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专利名称：一种两相流颗粒相浓度后向光散射法测量仪的校准装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量仪的校准装置，尤其是一种利用两相流颗粒相的后向光 散射测量颗粒相浓度的测量仪的校准装置。
背景技术：
随着工业生产及环境保护要求的提高，颗粒污染物的监测越来越受到人们的重 视，各类利用两相流颗粒相的光散射测量颗粒相浓度的测量仪得到了广泛的应用。两相流颗粒相浓度测量测仪的工作是原理是半导体激光器发出的激光束投射到 颗粒物两相流中，颗粒物所产生的散射光通过接收镜头汇聚于光电传感器，电信号的大小 与颗粒物浓度呈正比，从而实现对颗粒物的监测。目前国内外利用光散射原理的两相流颗粒相浓度测量仪的校准装置都是采用前 置放入，测量仪在测量过程中须把校准装置取下存放，同时，校准装直校准点的调整以及校 准过程较为复杂，又限制了光散射原理用于监测两相流颗粒相浓度的应用。
发明内容本实用新型的目的是研制一种解决上述问题，结构紧凑，测量仪在测量过程中不 需要把校准装置取出单独存放，校准调整方便，和测量仪一体式存放，侧面导入的利用两相 流颗粒相的后向光散射测量颗粒相浓度的测量仪的校准装置。本实用新型通过以下技术方案实现本实用新型主要由压紧保护罩、反螺纹压盖、校准壳体、不锈钢漫反射体、粗调螺 钉和微调螺钉组成，其特征在于压紧保护罩通过螺纹和测量仪的导气法兰连接，跨度校准 时，反螺纹压盖设置在校准壳体和压紧保护罩之间，通过螺纹和校准壳体连接，校准壳体穿 过测量仪的导气法兰壁孔插在其内腔内，不锈钢漫反射体固定在校准壳体的内腔内，粗调 螺钉穿过校准壳体壁顶在不锈钢漫反射体的下部，微调螺钉穿过校准壳体壁顶在不锈钢漫 反射体的上部，其中，压紧保护罩有内腔结构，反螺纹压盖和压紧保护罩的螺纹方向是相反 的，保证压紧保护罩在旋转时，反螺纹压盖不会联动，校准壳体有入射窗口和反射窗口，入 射窗口和反射窗口位于校准壳体的同一侧。跨度校准状态时，本实用新型的压紧保护罩通过螺纹和测量仪的导气法兰连接， 由端面销定位后由压紧保护罩压紧，反螺纹压盖设置在校准壳体和压紧保护罩之间，入射 窗口对着测量仪的李氏孔，反射窗口对着测量仪的汇聚镜头组和传感器，不锈钢漫反射体 通过粗调螺钉和微调螺钉调节不锈钢漫反射体的二次反射角度，实现对由通过李氏孔再进 入入射窗口的激光束的反射光能由反射窗口导出的光能的份额控制，进而实现当每次校准 装置被置入测量仪时，会有一致能量的光能由反射窗口导出，实现校准功能。零点校准状态时，校准壳体插入测量仪时与跨度校准状态比较旋转180度，这种 定位状态入射激光束不能进入汇聚镜头组和传感器，作为没有散射光的零点信号。存放状态时，将校准壳体倒转插入到压紧保护罩的内腔结构内，由压紧保护罩压入固定在测量仪上呈一体式状态保存，测量仪正常工作，达到设计目的。本实用新型具有下列优点1、经由本实用新型的实施，校准装置从测量仪的侧面导入，测量装置不必拆卸即 可进行校准。2、经由本实用新型的实施，生产时通过粗调螺钉大范围改变校准装置反射光份额 的比例，在现场的调整可以通过微调螺钉进行精细的调整，使得在现场复杂的环境下可以 容易简单的进行校准装置及测量仪维护。3、经由本实用新型的实施，校准装置和测量仪一体保存，避免多台测量仪时校准 装置的出现混淆现象。
以下结合附图对本实用新型进一步说明。

图1是本实用新型的剖视图的结构示意图。图2是本实用新型在零点校准状态时的结构示意图。图3是本实用新型在存放状态时的结构示意图。图中，1压紧保护罩、11内腔结构、2反螺纹压盖、3校准壳体、31入射窗口、32反射 窗口、4不锈钢漫反射体、5粗调螺钉、6微调螺钉、7测量仪、71气法兰、72李氏孔、73汇聚镜 头组、74传感器
具体实施方式
