专利名称：一种射频前端芯片的动态测试装置及系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及移动通信技术领域，特别是涉及一种射频前端芯片的动态测试装置及系统。
背景技术：
射频前端芯片和基带芯片都是移动终端的核心部件。其中，基带芯片用于合成即将发射的基带信号，或对接收到的基带信号进行解码；基带信号是指信源发出的没有经过调制的原始电信号。射频前端芯片负责射频收发；具体的，发射时，把从基带芯片传过来的基带信号，通过上变频，把频率调制到较高的、适合天线发射的频率上，通过天线无线传输；接收时，把从天线上接收到的射频信号，通过下变频，转换为基带信号，传给基带芯片进行处理。通常，基带芯片所发出的理想基带信号，需要经过射频前端芯片的各种处理，变成射频信号，再发送出去的。这中间的转换和处理过程，并不是完全理想的，因此最终发射出去的射频信号，会存在一定的偏差(如频率误差、相位误差等)。同样的，在接收过程中，射频前端芯片接收到空中的射频信号，将其下变频，加以滤波、放大等处理，转变为基带信号，传给基带芯片处理。在接收处理的过程中，同样也存在着偏差。上述发射和接收过程中产生的各种偏差，是由射频前端芯片本身的特性所造成的，是无法完全消除的，其程度大�。梢杂美春饬可淦登岸诵酒男阅�。因此，需要对射频前端芯片的性能进行测试，从而对射频前端芯片做出量化的评估。通常，对于射频前端芯片的性能测试，包括静态性能测试和动态性能测试两方面。静态性能的测试可以通过手工将射频前端芯片设置在特定的工作状态，然后对其性能进行测试。而动态性能的测试，需要模拟实际应用中的各种情景，在极短的时间内对芯片进行定时精确的一系列控制，这是用人工方式无法实现的。现有技术中，对射频前端芯片的动态性能进行测试，需要将射频前端芯片的各种控制序列的先后关系和控制指令之间的延时关系作为时序模板，通过程序固化的方式烧录到基带芯片中。但需要对控制序列或者指令延时进行修改时，则需要重新修改代码，重编译后再烧录到基带芯片中。而且，现有技术中，只能依赖基带芯片来进行射频前端芯片的动态性能测试，使得测试进度受制于基带芯片的进度，不利于射频前端芯片的研发及推出市场。由此可见，现有的射频前端芯片动态性能测试技术，其测试进程比较耗时、复杂度高且通用性不强，使得测试人员需要耗费很多时间对测试平台进行修改，影响测试的效率与效果。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种射频前端芯片的动态测试装置及系统，能够让射频前端芯片脱离基带芯片，独立测试射频前端芯片的动态性能；该装置及系统具有较高的灵活性，大大提高了射频前端芯片动态性能测试的效率和效果。本发明提供一种射频前端芯片的动态测试系统，所述系统包括上位机和动态测试装置；所述上位机通过动态测试装置接被测射频前端芯片；所述上位机，用于编辑及存储动态测试所需所有测试项的控制序列；在动态测试过程中，发送当前测试项对应的控制序列至所述动态测试装置；所述动态测试装置，用于接收并保存所述上位机发送的当前测试项对应的控制序列；并在动态测试过程中，按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，依次调出相应的控制指令，发送至被测射频前端芯片。优选地，所述动态测试装置包括时钟�？�、寄存器模块、任务调度�？�、数据存储�？�、上位机接口�？�、RF数据接口�？�、以及RF控制接口�？椋凰鍪敝幽？椋糜诓龆馐宰爸盟璧母髦制德实氖敝樱凰黾拇嫫髂？椋糜谕ü錾衔换涌谀？榻邮詹⒈４嫠錾衔换⑺偷牡鼻安馐韵疃杂Φ目刂菩蛄校徊⒃诙馐怨讨校萁邮兆运鋈挝竦鞫饶？榈牡鞫戎噶畹鞒鱿嘤Φ目刂浦噶睿ü鯮F控制接口�？榉⑺椭帘徊馍淦登岸诵酒凰鋈挝竦鞫饶？椋糜谠诙馐怨讨校刂扑霾馐宰爸霉ぷ髂Ｊ降那谢唬话凑盏鼻安馐韵疃杂Φ目刂菩蛄兄懈骺刂浦噶畹闹葱惺奔洌蛩黾拇嫫髂？榉⑺偷鞫戎噶睿豢刂扑鯮F数据接口�？楹蚏F控制接口�？榈钠舳�、以及对被测射频前端芯片各输入输出端口的操作；所述数据存储�？