亚星游戏官网-www.yaxin868.com

专利名称：电磁辐射测量装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测量装置，特别涉及一种电磁辐射测量装置。
背景技术：
按照各国电磁兼容(Electro-Magnetic Compatibility, EMC)指令要求，电子产品 在进入该国市场销售前需要进行电磁干扰(Electromagnetic Interference,EMI)测试，只 有符合该国EMC标准的产品才能在该国市场出售。因此，在产品研发阶段进行EMI辐射的 抑制就显得尤为重要。当产品EMI辐射超标时，需要找出辐射超标的EMI辐射源以对其进 行抑制，传统的电磁辐射測量装置在测量过程中可能会受到非产品本身发出的外界磁场的 干扰，而造成EMI辐射源定位的不准确，给辐射源的抑制带来困难。

发明内容
鉴于以上内容，有必要提供ー种可以准确定位辐射源的电磁辐射測量装置。一种电磁辐射测量装置，包括一測量本体及一探棒设备，所述探棒设备包括一金 属屏蔽罩、ー设置于所述金属屏蔽罩内部的探头及ー电缆，连接所述探头的电缆穿过所述 金属屏蔽罩的底部后连接至所述测量本体上。相较现有技木，所述电磁辐射测量装置通过所述金属屏蔽罩来屏蔽金属屏蔽罩外 部电磁辐射的干扰，从而准确检测电磁辐射超标的电磁辐射源。


