专利名称：：集成电路芯片测试仪的制作方法
技术领域：
：本实用新型涉及一种测试仪，特别是一种用于对集成电路芯片进行测试的测试仪。
背景技术：
：现有的集成电路芯片测试仪，参见图1，包括芯片卡槽11、单片机22、键盘33、显示灯44以及显示屏55，其中芯片卡槽11连接单片机22，用于连接待测试的集成电路芯片；键盘33连接单片机22，有四个，用于进行上翻和下翻查找芯片型号，并进行复位和确认；显示灯44连接单片机22，用于显示待测集成电路芯片的好坏；显示屏55连接单片机22，用于显示要查找的芯片型号；单片机22用于存储相应的集成电路芯片的特征，在显示屏55上显示出来，以提供按下键盘33对芯片型号的查找，并检测集成电路芯片的好坏，通过相应的显示灯44进行显示。但是现有的集成电路芯片测试仪，只能通过上翻或下翻进行查找，查找时间长，并且不方便，且只有在知道芯片型号的情况下才能进行查找，并测试好坏，不能直观反映芯片的情况。
实用新型内容针对上述现有技术的缺陷，本实用新型的目的是提供一种操作方便，得到结果快速准确，测试结果显示清楚、简单、明了，价格便宜，便于检测和修改的集成电路芯片测试仪。—种集成电路芯片测试仪，包括芯片卡槽、单片机、键盘、显示灯和液晶显示器；[0006]所述芯片卡槽用于连接待测的集成电路芯片；所述键盘用于输入待测集成电路芯片的型号或者管脚特性以及进行功能切换、确认和复位；所述显示灯用于显示测量结果；所述液晶显示器用于显示按键输入的信息，并显示集成电路芯片的芯片型号、逻辑符号和逻辑表达式；所述单片机用于存储集成电路芯片的型号、逻辑符号和逻辑表达式，测量所述芯片卡槽上插入的待测集成电路芯片的好坏，并指示所述显示灯和所述液晶显示器显示结果，令所述液晶显示器显示集成电路芯片的逻辑符号和逻辑表达式，接收所述键盘键入的集成电路芯片的型号或者管脚特性，令所述液晶显示器显示键入的集成电路芯片的逻辑符号和逻辑表达式；所述5V直流源为所述芯片卡槽、所述单片机、所述键盘、所述显示灯和所述液晶显示器提供5V直流电源；还包括第一扩展接口、第二扩展接口；所述第一扩展接口用于连接所述单片机和所述液晶显示器，扩展所述单片机的端4□;所述第二扩展接口用于连接所述单片机和所述键盘以及显示灯，扩展所述单片机的端口。本实用新型的集成电路芯片测试仪，其中所述单片机存储74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30芯片和74/109/160/245时序芯片的逻辑符号和逻辑表达式。本实用新型述的集成电路芯片测试仪，其中所述键盘为16个按键的键盘。本实用新型的集成电路芯片测试仪，其中所述显示灯有三个，第三显示灯、第二显示灯、第一显示灯，分别为红色、绿色和白色。本实用新型的集成电路芯片测试仪，其中所述5V直流源采用变压器将220V交流电变为9v直流电，再通过集成稳压器转换成稳定的5V输出，所述集成稳压器的型号为7805。本实用新型的集成电路芯片测试仪，其特征在于，所述芯片卡槽的1、2、3、4、5、6、7、8、9、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20管脚分别通过1K电阻连接所述单片机的1、2、3、4、5、6、7、8、21、23、24、25、26、10、11、12、13、14、15管脚，所述芯片卡槽的10管脚接地，20管脚通过1K电阻接5V电源；所述第一扩展接口的8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19管脚分别连接单片机的28、17、16、30、39、38、37、36、35、34、33、32管脚，所述第一扩展接口的21、22、23、24、25、26、27、28、29、30、31管脚分别连接所述液晶显示器的7、8、9、10、11、12、13、14、6、5、4管脚；所述液晶显示器的3管脚通过可变电阻连接5V电源，2管脚连接5V电源，l管脚接地，20管脚接地，15、18管脚接5V电源；所述第二扩展接口的8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19管脚分别连接单片机的27、17、16、30、39、38、37、36、35、34、33、32管脚，所述第二扩展接口的29、30管脚分别通过电阻连接5V电源，21管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，22管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，23管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，24管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，25管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