专利名称：固态照明源的质量保证的制作方法
技术领域：
本发明涉及用于光照系统的照明源，且更具体来说(而非排他地)涉及控制从固态光照源发射的光的质量。
背景技术：
固态光照随着某些要求提供两个或两个以上光源的色彩混合以产生光的视觉感知。此色彩混合实现用指定色度值集合或“相关色温”的光的仿真。虽然指定色度值集合或相关色温可类似于白炽灯，但所发射电磁(EM)辐射的光谱显著不同于白炽灯的光谱。当利用经由色彩混合产生的照明源来照明对象时，所述对象的所感知色彩为照明源的EM辐射光谱与所述对象的反射性质的卷积。在许多情形下，从经由色彩混合组构的光源发射的EM辐射的光谱具有其中光发射为低的或不存在的一个或一个以上光谱区域。可经由将额外光源并入到所述光源中而致使此一个或一个以上光谱区域显示不可忽略的所发射光，其中所述额外光源在所述一个或一个以上光谱区域中发射光。此并入供应有助于使从所述光源发射的EM辐射的光谱平滑的额外通道(例如，某一带宽的光谱区域)；因此，致使所述光源具有适合色度值或相关温度。由色彩混合及相关照明特征产生的EM辐射光谱可经控制以减少主动光源或利用至少所述主动光源的照明器具的温度、制造变化、老化等的影响。通常，一旦在制造照明器具时就执行此控制。在替代方案中且通常较不经常实施，可作为建构到照明装置中的进行过程来执行此控制。然而，由于同色异谱性，可存在给出相同视觉感知结果的照明或彩色对象的数个解决方案。因此，当通过由具有窄光谱特征的光元件组构的第一光源照明对象时，所述对象的外观将显著不同于由用由具有宽光谱特征的光元件组构的第二光源照明所述对象产生的外观。举例来说，为了克服与色彩混合及同色异谱性相关联的操作缺点，常规技术通过分析起源于所组构光源中的光谱功率分布(SPD)来调整光的质量。然而，一般来说，经由常规技术实施此方法是昂贵的解决方案，因为需要高分辨率光谱仪来实现对所组构光源的组成的控制-高分辨率光谱仪由于提供良好准确度及校准而为昂贵的。其它因素也可阻碍此些解决方案的利用或采用；举例来说，在一些情形下，在制造时执行照明产品(例如，照明器或光照器具)的测量及校准，但在照明产品老化时进行测量及校准通常为不切实际的。
发明内容
下文呈现本发明的简化发明内容，以提供对本发明的一些方面的基本理解。此发明内容并非本发明的各种实施例的广泛概述。其既不打算识别关键性或决定性要素也不打算描述任何范围。其唯一目的是以简化形式呈现一些概念来作为稍后所呈现的更详细描述的前序。本发明的一个或一个以上实施例提供用于控制从为照明器具的一部分的固态光照源群组发射的光的质量的系统、设备及方法。所述控制至少部分地基于将所述光的光谱功率分布(SPD)调节为匹配从参考光源(例如，周围光)发射的具有指定色度值集合或“相关色温”的光的SPD。光谱分析仪收集从所述SSL源群组发射的电磁(EM)辐射及大致从参考光源发射的EM辐射。所述光谱分析仪包含(但不限于包含)集成为一光传感器集合的小型化光学器件且实现对EM辐射的光谱特征的差分探测。第一控制器(或第一控制器组件)分析与所述SSL源群组及所述参考光源的sro相关的光谱数据，并基于所述分析而发出所述SSL源群组的配置。此配置的发出包含其产生及递送。所述配置的实施致使所述SSL源群组发射具有一 sro的EM辐射，所述sro几乎匹配大致从所述参考光源发射的所述 EM辐射的SPD。第二控制器(或第二控制器组件)获取所述配置并实施所述配置；所述配置的实施包含根据基于所述配置的至少一个控制参数来操作所述SSL源群组。特定实施方案可具有以下优点中的一者或一者以上(I)通过减少与高分辨率光谱仪的部署及其现场校准相关联的成本来廉价地减轻对色彩感知的同色异谱性影响；(2)在差分检测模式中收集光谱数据减轻或避免在现场对光谱分析仪的校准；(3)光谱数据的此收集模式自动计及包含SSL源群组的照明产品或器具的长期变化，且减少所述SSL源群组中的两个或两个以上SSL源之间的制造变化对照明特征的影响；(4)EM辐射的此差分检测允许在维持可接受QA性能的同时利用低分辨率光学器件；(5)低分辨率光学器件大大地减少本文中所描述的QA系统的采用的成本(资本支出(CAPEX))及部署的成本(操作支出(OPEX));及(6)不需要在制造时校准所述SSL源群组。为了实现前述及相关目的，所述一个或一个以上方面包含(但不限于包含)在下文中全面描述并在权利要求书中所特别指出的特征。下文描述及附图详细阐述所述一个或一个以上方面的某些说明性特征。然而，这些特征仅指示可采用本发明的各种方面的原理的各种方式中的几种。