椋糜诖娲⑺霰徊馍淦登岸诵酒⑸洳馐允狈⑸涞氖菀约敖邮詹馐允笔盏降耐ㄐ庞檬荩凰錾衔换涌谀？椋糜谑迪炙錾衔换胨霾馐宰爸弥涞耐ㄐ牛凰鯮F数据接口�？椋糜谙蛩霰徊馍淦登岸诵酒辗⑼ㄐ庞檬荩凰鯮F控制接口�？椋糜谑迪炙霾馐宰爸枚运霰徊馍淦登岸诵酒亩列醇拇嫫饕约跋喙厥淙胧涑龆丝诘牟僮�。优选地，所述时钟�？椴捎么由淦登岸诵酒淙氲�26M作为同步时钟源，通过数字时钟管理�？镈CM产生所述动态测试装置工作的主时钟以及不同通信制式下收发数据所需的同步时钟。优选地，所述测试装置的工作模式包括单次运行模式和循环运行模式；所述循环运行模式为，以当前测试项对应的所有控制指令为一周期，从第一条控制指令开始执行直至最后一条控制指令，定时器清零，返回初始状态，再从第一条控制指令开始执行，如此循环执行所有的控制指令；
所述单次运行模式为，将当前测试项对应的所有控制指令执行一次，返回空闲状态。优选地，所述数据存储�？榘ㄊ莘⑸涞ピ褪萁邮盏ピ凰鍪莘⑸涞ピ糜谠诜⑸洳馐允保は却铀錾衔换舷略赝ㄐ庞檬莶⒋娲ⅲ辉诙馐栽诵械椒⑸渥刺保来蔚鞒鱿嘤Φ氖荩ü鯮F数据接口�？榉⑺椭了霰徊馍淦登岸诵酒凰鍪萁邮盏ピ糜谠诮邮詹馐允保邮詹⒋娲⑺霰徊馍淦登岸诵酒耐ㄐ庞檬荩淮邮詹馐酝瓿珊螅呀邮盏降氖萃ü錾衔换涌谀？樯洗厮錾衔换�。优选地，所述上位机接口�？榘街止ぷ髂Ｊ绞萃ㄐ拍Ｊ胶兔钔ㄐ拍Ｊ剑辉谑萃ㄐ拍Ｊ较拢錾衔换涌谀？橛糜谒錾衔换运鍪荽娲⒛？榻胁僮鳎辉诿钔ㄐ拍？橄拢錾衔换涌谀？橛糜谒錾衔换运黾拇嫫髂？榻胁僮�。 本发明还提供一种射频前端芯片的动态测试装置，所述装置用于配合上位机对被测射频前端芯片进行动态测试；所述装置包括时钟�？�、寄存器模块、任务调度�？椤⑹荽娲⒛？�、上位机接口�？椤F数据接口�？�、以及RF控制接口�？椋凰鍪敝幽？椋糜诓龆馐宰爸盟璧母髦制德实氖敝樱凰黾拇嫫髂？椋糜谕ü錾衔换涌谀？榻邮詹⒈４嫠錾衔换⑺偷牡鼻安馐韵疃杂Φ目刂菩蛄校徊⒃诙馐怨讨校萁邮兆运鋈挝竦鞫饶？榈牡鞫戎噶畹鞒鱿嘤Φ目刂浦噶睿ü鯮F控制接口模块发送至被测射频前端芯片；所述任务调度模块，用于在动态测试过程中，控制所述测试装置工作模式的切换；按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，向所述寄存器�？榉⑺偷鞫戎噶睿豢刂扑鯮F数据接口�？楹蚏F控制接口�？榈钠舳�、以及对被测射频前端芯片各输入输出端口的操作；所述数据存储�？椋糜诖娲⑺霰徊馍淦登岸诵酒⑸洳馐允狈⑸涞耐ㄐ庞檬菀约敖邮詹馐允笔盏降耐ㄐ庞檬荩凰錾衔换涌谀？椋糜谑迪炙錾衔换胨霾馐宰爸弥涞耐ㄐ牛凰鯮F数据接口模块，用于向所述被测射频前端芯片收发通信用数据；所述RF控制接口�？椋糜谑迪炙霾馐宰爸枚运霰徊馍淦登岸诵酒亩列醇拇嫫饕约跋喙厥淙胧涑龆丝诘牟僮�。优选地，所述时钟模块采用从射频前端芯片输入的26M作为同步时钟源，通过数字时钟管理�？镈CM产生所述动态测试装置工作的主时钟以及不同通信制式下收发数据所需的同步时钟。优选地，所述测试装置的工作模式包括单次运行模式和循环运行模式；所述循环运行模式为，以当前测试项对应的所有控制指令为一周期，从第一条控制指令开始执行直至最后一条控制指令，定时器清零，返回初始状态，再从第一条控制指令开始执行，如此循环执行所有的控制指令；所述单次运行模式为，将当前测试项对应的所有控制指令执行一次，返回空闲状态。优选地，所述数据存储模块包括数据发射单元和数据接收单元；所述数据发射单元，用于在发射测试时，预先从所述上位机上下载通信用数据并存储；在动态测试运行到发射状态时，依次调出相应的数据，通过所述RF数据接口�？榉⑺椭了霰徊馍淦登岸诵酒�
