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专利名称：用于监测芯片内部电路信号的电路及方法
用于监测芯片内部电路信号的电路及方法
技术领域：
本发明涉及芯片设计技术领域，尤其涉及ー种用于监测芯片内部电路信号的电路及方法。
背景技木当芯片在生产和封装后，除了整个IO芯片的管脚上 的信号之外，其他所有的芯片内部电路信号都成为了不可观测信号，整个芯片成为ー个不可见不可测的黑盒子。在芯片工作异常或者测试异常时，由于无法观察任何的内部信号，给测试人员排除bug造成了巨大的困难。如图I所示，芯片内部电路A、内部电路B、内部电路C、内部电路D、内部电路E，其整个电路是封装的，只能观测到电路A的输入和电路E的输出，观测不到任何其他电路A到E之间的其他电路的信号情況。如果能有ー个手段可以在芯片工作或者测试过程中观察到芯片内部的一些关键信号，这将大大降低测试人员排除bug过程的难度。

发明内容本发明要解决的技术问题之一，在于提供ー种用于监测芯片内部电路信号的电路，可以在芯片工作或者测试过程中观察到芯片内部的一些关键信号。本发明的技术问题之一是这样实现的ー种用于监测芯片内部电路信号的电路，包括复数个待测的芯片内部电路，所述各芯片内部电路为要测试的目标电路；各芯片内部电路的输出端均与一多路选择器连接；多路选择器，负责将各芯片内部电路输出的信号进行选择后，将选择的某ー芯片内部电路的信号传输给一分频电路；分频电路，与所述多路选择器连接，负责根据芯片外部输入的直通控制信号将多路选择器传输来的信号进行分频或者直通处理后输出。本发明要解决的技术问题之ニ，在于提供ー种用于监测芯片内部电路信号的方法。本发明的技术问题之ニ是这样实现的ー种用于监测芯片内部电路信号的方法，包括如下步骤步骤I、将各个待测的芯片内部电路的输出端连接至多路选择器；步骤2、当各个待测的芯片内部电路处于工作或者测试状态时，在多路选择器上输入需要控制的通路选择I/o控制信号来选择要监测的某ー芯片内部电路的信号，并将信号传输给一分频电路；步骤3、判断该信号是否为高频时钟信号，是，则在分频电路上输入为0的直通控制信号，此时分频电路工作，将芯片内部电路输出的信号进行分频处理后输出；否，则在分频电路上输入为I的直通控制信号，此时分频电路工作，将芯片内部电路输出的信号进行直接输出；步骤4、测试人员观察从分频电路处理后输出的信号便能得知对应的芯片内部电路的信号情況。本发明具有如下优点本发明的电路包括复数个待测的芯片内部电路，各芯片内部电路的输出端均与一多路选择器连接；多路选择器，负责将各芯片内部电路输出的信号进行选择后，将选择的某ー芯片内部电路的信号传输给一分频电路；分频电路，与所述多路选择器连接，负责根据芯片外部输入的直通控制信号将多路选择器传输来的信号进行分频或者直通处理后输出。由于普通的IO芯片有一定的频率传输范围，当频率过高时，高频信号经过IO后信号质量会变得很差，这样就无法得知芯片内部电路的真实信号，因此通过分频电路进行分频操作。本发明电路结构简单，电 路面积损耗功率低，操作方便；可以在芯片工作或者测试过程中观察到芯片内部的一些关键信号。

图I为现在技术中芯片各个内部电路连接的示意图。图2为本发明电路结构的框架示意图。图3为本发明方法流程示意图。
具体实施方式请參阅图2所示，本发明的ー种用于监测芯片内部电路信号的电路，包括复数个待测的芯片内部电路(如图I中的芯片内部电路A、内部电路B、内部电路C、内部电路D、内部电路E)，所述各芯片内部电路为要测试的目标电路；各芯片内部电路的输出端均与一多路选择器连接；多路选择器，负责将各芯片内部电路输出的信号进行选择后，将选择的某ー芯片内部电路的信号传输给一分频电路；分频电路，与所述多路选择器连接，负责根据芯片外部输入的直通控制信号(在芯片测试厂对芯片进行测试阶段，该直通控制信号可以是芯片测试机的测试台中的测试探针输入的信号；在芯片焊接到电路板后进行测试，该直通控制信号可以是ー组拨码开关输入的，拨码开关的位数等于需要控制的I/o位数，每个输入位对应ー个拨码开关位)将多路选择器传输来的信号进行分频或者直通处理后输出；由于普通的IO芯片有一定的频率传输范围，当频率过高吋，高频信号经过IO后信号质量会变得很差，这样就无法得知芯片内部电路的真实信号，因此通过分频电路进行分频操作。其中，所述多路选择器根据芯片外部输入的通路选择I/O控制信号(在芯片测试厂对芯片进行测试阶段，该通路选择I/o控制信号可以是芯片测试机的测试台中的测试探针输入的信号；在芯片焊接到电路板后进行测试，该通路选择I/o控制信号可以是ー组拨码开关输入的，拨码开关的位数等于需要控制的I/o位数，每个输入位对应ー个拨码开关位)对各芯片内部电路输出的信号进行选择。