专利名称：红外法向发射率测量装置及方法
技术领域：
本发明涉及发射率测量技术领域，特别涉及一种红外法向发射率测量装置及方 法。
背景技术：
目前公知的红外法向发射率的测量仪器均为相对测量，其测量过程必须依赖一已 知法向发射率的标准样品。测量结果的准确度很大程度上依赖已知标准样品的红外法向发 射率值的准确度，而无法直接进行绝对量值的测量，影响了测量的准确度。
发明内容
(一)要解决的技术问题本发明要解决的技术问题是如何提供一种可直接测量红外法向发射率的装置及 方法，提高测量的准确度。( 二 )技术方案为解决上述技术问题，本发明提供了一种红外法向发射率测量装置，包括依次连 接的测量�？椤⒋娲⒛？楹图扑隳？椋霾饬磕？椋糜诓饬看庑藕攀莺鸵阎焱夥ㄏ蚍⑸渎实谋曜己谔宓脑ど� 信号数据，并将所述待测信号数据和所述预设信号数据发送至所述存储�？椋鲈ど栊� 号数据为以所述已知红外法向发射率的标准黑体为测量对象时，测得的信号数据，所述待 测信号数据为以待测样品为测量对象时，测得的信号数据；所述存储�？椋糜诖娲⑺龃庑藕攀�、所述预设信号数据和所述已知红外 法向发射率的标准黑体的红外法向发射率；所述计算�？椋糜诟菟龃庑藕攀荨⑺鲈ど栊藕攀莺退鲆阎焱� 法向发射率的标准黑体的红外法向发射率计算所述待测样品的红外法向发射率。其中，所述装置还包括显示�？椋糜谙允舅龃庋返暮焱夥ㄏ蚍⑸渎�。其中，所述测量模块包括探测器、聚光器、位移台、温度控制器、比较器和位移控 制器，所述聚光器用于将光路准直并汇聚，所述探测器与所述位移台分别置于所述聚光器 的两侧，所述温度控制器设于所述位移台上，所述位移台与所述位移控制器连接，所述位移 控制器与所述比较器连接，所述比较器与所述探测器连接，所述探测器与所述存储�？榱� 接。其中，所述检测�？榛拱ǖ眨龅瘴环獗涨页渎娜萜鳎� 述位移台设于所述氮气舱中。其中，所述待测样品的红外发射光在2 μ m 25 μ m的波段范围内。本发明还公开了一种基于所述的红外法向发射率测量装置的测量方法，包括以下 步骤Sl 以已知红外法向发射率的标准黑体为测量对象，测量预设信号数据，并将所述预设信号数据存储至存储�？椋籗2:以待测样品为测量对象，测量待测信号数据，并将所述待测信号数据存储至存 储�？椋籗3:计算�？楦菹铝泄郊扑闼龃庋返暮焱夥ㄏ蚍⑸渎剩�
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7其中，X为待测样品的红外法向发射率，B为待测信号数据，Z为已知红外法向发射 率的标准黑体的红外法向发射率，Y为预设信号数据。其中，步骤Sl进一步包括步骤Si. 1 将所述标准黑体以及待测样品置于所述位移台上，所述待测样品置于温度 控制器中，由位移控制器控制移动台在所述标准黑体的红外发射光可被探测器接收到的范 围内移动，探测器实时将产生的信号数据发送至比较器；Si. 2 比较器接收到的信号数据最大时，停止移动移动台，将最大的信号数据发送 至存储�？椋籗i. 3 所述最大的信号数据作为预设信号数据，并将其存储至存储模块。其中，步骤S2进一步包括S2. 1由位移控制器控制移动台在所述待测样品的红外发射光可被探测器接收到 的范围内移动，探测器实时将产生的信号数据发送至比较器；S2. 2 比较器接收到的信号数据最大时，停止移动移动台，将最大的信号数据发送 至存储�？椋籗2. 3 所述最大的信号数据作为待测信号数据，并将其存储至存储�？�。其中，步骤S3之后还包括步骤S4 显示�？橄允舅龃庋返暮焱夥ㄏ蚍⑸渎�。(三)有益效果本发明红外法向发射率测量装置及方法可直接测量样品的红外法向发射率，且测 量的准确度高。
图1是按照本发明一种实施方式的红外线法向发射率测量装置的结构框图；图2是图1所示的红外线法向发射率测量装置中测量�？榈木咛褰峁故疽馔迹煌�3是基于图1所示的红外线法向发射率测量装置的测量方法的流程图。
具体实施例方式下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式