所述数据接收单元，用于在接收测试时，接收并存储所述被测射频前端芯片的通信用数据；待接收测试完成后，把接收到的数据通过所述上位机接口�？樯洗厮錾衔换�。优选地，所述上位机接口�？榘街止ぷ髂Ｊ绞萃ㄐ拍Ｊ胶兔钔ㄐ拍Ｊ剑辉谑萃ㄐ拍Ｊ较拢錾衔换涌谀？橛糜谒錾衔换运鍪荽娲⒛？榻胁僮鳎辉诿钔ㄐ拍？橄拢錾衔换涌谀？橛糜谒錾衔换运黾拇嫫髂？榻胁僮鞲荼痉⒚魈峁┑木咛迨凳├痉⒚鞴艘韵录际跣Ч痉⒚魇凳├校研枰魇院途Ｐ枰薷牡牟糠�(即为对所述被测射频前端芯片进行动态测试所需的所有测试项的控制序列)存储在上位机中，在每次动态测试过程中，发送当前测试项对应的控制序列至所述动态测试装置；所述动态测试装置接收当前测试项对应的控制序列，按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，依次调出相应的控制指令，发送至被测射频前端芯片，实现对所述被测射频前端芯片的动态测试。由此，能够让射频前端芯片脱离基带芯片，独立测试射频前端芯片的动态性能；而且本发明实施例中，需要调试和经常需要修改的部分存储在上位机中，即使需要对控制序列或者各控制指令的执行时间进行修改，也只需要在上位机的控制软件中进行修改即可，不需要对动态测试装置进行硬件修改，由此使得该装置及系统具有较高的灵活性，大大提高了射频前端芯片动态性能测试的效率和效果。
图I为本发明实施例一所述的射频前端芯片的动态测试系统；图2为本发明实施例二所述的射频前端芯片的动态测试系统。
具体实施例方式为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式
对本发明作进一步详细的说明。有鉴于此，本发明的目的在于提供一种射频前端芯片的动态测试装置及系统，能够让射频前端芯片脱离基带芯片，独立测试射频前端芯片的动态性能；该装置及系统具有较高的灵活性，大大提高了射频前端芯片动态性能测试的效率和效果。本发明实施例的主要发明构思在于把需要调试和经常需要修改的部分与固化程序分离。射频前端芯片的动态测试装置的硬件框架通过固化程序来实现，如任务调度的硬件架构、各种对外接口、读写寄存器的电路结构等。将需要调试和经常需要修改的部分(如动态测试过程中所有测试项的控制序列)保存在上位机中，通过上位机软件写动态测试装置的寄存器来实现，可以满足在不更改测试装置硬件框架的前提下，对这部分的随时修改。测试装置中预留有足够的寄存器空间用于存储动态测试时所用的控制序列以及相关的时间�？�。参照图1，为本发明实施例一所述的射频前端芯片的动态测试系统结构图。如图I所示，所述系统包括上位机10和动态测试装置20。所述上位机10通过所述动态测试装置20接被测射频前端芯片30。所述上位机10，用于存储对所述被测射频前端芯片30进行动态测试所需的所有测试项的控制序列以；在动态测试过程中，发送当前测试项对应的控制序列至所述动态测试装置20。
所述动态测试装置20，用于接收并保存所述上位机10发送的当前测试项对应的控制序列；并在动态测试过程中，按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，依次调出相应的控制指令，发送至被测射频前端芯片30。本发明实施例中，把需要调试和经常需要修改的部分(即为对所述被测射频前端芯片30进行动态测试所需的所有测试项的控制序列)存储在上位机10中，在每次动态测试过程中，发送当前测试项对应的控制序列及相关的时间�？橹了龆馐宰爸�20 ;所述动态测试装置20接收当前测试项对应的控制序列及相关的时间�？椋凑盏鼻安馐韵疃杂Φ目刂菩蛄兄懈骺刂浦噶畹闹葱惺奔洌来蔚鞒鱿嘤Φ目刂浦噶睿⑺椭帘徊馍淦登岸诵酒�30，实现对所述被测射频前端芯片30的动态测试。由此，能够让射频前端芯片30脱离基带芯片，独立测试射频前端芯片的动态性能；而且本发明实施例中，把需要调试和经常需要修改的部分以寄存器的方式实现，调试和修改的操作在上位机10中完成，即使需要对控制序列或者各控制指令的执行时间进行修改，也只需要在上位机10的控制软件中进行修改即可，不需要对动态测试装置20进行硬件修改，由此使得该装置及系统具有较高的灵活性，大大提高了射频前端芯片动态性能测试的效率和效果。参照图2，为本发明实施例二所述的射频前端芯片的动态测试系统结构图。如图2所示，所述系统包括上位机10和动态测试装置20。所述上位机10通过所述动态测试装置20接被测射频前端芯片30。所述上位机10，用于存储对所述被测射频前端芯片30进行动态测试所需的所有测试项的控制序列；在动态测试过程中，发送当前测试项对应的控制序列及相关的时间�？橹了龆馐宰爸�20。