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并联式超声波检测探头的制作方法

时间:2025-06-27    作者: 管理员

专利名称:并联式超声波检测探头的制作方法
技术领域:
本实用新型涉及超声波探伤领域,特别是一种并联式超声波检测探头。
背景技术:
超声波探伤是无损检测的主要方法之一。它具有灵敏度高、穿透力强、检验速度快 等一系列优点。因此,它已广泛应用于机械制造、冶金、电力等工业部门。在自动化探伤中由于要求检测速度快,通常需要多组探头联合探伤,同时由于探 头平行排列时各探头之间会存在检测盲区,这就要求在实际检测时各探头要成“品”字型摆 放。这样的摆放要求不仅使探头个数增加,而且增加了机械装置的难度,提高了检测成本。 因此在检测精度要求不高的情况下,提高检测效率和降低检测成本成为工业部门的主要选 择。例如中国实用新型专利No. 200520043060. 8公开了 一种超声波组合探头,名称为‘用于 纵、横波联合探伤的超声波组合探头’,它包括外壳、晶片、阻尼吸收块、匹配线圈、斜楔、导 线、电极,其中晶片为一组纵波晶片和一组横波晶片,纵波晶片与组合探头的探测表面平 行,横波晶片与组合探头的探测表面成一夹角,两组晶片一端通过导线分别连接匹配线圈, 另一端分别与两组电极接线柱连接,两组晶片分别置于各自阻尼吸收块上,在两个阻尼吸 收块间置有隔声层,阻尼吸收块、隔声层和匹配线圈置于壳体内,斜楔上装有电极接线柱。 但是,该产品的两组晶片之间存在盲区,需要采用多个探头才能保证达到所需的检测效率。
发明内容本实用新型的目的是提供一种探头数量少、机械跟踪装置简单、检测成本低且检 测效率高的并联式的超声波检测探头。为了达到上述目的,本实用新型提供了如下技术方 案一种并联式超声波检测探头,包括外壳1、压电晶体2、阻尼吸收块4、隔声层5、匹 配线圈、斜楔、导线6、电极7,压电晶体2为一组纵波晶片或一组横波晶片,其中所述纵波 晶片或横波晶片由多个并联的压电晶片3构成。所述每个压电晶片3的同侧端通过导线6连接到各自的匹配线圈上,再通过导线 6连接到一起接入仪器;每个压电晶片3的另一端与电极7的接线柱连接。所述每个压电晶体2分别置于各自的阻尼吸收块4上,在两个阻尼吸收块4间置 有隔声层5,斜楔上装有电极7的接线柱。所述阻尼吸收块4、隔声层5和匹配线圈置于外壳1内。所述一组纵波晶片或横波晶片含3 5个压电晶片3。其中,同时工作的、输出超声波频率相等的同组压电晶片3安装在同一位置,一组 压电晶片3连接一个通道。所述压电晶片3与外壳1之间有保护层8。与现有技术相比,本实用新型的有益效果在于依据本实用新型实现的并联式的超声波检测探头,其主要优点是增加了单个探头的检测范围,使探测范围加大,基本上消除了晶片间的盲区。且其能极大的减少检测中的探头个数,简化机械跟踪装置,降低检测成本,提高检测效率。

