一种易清洁型防尘光探测器的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种易清洁型防尘光探测器，包括光接头适配通道、光管芯封装腔体、光探测管芯封装于光管芯封装腔体内的管芯封装底座上，光接头适配通道末端和光管芯封装腔体之间有一个透光孔，以便光接头的光穿过透光孔照射到光探测管芯上；光探测管芯上方设置一层透明材料，所述透明材料用以覆盖封闭光探测管芯。这样就有效的解决了细微颗粒对光探测管芯的沾染，避免光接头的损伤。
【专利说明】一种易清洁型防尘光探测器
【技术领域】
[0001]本专利属于光功率探测器领域，具体涉及一种防尘光探测器。
【背景技术】
[0002]光功率计是光纤通信测试领域中必不可少的基本类仪表仪器仪表，光探测器是光功率计的核心光器件。随着光网工程的推进，光功率计使用量极大。
[0003]光功率计是一种对灰尘高敏感的测试仪表，灰尘对仪表的测试精度影响非常大，所以日常对光功率计的清洁保养至关重要，对光功率计的清洁最重要就是清洁光探测器。
[0004]现有光探测器的主要结构如图1所示，包括光接头适配通道(一般为1.25mm或
2.5mm的光接头的插芯适配通道)、光管芯封装腔体、光管芯封装底座等组成，光接头适配通道和光管芯封装腔体之间有一个很小的透光孔，光接头的光穿过透光孔照射到光探测管芯上，根据光探测管芯感应的光功率来进行光功率测量；透光孔的孔直径很小，这样可以保护光探测管芯不受碰触而损伤。
[0005]光功率计不工作时，光探测器应盖好防尘帽；在实际使用中，环境灰尘总是会沾染到光探测器，因此需要及时清洁，否则会影响测试精度。灰尘沾染的部位主要集中在光接头适配通道。透光口因为比较小，可以挡住大颗粒纤维进入到封装腔内；但少量的一些细小颗粒灰尘还是会进入封装腔体能内，随着使用时间的推移，这些微小颗粒累积，如果附着到光探测管芯上的颗粒灰尘达到一定的厚度，影响探测光的衰减，引起测量指标的偏移。因此光功率计都有一个校准周期，一般为两年左右，光功率计都要重新计量，校正偏差。
[0006]日常用户清洁保养是用无尘棉签，但这种方法只能有效的清洁光接头适配通道。光管芯封装腔体的清洁需要用特殊的清洁工具(如超细棉签或超净无尘气枪等)，普通用户难以实施；即使专业人员操作清洁，如果操作不当，也容易损伤光探测管芯、影响光探测管芯的光敏性能。
[0007]当光探测管芯上的灰尘达到一定程度，会严重影响指标，此时如不能清洁的话就只能报废。灰尘对封装腔内的光探测管芯的污染，是影响光功率计性能指标和使用寿命的主要原因。
[0008]目前清洁光探测管芯需要特用特殊的清洁工具(超细棉签或超净无尘气枪等)，超细棉签需要碰触光探测管芯，易造成管芯封装位置和角度的细微变化，如果是硬度大的灰尘颗粒，会损伤甚至损坏探测管芯；超净无尘气枪，对压缩空气的净度和压力要求严格，气枪吹尘也会造成管芯封装位置和角度的细微变化，气压过高会将探测管芯吹掉，而且在封装腔内难以彻底清除管芯的附着物。这些清洁都会因起光探测器的性能变化，需要对光功率计重新进行计量校准验证。
[0009]综上所述，现有光探测器清洁存在如下缺点、不足:
[0010]1.现有清洁方式，用户难以彻底清洁封装腔内探测管芯。
[0011]2.现有清洁方式不恰当，容易造成光探测管芯的损伤和损坏。
[0012]造成光探测器报废的风险较大；因此业界多数不做封装腔内的管芯清洁，只是重新校准，确定灰尘对光探测的损耗差，使光功率计的性能和使用寿命大打折扣。
【发明内容】
[0013]本专利针对现有光探测器存在的难以清洁的问题，提供一种改进的易清洁型防尘光探测器，以提高光功率计的性能和使用寿命。
[0014]本专利的一种易清洁型防尘光探测器，其技术方案为:包括光接头适配通道、光管芯封装腔体、光探测管芯封装于光管芯封装腔体内的管芯封装底座上，光接头适配通道末端和光管芯封装腔体之间有一个透光孔，以便光接头的光穿过透光孔照射到光探测管芯上；光探测管芯上方设置一层光源透射材料，所述光源透射材料用以覆盖封闭光探测管芯。
[0015]进一步，所述光源透射材料为高透射玻璃。
[0016]进一步，所述高透射玻璃设置于透光孔下方，并封装在光管芯封装腔体上方的腔壁处，使光管芯封装腔体成为一密封腔体。
[0017]进一步，所述高透射玻璃设置于透光孔上方，并封装在光接头适配通道内末端位置，使光管芯封装腔体成为一密封腔体。
[0018]有益效果:
