专利名称：X-荧光光谱分析用升降式样品盒的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及X-荧光光谱分析领域，具体提供一种X-荧光光谱分析用升降式
样品盒。
背景技术：
X-荧光光谱分析中通常利用样品盒承载样品。现有技术下的样品盒主要由盒体、面罩、支撑弹簧及支撑架构成。样品置于支撑架与面罩之间，通过支撑弹簧适应不同厚度的 样品，固定的牢固程度取决于样品的厚度和重量。对于厚度较小(小于3毫米)的样品，往 往会出现有效分析面偏离的问题，给准确分析带来困难。
发明内容本实用新型是针对上述现有技术的不足，提供一种结构简单、可适应各种样品厚 度的X-荧光光谱分析用升降式样品盒。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是X-荧光光谱分析用升降式样 品盒，包括盒体及开有透射孔的面罩，面罩旋接在盒体开口端，其特点是，盒体侧壁设内螺 纹，盒体底面与盒体侧壁螺纹连接。在盒体底面上侧面开有圆形限位槽。在盒体底面下侧面开有手拨旋转槽。本实用新型的X-荧光光谱分析用升降式样品盒和现有技术相比，具有以下突出 的有益效果(一 )设置活动底面，将样品固定在底面与面罩之间，通过调节底面位置适应样品 厚度，适用于各种厚度的样品，应用范围广、固定牢固；(二)省去支撑弹簧及支撑架等构件，结构简单，制造成本低。
附图1是本实用新型X-荧光光谱分析用升降式样品盒的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，但不作为对本实用新型 的限定。下面给出一个最佳实施例X-荧光光谱分析用升降式样品盒，由盒体1、面罩2构成。在面罩2上开有透射孔 2-1，面罩2旋接在盒体1的开口端。所述盒体1由盒体侧壁1-1、盒体底面1-2构成。盒体 侧壁1-1设内螺纹，盒体底面1-2与盒体侧壁1-1螺纹连接。在盒体底面1-2的上侧面开 有圆形限位槽1-3，下侧面开有手拨旋转槽1-4。本实用新型的升降式样品盒的使用方法与现有技术中样品盒的使用方法基本相同，只是样品的固定方式不同。首先，将样品放在盒体底面的圆形限位槽处，然后盖上面罩， 将盒体底面旋进至样品被夹紧即可开始检测。 以上所述的实施例，只是本实用新型较优选的具体实施方式
的一种，本领域的技 术人员在本实用新型技术方案范围内进行的通常变化和替换都应包含在本实用新型的保 护范围内。
权利要求X-荧光光谱分析用升降式样品盒，包括盒体及开有透射孔的面罩，面罩旋接在盒体开口端，其特征在于，盒体侧壁设内螺纹，盒体底面与盒体侧壁螺纹连接。
2.根据权利要求1所述的X-荧光光谱分析用升降式样品盒，其特征在于，在盒体底面 上侧面开有圆形限位槽。
3.根据权利要求1所述的X-荧光光谱分析用升降式样品盒，其特征在于，在盒体底面 下侧面开有手拨旋转槽。
专利摘要本实用新型涉及X-荧光光谱分析领域，具体提供X-荧光光谱分析用升降式样品盒。其结构包括盒体及开有透射孔的面罩，面罩旋接在盒体开口端，其特点是，盒体侧壁设内螺纹，盒体底面与盒体侧壁螺纹连接。与现有技术相比，本实用新型的X-荧光光谱分析用升降式样品盒具有结构简单、可适应各种样品厚度等特点，可应用于各种厚度样品的X-荧光光谱分析过程中。
文档编号G01N23/223GK201600340SQ20102011761
公开日2010年10月6日 申请日期2010年2月24日 优先权日2010年2月24日
发明者袁家义 申请人:袁家义
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