图1为并联式的超声波检测探头的示意图。图2为压电晶体的示意图。附图标记1 外壳 2压电晶体3 压电晶片 4阻尼吸收块5 隔声层 6导线7 电极 8保护层
具体实施方式
本实用新型为一种并联式的超声波检测探头,包括外壳1、压电晶体2、阻尼吸收 块4、匹配线圈(图中未标)、斜楔(图中未标)、导线6、电极7、保护层8。其中,压电晶体2 为一组纵波晶片(3 5个晶片)也可是一组横波晶片,纵波晶片与探头的探测表面平行, 横波晶片与探头的探测表面成一夹角。压电晶体2中的每个压电晶片3的相同端通过导线 6连接到各自的匹配线圈上,再通过导线6连接到一起接入仪器,另一端与电极7的接线柱 连接。每个压电晶体2分别置于各自的阻尼吸收块4上,在两个阻尼吸收块4间置有隔声 层5,阻尼吸收块4、隔声层5和匹配线圈置于外壳1内,斜楔上装有电极7的接线柱。本实 用新型采用多个并联的同组压电晶片3在同一位置同时工作,一组压电晶片3占用一个通 道,一次探伤即可完成通常几个通道才能完成的探伤检测,可明显缩短工件的探伤时间,提 高探伤工作效率。本实用新型设计的并联式的超声波检测探头,将其应用在钢板、钢管等工件的自 动化检测上,可极大地提高检测效率,简化机械装置,降低检测成本。本实用新型设计的并联式的超声波检测探头,其主要优点是增加了单个探头的检 测范围,即一个并联式探头的检测效率相当于3 5个普通探头的检测效率。同时本探头 使用时,各压电晶片3所输出的超声波频率相等,同时发射、同向接收,故相邻压电晶片3间 的声波相互叠加得到加强,使探测范围加大,基本上消除了晶片间的盲区。其应用的结果是 极大的减少了检测中的探头个数,简化了机械跟踪装置,降低检测成本,提高了检测效率。
权利要求一种并联式超声波检测探头,包括外壳(1)、压电晶体(2)、阻尼吸收块(4)、隔声层(5)、匹配线圈、斜楔、导线(6)、电极(7),压电晶体(2)为一组纵波晶片或一组横波晶片,其特征在于所述纵波晶片或横波晶片由多个并联的压电晶片(3)构成。
2.如权利要求1所述的并联式超声波检测探头,其特征在于每个压电晶片(3)的同 侧端通过导线(6)连接到各自的匹配线圈上,再通过导线(6)连接到一起接入仪器;每个压 电晶片(3)的另一端与电极(7)的接线柱连接。
3.如权利要求1所述的并联式超声波检测探头,其特征在于每个压电晶体(2)分别 置于各自的阻尼吸收块(4)上,在两个阻尼吸收块(4)间置有隔声层(5),斜楔上装有电极 (7)的接线柱。
4.如权利要求1所述的并联式超声波检测探头,其特征在于阻尼吸收块(4)、隔声层 (5)和匹配线圈置于外壳(1)内。
5.如权利要求1所述的并联式超声波检测探头,其特征在于所述一组纵波晶片或横 波晶片含3 5个压电晶片(3)。
6.如权利要求1所述的并联式超声波检测探头,其特征在于同时工作的、输出超声波 频率相等的同组压电晶片(3)安装在同一位置,一组压电晶片(3)连接一个通道。
7.如权利要求1所述的并联式超声波检测探头,其特征在于压电晶片(3)与外壳(1) 之间有保护层⑶。
专利摘要本实用新型涉及超声波探伤领域,特别是一种并联式超声波检测探头,其包括外壳(1)、压电晶体(2)、阻尼吸收块(4)、隔声层(5)、匹配线圈、斜楔、导线(6)、电极(7),压电晶体(2)为一组纵波晶片或一组横波晶片,其中,所述纵波晶片或横波晶片由多个并联的压电晶片(3)构成。依据本实用新型实现的并联式的超声波检测探头,其主要优点是增加了单个探头的检测范围,使探测范围加大,基本上消除了晶片间的盲区。且其能极大的减少检测中的探头个数,简化机械跟踪装置,降低检测成本,提高检测效率。
文档编号G01N29/24GK201594087SQ200920278230
公开日2010年9月29日 申请日期2009年12月21日 优先权日2009年12月21日
发明者张建卫, 徐磊, 童凯 申请人:钢铁研究总院

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  • 专利名称:并联式超声波检测探头的制作方法技术领域:本实用新型涉及超声波探伤领域,特别是一种并联式超声波检测探头。 背景技术:超声波探伤是无损检测的主要方法之一。它具有灵敏度高、穿透力强、检验速度快 等一系列优点。因此,它已广泛应用于机械制造
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