图I显示根据本发明的方面实现并利用从固态光(SSL)源群组发射的光的质量保证(QA)的实例性系统。图2呈现根据本文中所描述的方面的光谱分析仪的实例性实施例。所述光谱分析仪可为图I中所描绘的实例性系统的一部分。图3描绘根据本文中所描述的方面的QA控制器的实例性实施例。所述QA控制器可为图I中所呈现的实例性系统的一部分。图4图解说明根据本文中所描述的方面用于控制对象的照明质量的实例性方法。图5图解根据本文中所描述的方面用于应用用于动态地控制对象的照明质量的控制逻辑的实例性方法。图6到图7呈现根据本文中所描述的方面用于收集与光源的光谱特征相关的信息的实例性方法。
具体实施例方式现在参考图式来描述本发明，其中在所有图式中使用相似的参考编号来指代相似的元件。在下文描述中，出于解释的目的阐述了众多特定细节，以便提供对本发明的透彻理解。然而，可显而易见，可在无这些特定细节的情况下实践本发明的各种实施例。在其它实例中，以框图形式展示众所周知的结构及装置，以便促进描述本发明。关于图式，图I显示根据本文中所描述的方面实现并利用从固态光(SSL)源群组发射的光的质量保证的实例性系统100的框图。至少部分地经由调节所述光的光谱功率分布(SPD)来实现质量保证(QA)。实例性系统100包含一个或一个以上固态光源120的群组、一个或一个以上光收集组件130及质量保证系统140。固态光源120群组可包含(而不限于)LED集合，所述LED包含(但不限于包含)常规LED、有机LED、基于量子点的LED，等等；此(些)LED中的任一者可为白色LED ;红色(R)、绿色(G)、蓝色(B) (RGB)LED ;可以任何或大致任何其它色彩(紫色、橙色、紫罗兰色、黄色等)发射EM辐射的LED，或其组合。一般来说，一个或一个以上SSL源120的群组中的光源可为大致单色发射器或激励至少一个磷光体发射器的单个发射器，例如白炽灯。在实例性系统100中，光128包含从参考光源110发射的电磁(EM)福射、从一个或一个以上固态光源120的群组中的至少一个固态光源发射的EM辐射及由借助一个或一个以上对象104的散射(例如，反射)产生的EM辐射。参考光源110部分地充当环境(或周围)光源；参考光源110在一个或一个以上固态光源120的群组外部。光128还可由一个或一个以上光收集组件130(例如，光纤链路、准直器、光闸等)收集。一个或一个以上光收集组件130可将所收集的EM辐射供应到光谱分析仪组件138(在本说明书及附图中也称为光谱分析仪组件138)。在某些实施方案中，所述一个或一个以上光收集组件包含分布式局部收集点(用以实心圆圈结束的虚线指示)，其实现获取大致从参考光源(参见点A)发射的EM辐射及大致从一个或一个以上固态光源120的群组(参见点B)发射的EM。通过为分布式，局部收集点可减轻或避免从参考光源110发射的EM辐射、从一个或一个以上固态光源120的群组发射的EM福射与从对象104散射的EM福射之间的干涉。光谱分析仪144包含光学器件集合及产生指示所收集EM辐射的光谱特征的信令及相关数据的光传感器集合；所述光传感器集合被集成到所述光学器件集合中。光谱分析仪144将信令及相关有效负载数据传达给QA控制器148。在光谱分析仪144的实施例(例如，图2中所示的实例性实施例200)中，所述光学器件集合包含(但不限于包含)两个孔径光阑212及光谱仪214 (例如，光栅光谱仪、傅里叶变换光谱仪…)；所述光谱仪为小型光谱仪且包含至少两个出射光瞳。在此实施例中，光传感器230集合可包含光电二极管、光电倍增器、电荷耦合装置(CCD)相机等。在一实施例中，所述传感器集合被集成到可为半导体衬底(或晶片)的衬底220中。传感器集合中的至少一个传感器可经由各种IC半导体处理技术而集成到半导体衬底中。在替代或额外实施例中，衬底220为塑料衬底。光传感器230集合及衬底220经由实心板215集成(例如，连接或制造成单件或者经附接以形成单件)；实心板215可为刚性或柔性的且由对大致从第一光源发射的EM辐射218:及大致从第二光源发射的EM辐射2182为有效不透明的材料制造。在某些实施方案中，所述传感器集合中的一个或一个以上传感器的第一子集以包含(而不限于)NXM个检测像素的第一像素化半导体光电检测器来体现，其中N及M为自 然数。同样地，所述传感器集合中的一个或一个以上传感器的第二子集以包含(而不限于)N' XM'个检测像素的第二像素化半导体光电检测器来体现，其中N'及W为自然数且N'大致等于N且M'大致等于M。第一像素化半导体光电检测器及第二像素化半导体光电检测器集成到衬底(半导体衬底、塑料衬底等)中。所述NXM个检测像素跨越衬底中的第一封闭区域，且所述N' XM'个检测像素跨越衬底中的第二封闭区域，其中第二封闭区域覆盖与第一封闭区域所覆盖的表面大致相同的表面。在一方面中，第一像素化半导体光电检测器位于距第二像素化半导体光电检测器约I微米到约100微米内。鉴于传感器集合的特定布置及光学器件集 合(例如，两个孔口、光谱仪及出射光瞳)的光收集结构，光谱分析仪144实现对所收集EM辐射(例如，218:及2182)的光谱特征的差分探测。