专利名称：液晶显示模组短路检测系统的制作方法
技术领域：
本实用新型属于液晶显示领域，尤其涉及一种液晶显示模组短路检测系统。
背景技术：
在液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)生产领域中，由于FOG (Film On Glass，简称F0G，一种在玻璃上邦定Film类(如FPC)器件的工艺)制程中各向异性导 电膜(Anisotropic Conductive Film，简称ACF)的金球聚集，会导致部分产品中液晶显示 器接口的引脚(也叫PIN脚)产生短路，而此种短路在液晶显示器的检测系统中是无法检 测的，会造成不良品流出，在客户手机上显示蓝屏不良，造成客户投诉。目前，检测FOG制程中短路的通常方法是1、显微镜观察压贴状况，采用检测人员 目测的方法，其依据是对液晶显示器接口的引脚的ACF金球爆破情况进行判定，判定的标 准是每个液晶显示器接口的引脚至少有5个以上金球完全裂开，同时引脚间不能有金球聚 集现象。2、使用专门的设备检测短路，该设备是对LCD的FPC金手指每个相邻的引脚进行 检测，通过设备对其一引脚输送一个信号，在相邻的一个引脚采集信号，通过设备的主控单 元将采集到的信号与输送的信号做比较，如果波形完全一致，则判定两个相邻的引脚短路； 通过增大比较引脚的数量，两两比较相邻的引脚，可以实现对整个液晶显示模组的FPC金 手指短路的检测。但是，上述两种方法都存在一定的不足，即通过显微镜观察，检测人员容易对ACF 金球爆破的情况误判，存在主观性；而使用专门的检测短路设备，由于液晶显示模组的FPC 金手指的接口比较多，因此设备系统的运算量很大，硬件对主控单元的要求比较高，而主控 单元往往采用现场可编程门阵列(FieIdProgrammabIe Gate Array，简称FPGA)的方式设计 系统，软件上对算法的要求也比较高。因此，这种设计系统复杂，成本比较昂贵。
实用新型内容本实用新型针对现有技术中因显微镜观察存在主观性而误判，或者采用专用设备 存在成本昂贵、设计系统复杂的技术问题，提供一种液晶显示模组短路检测系统。本实用新型是通过以下技术方案来解决的一种液晶显示模组短路检测系统，所述检测系统包括电源�？椋氲缭茨？榱� 的检测控制�？椋觳饪刂颇？槭涑龅牡缙浇凶坏牡缙阶荒？椋氲缙阶荒？� 连接用于驱动被测试LCM工作的LCD测试板，所述检测控制�？槟谏柚糜心Ｄ馐只� 信号拉高时传送数据的检测程序，所述LCD测试板的驱动等效电路中串联有一个分压电 阻。优选地，所述分压电阻的阻值为100 Ω -10Κ Ω。所述电源�？榘↙DO和继电器，所述LDO将输入的电源转换成系统所需的各种电源，继电器实现输出电源的开关，电源�？橥ü涌诮獿DO和继电器的输出传到检测控 制�？橹校奔觳饪刂颇？榭梢钥刂萍痰缙鞯目卮佣刂芁DO的输出。[0010] 进一步，所述电平转换�？槲猄N74AVC245。 所述IXD测试板为包括带有MPU接口和IXD接口的PCB板，所述MPU接口可与电 平转换模块连接，所述IXD接口可与被测试的LCM连接。本实用新型提供的液晶显示模组短路检测系统，所述检测控制�？槟谏柚糜心Ｄ� 手机将片选信号拉高时传送数据的检测程序，所述LCD测试板的驱动等效电路中串联有一 个分压电阻，能够有效地检测出短路不良，产品在客户端的品质得以提升；同时，所述检测 系统成本低、设计简单，通过检测系统可以实现自动检测和判断，不存在个人主观性的判 断。
图1是现有技术提供的CS信号、WR信号和DB信号的时序示意图；图2是现有技术提供的LCD测试板的驱动等效电路示意图；图3是本实用新型提供的液晶显示模组短路检测系统示意图；图4是本实用新型提供的CS信号、WR信号和DB信号的时序示意图；图5是本实用新型提供的LCD测试板的驱动等效电路示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下 结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施 例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。分析现有IXD生产中模组蓝屏的不良品，对控制线和数据线进行IO 口电阻测试 上表中的signal- > VSS与VSS- > signal分别表示信号到地的电阻和地到信号 的电阻，即是DB0-DB7、CS、RESET、RS、WR、RD分别与VSS进行短路测试的情况。