，26管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，27管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，28管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，37、38、39管脚分别通过1K电阻连第一接显示灯、第二显示灯、第三显示灯，所述第一接显示灯、第二显示灯、第三显示灯的另一端接地；所述单片机的18、19管脚之间并联晶振，晶振两端并联两个22pF的电容，两个电容之间的节点接地；所述单片机的9管脚通过1K电阻接地，20管脚接地，9管脚通过22uF电容接5V电源，31、40管脚接5V电源。[0020]由于本实用新型集成电路芯片测试仪采用单片机进行控制，原理简单易懂，采用按键进行控制，可以直接插入集成电路芯片，进行测试好坏和显示芯片型号、逻辑符号和逻辑表达式；或者进行按键输入芯片管脚特性，直接得到芯片型号、逻辑符号和逻辑表达式，操作方便，程序控制得到结果快速准确，测试结果显示清楚、简单、明了；又由于采用的芯片及元件简单，因此价格便宜；各个部分都可以独立实现功能，便于检测和修改。图1是现有集成电路芯片测试仪的框图；[0022]图2是本实用新型集成电路芯片测试仪的框图；[0023]图3是本实用新型集成电路芯片测试仪的5V直流源的电路图；[0024]图4是本实用新型集成电路芯片测试仪的测试方法流程图；[0025]图5是本实用新型集成电路芯片测试仪的电路图。具体实施方式以下结合附图对本实用新型集成电路芯片测试仪的实施方式进行详细说明。[0027]参见图2，本实用新型的集成电路芯片测试仪采用的W78E058B4DL单片机2为控制核心，通过74系列芯片的管脚特性，来判断芯片好坏和检测芯片型号。由芯片卡槽1、单片机2、第一扩展接口6、第二扩展接口7，液晶显示器5、键盘3、显示灯4和5V直流源8组成，其中单片机2型号为W78E058B40DL，第一扩展接口6和第二扩展接口7为8155扩展芯，键盘3为2X8键盘，共16个按键，液晶显示器5为12864液晶显示屏，其5V直流源为自制直流电源。芯片卡槽1用于连接待测的集成电路芯片；键盘3用于输入待测集成电路芯片的型号或者管脚特性以及进行功能切换、确认和复位；显示灯4用于显示测量结果；液晶显示器5用于显示按键输入的信息，并显示集成电路芯片的芯片型号、逻辑符号和逻辑表达式；单片机2用于存储集成电路芯片的型号、逻辑符号和逻辑表达式，测量芯片卡槽1上插入的待测集成电路芯片的好坏，并指示显示灯4和液晶显示器5显示结果，令液晶显示器5显示集成电路芯片的逻辑符号和逻辑表达式，接收键盘3键入的集成电路芯片的型号或者管脚特性，令液晶显示器5显示键入的集成电路芯片的逻辑符号和逻辑表达式。[0033]第一扩展接口6用于连接单片机2和液晶显示器5，扩展单片机2的端口；[0034]第二扩展接口7用于连接单片机2和键盘3以及显示灯4，扩展单片机2的端口；[0035]5V直流源8为芯片卡槽1、单片机2、键盘3、显示灯4和液晶显示器5提供5V直流电源。参见图5，芯片卡槽1的1、2、3、4、5、6、7、8、9、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20管脚分别通过1K电阻连接单片机2的1、2、3、4、5、6、7、8、21、23、24、25、26、10、11、12、13、14、15管脚，芯片卡槽1的10管脚接地，20管脚通过1K电阻接5V电源；第一扩展接口6的8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19管脚分别连接单片机的28、17、16、30、39、38、37、36、35、34、33、32管脚，第一扩展接口6的21、22、23、24、25、26、27、28、29、30、31管脚分别连接液晶显示器5的7、8、9、10、11、12、13、14、6、5、4管脚；液晶显示器5的3管脚通过可变电阻Rl连接5V电源，2管脚连接5V电源，1管脚接地，20管脚接地，15、18管脚接5V电源；第二扩展接口7的8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19管脚分别连接单片机的27、17、16、30、39、38、37、36、35、34、33、32管脚，第二扩展接口7的29、30管脚分别通过电阻连接5V电源，21管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，22管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，23管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