[0019]通过在光接头适配通道末端或者透光孔下方、光管芯封装腔体内处设置高透射玻璃，使封装腔体成为一个密封的腔体，这样就有效的解决了细微颗粒对光探测管芯的沾染。采用高透射玻璃对入射光几乎没有任何衰减，贴封在透光口的下方，不影响光接头适配通道的标准适配，不会与光端子端面接触，避免光接头的损伤。有了高透射玻璃的防护，可以加宽透光口直径，便于用无尘棉签清洁。
【专利附图】
【附图说明】
[0020]图1为现有的探测器结构剖面示意图；
[0021]图2为本专利一种实施例的探测器结构剖面示意图。
[0022]图3为本专利一种实施例的探测器结构剖面示意图。
[0023]图4为本专利一种实施例的探测器结构剖面示意图。
[0024]图5为本专利一种实施例的探测器结构剖面示意图。
[0025]图6为本专利一种实施例的探测器结构剖面示意图。
[0026]图中:
[0027]1、光接头适配通道，2、透光孔，3、光管芯封装腔体，4、光探测管芯，5、管芯封装底座，6、高透射玻璃。
【具体实施方式】
[0028]包括光接头适配通道1、光管芯封装腔体3、光探测管芯4封装于光管芯封装腔体3内的管芯封装底座5上，光接头适配通道I末端和光管芯封装腔体3之间存有一个透光孔2，以便光接头的光穿过透光孔2照射到管芯封装底座5的光探测管芯4上。为了实现防护和易清洁的目的，在光探测管芯4上方设置一层光源透射材料，所述光源透射材料用以覆盖封闭光探测管芯。
[0029]如图2、3、4、5所示，在此几个实施例中，光源透射材料采用透明的高透射玻璃6，且高透射玻璃6设置于光管芯封装腔内。图2采用凹形结构的高透射玻璃6覆盖封闭光探测管芯，图3采用球形结构的高透射玻璃6覆盖封闭光探测管芯，图4、图5采用平板结构的高透射玻璃6覆盖封闭光探测管芯。图5所述高透射玻璃6设置于透光孔2下方，并封装在光管芯封装腔体3上方的腔壁处。从上述几种实施例中，可见，高透射玻璃6设置于光探测管芯4之上后，光管芯封装腔体3成为一密封腔体。高透射玻璃封装方式可以为粘贴或者密封胶灌。
[0030]参见图6，本实施例的方案中，所述高透射玻璃6设置于透光孔2上方，并封装在光接头适配通道I内末端位置，从而使光管芯封装腔体3成为一密封腔体。
[0031]为了实现便于清洁的目的，可以将透光孔2靠近高透射玻璃6处的孔径扩大。
[0032]实施例中以及图示中，我们给出了光源透射材料为平面的各种典型情形；可以想见，在不衰减光功率的前提下，光源透射材料为凹形或凸形的各种应用也在本专利的精神保护之下。
[0033]文中所述的高透射玻璃指的是透射率比较高的玻璃。
[0034]通过产品实践测试证明，使用此种探测器结构制造的光功率计，用户使用无尘棉签就可以彻底的清洁光探测器。
[0035]光功率计不会因为光探测管芯沾染灰尘颗粒，而引起指标性能偏差或报废，极大延长了校准周期和使用寿命。
[0036]产品实践证明:光功率计在常规校准周期进行校准时，其性能指标经验证和新品几乎一致，几乎没有校准误差，巧妙结构变化带来的效果及其显著。
[0037]虽然本专利已参照较佳的实施例及附图予以说明，然而上述的说明应视为举例性而非限制性，熟悉此项技术者根据本发明的精神所做的变化及修改，均应属于本专利的保护范围。
【权利要求】
1.一种易清洁型防尘光探测器，包括光接头适配通道、光管芯封装腔体、光探测管芯封装于光管芯封装腔体内的管芯封装底座上，光接头适配通道末端和光管芯封装腔体之间有一个透光孔，以便光接头的光穿过透光孔照射到光探测管芯上；其特征在于:光探测管芯上方设置一层光源透射材料，所述透射材料用以覆盖封闭光探测管芯。
2.根据权利要求1所述的易清洁型防尘光探测器，其特征在于:所述透射材料为高透射玻璃。
3.根据权利要求2所述的易清洁型防尘光探测器，其特征在于:所述高透射玻璃设置于透光孔下方，并封装在光管芯封装腔体上方的腔壁处，使光管芯封装腔体成为一密封腔体。
4.据据权利要求2所述的易清洁型防尘光探测器，其特征在于:所述高透射玻璃设置于透光孔上方，并封装在光接头适配通道内末端位置，使光管芯封装腔体成为一密封腔体。
【文档编号】G01J1/04GK203643023SQ201420009993
【公开日】2014年6月11日 申请日期:2014年1月8日 优先权日:2014年1月8日
【发明者】张海峰 申请人:山东信通电器有限公司
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