在某些实施例中，对EM辐射的差分检测的至少一优点为光学器件210集合中的光谱仪可为低分辨率光谱仪。低分辨率大大地减少QA系统140的采用的成本(例如，CAPEX)及部署的成本(例如，0PEX)。在此类某些实施例或者额外或替代实施例中，差分检测的至少另一优点为光学器件210集合中的光谱仪不需要校准，因为第一像素化半导体光电检测器是在第二像素化半导体光电检测器附近制造的且此些光电检测器为大致相同的(或大致复制的)，从而计及与参考光源110及一个或一个以上SSL源120的群组的光谱数据的产生相关联的系统误差的大部分或所有影响。此外，在此类某些实施例或者额外或替代实施例中，光传感器230集合的前述布置相对于常规系统的至少又一优点为数目NXM及N' XM'可为低的，例如，0(102-104)，因为第一像素化半导体光电检测器是在第二像素化半导体光电检测器附近(例如，在约I U m到约100 ii m内)制造的。在某些实施例中，光谱分析仪144可包含使得光谱分析仪144能够递送数字化数据的模/数转换器(未展示)。在替代方案中，光谱分析仪144可供应模拟数据，且QA控制器148可包含模/数转换器(未展示)以根据从光谱分析仪144接收的模拟数据产生数字化数据。QA控制器148获取(例如，接收、检索)光谱数据，例如由光谱分析仪144产生的信令及相关有效负载数据。基于所述光谱数据，QA控制器148产生与从一个或一个以上SSL源120的群组发射的EM辐射相关的第一 SH)及与从参考光源110 (例如，周围光)收集的EM辐射相关的第二 SPD。另外，QA控制器148可将第一 SPD与第二 STO进行比较并确定(例如，计算)指示第一 sro与第二 sro之间的光谱差异的不匹配度量；所述不匹配度量可为标量或向量。举例来说，可通过针对光谱通道集合计算第一 sro与第二 sro之间的差异来构造向量不匹配度量；举例来说，可经由计算向量不匹配的量值而从向量不匹配度量导出标量不匹配度量。在QA控制器148的实施例(例如，图3中所图解说明的实例性实施例300)中，监视组件320可将信令及相关有效负载数据作为信令310的一部分来接收；监视组件320还可产生第一 sro及第二 sro并对其进行比较。此外，在此实施例中，监视组件320可基于第一 sro与第二 sro的比较的结果而确定不匹配度量。为了确定不匹配度量，监视组件320可利用方法存储装置382中所保持的方法。至少基于不匹配度量的值，QA控制器148可调整一个或一个以上SSL源120的群组中的至少一个SSL源的至少一个参数以便致使不匹配度量的值为适合值。可经由至少一个预定适合性准则来确立不匹配度量的值的适合性。适合性准则可为可配置的。在某一实施方案中，可在实例性系统100的整个操作寿命中配置充分性准则，而在其它实施方案中，可在制造实例性系统100时配置充分性准则。QA控制器148可将至少一个参数传达给SSL源控制器组件152 (也称为SSL源控制器152)。在某些实施例(例如实例性实施例300)中，调整组件330可调整一个或一个以上SSL源120的群组中的至少一个SSL源的至少一个参数，如先前所描述。另外，调整组件330可将至少一个参数作为配置(conf.)390的一部分来递送。在QA系统14 0中，且响应于接收到控制一个或一个以上SSL源120的群组中的SSL源的光谱特征的参数，SSL源控制器152可根据所述参数来组构一个或一个以上SSL源120的群组以便使与一个或一个以上SSL源120的群组相关的sro令人满意地匹配与参考光源110相关的SPD。在SSL源的不匹配度量满足至少一个适合性准则时实现令人满意的匹配。为了执行此组构，QA系统140可产生SSL源的简档，其中所述简档包含(但不限于包含)(1)指示SSL源的致动的第一变量，例如，所述第一变量指示SSL源是否被激励(或通电)或去激励(或断电)；及(2)指示当第一变量指示SSL源将被激励时将从SSL源在特定光谱通道(例如，EM辐射光谱的一部分Av)中发射的光(例如，EM辐射)的强度的第二变量，所述第二变量也称为权重参数或权重。可从人类光谱敏感性曲线导出至少一个权重参数，以减少由于第一光源与第二光源的EM辐射的全异光谱所致的误差的影响。在某些实施例(例如实例性实施例300)中，调整组件330可产生SSL源的简档。为达到至少此目的，调整组件330可部分地利用一个或一个以上存储器元件374(文件、数据库、寄存器等)中所保持的权重集合。可从人类光谱敏感性曲线导出所述权重集合中的至少一个权重。调整组件330可将简档保持于一个或一个以上存储器元件376(文件、数据库、寄存器等)的
^ 由