图1至图3中所示本实用新型主要由压紧保护罩(1)、反螺纹压盖(2)、校准壳体 (3)、不锈钢漫反射体(4)、粗调螺钉(5)和微调螺钉(6)组成，其特征在于压紧保护罩(1) 通过螺纹和测量仪(7)的导气法兰(71)连接，跨度校准时，反螺纹压盖(2)设置在校准壳 体(3)和压紧保护罩(1)之间，通过螺纹和校准壳体(3)连接，校准壳体(3)穿过测量仪 (7)的导气法兰(71)壁孔插在其内腔内，不锈钢漫反射体⑷固定在校准壳体(3)的内腔 内，粗调螺钉(5)穿过校准壳体(3)壁顶在不锈钢漫反射体(4)的下部，微调螺钉(6)穿过 校准壳体(3)壁顶在不锈钢漫反射体(4)的上部，其中，压紧保护罩(1)有内腔结构(11)， 反螺纹压盖(2)和压紧保护罩(1)的螺纹方向是相反的，保证压紧保护罩(1)在旋转时，反 螺纹压盖(2)不会联动，校准壳体(3)有入射窗口(31)和反射窗口(32)，入射窗口(31)和 反射窗口(32)位于校准壳体(3)的同一侧。图1也是本实用新型在跨度校准状态时的结构示意图，入射窗口(31)对着测量仪 (7)的李氏孔(72)，反射窗口 (32)对着测量仪(7)的汇聚镜头组(73)和传感器(74)，不锈 钢漫反射体(4)通过粗调螺钉(5)和微调螺钉(6)调节不锈钢漫反射体(4)的二次反射角 度，实现对由通过李氏孔(72)再进入入射窗口(31)的激光束的反射光能由反射窗口(32) 导出的光能的份额控制，进而实现当每次校准装置被置入测量仪(7)时，会有一致能量的 光能由反射窗口(32)导出，实现校准功能。在图2中，零点校准状态时，校准壳体(3)插入测量仪(7)时与跨度校准状态比较 旋转180度，这种定位状态入射激光束不能进入汇聚镜头组(73)和传感器(74)，作为没有 散射光的零点信号。[0023]在图3中，存放状态时，将校准壳体(3)倒转插入到压紧保护罩(1)的内腔结构 (11)内，由压紧保护罩(1)压入固定在测量仪(7)上呈一体式状态保存，测量仪(7)正常工 作，达到设计目的。本实用新型，结构紧凑，测量仪在测量过程中不需要把校准装置取出单独存放，校 准调整方便，广泛应用于两相流颗粒相浓度后向光散射法测量仪的校准装置领域。
权利要求一种两相流颗粒相浓度后向光散射法测量仪的校准装置，主要由压紧保护罩(1)、反螺纹压盖(2)、校准壳体(3)、不锈钢漫反射体(4)、粗调螺钉(5)和微调螺钉(6)组成，其特征在于压紧保护罩(1)通过螺纹和测量仪(7)的导气法兰(71)连接，反螺纹压盖(2)设置在校准壳体(3)和压紧保护罩(1)之间，通过螺纹和校准壳体(3)连接，校准壳体(3)穿过测量仪(7)的导气法兰(71)壁孔插在其内腔内，不锈钢漫反射体(4)固定在校准壳体(3)的内腔内，粗调螺钉(5)穿过校准壳体(3)壁顶在不锈钢漫反射体(4)的下部，微调螺钉(6)穿过校准壳体(3)壁顶在不锈钢漫反射体(4)的上部。
2.根据权利要求1所述的一种两相流颗粒相浓度后向光散射法测量仪的校准装置，其 特征是所述压紧保护罩(1)有内腔结构(11)。
3.根据权利要求1所述的一种两相流颗粒相浓度后向光散射法测量仪的校准装置，其 特征是所述反螺纹压盖(2)和压紧保护罩(1)的螺纹方向是相反的。
4.根据权利要求1所述的一种两相流颗粒相浓度后向光散射法测量仪的校准装置， 其特征是所述校准壳体(3)有入射窗口(31)和反射窗口(32)，入射窗口(31)和反射窗口 (32)位于校准壳体(3)的同一侧。
专利摘要一种两相流颗粒相浓度后向光散射法测量仪的校准装置，主要由压紧保护罩(1)、反螺纹压盖(2)、校准壳体(3)、不锈钢漫反射体(4)、粗调螺钉(5)和微调螺钉(6)组成，其特征在于压紧保护罩(1)通过螺纹和测量仪(7)的导气法兰(71)连接，跨度校准和零点校准时，反螺纹压盖(2)设置在校准壳体(3)和压紧保护罩(1)之间，存放状态时，将校准壳体(3)倒转插入到压紧保护罩(1)的内腔结构(11)内，由压紧保护罩(1)压入固定在测量仪(7)上呈一体式状态保存，测量仪(7)正常工作，达到设计目的。
文档编号G01N15/06GK201673105SQ20102017865
公开日2010年12月15日 申请日期2010年4月27日 优先权日2010年4月27日
发明者尉士民 申请人:深圳市彩虹谷科技有限公司