但在弹簧23的制作成本上有较高之虞，就其组装于探针套筒21的实施性而言，亦连带存在有较为复杂、繁琐、不便与不经济的现象。
2、由于该探针20是必须不断的对被待测物30实施下压以进行检测的动作，以及该顶承的弹簧23又是极细而会有使用寿命较短的情形，故一旦弹簧23发生断裂或弹性疲乏时，对于待测物的检测效果便必然会出现大打折扣的情形发生。
3、为了促使探针20提供检测效果，该包含构件的探针20、套针套筒21及弹簧23等，除了在制作、组装上较为麻烦、不便及不经济外，对于整体使用的材料亦存在有相对增加的不经济之虞。
4、如前项所述，由于该导致探针20发挥检测效果的构件，除了探针20之外，另外还包含探针套筒21、弹簧23等数个间接构件，且该传输检测讯号的导线22，又是连接于电路测试机与间接构件的探针套筒21之间，故在组成构件较多及相对接点亦多，以及该卷绕成型的弹簧23又具有较长的长度等情形下，自然的，该产生的阻抗必然会较大，而存在有产生导电性较差及容易导致检测讯号发生失真之虞。
当然，为了改善上述的缺失，此间业者亦曾提供出一种如图4、图5所示的检测用探针的构造，其主要是将原供弹簧容纳的探针套筒予以省略，而将弹簧23直接容置在针板13的插孔131，以及探针20下端穿过数层夹板40后，则插设在对应的针板插孔131并为弹簧23顶端的承块24顶承着，而该导线22则是将其一端直接设于弹簧23底端，另一端是直接连接于电路检测机接头。藉此，该探针20对待测物检测的讯号将可经由弹簧23、导线22而直接传输到电路测试机。
不可否认，上述的设置方式，由于省略了探针套筒的结构设置，故在制作上除了较现有的检测用探针具有直接节省成本效果外，同时，由于该探针20及弹簧23不需容纳在探针套筒内，则使得现有的检测用探针存在的组装较为麻烦、不便、复杂与不经济的缺失亦可达到改善；当然，该弹簧23可在设置为较大的情形下，亦有制作较为简易、经济及使用寿命较为延长的效果。惟，在历经长时间的使用后，业者亦发现该检测用探针仍存在以下些许美中不足的缺失，而有待且必须加以改善1、由于该探针20仍然必须藉助另外设置的弹簧23及承块24顶承配合方可具有弹性伸缩动作性，故在制作上仍存在有构件较多、所产生的材料成本增加，以及各构件必须逐一制作、组装的麻烦、不便与不经济性。
2、由于该导使探针20发挥检测效果的构件，是依然包含有单独设置的弹簧23、承块24等间接构件，且该导线22亦是连接于电路测试机与间接构件的弹簧23之间，故在检测实施上，该现有的检测用探针因其构件较多所产生的接点多，以及该卷绕成型的弹簧23同样具有较长的长度，进而造成阻抗增加、导电性较差与检测讯号容易失真等缺失，同样无法达到改善的效果。
由此可见，上述现有的用于检测诸如印刷电路板、半导体封装组件或晶圆的检测用探针的结构设计仍存在有实际实施上的美中不足的缺陷，而亟待加以进一步改进。
为了解决上述检测用探针存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。
有鉴于上述现有的检测用探针存在的缺陷，为使上述缺失得以确实且有效的改善，并使待测物具有更佳、更准确的检测效果，本发明人基于丰富的实务经验及其专业知识，积极加以研究创新，经过不断研究、设计，并经反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
本发明的主要目的在于，克服上述现有的检测用探针存在的缺陷，而提供一种新型结构的检测用探针，所要解决的主要技术问题是使其藉探针是在上、下端之间一体成型设有一弹性体，并在探针底端直接装接有一导线连设于电路测试机，则探针分别定位于针板插孔实施检测动作时，该弹性体可直接提供探针弹性伸缩的动作性，同时，该检测的讯号亦可直接经由导线准确的传输至电路测试机。
本发明的另一目的在于，提供一种检测用探针，所要解决的技术问题是使其藉探针与弹性体是一体成型，则该探针可达到弹性伸缩效果的实施，不但在制作、组装上确实具有更形简易、方便、快速及经济的效果，同时，就制成的材料而言，亦可达到实质节省而具有经济性的积极效果。
本发明的再一目的在于，提供一种检测用探针，所要解决的技术问题是使其藉探针与弹性体是一体成型而具有极佳的导电性，且该传输讯号的导线又是直接连设于探针与电路测试机之间，而不通过间接构件，则实施检测运作时，该待测物的检测讯号自可以较不失真的极佳准确性传输于电路测试机。
本发明的目的及解决其主要技术问题是采用以下的技术方案来实现的。依据本发明提出的一种检测用探针，其在探针的上、下端之间一体成型设有一弹性体，并藉以形成上段探测部与下段接线部，而在该探针的下段接线部是直接安设有一导线连接于电路测试机。
本发明的目的及解决其技术问题还可以采用以下的技术措施来进一步实现。
前述的检测用探针，其中所述的成型于探针上、下端之间的弹性体可设置为螺旋形状。
前述的检测用探针，其中所述的成型于探针上、下端之间的弹性体可设置为Z形状。
前述的检测用探针，其中所述的成型于探针上、下端之间的弹性体可设置为半弧形状。