: 口1o响应于第一简档的产生，QA控制器148起始验收阶段或验收循环，其中反复地产生后续简档(第二简档、第三简档等)直到与一个或一个以上SSL源120的群组相关的SPD令人满意地匹配与参考光源110相关的sro为止。在一方面中，验收阶段的起始为控制事件。在一实施例(例如，实例性实施例300)中，模式驱动器组件340 (或模式驱动器340)可起始验收循环。作为所述验收循环的一部分，将第一简档传达给SSL源控制器152，所述控制器调整调节从一个或一个以上SSL源120的群组发射的EM辐射的至少一个控制参数。所述至少一个控制参数的调整产生一个或一个以上SSL源120的经调整群组；作为验收循环的一部分，收集从一个或一个以上SSL源120的经调整群组发射的EM辐射并将其提供到如本发明的先前段落中所描述的光谱分析仪144。由QA控制器148接收与从一个或一个以上SSL源120的经调整群组发射的EM辐射的光谱特征相关联的信令及相关数据，且组构后续简档。在所述后续简档不满足验收准则的情况下，组构经更新简档且验收循环继续。在替代方案中，响应于致使一个或一个以上SSL源120的群组令人满意地匹配与参考光源110相关的SH)的SSL源的简档通过验收，将所述简档保持于存储器(例如，存储器370或其中的存储器元件)中。在简档通过验收时或在其之后，将所述简档传达给SSL源控制器152，所述控制器可根据所述简档来配置一个或一个以上SSL源120的群组中的至少一个光源。SSL源控制器152可包含(但不限于包含)电源、电流源、电力转换器(例如，DC/DC升压器、AC/DC转换器…)、调节组件、处理器等中的一者或一者以上。在某些实施方案中，在其中根据至少一个验收准则光源的简档未通过验收的情形下，QA控制器148发出(例如，产生并递送)报告或配置标记(例如，用户接口面板中的闪烁灯)，所述报告或标记指示根据规格组构简档的失败。在实例性实施例300中，调整组件330可发出报告或配置此标记。在致使一个或一个以上SSL源120的群组令人满意地匹配与参考光源110相关的SH)的SSL源的简档通过验收时或在其之后，将所述简档保持于存储器(例如，存储器370或其中的存储器元件376)中。可响应于以下改变而实现SSL源120的群组的调整或配置；对象104的环境的温度的改变、SSL光源120中的一者或一者以上的群组的环境的温度的改变、一个或一个以上SSL光源120的群组的操作条件的改变等。另外，可在某些时刻(例如，由调度规定的时刻，其中所述调度可由一个或一个以上SSL光源120的群组的最终用户界定)执行此调整以计及对一个或一个以上SSL光 源120的群组中的至少一个源的损耗影响。控制逻辑为可配置的且可保持于在功能上I禹合到QA系统140或在QA系统140中的存储器中。在某些实施例中，质量保证系统140可在学习模式中操作。在一方面中，QA控制器148可配置QA系统140以在学习模式中操作；举例来说，在实例性实施例300中，模式驱动器340可将QA系统140配置于学习模式中。在此模式中，QA系统140获取与一个或一个以上SSL源120的群组中的至少一个SSL源相关的光谱数据并将此光谱数据的至少一部分保持于存储器中。另外或在替代方案中，在学习模式中，QA系统140获取与参考光源(例如，周围源)相关的光谱数据并将此光谱数据的至少一部分保持于存储器中。QA系统140利用光谱数据的至少所述部分来将一个或一个以上SSL源140组构为令人满意地匹配参考光源110的至少一个光谱特征。在一实施方案中，QA系统140可响应于控制事件的发生而在学习模式中操作。举例来说，当所述控制事件为利用一个或一个以上SSL源120的群组的光照器具中的至少一个SSL源的部署(例如，安装与测试)时，QA控制器148可在控制模式中操作并获取从所述至少一个SSL源发射的EM辐射，且产生此辐射的SPD。所述SH)体现光谱数据且保持于存储器中。举另一实例来说，当控制事件为利用一个或一个以上SSL源120的群组的光照器具的第一次部署(例如，安装与测试)时，QA控制器148可在控制模式中操作并获取从参考光源110发射的EM辐射；QA控制器148可产生此EM辐射的SPD并将所述SH)保持于存储器中。在某些实施例(例如，实例性实施例300)中，监视组件320可获取EM辐射并产生其SPD ;监视组件320还可将所述SH)保持于SH)存储装置378中。在实例性系统100中，为了实施先前所描述的各种特征或方面，QA控制器148可包含或可在功能上耦合到一个或一个以上处理器(例如，处理器350)。另外，输入/输出(I/O)组件(未展示)可实现在QA控制器148的操作中利用的各种寄存器及其它值的配置。在一方面中，一个或一个以上处理器(例如，处理器350)可至少部分地实现或可经配置以至少部分地实现QA控制器148或者其中的一个或一个以上功能元件(例如，组件、产生器、块、�？