，24管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，25管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，26管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，27管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，28管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，37、38、39管脚分别通过1K电阻连第一接显示灯Ll、第二显示灯L2、第三显示灯L3，第一接显示灯Ll、第二显示灯L2、第三显示灯L3的另一端接地；单片机2的18、19管脚之间并联晶振，晶振两端并联两个22pF的电容，两个电容之间的节点接地；单片机2的9管脚通过1K电阻接地，20管脚接地，9管脚通过22uF电容接5V电源，31、40管脚接5V电源。其中单片机2内存有包括74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30十种常用芯片和74/109/160/245四种时序芯片的逻辑符号和逻辑表达式；显示灯4有三个，第三显示灯L3、第二显示灯L2、第一显示灯Ll，分别为红色、绿色和白色，红色灯用以显示待测集成电路芯片为坏的、绿色灯显示为好的，白色灯用以待测集成电路芯片不在设定的范围之内，显示超出测试范围；同时液晶显示器5显示"FALSE"、"PASS"和"超出范围"。参见图3，5V直流源采用变压器TR1将220V交流电变为9v直流电，变压器TR1的上端连接集成稳压器7805的1管脚，下端连接稳压器7805的2管脚，并接地，稳压器7805的3管脚通过第一电容Cl接变压器TR1的下端，从而稳压器7805将9V的直流电转换成稳定的5V直流输出。通过单片机进行处理和控制，达到实现以下三个功能功能一，即开机默认该功能用键盘输入芯片型号后，系统能自动检测芯片的好坏，并通过液晶屏和指示灯直观显示结果；功能二对完好的芯片，能够自动显示逻辑符号和逻辑表达式，确定芯片型号；[0043]功能三不插芯片，输入简单的管脚特性，判断出芯片型号，并自动调出芯片的逻辑符号和逻辑表达式。其中管脚特性的输入如下表所示+为高电平，_为低电平，通过按键来输入。[0045]<table>tableseeoriginaldocumentpage7</column></row><table>[0046]参见图4，单片机控制的流程为[0047]步骤401，进行键盘扫描；步骤402，判定是否有按键信息键入，否，则执行步骤401;步骤403，判定是否进行功能切换，否，则执行步骤408;步骤404，判定是否切换到功能二，否，则执行步骤409;步骤405，切换到功能二；步骤406，执行功能二；步骤407，进行液晶显示结果；步骤408，执行功能一；步骤409，切换到功能三；步骤410，执行功能三，后执行步骤407。由于本实用新型集成电路芯片测试仪采用单片机进行控制，原理简单易懂，采用按键进行控制，可以直接插入集成电路芯片，进行测试好坏和显示芯片型号、逻辑符号和逻辑表达式；或者进行按键输入芯片管脚特性，直接得到芯片型号、逻辑符号和逻辑表达式，操作方便，程序控制得到结果快速准确，测试结果显示清楚、简单、明了；又由于采用的芯片及元件简单，因此价格便宜；各个部分都可以独立实现功能，便于检测和修改。以上的实施例仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型的范围进行限定，在不脱离本实用新型设计精神的前提下，本领域普通工程技术人员对本实用新型的技术方案做出的各种变形和改进，均应落入本实用新型的权利要求书确定的保护范围内。8权利要求一种集成电路芯片测试仪，包括芯片卡槽(1)、单片机(2)、键盘(3)、显示灯(4)、液晶显示器(5)以及5V直流源(8)；所述芯片卡槽(1)用于连接待测的集成电路芯片；所述键盘(3)用于输入待测集成电路芯片的型号或者管脚特性以及进行功能切换、确认和复位；所述显示灯(4)用于显示测量结果；所述液晶显示器(5)用于显示按键输入的信息，并显示集成电路芯片的芯片型号、逻辑符号和逻辑表达式；所述单片机(2)用于存储集成电路芯片的型号、逻辑符号和逻辑表达式，测量所述芯片卡槽(1)上插入的待测集成电路芯片的好坏，并指示所述显示灯(4)和所述液晶显示器(5)显示结果，令所述液晶显示器(5)显示集成电路芯片的逻辑符号和逻辑表达式，接收所述键盘(3)键入的集成电路芯片的型号或者管脚特性，令所述液晶显示器(5)显示键入的集成电路芯片的逻辑符号和逻辑表达式；所述5V直流源(8)为所述芯片卡槽(1)、所述单片机(2)、所述键盘(3)、所述显示灯(4)和所述液晶显示器(5)提供5V直流电源；其特征在于，还包括第一扩展接口(6)、第二扩展接口(7)；所述第一扩展接口(6)用于连接所述单片机(2)和所述液晶显示器(5)，扩展所述单片机(2)的端口；所述第二扩展接口(7)用于连接所述单片机(2)和所述键盘(3)以及显示灯(4)，扩展所述单片机(2)的端口。