前述的检测用探针，其中所述的成型于探针上、下端之间的弹性体可设置为S形状。
前述的检测用探针，其中所述的成型于探针上、下端之间的弹性体可设置为波浪形状。
本发明的目的及解决其主要技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的一种检测用探针，其在探针的上、下端之间一体成型设有一弹性体，并藉以形成上段探测部与下段接线部，在该上段探测部与下段接线部是分别穿套设有一定位环套，以及该定位环套并可分别定位在下针板的底板插孔与盖板插孔的预设扩孔位置，而该下段接线部且安设有一导线连接于电路测试机。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。借由上述技术方案，本发明至少具有以下优点1、本发明检测用探针，借由探针是在上、下端之间一体成型有一弹性体，并在探针的底端直接装接有一导线连设于电路测试机，则探针分别定位于针板插孔实施检测动作时，该弹性体可以直接提供探针弹性伸缩的动作性，同时，该检测的讯号亦可直接经由导线准确的传输至电路测试机。
2、本发明检测用探针，借由探针与弹性体是一体成型，则该探针可达到弹性伸缩效果的实施，不但在制作、组装上确实具有更简易、方便、快速及经济的效果，同时就制成的材料而言，亦可达到实质性节�。哂芯眯缘幕Ч�。
3、本发明检测用探针，借由探针与弹性体是一体成型而具有极佳的导电性，且该传输讯号的导线又是直接连设于探针与电路测试机之间，而不通过间接构件，则实施检测运作时，该待测物的检测讯号可以较不失真的极佳准确性传输于电路测试机。
经由上述可知，本发明检测用探针，主要是在探针的上、下端之间一体成型设有一弹性体，以及在探针的底端装接有一连设于电路测试机的导线。藉此，该必须以弹性伸缩动作形态实施检测运作的探针，则不但具有制作更简洁、方便与经济的效果，尤其更具有构成材料更为节省、导电性更佳及讯号更不失真的积极效果。显然对于诸如印刷电路板、半导体封装组件或晶圆等具有复数个待测点的待测物的检测实施，可以提供更加符合实际需要的新功能与新作用，其结构设置虽然不显得复杂、繁琐，然而整体的运作却深富实施的具体性，而具有产业的广泛利用价值。
综上所述，本发明特殊结构的检测用探针，具有上述诸多的优点及实用价值，且在同类产品中均未见有类似的结构设计公开发表或使用，其不论在结构上或功能上皆有较大的改进，且在技术上有较大的进步，并产生了好用及实用的效果，而确实具有增进的功效，从而更加适于实用，诚为一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
图1是现有习知的复合式治具暨待测物的分解立体示意图。
图2是现有习知的检测用探针暨探针套筒、导线的分解立体示意图。
图3是图2所示检测用探针构件安设于针板的平面示意图。
图4是现有习知的检测用探针暨弹簧、导线的分解立体示意图。
图5是图4所示检测用探针构件安设于治具的平面示意图。
图6是本发明检测用探针的立体示意图(一)。
图7是本发明检测用探针的立体示意图(二)。
图8是本发明检测用探针的立体示意图(三)。
图9是本发明检测用探针的立体示意图(四)。
图10是本发明检测用探针的立体示意图(五)。
图11是本发明检测用探针设于针板实施例(一)的平面示意图。
图12是本发明检测用探针设于针板实施例(二)的平面示意图。
10 治具11 底座 12 接头13 针板131 下针板 1311 底板1312 中间板 1313 盖板 13111插孔13121插孔13131插孔 132 上针板1321 插孔20 探针 202 弹性体203 探测部 204 接线部 21 探针套筒22 导线23 弹簧 30 待测物50 定位环套501 中心孔 A定位导柱D扩孔E扩孔
具体实施例方式
以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的检测用探针其具体实施方式
、结构、特征及其功效，详细说明如后。
首先，请参阅图6所示，图中清晰的显示，本发明较佳实施例的一种检测用探针，其是由在探针20的上、下端之间一体成型设有一弹性体202，并藉以形成上段探测部203与下段接线部204，以及在探针20下端接线部204位置连设有一导线22所构成。其中，该成型于探针20的弹性体202的形状，是以可使探针20上、下端产生弹性伸缩动作的任何形状均可，例如图6、图7、图8、图9、图10所示的实施例，该弹性体202的形状可以分别设置为螺旋形或Z字形或半弧形或S形或波浪形......等各种形状；另外，该导线22是在探针20定位于针板13之前或之后结合于探针20的底端均可，而其结合的方式是可以焊固或夹固或绑固或套设等任何结构方式均可。