�)的所描述功能性。在一方面中，为了提供此功能性，一个或一个以上处理器(例如，处理器350)可利用总线架构(例如，总线385)来在QA控制器148内的功能元件(例如，组件、控制器、产生器、块)与在功能上耦合到QA控制器148或在QA控制器148中的至少一个存储器(例如，存储器370)之间交换数据或任何其它信息。所述总线架构(例如，总线385)可以如下各项中的至少一者来体现存储器总线、系统总线、地址总线、消息总线、引脚集合或者用于在执行过程或为过程的执行的一部分的组件之间进行数据或信息交换的任何其它管道、协议或机制。所交换的信息可包含代码指令、代码结构、数据结构等中的至少一者。一个或一个以上处理器(例如，处理器350)还可执行存储于至少一个存储器(例如，存储器370)中的计算机可执行指令(未展示)以实施(例如，执行)或提供QA控制器148的所描述功能性的至少一部分。此些计算机可执行指令可包含可(举例来说)经由本文中所揭示的方法中的一者或一者以上实现且与实例性QA系统140的功能性或操作至少部分地相关联的特定任务的程序模块、软件应用程序或固件应用程序。在一个或一个以上替代或额外实施例中，一个或一个以上处理器(例如，处理器350)可分布在QA控制器148的一个或一个以上功能元件(组件、块等)之间。
在一个或一个以上实施例中，QA控制器148可为通用微计算机或专用微计算机。QA控制器148及其它组件或功能元件可实施于单个集成电路(IC)芯片上或多个IC芯片上。IC可包含可为在本发明的先前段落中提及的一个或一个以上处理器(例如，处理器350)的一部分的至少一个处理器。在包含多个IC芯片的实施例中，QA控制器148的功能元件可布置成若干�？椋渲忻恳荒？槭凳┯谝� IC中。另外，经由将计算机可执行指令提供到在功能上耦合到QA控制器148或包含于其中的存储器，QA控制器148可为可编程的。在替代方案中，QA控制器148可为不可编程的且根据本文中的方面按照在制造时间所确立而操作。在经组合方法中，QA控制器148的某些特征可为可编程的，而其它特征可为不可编程的且按照在制造时间所预配而保持。QA控制器148或其中的一个或一个以上组件可以硬件、软件或固件来实施。在某些实施例中，固态光源控制器152还可包含以与QA控制器148中所包含的一个或一个以上处理器大致相同的方式操作的至少一个处理器。作为一实例，通过执行一个或一个以上计算机可执行指令的集合，所述至少一个处理器可实现根据本文中所描述的方面对一个或一个以上SSL源120的群组的控制。鉴于上文所描述的实例性系统，参考图4到图7中的流程图可更佳地了解可根据所揭示的标的物实施的实例性方法。出于解释简单性的目的，将本文中所揭示的实例性方法呈现及描述为一系列动作；然而，应理解及了解，所揭示的标的物并不受动作次序的限制，因为一些动作可以与本文中所示及所述的次序不同的次序及/或与其它动作同时发生。举例来说，本文中所揭示的一个或一个以上实例性方法可替代地表示为一系列相互关联的状态或事件(例如在状态图中)。此外，当全异实体施行方法学的全异部分时，交互图可表示根据所揭示的标的物的方法。此外，实施根据本说明书的所描述实例性方法可能并不需要所有所图解说明的动作。又另外，所揭示的实例性方法中的两者或两者可彼此组合地实施以实现本文中所描述的一个或一个以上特征或优点。在整个本说明书及附图中所揭示的方法能够存储于制品上以促进将此些方法输送及传送到计算机或计算装置或具有处理能力的芯片组(例如，集成式基于半导体的电路)以供由至少一个处理器执行且因此实施或以供存储于至少一个存储器中。在一方面中，可采用施行本文中所描述的方法的一个或一个以上处理器来执行存储器或者任何计算机可读或机器可读存储媒体中所保持的计算机可执行指令(也称为计算机可执行编程代码指令或计算机可执行代码指令或机器可读指令)，以便实施本文中所描述的方法。计算机可执行指令在由一个或一个以上处理器执行时可致使所述一个或一个以上处理器实施或执行本文中所揭示的实例性方法中所包含的各种动作。机器可执行或计算机可执行指令提供机器可执行或计算机可执行框架以施行(例如，执行)本文中所描述的方法。图4呈现根据本文中所描述的方面用于控制对象(例如，对象104)的照明质量的实例性方法400的流程图。此控制至少基于大致从参考光源及用于照明所述对象的主动光源发射的EM辐射的光谱特征。在某些实施例中，如本发明的先前段落中所指示，主动光源(一个或一个以上SSL源120的群组中的光源)为包含(而不限于)基于LED的灯的集合的多通道固态光照源。如先前所描述，所述多通道固态光照源中的通道跨越EM辐射的光谱的一部分A V。在一方面中，所述多通道固态光照源中的通道群组可属于单个光源，例如，在可见EM辐射光谱的一部分中发射的LED。