上述测试结 果中，CS与VSS存在0 120 Ω左右的电阻，由此CS与VSS形成微短路，影响了 IC中片选 信号(CS)的时序。请参考图1所示，为现有技术提供的CS信号、WR信号和DB信号的时序示意图，即 正常的IC时序，CS、WR、DB关系如下当CS为低电平时，WR和DB的数据传入到IC中，对IC 的操作有效；当CS为高电平时，WR和DB的数据无法传入到IC，对IC操作无效。其中，当 CS与VSS发生微短路时，CS将一直处于低电平的状态，IC始终被选中，这时无论WR和DB 是什么数据，都将传入到IC中。在客户的手机上，主控单元需要控制诸如摄像头(CAMERA)、 受话器、马达、数字信号处理芯片(Digital Signal Processing，简称DSP)等等其他部件， WR和DB的IO 口会进行复用，其WR和DB数据线在液晶显示模组的IC片选信号为高电平时，仍然有数据传输，此数据是对客户手机上除液晶显示模组(LCM)之外的其他部件进行 的操作，即是对摄像头、受话器、马达、数字信号处理芯片等其他部件进行的操作。当片选信 号(CS)微短路时，即CS为低电平时，WR和DB数据线的操作将全部传给IC，这部分数据是 不能符合液晶显示模组中IC的初始化规范，由此导致IC数据传输错乱，出现蓝屏现象或者 显不异常。在现有的检测系统中，功能比较单一，只会对LCD进行操作，程序控制传输的WR等 控制信号和DB数据信号在CS为高电平时不会有数据传输。因此，当CS短路时，不会导致 数据传输异常。由上述分析可以看出，因为客户手机和现有检测系统在软件传输数据上的区别， 导致了短路不良品在夹具上可以正常显示，但是在客户手机上出现蓝屏现象或者显示异 常，因而液晶显示模组的短路不良在现有的检测系统中是无法检出的。请参考图2所示，为现有技术提供的LCD测试板的驱动等效电路示意图其中，VCC 代表手机主板提供给液晶显示模组的驱动电压，Rm是液晶显示模组整体的等效负载，Vlcm 是加在Rm上的驱动电压，其值是VM = VCC0请参考图3所示，为本实用新型提供的液晶显示模组短路检测系统示意图，所述 液晶显示模组短路检测系统包括电源�？�1，与电源�？�1连接的检测控制�？�2，将检测 控制�？�2输出的电平进行转换的电平转换�？�3，与电平转换�？�3连接用于驱动被测试 LCM5工作的LCD测试板4，所述检测控制�？�2内设置有模拟手机将片选信号拉高时传送 数据的检测程序，所述LCD测试板4的驱动等效电路中串联有一个分压电阻。所述检测控制�？�2中设置了模拟手机将片选信号(CS)拉高传送数据的检测程 序，如果CS短路即为低电平，其中的WR和DB数据传入到IC ；如果这部分WR和DB数据不 符合IC的时序要求，则会造成IC不能正常工作，反应到液晶显示模组上则是蓝屏现象。而 如果通过软件控制将这部分WR和DB数据编写成符合IC的时序要求，WR和DB数据则会被 送到IXD上并显示出来。比如将WR和DB数据设定成内容为〃 CS短路〃的数据，则良品电 测时IXD不会出现"CS短路"字样，而不良品测试时会出现"CS短路"字样的画面，很好 的起到了检测报警的作用。优选地，所述检测控制模块由单片机组成，所述检测程序存储在 单片机内，本领域的技术人员应当明白，所述检测控制�？橐部梢杂善渌嘈偷腗PU构成， 比如80C51高速单片机、ARM等，所述检测程序可以存储在对应MPU的FLASH或ROM中。作为一种具体的实施方式，所述将片选信号(CS)拉高传送数据的检测程序可参 考图4所示，为本实用新型提供的CS信号、WR信号和DB信号的时序示意图。当为正常的 IC时序，CS、WR、DB关系如下当CS为低电平时，WR和DB的数据传入到IC中，对IC的操 作有效；当CS为高电平时，WR和DB传输为摄像头、受话器、马达、数字信号处理芯片等其他 部件的数据，对IC操作无效。其中，如果CS与VSS发生微短路时，CS将一直处于低电平的 状态，IC始终被选中，这时无论WR和DB是什么数据，都将传入到IC中，则会造成IC不能 正常工作，反应到液晶显示模组上则是蓝屏现象。所述IXD测试板4的驱动等效电路中串联有一个分压电阻，可参考图5所示，通过硬件上串联一个电阻R1，根据分压的原理，分到液晶显示模组的驱动电压会改变，其值是 Vlcm = VCCXRlcm/ (R^Rlcm)。从该公式可以看出，当增大R1的值时，液晶显示模组的驱动电压 Vm会减�。簿褪羌觳庀低扯砸壕允灸Ｗ榈那芰峤档�。