作进一步详细描述。以下实施 例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。图1是按照本发明一种实施方式的红外线法向发射率测量装置的结构框图，包 括依次连接的测量�？�1、存储�？�2和计算�？�3，所述测量�？�1，用于测量待测信号数据和已知红外法向发射率的标准黑体的预 设信号数据，并将所述待测信号数据和所述预设信号数据发送至所述存储�？椋鲈ど栊藕攀菸运鲆阎焱夥ㄏ蚍⑸渎实谋曜己谔逦饬慷韵笫保獾玫男藕攀荩� 待测信号数据为以待测样品为测量对象时，测得的信号数据；所述存储�？�2，用于存储所述待测信号数据、所述预设信号数据和所述已知红 外法向发射率的标准黑体的红外法向发射率，所述标准黑体的红外法向发射率(一般为 0. 99 1)可根据所述标准黑体的腔内壁反射特性、腔体形貌及普朗克公式进行计算得出；所述计算模块3，用于根据所述待测信号数据、所述预设信号数据和所述已知红外 法向发射率的标准黑体的红外法向发射率计算所述待测样品的红外法向发射率。所述装置还包括显示�？�4，用于显示所述待测样品的红外法向发射率。如图2所示，所述测量�？�1包括探测器1-1、聚光器1-2、位移台1-3、温度控制 器1-4、比较器1-5和位移控制器1-6，所述聚光器1-2用于将光路准直并汇聚，所述探测器 1-1与所述位移台1-3分别置于所述聚光器1-2的两侧，所述温度控制器1-4设于所述位 移台1-3上，所述位移台1-3与所述位移控制器1-6连接，所述位移控制器1-6与所述比较 器1-5连接，所述比较器1-5与所述探测器1-1连接，所述探测器1-1与所述存储�？�2连 接。由于红外法向发射率与被测样品的温度有关，故本发明中提到的红外法向发射率 均指被测样品在某一温度，所述被测样品在温度控制器1-4的控制下在测量过程中，始终 保持在某一温度。由于大气中的水蒸气以及人呼出的二氧化碳，均会对系统测量结果产生影响，另 外因为氮气对红外光谱没有明显吸收，故优选地，所述检测�？榛拱ǖ�1-7，所述 氮气舱1-7为一封闭且充满氮气的容器，所述位移台1-3设于所述氮气舱1-7中。经研究测试发现，所述待测样品的红外发射光在2 μ m 25 μ m的波段范围时，测
量精度最高。本发明还公开了一种基于所述的红外法向发射率测量装置的测量方法，如图3所 示，包括以下步骤Sl 以已知红外法向发射率的标准黑体为测量对象，测量预设信号数据，并将所述 预设信号数据存储至存储模块；S2:以待测样品为测量对象，测量待测信号数据，并将所述待测信号数据存储至存 储�？椋籗3:计算模块根据下列公式计算所述待测样品的红外法向发射率，
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7其中，X为待测样品的红外法向发射率，B为待测信号数据，Z为已知红外法向发射 率的标准黑体的红外法向发射率，Y为预设信号数据。 步骤S3之后还包括步骤S4 显示�？橄允舅龃庋返暮焱夥ㄏ蚍⑸渎�。步骤Sl进一步包括步骤Si. 1 将所述标准黑体以及待测样品置于所述位移台上，所述待测样品置于温度 控制器中，由位移控制器控制移动台在所述标准黑体的红外发射光可被探测器接收到的范 围内移动，探测器实时将产生的信号数据发送至比较器；
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Si. 2 比较器接收到的信号数据最大时，停止移动移动台，将最大的信号数据发送 至存储�？椋籗i. 3 所述最大的信号数据作为预设信号数据，并将其存储至存储�？�。步骤S2进一步包括S2. 1由位移控制器控制移动台在所述待测样品的红外发射光可被探测器接收到 的范围内移动，探测器实时将产生的信号数据发送至比较器；S2. 2 比较器接收到的信号数据最大时，停止移动移动台，将最大的信号数据发送 至存储�？椋籗2. 3 所述最大的信号数据作为待测信号数据，并将其存储至存储�？�。以上实施方式仅用于说明本发明，而并非对本发明的限制，有关技术领域的普通 技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有 等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的专利保护范围应由权利要求限定。
权利要求