在动作410处，应用用于在存在第二光源(例如，参考光源)的情况下实现对第一光源(例如，主动光源)的照明质量保证的控制逻辑。在动作420处，基于通过应用所述控制逻辑而产生的数据，将第一光源(例如，主动光源)组 构为匹配第二光源(例如，参考光源)的光谱功率分布(SH))。在动作430处，用从至少第一光源(例如,主动光源)发射的EM辐射来照明对象。可以多种模态以及方法及实现此些方法的系统的相关实施例来应用控制逻辑。图5到图7图解说明此多种模态的实例；图5到图7中所描绘的实例性方法500到700可至少部分地体现实例性方法400的动作410。在某些实施例中，例如QA控制器148或者其中的一个或一个以上组件的控制器组件(或控制器)可实施实例性方法500到700。图5呈现根据本文中所描述的方面用于应用用于动态地控制对象的照明质量的控制逻辑的实例性方法500的流程图。在动作510处，获取从第一光源(例如，主动光源)发射的EM辐射的第一光谱功率分布(SPD)。在动作520处，获取从第二光源(例如，参考光源)发射的EM辐射的第二 SPD。在动作530处，将从第一光源发射的EM辐射的第一 SPD与从第二光源发射的EM辐射的第二 SPD进行比较。在动作540处，基于所述比较的结果，产生指示第一 sro与第二 sro之间的光谱不匹配的度量。在动作550处，确定所述度量的值为充分的。可通过将所述值与预定阈值进行比较来确定此值的充分性举例来说，指示度量的值小于预定阈值的比较可确定此值为充分的。在替代方案中，指示度量的值大于或等于预定阈值的比较可确定此值为充分的。在其中所述确定传达所述度量的值为充分的情形下，在动作560处供应至少第一 SPD。在替代情形下，响应于确定所述度量的值为不充分的，在动作570处调整第一源的至少一个控制参数以实现度量的充分值。将流程引导到其中针对从第二光源发射的EM辐射的520且引导到其中供应至少一个控制参数的动作580。图6到图7呈现根据本文中所描述的方面用于收集与光源的光谱特征相关的信息的实例性方法600及700的流程图。关于实例性方法600，在动作610处，确定是否已发生控制事件。响应于确定尚未发生控制事件，重新施行动作610。在替代方案中，响应于确定已发生控制事件，在动作620处收集从光源发射的EM辐射。在一方面中，可将控制事件配置或界定为配置在动作410中应用的用于照明质量保证的控制逻辑的一部分。在一方面中，所述控制事件可为起始SSL源(例如，一个或一个以上SSL源120的群组中的SSL源)的简档的验收阶段。所述光源可为在实例性方法400中提及的主动光源。在动作630处，产生从所述光源发射的EM辐射的SPD，且在动作640处，供应此SPD。供应从光源发射的EM辐射的sro包含将所述sro保持于存储器(例如，存储器370中的存储器元件378)中。结合实例性方法700，在动作710处，确定是否已发生控制事件。响应于确定尚未发生控制事件，重新施行动作710。在替代方案中，响应于确定已发生控制事件，在一时间间隔期间中断从第一光源(例如，在实例性方法400中提及的主动光源)发射的EM辐射。中断此EM辐射可包含致动光闸以致使光谱仪的孔口闭合且因此防止在光分析光学器件(例如，光谱分析仪144)中收集EM辐射。另外，中断从第一光源发射的EM辐射可包含将所述第一光源断电或去激励以停止此EM辐射的发射。如本发明的先前段落中所描述，在一方面中，所述控制事件可为起始SSL源(例如，一个或一个以上SSL源120的群组中的SSL源)的简档的验收阶段。
在动作730处，在所述时间间隔期间获取从第二光源发射的EM辐射，且在动作740处，产生此EM辐射的SPD。在动作740处，产生在所述时间间隔期间从第二光源发射的EM辐射的SPD。在动作750处，供应指示在所述时间间隔期间从第二光源发射的EM辐射的SPD的数据。在动作760处，恢复从第一光源发射的EM辐射。以说明而非限制方式，非易失性存储器可包含只读存储器(ROM)、可编程ROM (PROM)、电可编程ROM (EPROM)、电可擦ROM (EEPROM)或快闪存储器。易失性存储器可包含充当外部高速缓冲存储器的随机存取存储器(RAM)。以进一步说明而非限制的方式，RAM可以许多种形式获得，例如，同步RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双倍数据速率SDRAM (DDR SDRAM)、增强型SDRAM (ESDRAM)、同步链路DRAM (SLDRAM)及直接内存总线式RAM(DRRAM)。另外，本文中的系统或方法的所揭示存储器组件既定包含(而不限于包含)这些及任何其它适合类型的存储器。结合本文中所揭示的实施例描述的各种说明性逻辑、逻辑块、�？