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专利名称：γ谱仪样品测试架的制作方法
技术领域：
本实用新 型涉及一种用于Y谱仪样品测量和实验的测量装置，特别是Y谱仪样 品测试架。
背景技术：
目前，公知的Y谱仪测试架国内外较少，主要是因为一般实验室只有某种实验需 求时，才制作相应的测试架，且测试架构造简单，只能满足单一的功能需求，不具有实用性、 通用性及结构简单等特点，因此不能推广应用。国外用于承载探头的反康Y谱仪升降架构 造较为复杂，设计较为新颖和科学，可以升降。但是它的固定方式为螺母固定，只能满足单 一功能即只承载质量较小的上端探头，因此不能直接推广应用到普通Y谱仪。
发明内容本实用新型的目的在于提供一种Y谱仪样品测试架，结构简单，易于制造，能用 来承载测量大质量样品或物体，通用性好，实用性强。本实用新型的目的是这样实现的一种Y谱仪样品测试架，包括上、下底座，上、 下底座均呈圆环形，在下底座上竖直均布设置着至少两根向上延伸的固定杆，在上底座上 竖直均布设置着至少两根向下延伸的套管，套管与固定杆配合套装在一起，在每根固定杆 的下部都分别配合套装设置着垫圈，垫圈的外径与套管的外径相同，两垫圈的高度相同。本实用新型测试架通过加垫圈来改变套管套入固定杆的深度。下底座的中心孔作 用是使底座能通过探头并放置在屏蔽室底部，下底座作用是固定整个测试架，上底座用来 放置样品或承重铅准直器等，上底座中的中心孔作用是使样品中的射线透过进入探头。本 实用新型一方面在测量放射性活度较强的样品时可以方便地通过增加垫圈来调节样品高 度，以减小Y谱死时间对测量结果的影响；另一方面可以承重最多50公斤左右的重量，因 此可以用于大质量样品测量或用类似铅准直器等较重物体进行的实验研究。本实用新型测 试架设计具有实用性、通用性、结构简单、易于制造等特点，能用来承载测量大质量样品或 物体，可以满足各种样品测量及实验设计需要。

下面将结合附图对本实用新型作进一步说明。图1为本实用新型的俯视结构示意图；图2为本实用新型的主视半剖面结构示意图。
具体实施方式
一种γ谱仪样品测试架，如图1、图2所示，包括上、下底座2、6，上、下底座2、6均 呈圆环形。在下底座6上竖直均布设置着至少两根向上延伸的固定杆3，固定杆3的直径为 0. Scm0根据承载物品重量的不同，固定杆3的数量也可以增加。在上底座2上竖直均布设置着至少两根向下延伸的套管4，套管4的管壁厚度为2mm。套管4与固定杆3呈过渡配合套装在一起，在每根固定杆3的下部都分别配合套装设置着垫圈5，垫圈5用来调整上、下底 座2、6之间的间距。垫圈5的外径与套管4的外径相同，两垫圈5的高度相同。上底座中 心孔1的孔径小于下底座中心孔7的孔径。
权利要求一种γ谱仪样品测试架，包括上、下底座，其特征是上、下底座均呈圆环形，在下底座上竖直均布设置着至少两根向上延伸的固定杆，在上底座上竖直均布设置着至少两根向下延伸的套管，套管与固定杆配合套装在一起，在每根固定杆的下部都分别配合套装设置着垫圈，垫圈的外径与套管的外径相同，两垫圈的高度相同。
2.根据权利要求1所述的Y谱仪样品测试架，其特征是上底座中心孔的孔径小于下 底座中心孔的孔径。
专利摘要本实用新型公开了一种γ谱仪样品测试架，包括上、下底座，上、下底座均呈圆环形，在下底座上竖直均布设置着至少两根向上延伸的固定杆，在上底座上竖直均布设置着至少两根向下延伸的套管，套管与固定杆配合套装在一起，在每根固定杆的下部都分别配合套装设置着垫圈，垫圈的外径与套管的外径相同，两垫圈的高度相同。本实用新型测试架设计具有实用性、通用性、结构简单等特点，可以满足各种样品测量及实验设计需要。
文档编号G01T7/00GK201732168SQ20102021889
公开日2011年2月2日 申请日期2010年6月8日 优先权日2010年6月8日
发明者成智威, 田自宁, 贾明雁 申请人:中国人民解放军63653部队