具体的，所述上位机编辑动态测试中需要调试和经常需要修改的部分，具体包括对所述被测射频前端芯片30进行动态测试所需的所有测试项的控制序列；编辑好后，上位机10将当前测试项对应的配置信息(包括当前测试项所需的控制序列及相关的时间�？�)发送至所述动态测试装置20，供动态测试过程中调出使用。对于被测射频芯片30的动态测试，一般每个测试项都会包括很多条控制指令，每条控制指令都包括其须执行的内容以及指定的执行时间，按照各条控制指令的执行时间，该测试项对应的所有控制指令就构成一控制序列。优选地，所述上位机10，可以提供图形界面供操作人员编辑及存储动态测试所需所有测试项的控制序列。需要说明的是，对所述被测射频前端芯片30进行动态测试时所用的控制序列，不是一开始就确定下来的。具体的，可以根据被测射频芯片30的设计指标，先预估一个理想化的流程，然后测试人员根据测试的实际情况，调整各控制指令的先后执行顺序以及其被调用的时间点，或者添加或删去控制指令，以达到符合测试需要的控制序列。上述所有的调整过程就是在上位机10的控制软件中修改寄存器的值，并写入所述动态测试装置20察看被测射频前端芯片30的输出的过程，由此可以即时的看到修改配置所达到的效果。一旦确定好控制序列以及相关的时间�？楹螅涂砂颜攵缘鼻安馐韵畹乃信渲帽４嫫鹄矗笳攵酝嘈偷牟馐韵罹涂芍苯拥饔门渲�。
本发明实施例中，把需要调试和经常需要修改的操作放置在上位机10中，这样做的有益效果是，可以模拟基带芯片对于射频前端芯片的控制流程，实现可灵活修改调试的动态控制，以达到提高对射频前端芯片动态测试的效率和效果的目的。如图2所示，所述动态测试装置20包括时钟�？�201、寄存器�？�202、任务调度�？�203、数据存储�？�204、上位机接口�？�205、RF (Radio Frequency,无线电频率)数据接口�？�206、以及RF控制接口�？�207。所述时钟�？�201，用于产生所述动态测试装置20所需的各种频率的时钟。具体的，所述时钟模块201采用从射频芯片输入的26M作为同步时钟源，通过DCM(Digital Clock Managers，数字时钟管理模块)产生整个动态测试装置20工作的主时钟以及不同通信制式下收发数据所需的同步时钟。由于GSM制式和TD-SCDMA制式乃至TD-LTE制式下，对于信号的速率要求是不一样的。因此本发明实施例所述动态测试装置20也需要根据制式的不同，工作在相应的时钟频率下，因此所述时钟�？�201能够产生至少两种时钟频率。在实际应用中，根据所述动态测试装置20当前所处的工作模式来选择相应的时钟频率。所述寄存器�？�202，用于通过所述上位机接口�？�205接收并保存所述上位机10发送的当前测试项对应的配置信息(即为当前测试项对应的控制序列及相关的时间�？�)；并在动态测试过程中，根据接收自所述任务调度�？�203的调度指令调出相应的控制指令，通过所述RF控制接口�？�207发送至被测射频前端芯片30。需要说明的是，本发明实施例中，所述寄存器模块202可以通过上位机10软件进行读写，不涉及硬件修改，因此可实现快速读写。所述任务调度�？�203，用于在动态测试过程中，控制所述测试装置的工作模式的切换；按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，向所述寄存器�？�202发送调度指令，完成动态测试各控制指令的定时调用；控制所述RF数据接口�？�206和RF控制接口�？�207的启动、以及对被测射频前端芯片30各输入输出(IO)端口的操作。其中，所述按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，向所述寄存器�？�202发送调度指令，完成动态测试各控制指令的定时调用具体为在进行动态测试时，所述任务调度模块203的定时器开始计时，发送第一调度指令至所述寄存器�？�202，所述寄存器�？�202接收到所述第一调度指令后，读出当前测试项对应控制序列中的第一条控制指令，等待所述第一条控制指令执行时间的到达。