榧暗缏房山柚韵伦爸美词凳┗蛑葱型ㄓ么砥鳌⑹中藕糯砥�(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或其它可编程逻辑装置、离散门或晶体管逻辑、离散硬件组件或其经设计以执行本文中所述功能的任一组合。通用处理器可为微处理器，但在替代方案中，处理器可为任何常规处理器、控制器、微控制器或状态机。处理器还可实施为计算装置的组合，例如，DSP与微处理器的组合、数个微处理器、一个或一个以上微处理器与DSP核心的联合，或任何其它此类配置。另外，至少一个处理器可包含(而不限于包含)可操作或经配置以执行上文所描述的步骤或动作中的一者或一者以上的一个或一个以上�？�。此外，结合本文中所揭示的方面描述的方法或算法的步骤或动作可直接嵌入于硬件中；嵌入于可由处理器执行的软件�？橹校换蚯度胗诹秸叩淖楹现校缜度胗诠碳？橹�。软件�？榭勺ご嬗赗AM存储器、快闪存储器、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬磁盘、可装卸磁盘、CD-ROM或此项技术中已知的任何其它形式的存储媒体中。示范性存储媒体可耦合到处理器，使得所述处理器能够从所述存储媒体读取信息并向所述存储媒体写入信息。在替代方案中，所述存储媒体可与处理器成一体。此外，在一些方面中，所述处理器及所述存储媒体可驻存于ASIC中。另外，所述ASIC可驻存于显示器设备中。在替代方案中，所述处理器及存储媒体可作为离散组件(例如，芯片组)驻存于显示器设备中。另外，在一些方面中，方法或算法的步骤或动作可作为一个或一个以上代码或指令的一个或任何组合或集合而驻存于可并入到计算机程序产品中的机器可读媒体或计算机可读媒体上。在一个或一个以上方面中，所描述的功能可实施于硬件、软件、固件或其任一组合中。如果实施于软件中，那么可将所述功能作为一个或一个以上指令或代码存储于计算机可读媒体或机器可读媒体上或者可在所述媒体上传输。计算机可读媒体、机器可读媒体包含计算机存储媒体及包含促进将计算机程序从一个地点传送到另一地点的任何媒体的通信媒体两者。存储媒体可为可由计算机存取的任何可用媒体。以实例而非限制的方式，此计算机可读媒体可包含(而不限于包含)RAM、ROM、EEPROM、CD-R0M或其它光盘存储装置、磁盘存储装置或其它磁性存储装置或者可用于以指令或数据结构的形式载运或存储所要程序代码且可由计算机存取的任何其它媒体。并且，可将任何连接称为计算机可读媒体。举例来说，如果使用同轴电缆、光纤电缆、双绞线、数字订户线(DSL)或例如红外线、无线电及微波等无线技术从网站、服务器或其它远程源传输 软件，那么所述同轴电缆、光纤电缆、双绞线、DSL或例如红外线、无线电及微波等无线技术均包含于媒体的定义中。如本文中所使用，磁盘及光盘包含压缩光盘(CD)、激光光盘、光盘、数字多功能光盘(DVD)、软磁盘及蓝光盘，其中磁盘通常以磁性方式再现数据，而光盘借助激光以光学方式再现数据。以上各项的组合也包含在计算机可读媒体的范围内。
权利要求
1.一种方法，其包括 应用用于在存在第二光源的情况下实现对第一光源的照明质量保证的控制逻辑；及基于通过应用所述控制逻辑而产生的数据，组构所述第一光源以展现大致匹配所述第二光源的光谱功率分布SPD的SPD。
2.根据权利要求I所述的方法，其中所述应用包含 获取从所述第一光源发射的电磁EM辐射的第一 sro ;及 获取从所述第二光源发射的EM辐射的第二 SPD。
3.根据权利要求2所述的方法，其进一步包括 将所述第一 sro与所述第二 sro进行比较；及 基于所述比较的结果，产生指示所述第一 sro与所述第二 sro之间的光谱不匹配的度量。
4.根据权利要求3所述的方法，其进一步包括 针对所述度量的不满足至少一个适合性准则的值，调整所述第一光源的至少一个控制参数以实现所述度量的适合值。
5.根据权利要求4所述的方法，其进一步包括 将所述至少一个控制参数供应到所述第一光源的控制器。
6.根据权利要求2所述的方法，其中获取从所述第一光源发射的所述EM辐射的所述第一SPD包含 响应于控制事件的发生而收集所述EM辐射；及 从所述EM辐射产生所述第一 SPD。
7.根据权利要求2所述的方法，其中获取从所述第二光源发射的所述EM辐射的所述第二SPD包含 响应于控制事件而在一时间间隔内中断从所述第一光源发射的所述EM辐射； 收集从所述第二光源发射的所述EM辐射；及 产生在所述时间间隔期间从所述第二光源发射的所述EM辐射的所述第二 SPD。
8.根据权利要求2所述的方法，其中获取从所述第二光源发射的所述EM辐射的所述第二 SPD包含 从数据存储装置提取所述第二 SPD。