假设这时液晶显示模组上发生短路时，液晶显示模组的整体负载会因为短路而增大，因为检测系统对液晶显示模组 的驱动能力降低，这时会出现检测系统驱动不了液晶显示模组的现象，因而会出现蓝屏现 象或者显示异常，从而可以将不良的液晶显示模组检出。 优选地，所述分压电阻的阻值为100 Ω-IOK Ω，由此手机板可以检出不良品的短路 电阻的范围是0-800 Ω，而改进前只能检测0 Ω的短路。进一步，将不良品放到检测系统中， 调整R1的阻值直至所有不良品在检测系统中都显示出现"短路"字样，然后关掉显示变成 蓝屏，确定R1 = 1ΚΩ。在所述液晶显示模组短路检测系统中，所述电源模块包括低压差线性稳压器(Low Dropout Regulator，简称LD0)和继电器，LDO使用在其线性区域内运行的晶体管或场效应 晶体管(Field Effect Transistor，简称FET)，从应用的输入电压中减去超额的电压，产生 经过调节的输出电压，它将输入系统的电源(比如+5V)转换成系统所需的各种电源，包括 检测控制�？橹蠱PU的工作电源3. 3V，被测试LCM中IXD的电源3. OV或2. 8V或1. 8V等； 继电器实现输出电源开关的作用。电源�？橥ü曜冀涌诮獿DO和继电器的输出传到检测 控制�？榈腗PU中，同时MPU可以通过程序控制继电器的开关从而控制LDO的输出。所述检测控制�？榭梢匝∮眯秃盼猈78LE516的单片机，所述电平转换�？榭梢� 选用型号为SN74AVC245的电平转换芯片，所述IXD测试板为包括带有MPU接口和IXD接口 的PCB板，主要作用是通过板上的走线实现MPU接口和IXD接口的连接，以此实现信号的传 递。工作时，电源�？榻缭醋皇涑鑫低掣鞲瞿？樗璧牡缭矗涑龅牡缭创蚩觳饪� 制�？橹械牡テテ贾葱心诓康某绦颍ü�10 口输出各驱动信号，各驱动信 号通过电平转换模块将检测控制模块输出的电平转换为驱动LCD需要的电平，调整过电平 的驱动信号通过MPU接口传输到IXD测试板上，然后通过板上的走线、IXD接口最终传递到 IXD，实现对液晶显示模组的短路检测。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本 实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型 的保护范围之内。
权利要求一种液晶显示模组短路检测系统，其特征在于，所述检测系统包括电源�？椋氲缭茨？榱拥募觳饪刂颇？椋觳饪刂颇？槭涑龅牡缙浇凶坏牡缙阶荒？椋氲缙阶荒？榱佑糜谇徊馐訪CM工作的LCD测试板，所述检测控制�？槟谏柚糜心Ｄ馐只⌒藕爬呤贝褪莸募觳獬绦颍鯨CD测试板的驱动等效电路中串联有一个分压电阻。
2.根据权利要求1所述的液晶显示模组短路检测系统，其特征在于，所述分压电阻的 阻值为 100 Ω-IOK Ω。
3.根据权利要求1所述的液晶显示模组短路检测系统，其特征在于，所述电源�？榘� 括LDO和继电器，所述LDO将输入的电源转换成系统所需的各种电源，继电器实现输出电源 的开关，电源�？橥ü涌诮獿DO和继电器的输出传到检测控制�？橹校奔觳饪刂颇� 块可以控制继电器的开关从而控制LDO的输出。
4.根据权利要求1所述的液晶显示模组短路检测系统，其特征在于，所述电平转换模 块为 SN74AVC245。
5.根据权利要求1所述的液晶显示模组短路检测系统，其特征在于，所述LCD测试板 为包括带有MPU接口和IXD接口的PCB板，所述MPU接口可与电平转换�？榱樱鯥XD 接口可与被测试的LCM连接。
专利摘要本实用新型提供了一种液晶显示模组短路检测系统，所述检测系统包括电源�？椋氲缭茨？榱拥募觳饪刂颇？椋觳饪刂颇？槭涑龅牡缙浇凶坏牡缙阶荒？椋氲缙阶荒？榱佑糜谇徊馐訪CM工作的LCD测试板，所述检测控制�？槟谏柚糜心Ｄ馐只⌒藕爬呤贝褪莸募觳獬绦颍鯨CD测试板的驱动等效电路中串联有一个分压电阻。本实用新型通过在检测控制�？槟谏柚糜心Ｄ馐只⌒藕爬呤贝褪莸募觳獬绦颍鯨CD测试板的驱动等效电路中串联有一个分压电阻，能够有效地检测出短路不良；同时，所述检测系统成本低、设计简单，通过检测系统可以实现自动检测和判断，不存在个人主观性的判断。
文档编号G01R31/02GK201589829SQ20092026010
公开日2010年9月22日 申请日期2009年10月31日 优先权日2009年10月31日
发明者曾小荣, 邢栋 申请人:比亚迪股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