当计时到所述第一条控制指令的执行时间时，所述任务调度模块203发送第二调度指令至所述寄存器�？�202，所述寄存器�？�202接收到所述第二调度指令后，将所述第一条控制指令发送至被测射频前端芯片30运行，并读出当前测试项对应控制序列中的第二条控制指令，等待所述第二条控制指令执行时间的到达。当计时到所述第二条控制指令的执行时间时，所述任务调度�？�203发送第三调度指令至所述寄存器�？�202，所述寄存器�？�202接收到所述第三调度指令后，将所述第三条控制指令发送至被测射频前端芯片30运行，并读出当前测试项对应控制序列中的第三条控制指令，等待所述第三条控制指令执行时间的到达。依次类推，完成对当前测试项对应控制序列中各条控制指令的定时调度。本发明实施例中，所述寄存器�？�202根据接收自所述任务调度�？�203的调度指令，提前读出当前测试项对应的各条控制指令并等待其执行时间的到达，能够有效避免从寄存器�？�202中读出控制指令到实际执行该控制指令期间的延时，使得当各控制指令的执行时间达到时，能够立即运行该控制指令，达到每条控制指令都能精确定时的目的。需要进一步说明的是所述测试装置的工作模式包括单次运行模式和循环运行模式。所述循环运行模式是指，以当前测试项对应的所有控制指令为一周期，从第一条控制指令开始执行直至最后一条控制指令，然后定时器清零，回到初始状态，再从第一条控制指令开始执行，如此循环执行所有的控制指令。这种工作模式适用于模拟无线通信中按照通信协议进行数据收发的过程。例如，在TD-SCDMA制式下按时隙进行的收发，或者是GSM制式下突发的形式。所述单次运行模式是指只将当前测试项对应的所有控制指令执行一次，然后返回空闲状态。此时所述被测射频前端芯片停留在执行完最后一条控制指令时的状态，由此可以验证某一系列控制指令的操作对被测射频前端芯片的影响。所述数据存储�？�204，用于存储所述被测射频前端芯片30发射测试时发射的通信用数据以及接收测试时收到的通信用数据。具体的，所述数据存储�？榘ㄊ莘⑸涞ピ褪萁邮盏ピ�。所述数据发射单元，用于在发射测试时，预先从所述上位机上下载通信用数据并存储；在动态测试运行到发射状态时，依次调出相应的数据，通过所述RF数据接口�？榉⑺椭了霰徊馍淦登岸诵酒�。所述数据接收单元，用于在接收测试时，接收并存储所述被测射频前端芯片的通信用数据；待接收测试完成后，把接收到的数据通过所述上位机接口�？樯洗厮錾衔换Ｔ诜⑸洳馐允保霾馐宰爸�20预先从所述上位机10上下载数据，并存储在所述数据存储�？�204中，在动态测试运行到发射状态时，从所述数据存储�？�204中依次调出相应的数据，通过所述RF数据接口�？�206发送至所述被测射频前端芯片30。在接收测试时，所述测试装置20将接收自所述被测射频前端芯片30的数据存储在所述数据存储�？�204中，待接收测试完成后，把接收到的数据通过所述上位机接口模块205上传回所述上位机，用于后续的数据分析工作。所述上位机接口�？�205，用于实现所述上位机10与所述测试装置20之间的通
信。 需要说明的是，所述上位机接口�？�205包括数据通信和命令通信两种工作�？�。其中，在数据通信模式下，所述上位机10直接对所述测试装置20的数据存储�？�204进行操作。在命令通信�？橄拢錾衔换�10对所述测试装置20的寄存器�？�202进行操作。由此可以实现总线复用功能，节省硬件资源。所述RF数据接口�？�206，用于向所述被测射频前端芯片30收发通信用数据。
具体的，所述RF数据接口�？�206可以依据当前通信制式来切换数据传输模式。根据目前市面上通用的标准，TD制式下采用IObit并行接口，GSM制式下采用DIGRF接口。为了简化测试人员编辑测试用数据源的流程，在所述数据存储�？�203中存储的发射数据，是原始的基带数据。在发射测试时，所述RF数据接口�？�206根据通信制式的不同，分别对从所述数据存储�？�203中读出的数据进行处理。具体的，在TD-SCDMA制式下，所述RF数据接口�？�206先将读出的数据送入脉冲成型滤波器，经滤波器处理后再发送给被测射频前端芯片；在GSM制式下，所述RF数据接口�？