1.一种红外法向发射率测量装置，其特征在于，包括依次连接的测量�？�(1)、存储 �？棰坪图扑隳？棰牵霾饬磕？�(1)，用于测量待测信号数据和已知红外法向发射率的标准黑体的预设 信号数据，并将所述待测信号数据和所述预设信号数据发送至所述存储模块，所述预设信 号数据为以所述已知红外法向发射率的标准黑体为测量对象时，测得的信号数据，所述待 测信号数据为以待测样品为测量对象时，测得的信号数据；所述存储模块(2)，用于存储所述待测信号数据、所述预设信号数据和所述已知红外法 向发射率的标准黑体的红外法向发射率；所述计算�？�(3)，用于根据所述待测信号数据、所述预设信号数据和所述已知红外法 向发射率的标准黑体的红外法向发射率计算所述待测样品的红外法向发射率。
2.如权利要求1所述的红外法向发射率测量装置，其特征在于，所述装置还包括显示 �？�(4)，用于显示所述待测样品的红外法向发射率。
3.如权利要求1所述的红外法向发射率测量装置，其特征在于，所述测量�？�(1)包 括探测器(1-1)、聚光器(1-2)、位移台(1-3)、温度控制器(1-4)、比较器(1-5)和位移控 制器(1-6)，所述聚光器(1-2)用于将光路准直并汇聚，所述探测器(1-1)与所述位移台 (1-3)分别置于所述聚光器(1-2)的两侧，所述温度控制器(1-4)设于所述位移台(1-3) 上，所述位移台(1-3)与所述位移控制器(1-6)连接，所述位移控制器(1-6)与所述比较器 (1-5)连接，所述比较器(1-5)与所述探测器(1-1)连接，所述探测器(1-1)与所述存储模 块⑵连接。
4.如权利要求1所述的红外法向发射率测量装置，其特征在于，所述检测�？榛拱� 氮气舱(1-7)，所述氮气舱(1-7)为一封闭且充满氮气的容器，所述位移台(1-3)设于所述 氮气舱(1-7)中。
5.如权利要求1所述的红外法向发射率测量装置，其特征在于，所述待测样品的红外 发射光在2 μ m 25 μ m的波段范围内。
6.一种基于权利要求1-5任一项所述的红外法向发射率测量装置的测量方法，其特征 在于，包括以下步骤Sl 以已知红外法向发射率的标准黑体为测量对象，测量预设信号数据，并将所述预设 信号数据存储至存储�？椋籗2:以待测样品为测量对象，测量待测信号数据，并将所述待测信号数据存储至存储�？椋籗3 计算模块根据下列公式计算所述待测样品的红外法向发射率， Y其中，X为待测样品的红外法向发射率，B为待测信号数据，Z为已知红外法向发射率的 标准黑体的红外法向发射率，Y为预设信号数据。
7.如权利要求6所述的测量方法，其特征在于，步骤Sl进一步包括步骤Si. 1 将所述标准黑体以及待测样品置于所述位移台上，所述待测样品置于温度控制 器中，由位移控制器控制移动台在所述标准黑体的红外发射光可被探测器接收到的范围内 移动，探测器实时将产生的信号数据发送至比较器；Si. 2 比较器接收到的信号数据最大时，停止移动移动台，将最大的信号数据发送至存 储�？椋籗1.3 所述最大的信号数据作为预设信号数据，并将其存储至存储�？�。
8.如权利要求7所述的测量方法，其特征在于，步骤S2进一步包括S2. 1由位移控制器控制移动台在所述待测样品的红外发射光可被探测器接收到的范 围内移动，探测器实时将产生的信号数据发送至比较器；S2. 2 比较器接收到的信号数据最大时，停止移动移动台，将最大的信号数据发送至存 储�？椋籗2. 3 所述最大的信号数据作为待测信号数据，并将其存储至存储�？椤�
9.如权利要求6所述的测量方法，其特征在于，步骤S3之后还包括步骤 S4 显示�？橄允舅龃庋返暮焱夥ㄏ蚍⑸渎�。
全文摘要
本发明公开了一种红外法向发射率测量装置，包括依次连接的测量�？�、存储�？楹图扑隳？椋霾饬磕？椋糜诓饬看庑藕攀莺鸵阎焱夥ㄏ蚍⑸渎实谋曜己谔宓脑ど栊藕攀荩⒔龃庑藕攀莺退鲈ど栊藕攀莘⑺椭了龃娲⒛？椋凰龃娲⒛？椋糜诖娲⑺龃庑藕攀�、所述预设信号数据和所述已知红外法向发射率的标准黑体的红外法向发射率；所述计算�？椋糜诟菟龃庑藕攀荨⑺鲈ど栊藕攀莺退鲆阎焱夥ㄏ蚍⑸渎实谋曜己谔宓暮焱夥ㄏ蚍⑸渎始扑闼龃庋返暮焱夥ㄏ蚍⑸渎剩贡痉⒚骱焱夥ㄏ蚍⑸渎什饬孔爸眉胺椒ǹ芍苯硬饬垦返暮焱夥ㄏ蚍⑸渎剩也饬康淖既范雀�。
文档编号G01N25/20GK102095750SQ20101059472
公开日2011年6月15日 申请日期2010年12月17日 优先权日2010年12月17日
发明者冯国进, 郑春弟 申请人:中国计量科学研究院
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