2.根据权利要求l所述的集成电路芯片测试仪，其特征在于，所述单片机(2)存储74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30芯片和74/109/160/245时序芯片的逻辑符号和逻辑表达式。3.根据权利要求2所述的集成电路芯片测试仪，其特征在于，所述键盘(3)为16个按键的键盘。4.根据权利要求3所述的集成电路芯片测试仪，其特征在于，所述显示灯(4)有三个，第三显示灯(L3)、第二显示灯(L2)、第一显示灯(Ll)，分别为红色、绿色和白色，分别用以显示待测集成电路芯片为坏的、好的和超出测试范围。5.根据权利要求4所述的集成电路芯片测试仪，其特征在于，所述5V直流源(8)采用变压器(TR1)将220V交流电变为9v直流电，再通过集成稳压器，转换成稳定的5V输出，所述集成稳压器的型号为7805。6.根据权利要求5所述的集成电路芯片测试仪，其特征在于，所述芯片卡槽(1)的2、3、4、5、6、7、8、9、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20管脚分别通过1K电阻连接所述单片机(2)的1、2、3、4、5、6、7、8、21、23、24、25、26、10、11、12、13、14、15管脚，所述芯片卡槽(1)的10管脚接地，20管脚通过1K电阻接5V电源；所述第一扩展接口(6)的8、9、10、11、113、14、15、16、17、18、19管脚分别连接单片机的28、17、16、30、39、38、37、36、35、34、33、32管脚，所述第一扩展接口(6)的21、22、23、24、25、26、27、28、29、30、31管脚分别连接所述液晶显示器(5)的7、8、9、10、11、12、13、14、6、5、4管脚；所述液晶显示器(5)的3管脚通过可变电阻(Rl)连接5V电源，2管脚连接5V电源，1管脚接地，20管脚接地，15、18管脚接5V电源；所述第二扩展接口(7)的8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19管脚分别连接单片机的27、17、16、30、39、38、37、36、35、34、33、32管脚，所述第二扩展接口(7)的29、30管脚分别通过电阻连接5V电源，21管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，22管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，23管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，24管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，25管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，26管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，27管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，28管脚通过两个按键分别连接29管脚和30管脚，37、3S、39管脚分别通过1K电阻连第一接显示灯(Ll)、第二显示灯(L2)、第三显示灯(L3)，所述第一接显示灯(Ll)、第二显示灯(L2)、第三显示灯(L3)的另一端接地；所述单片机(2)的18、19管脚之间并联晶振，晶振两端并联两个22pF的电容，两个电容之间的节点接地；所述单片机(2)的9管脚通过1K电阻接地，20管脚接地，9管脚通过22uF电容接5V电源，31、40管脚接5V电源。专利摘要一种集成电路芯片测试仪，包括芯片卡槽、单片机、键盘、显示灯、液晶显示器、第一扩展接口、第二扩展接口以及5V直流源，键盘输入芯片型号，系统自动检测芯片的好坏，并通过液晶屏和指示灯直观显示结果；对完好的芯片，显示逻辑符号和逻辑表达式，确定芯片型号；不插芯片，输入简单的管脚特性，判断芯片型号，调出芯片的逻辑符号和逻辑表达式；从而提供一种操作方便，得到结果快速准确，测试结果显示清楚、简单、明了，价格便宜，便于检测和修改的集成电路芯片测试仪。文档编号G01R31/28GK201464611SQ20092010648公开日2010年5月12日申请日期2009年3月27日优先权日2009年3月27日发明者孔睿,李莉申请人:孔睿
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