�206先按照DIGRF协议将读出的基带数据加入接口协议信息，再发送给被测射频前端芯片。所述RF控制接口�？�207，用于实现测试装置20对所述被测射频前端芯片30的读写寄存器以及相关IO端口的操作控制。一般情况下，所述被测射频前端芯片30的读写寄存器采用M0T0R0LASPI接口和 DIGRF接口，所述RF控制接口�？�207可以根据实际应用需要进行切换。当需要对其他类型接口的射频前端芯片进行测试时，只需要对应的更改所述RF控制接口�？�207的接口类型即可，不需要对整个测试装置进行过多的修改。本发明实施例中，采用把硬件框架固化在所述动态测试装置20中，把动态测试调试过程中需要经常修改的控制序列部分，以寄存器�？�202的方式来实现，即在动态测试装置20中，构建一存储容量足够大，结构固定的寄存器�？�202，构建后整个动态测试装置20的硬件将不需再进行改动。动态测试时，只需通过上位机10来编辑控制序列，并在每次动态测试过程中，发送当前测试项对应的控制序列至所述动态测试装置20 ;所述动态测试装置20接收当前测试项对应的控制序列，按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，依次调出相应的控制指令，发送至被测射频前端芯片30，实现对所述被测射频前端芯片30的动态测试。当测试完成，可以把当前编辑好的控制序列存于上位机10中，避免动态测试装置20掉电后造成寄存器内容的丢失。下面对本发明实施例所述的动态测试系统的工作过程进行详细介绍。所述动态测试装置20上电后处于空闲状态(IDLE)，此时上位机10进行以下操作(I)编辑当前动态测试所需的控制序列，并设定各条控制指令的执行时间。(2)通过单步运行的方式来验证所述控制序列每一步(即为每一条控制指令)执行后，所述被测射频前端芯片30所处的状态。(3)下载发射测试中需要发送至被测射频前端芯片的数据至所述动态测试装置20 ;或者上传接收测试中从所述被测射频前端芯片30中接收到的数据。(4)配置所述动态测试装置20的相关参数，如接口的工作频率、切换RF控制接口丰吴块等。(5)保存当前测试所需的控制序列及相关的时间�？椋蛘呒釉刂安馐灾写婧玫呐渲�。在上述空闲状态下，把动态测试过程所需的配置设定好后，通过上位机10的控制软件使所述动态测试装置20进入运行模式(RUN)。首先，上位机10的控制软件把设定好的当前测试项对应的配置信息写入所述动态测试装置20的寄存器�？�202中，然后所述动态测试装置20的任务调度模块203开始工作，当运行到某条控制指令对应的执行时间点时，执行该条控制指令，即为动态测试装置20对被测射频前端芯片30进行相关的操作，例如写射频前端芯片30的寄存器、或改变对应的IO端口的电平等所述动态测试装置20的工作模式包括两种单次运行模式和循环运行模式。这两种工作模式可以应对不同的测试需求。当选择循环运行模式时，以当前测试项对应的所有控制指令为一周期，从第一条控制指令开始执行直至最后一条控制指令，然后定时器清零，回到初始状态，再从第一条控制指令开始执行，如此循环执行所有的控制指令。这种工作模式适用于模拟无线通信中按照通信协议进行数据收发的过程。例如，在TD-SCDMA制式下按时隙进行的收发，或者是GSM制式下突发的形式。当选择单次运行模式时，则只将当前测试项对应的所有控制指令执行一次，然后返回空闲状态。此时所述被测射频前端芯片30停留在执行完最后一条控制指令时的状态，由此可以验证某一系列控制指令的操作对被测射频前端芯片30的影响。需要说明的是，在动态测试过程中，一旦所述动态测试装置20进入运行模式，所述上位机10的控制软件与动态测试装置20之间将不需要再进行任何人工的控制，即两者之间不会再有任何数据的交互，所有对被测射频前端芯片30的操作控制都将由所述动态测试装置20自动完成。由此可以极大的减少测试人员的操作工作量，使其专注于测试现象的分析以及记录，不需要对测试装置进行更多的操作。以上对本发明所提供的一种射频前端芯片的动态测试装置及系统，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式