如图3所示，为本发明方法流程示意图。本发明的ー种用于监测芯片内部电路信号的方法，包括如下步骤步骤I、将各个待测的芯片内部电路的输出端连接至多路选择器；步骤2、当各个待测的芯片内部电路处于工作或者测试状态时，在多路选择器上输入需要控制的通路选择I/o控制信号(如通路选择第0位控制信号，则，选择芯片内部电路A的信号，通路选择第I位控制信号，则，选择芯片内部电路B的信号)来选择要监测的某一芯片内部电路的信号，并将信号传输给一分频电路；步骤3、判断该信号是否为高频时钟信号(即时钟信号的频率超过芯片IO能承受的最大频率)，是，则在分频电路上输入为0的直通控制信号(即直通为无效状态)，此时分频电路工作，将芯片内部电路输出的信号进行 分频处理后输出；否，则在分频电路上输入为I的直通控制信号(即直通为有效状态)，此时分频电路工作，将芯片内部电路输出的信号进行直接输出；步骤4、测试人员观察从分频电路处理后输出的信号便能得知对应的芯片内部电路的信号情況。其中，所述步骤3中将芯片内部电路输出的信号进行分频处理后输出具体为将芯片内部电路输出的信号经过ー固定的分频比例进行输出，所述固定的分频比例的获得方式是在多路选择器的各芯片内部电路输出的信号中获得一能到达最大时钟频率的信号(即各芯片内部电路输出的信号中有ー个信号的时钟频率最大)，同时查询所述芯片能承受的最大时钟频率(即每个芯片生产出来都有自己能承受的最大时钟频率)，将芯片内部电路输出的信号的最大时钟频率除以所述芯片能承受的最大时钟频率后取整，作为所述固定的分频比例。总之，本发明电路结构简单，电路面积损耗功率低，操作方便；可以在芯片工作或者测试过程中观察到芯片内部的一些关键信号。以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。
权利要求
1.一种用于监测芯片内部电路信号的电路，其特征在于包括 复数个待测的芯片内部电路，所述各芯片内部电路为要测试的目标电路；各芯片内部电路的输出端均与一多路选择器连接； 多路选择器，负责将各芯片内部电路输出的信号进行选择后，将选择的某一芯片内部电路的信号传输给一分频电路； 分频电路，与所述多路选择器连接，负责根据芯片外部输入的直通控制信号将多路选择器传输来的信号进行分频或者直通处理后输出。
2.根据权利要求I所述的用于监测芯片内部电路信号的电路，其特征在于所述多路选择器根据芯片外部输入的通路选择I/O控制信号对各芯片内部电路输出的信号进行选择。
3.一种用于监测芯片内部电路信号的方法，其特征在于，包括如下步骤 步骤I、将各个待测的芯片内部电路的输出端连接至多路选择器； 步骤2、当各个待测的芯片内部电路处于工作或者测试状态时，在多路选择器上输入需要控制的通路选择I/O控制信号来选择要监测的某一芯片内部电路的信号，并将信号传输给一分频电路； 步骤3、判断该信号是否为高频时钟信号，是，则在分频电路上输入为O的直通控制信号，此时分频电路工作，将芯片内部电路输出的信号进行分频处理后输出；否，则在分频电路上输入为I的直通控制信号，此时分频电路工作，将芯片内部电路输出的信号进行直接输出； 步骤4、测试人员观察从分频电路处理后输出的信号便能得知对应的芯片内部电路的信号情况。
4.根据权利要求3所述的用于监测芯片内部电路信号的方法，其特征在于 所述步骤3中将芯片内部电路输出的信号进行分频处理后输出具体为将芯片内部电路输出的信号经过一固定的分频比例进行输出，所述固定的分频比例的获得方式是在多路选择器的各芯片内部电路输出的信号中获得一能到达最大时钟频率的信号，同时查询所述芯片能承受的最大时钟频率，将芯片内部电路输出的信号的最大时钟频率除以所述芯片能承受的最大时钟频率后取整，作为所述固定的分频比例。
全文摘要
本发明提供一种用于监测芯片内部电路信号的电路，包括复数个待测的芯片内部电路，各芯片内部电路的输出端均与一多路选择器连接；多路选择器，负责将各芯片内部电路输出的信号进行选择后，将选择的某一芯片内部电路的信号传输给一分频电路；分频电路，与所述多路选择器连接，负责根据芯片外部输入的直通控制信号将多路选择器传输来的信号进行分频或者直通处理后输出。本发明还提供了一种用于监测芯片内部电路信号的方法；本发明电路结构简单，电路面积损耗功率低，操作方便；可以在芯片工作或者测试过程中观察到芯片内部的一些关键信号。
文档编号G01R31/317GK102768335SQ201210227220
公开日2012年11月7日 申请日期2012年6月29日 优先权日2012年6月29日
发明者廖裕民 申请人:福州瑞芯微电子有限公司