下面參照附图结合具体实施方式
对本发明作进ー步的说明。图1是本发明电磁辐射測量装置的较佳实施方式的剖面示意图。图2是图1中电磁辐射測量装置的探棒设备的分解示意图。图3是图2中金属屏蔽罩底部的剖面图。图4是图2中同轴电缆的剖面图。主要元件符号说明电磁辐射測量装置 100测量本体110探棒设备120金属屏蔽罩10探头20母头SMA连接器30第一固定片50公头SMA连接器40手持柄66第二固定片60
同轴电缆70
螺丝80
螺母90
中心孔112
导电体113
通孔12、54、64、661
定位孔52
固定孔6具体实施例方式请参考图1至图4，本发明电磁辐射测量装置100的较佳实施方式包括一测量本体 110及一探棒设备120。所述测量本体110为一现有测量仪器，如一频谱仪，其具体工作原理在此不再赘述。所述探棒设备120包括一金属屏蔽罩10、一探头20、一连接所述探头20 的母头SMA(Sub-Miniature-A)连接器30、一第一固定片50、一设置在所述第一固定片50 上的公头SMA连接器40、一手持柄66、一固定所述手持柄66的第二固定片60、一同轴电缆 70、两螺丝80及两螺母90。所述金属屏蔽罩10的底部11的中心位置设置一中心孔112，一环形导电体113环绕所述中心孔112设置在所述金属屏蔽罩10的底部11，所述中心孔112的两边分别设置一通孔12。所述第一固定片50的中间位置设置一通孔M，所述通孔M的两边分别设置一定位孔52。所述第二固定片60的中间位置设置一通孔64，所述通孔64的两边分别设置一固定孔62。所述固定孔62与所述金属屏蔽罩10底部11的通孔12及所述第一固定片50的定位孔52相对应。所述手持柄66中心设置一通孔661，所述通孔661与所述第二固定片 60的通孔64、所述金属屏蔽罩10底部11的中心孔112及所述第一固定片50的通孔M相对应。在本实施方式中，所述金属屏蔽罩10的内壁贴有吸波材料。所述导电体113为普通导线、导电海绵、导电布、导电夹、导电胶、铜箔或铝箔中的任何一种。所述同轴电缆70由外至内依次包括一保护层71、一屏蔽层72、一绝缘层73及一线芯74。组装时，所述同轴电缆70的第一端穿过所述手持柄66中心的通孔661及所述第二固定片60的通孔64后使所述同轴电缆70的屏蔽层72与所述金属屏蔽罩10底部11的导电体113电连接，并使所述同轴电缆70的线芯74通过所述金属屏蔽罩10底部11的中心孔112及所述第一固定片50的通孔M插入所述公头SMA连接器40内，所述同轴电缆70 的第二端连接至所述测量本体110上，所述螺丝80依次穿过所述第二固定片60的固定孔 62、所述金属屏蔽罩10底部11的通孔12及所述第一固定片50的定位孔52，再将所述螺母 90锁固于所述螺丝80上，所述母头SMA连接器30电性连接于所述公头SMA连接器40。使用时，如果一电子设备的电磁干扰超标而需要找出所述电子设备主板上的电磁辐射超标的辐射源时，使用者通过所述手持柄66使用所述探棒设备120检测所述电子设备主板，因为所述探头20位于所述金属屏蔽罩10的内部，由于金属屏蔽罩10的作用，所述探头20只接收到所述电子设备主板发出的电磁辐射，而不会收到其他外部设备发出的电磁辐射的干扰，当所述探棒设备120检测到所述电子设备主板上的一电磁辐射源时，所述辐射源发射的电磁辐射通过所述探头20、所述母头SMA连接器30、所述公头SMA连接器40及所述同轴电缆70传送至连接所述探棒设备120的测量本体110，所述测量本体110将接收到的电磁辐射经过处理后显示出来，使用者通过观察所述测量本体110显示的结果来判断所述检测的电磁辐射源发出的电磁辐射是否超标。所述电子设备主板上其他电磁辐射源的测试原理相同，在此不再赘述。因此，使用者在电子设备的电磁辐射超标后，通过所述电磁辐射测量装置100即可准确地找到电磁辐射超标的电磁辐射源，从而通过采取相应措施来降低所述电磁辐射源发出的超标的电磁辐射，进而降低所述电子设备的电磁辐射。
所述电磁辐射测量装置100通过所述金属屏蔽罩10来屏蔽所述探头20收到的其他外部设备发出的电磁辐射的干扰，从而在所述电子设备的电磁辐射超标时准确检测电磁辐射超标的电磁辐射源，以对所述超标辐射源发出的电磁辐射进行抑制，进而降低所述电子设备的电磁辐射。
权利要求
1.一种电磁辐射测量装置，包括一测量本体及一探棒设备，所述探棒设备包括一金属屏蔽罩、一设置于所述金属屏蔽罩内部的探头及一电缆，连接所述探头的电缆穿过所述金属屏蔽罩的底部后连接至所述测量本体上。
2.如权利要求1所述的电磁辐射测量装置，其特征在于所述电磁辐射测量装置还包括一连接所述探头的第一连接器、一第一固定片、一设置在所述第一固定片上的第二连接器、一手持柄、一固定所述手持柄的第二固定片、若干螺丝及若干螺母，所述金属屏蔽罩底部的中心位置设置一中心孔，一环形导电体环绕所述中心孔设置在所述金属屏蔽罩的底部，所述中心孔的两边分别设置一第一通孔，所述第一固定片的中间位置设置一第二通孔， 所述第二通孔的两边分别设置一定位孔，所述第二固定片的中间位置设置一第三通孔，所述第三通孔的两边分别设置一固定孔，所述手持柄中心设置一第四通孔，所述电缆的第一端穿过所述第四通孔及所述第三通孔后使所述电缆的一部分与所述金属屏蔽罩底部的导电体电连接，并使所述电缆的另一部分通过所述金属屏蔽罩底部的中心孔及所述第一固定片的第二通孔插入所述第二连接器内，所述电缆的第二端连接至所述测量本体上，所述螺丝分别穿过所述第二固定片的固定孔及所述第一通孔并将螺母锁固于所述螺丝上，所述第一连接器电性连接于所述第二连接器。
3.如权利要求2所述的电磁辐射测量装置，其特征在于所述第一连接器为一母头SMA 连接器，所述第二连接器为一公头SMA连接器。
4.如权利要求2所述的电磁辐射测量装置，其特征在于所述电缆为一同轴电缆，所述电缆包括一保护层、一屏蔽层、一绝缘层及一线芯，所述电缆的屏蔽层与所述金属屏蔽罩底部的导电体电连接，所述电缆的线芯通过所述金属屏蔽罩底部的中心孔及所述第一固定片的第二通孔插入所述第二连接器内。
5.如权利要求1所述的电磁辐射测量装置，其特征在于所述金属屏蔽罩的内壁贴有吸波材料。
全文摘要
一种电磁辐射测量装置，包括一测量本体及一探棒设备，所述探棒设备包括一金属屏蔽罩、一设置于所述金属屏蔽罩内部的探头及一电缆，连接所述探头的电缆穿过所述金属屏蔽罩的底部后连接至所述测量本体上。所述电磁辐射测量装置通过所述金属屏蔽罩来屏蔽金属屏蔽罩外部电磁辐射的干扰，从而准确检测电磁辐射超标的电磁辐射源。
文档编号G01R29/08GK102375094SQ20101025742
公开日2012年3月14日 申请日期2010年8月19日 优先权日2010年8月19日
发明者王军伟, 陈俊宏 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司