及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
权利要求
1.一种射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述系统包括上位机和动态测试装置； 所述上位机通过动态测试装置接被测射频前端芯片； 所述上位机，用于编辑及存储动态测试所需所有测试项的控制序列；在动态测试过程中，发送当前测试项对应的控制序列至所述动态测试装置； 所述动态测试装置，用于接收并保存所述上位机发送的当前测试项对应的控制序列；并在动态测试过程中，按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，依次调出相应的控制指令，发送至被测射频前端芯片。
2.根据权利要求I所述的射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述动态测试装置包括时钟模块、寄存器�？椤⑷挝竦鞫饶？�、数据存储模块、上位机接口�？�、RF数据接口�？�、以及RF控制接口�？椋� 所述时钟模块，用于产生所述动态测试装置所需的各种频率的时钟； 所述寄存器�？椋糜谕ü錾衔换涌谀？榻邮詹⒈４嫠錾衔换⑺偷牡鼻安馐韵疃杂Φ目刂菩蛄校徊⒃诙馐怨讨校萁邮兆运鋈挝竦鞫饶？榈牡鞫戎噶畹鞒鱿嘤Φ目刂浦噶睿ü鯮F控制接口�？榉⑺椭帘徊馍淦登岸诵酒� 所述任务调度�？椋糜谠诙馐怨讨校刂扑霾馐宰爸霉ぷ髂Ｊ降那谢唬话凑盏鼻安馐韵疃杂Φ目刂菩蛄兄懈骺刂浦噶畹闹葱惺奔洌蛩黾拇嫫髂？榉⑺偷鞫戎噶睿豢刂扑鯮F数据接口�？楹蚏F控制接口�？榈钠舳⒁约岸员徊馍淦登岸诵酒魇淙胧涑龆丝诘牟僮鳎� 所述数据存储�？椋糜诖娲⑺霰徊馍淦登岸诵酒⑸洳馐允狈⑸涞氖菀约敖邮詹馐允笔盏降耐ㄐ庞檬荩� 所述上位机接口�？椋糜谑迪炙錾衔换胨霾馐宰爸弥涞耐ㄐ牛� 所述RF数据接口�？椋糜谙蛩霰徊馍淦登岸诵酒辗⑼ㄐ庞檬荩� 所述RF控制接口�？椋糜谑迪炙霾馐宰爸枚运霰徊馍淦登岸诵酒亩列醇拇嫫饕约跋喙厥淙胧涑龆丝诘牟僮�。
3.根据权利要求2所述的射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述时钟�？椴捎么由淦登岸诵酒淙氲�26M作为同步时钟源，通过数字时钟管理�？镈CM产生所述动态测试装置工作的主时钟以及不同通信制式下收发数据所需的同步时钟。
4.根据权利要求2所述的射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述测试装置的工作模式包括单次运行模式和循环运行模式； 所述循环运行模式为，以当前测试项对应的所有控制指令为一周期，从第一条控制指令开始执行直至最后一条控制指令，定时器清零，返回初始状态，再从第一条控制指令开始执行，如此循环执行所有的控制指令； 所述单次运行模式为，将当前测试项对应的所有控制指令执行一次，返回空闲状态。
5.根据权利要求2所述的射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述数据存储模块包括数据发射单元和数据接收单元； 所述数据发射单元，用于在发射测试时，预先从所述上位机上下载通信用数据并存储；在动态测试运行到发射状态时，依次调出相应的数据，通过所述RF数据接口�？榉⑺椭了霰徊馍淦登岸诵酒凰鍪萁邮盏ピ糜谠诮邮詹馐允保邮詹⒋娲⑺霰徊馍淦登岸诵酒耐ㄐ庞檬荩淮邮詹馐酝瓿珊螅呀邮盏降氖萃ü錾衔换涌谀？樯洗厮錾衔换�。
6.根据权利要求2所述的射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述上位机接口�？榘街止ぷ髂Ｊ绞萃ㄐ拍Ｊ胶兔钔ㄐ拍Ｊ剑� 在数据通信模式下，所述上位机接口�？橛糜谒錾衔换运鍪荽娲⒛？榻胁僮鳎� 在命令通信�？橄拢錾衔换涌谀？橛糜谒錾衔换运黾拇嫫髂？榻胁僮�。