请再配合参阅图11所示，是本发明探针20安设定位于针板13实施例的断面示意图。其中，该针板13设有下针板131与上针板132，而其等是藉由治具预设的数个定位导柱A的导引，而逐一由下而上地叠设在底座11上。即，该下针板131主要是由一底板1311、一中间板1312及一盖板1313组成，其等表面分别设有相对应的插孔13111、13121、13131；其中，该中间板1312设有的插孔13121是设置为稍大径，并可以容纳探针20的弹性体202，而底板1311、盖板1313设有的插孔13111、13131则是设置为稍小径并可分别供探针20的下段接线部204与上段探测部203插设，以及可恰好供弹性体202的下端与上端挡承，而该诸探针20插设定位的位置则是与现有习知的探针相同，是与待测物30的复数待测点呈相对应为基准。另，该上针板132设有复数片，其等相互叠设的厚度是依略小于探针20的上段探测部203，以及在表面设有对应于待测物的待测点的插孔1321，以分别供探针20的上段探测部203穿设，并使该探测部203的顶部是外露于最上只上针板132的上表面。
在上述结构中，其中上针板132设有的插孔1321及下针板131的盖板1313设有的插孔13131，可以分别将其下端孔径设置为扩孔形状(如喇叭口等)，以便于探针20的上段探测部203穿设。
利用以上结构所构成的本发明检测用探针，由于探针20的上、下端之间是成型设有一弹性体202，而使上段探测部203与下段接线部204可藉以具有弹性伸缩的动作性，则当探针20装设定位在针板13并将待测物30的待测点下压于外露的探针20顶端时，自然的，该探针20便可在弹性伸缩动作中发挥预期的防止撞坏与确实接触待测点的效果。又，由于该探针20的上段探测部203、下段接线部204与促使其等弹性伸缩动作的弹性体202是一体成型，而可产生较低的阻抗与提供较佳的导电性，以及该职司讯号传输的导线22又是直接接设在下段接线部204，而非如现有的探针那样必须通过其它间接构件的介体(如弹簧或探针套筒)，而具有直接减少接点的积极效果，则该探针20对待测物30检测到的讯号将必然可以较不失真的准确传输至电路测试机，进而使得待测物实施检测运作实际所需的预期准确性效果可以确实达到更为提高的境地。当然，由于本发明构成探针弹性伸缩动作及提供检测讯号传输的构件极少，故不但在制作的材料上可以大为节省而具有经济性，而且就实际制作、组装的实施性而言，亦明显较现有的探针具有更为简易、方便、快速与经济的效果。
请参阅图12所示，是本发明探针20安设定位于针板13另一实施例的断面示意图。其中，该探针20的上段探测部203与下段接线部204且可分别穿套一定位环套50，使分别位于弹性体202的上、下端，并在探针20安设于针板13时恰好定位在下针板131的底板插孔13111的上端预设扩孔D与盖板插孔13131的下端预设扩孔E，以应使用之需，该探针20可以该两相对应的定位环套50的中心孔501为伸缩动作的中心，进而使得该盖板插孔13131与上针板插孔1321可藉以设置为稍大，以因应探针20的上段探测部203实施检测时所产生的斜率，从而更加适于实用。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但是凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
权利要求
1.一种检测用探针，其特征在于在探针的上、下端之间一体成型设有一弹性体，并藉以形成上段探测部与下段接线部，而在该探针的下段接线部是直接安设有一导线连接于电路测试机。
2.根据权利要求1所述的检测用探针，其特征在于其中所述的成型于探针上、下端之间的弹性体可设置为螺旋形状。
3.根据权利要求1所述的检测用探针，其特征在于其中所述的成型于探针上、下端之间的弹性体可设置为Z形状。
4.根据权利要求1所述的检测用探针，其特征在于其中所述的成型于探针上、下端之间的弹性体可设置为半弧形状。
5.根据权利要求1所述的检测用探针，其特征在于其中所述的成型于探针上、下端之间的弹性体可设置为S形状。
6.根据权利要求1所述的检测用探针，其特征在于其中所述的成型于探针上、下端之间的弹性体可设置为波浪形状。
7.一种检测用探针，其特征在于在探针的上、下端之间一体成型设有一弹性体，并藉以形成上段探测部与下段接线部，在该上段探测部与下段接线部是分别穿套设有一定位环套，以及该定位环套并可分别定位在下针板的底板插孔与盖板插孔的预设扩孔位置，而该下段接线部且安设有一导线连接于电路测试机。
全文摘要
本发明是关于一种检测用探针，主要是在探针的上、下端之间一体成型有一弹性体，以及在探针底端装接有一连设于电路测试机的导线。藉此结构，使得该必须以弹性伸缩动作形态实施检测运作的探针，不但具有制作更简洁、方便与经济的效果，尤其更具有构成材料更为节省、导电性更佳以及讯号更不失真的积极效果。
文档编号G01R31/00GK1627084SQ20031011857
公开日2005年6月15日 申请日期2003年12月12日 优先权日2003年12月12日
发明者刘朝昇 申请人:陈东汉
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