9.一种设备，其包括 监视组件，其获取指示从第一光源发射的电磁EM辐射的第一数据集合及指示从第二光源发射的EM辐射的第二数据集合，其中所述第一光源包含固态光SSL源群组；及 调整组件，其至少基于所述第一数据集合及所述第二数据集合而发出所述第一光源的简档，其中所述简档包含至少部分地致使所述第一光源发射具有第一光谱功率分布sro的EM辐射的至少一个参数，所述第一光谱功率分布sro几乎匹配从所述第二光源发射的所述EM辐射的第二 SPD。
10.根据权利要求9所述的设备，其中所述调整组件将所述简档保持于在功能上耦合到所述设备的存储器中，且其中所述简档中的所述至少一个参数包含 第一参数，其指示所述SSL源群组中的SSL源的致动条件，其中所述致动条件为激励条件或去激励条件 '及第二参数，其指示当所述致动条件为所述激励条件时将从所述SSL源在一光谱通道中发射的辐射的强度。
11.根据权利要求9所述的设备，其中至少基于所述第一sro与所述第二 sro的比较的结果，所述监视组件确定表示所述第一 sro与所述第二 sro之间的光谱不匹配的度量的值。
12.根据权利要求11所述的设备，其中所述调整组件至少基于所述度量的所述值而发出所述第一光源的所述简档。
13.根据权利要求9所述的设备，其中所述监视组件执行以下操作 至少基于所述第一数据集合而产生所述第一 sro ;及 至少基于所述第二数据集合而产生所述第二 SPD。
14.根据权利要求9所述的设备，其中所述监视组件从光谱分析仪获取所述第一数据集合及所述第二数据集合，所述光谱分析仪包括集成于一装置中的第一光电检测器及第二光电检测器，其中所述第一光电检测器位于距所述第二光电检测器约I微米到约100微米内。
15.根据权利要求9所述的设备，其中所述监视组件从数据存储装置获取所述第二数据集合。
16.根据权利要求9所述的设备，其进一步包括模式驱动器组件，所述模式驱动器组件致使所述设备在预定周期期间中断从所述第一光源发射EM辐射。
17.根据权利要求16所述的设备，其中所述监视组件执行以下操作 在所述预定周期期间获取所述第二数据集合；及 至少基于所述第二数据集合而产生所述第二 SPD。
18.—种系统,其包括 光谱分析仪，其收集大致从第一光源发射的电磁EM辐射及大致从第二光源发射的EM辐射，其中所述第一光源包含固态光源群组 '及 质量保证控制器，其供应所述第一光源的配置，响应于所述配置的实施，所述第一光源发射具有第一光谱功率分布sro的EM辐射，所述第一光谱功率分布sro几乎匹配大致从所述第二光源发射的所述EM辐射的第二 SPD。
19.根据权利要求18所述的系统，其进一步包括实施所述第一光源的所述配置的光源控制器。
20.根据权利要求18所述的系统，其中所述固态光源群组包含至少一个常规发光二极管LED或至少一个有机LED或至少一个基于量子点的LED中的一者或一者以上。
21.根据权利要求18所述的系统，其中所述光谱分析仪包含 光学器件集合，其包括 至少两个孔径光阑，其耦合到至少两个光收集管道 '及 小型光谱仪；及 光传感器，其经由材料板集成到所述光学器件集合中，所述材料板对从所述第一光源发射的所述EM辐射及大致从所述第二光源发射的所述EM辐射为有效不透明的。
22.根据权利要求21所述的系统，其中所述传感器包含 第一半导体光电检测器，其集成于衬底中，其中所述第一半导体光电检测器包括跨越所述衬底中的第一封闭区域的第一像素集合；及第二半导体光电检测器，其集成于所述衬底中，其中所述第二半导体光电检测器包含与所述第一像素集合大致相同的第二像素集合，所述第二像素集合跨越所述衬底中的第二封闭区域，其中所述第二封闭区域覆盖与所述第一封闭区域所覆盖的表面大致相同的表面。
23.根据权利要求22所述的系统，其中所述第一半导体光电检测器位于距所述第二半导体光电检测器约I微米到约100微米内。
全文摘要
本发明提供用于控制从为照明器具的一部分的固态光SSL源群组发射的光的质量的系统、设备及方法。所述控制至少部分地基于将所述光的光谱功率分布SPD调节为匹配参考光源的SPD。光谱分析仪收集从所述SSL源群组发射的电磁EM辐射及大致从所述参考光源发射的EM辐射。第一控制器分析与所述SSL源群组及所述参考光源的SPD相关的光谱数据，并基于所述分析而发出所述SSL源群组的配置。所述配置的实施致使所述SSL源群组发射具有一SPD的EM辐射，所述SPD几乎匹配大致从所述参考光源发射的所述EM辐射的所述SPD。
文档编号G01J3/28GK102625521SQ20121000533
公开日2012年8月1日 申请日期2012年1月6日 优先权日2011年1月28日
发明者凯文·亨普森, 迪利普·桑加姆 申请人:爱特梅尔公司
专业数控铣床产品供应商
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