7.一种射频前端芯片的动态测试装置，其特征在于，所述装置用于配合上位机对被测射频前端芯片进行动态测试； 所述装置包括时钟�？椤⒓拇嫫髂？�、任务调度�？�、数据存储�？�、上位机接口�？椤F数据接口模块、以及RF控制接口�？椋� 所述时钟�？椋糜诓龆馐宰爸盟璧母髦制德实氖敝樱� 所述寄存器�？椋糜谕ü錾衔换涌谀？榻邮詹⒈４嫠錾衔换⑺偷牡鼻安馐韵疃杂Φ目刂菩蛄校徊⒃诙馐怨讨校萁邮兆运鋈挝竦鞫饶？榈牡鞫戎噶畹鞒鱿嘤Φ目刂浦噶睿ü鯮F控制接口�？榉⑺椭帘徊馍淦登岸诵酒� 所述任务调度�？椋糜谠诙馐怨讨校刂扑霾馐宰爸霉ぷ髂Ｊ降那谢唬话凑盏鼻安馐韵疃杂Φ目刂菩蛄兄懈骺刂浦噶畹闹葱惺奔洌蛩黾拇嫫髂？榉⑺偷鞫戎噶睿豢刂扑鯮F数据接口�？楹蚏F控制接口模块的启动、以及对被测射频前端芯片各输入输出端口的操作； 所述数据存储�？椋糜诖娲⑺霰徊馍淦登岸诵酒⑸洳馐允狈⑸涞耐ㄐ庞檬菀约敖邮詹馐允笔盏降耐ㄐ庞檬荩� 所述上位机接口模块，用于实现所述上位机与所述测试装置之间的通信； 所述RF数据接口�？椋糜谙蛩霰徊馍淦登岸诵酒辗⑼ㄐ庞檬荩� 所述RF控制接口�？椋糜谑迪炙霾馐宰爸枚运霰徊馍淦登岸诵酒亩列醇拇嫫饕约跋喙厥淙胧涑龆丝诘牟僮�。
8.根据权利要求7所述的射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述时钟�？椴捎么由淦登岸诵酒淙氲�26M作为同步时钟源，通过数字时钟管理�？镈CM产生所述动态测试装置工作的主时钟以及不同通信制式下收发数据所需的同步时钟。
9.根据权利要求7所述的射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述测试装置的工作模式包括单次运行模式和循环运行模式； 所述循环运行模式为，以当前测试项对应的所有控制指令为一周期，从第一条控制指令开始执行直至最后一条控制指令，定时器清零，返回初始状态，再从第一条控制指令开始执行，如此循环执行所有的控制指令； 所述单次运行模式为，将当前测试项对应的所有控制指令执行一次，返回空闲状态。
10.根据权利要求7所述的射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述数据存储�？榘ㄊ莘⑸涞ピ褪萁邮盏ピ� 所述数据发射单元，用于在发射测试时，预先从所述上位机上下载通信用数据并存储；在动态测试运行到发射状态时，依次调出相应的数据，通过所述RF数据接口�？榉⑺椭了霰徊馍淦登岸诵酒� 所述数据接收单元，用于在接收测试时，接收并存储所述被测射频前端芯片的通信用数据；待接收测试完成后，把接收到的数据通过所述上位机接口�？樯洗厮錾衔换�。
11.根据权利要求7所述的射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述上位机接口�？榘街止ぷ髂Ｊ绞萃ㄐ拍Ｊ胶兔钔ㄐ拍Ｊ剑� 在数据通信模式下，所述上位机接口�？橛糜谒錾衔换运鍪荽娲⒛？榻胁僮鳎� 在命令通信�？橄拢錾衔换涌谀？橛糜谒錾衔换运黾拇嫫髂？榻胁僮�。
全文摘要
本发明实施例公开了一种射频前端芯片的动态测试系统，所述系统包括上位机，用于编辑及储存动态测试所需所有测试项的控制序列；在动态测试过程中，发送当前测试项对应的控制序列至动态测试装置；动态测试装置，用于接收并保存所述上位机发送的当前测试项对应的控制序列；并在动态测试过程中，按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，依次调出相应的控制指令，发送至被测射频前端芯片。采用本发明实施例，能够让射频前端芯片脱离基带芯片，独立测试射频前端芯片的动态性能；该装置及系统具有较高的灵活性，大大提高了射频前端芯片动态性能测试的效率和效果。
文档编号G01R31/28GK102621478SQ20121008930
公开日2012年8月1日 申请日期2012年3月29日 优先权日2012年3月29日
发明者叶晖, 李志俊, 梁晓峰, 郑卫国 申请人:广州市广晟微电子有限公司
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