专利名称：测试探针的制作方法
技术领域：
本实用新型有关一种测试探针，提供一种可避免各测试探针组装固定或测试使用 时产生不当的偏摆变形，并能增加该等测试探针受压变形稳定性的测试探针。
背景技术：
一般具有复数个被测点(如电子组件接点)的诸如印刷电路板、半导体封装组件 或晶圆等制成后，均需透过一种专用治具予以检测，俾藉以确认是否为良品或有无断路现 象。又，按习知产业间所采用检测该诸如印刷电路板、半导体封装组件或晶圆等被测物的方 式，大抵如图1所示，在一治具10上表设置有若干支探针20，该若干支探针20且配合被测 物30底面的各被检测点(图未示)位置设置；另，并设有至少一接头11，该接头11 一端与 探针20电性连接，而该等接头11另端且与电路检测机的排线(图未示)相连接导通。当检测被测物30时，预先将电路测试机的排线插入接头11，续将被测物30对应放 置在治具10的探针20上，藉由探针20与被测物30底面的被检测点接触后，电路测试机便 可显示被测物30是否有断路或不良等现象。又，为了使该被测物30的诸被检测点具检测 确实性，及被测物30被探针20实施触压检测时，该探针20或被检测点不会发生破坏现象， 该诸探针20且设置呈可弹性伸缩作动。如图2所示为习有治具的结构示意图，该治具10设有间隔配置的上支持体12以 及下支持体13，该上、下支持体12、13则分别设有第一、第二穿孔121、131，该第一、第二穿 孔121、131错位配置，该探针20则穿设于第一、第二穿孔121、131中而定位，且该探针20 中段处并形成偏移的倾斜部21。当与被测物30接触时，如图3所示，其瞬间碰触的冲击力道藉由该等探针20的 弹性变形减缓，而该等探针20受压吸收撞击外力时，其最大变形部位在其中段处的倾斜部 21 ；然而，习用探针20主要受压变形的部位皆无适当构件辅助限制其变形幅度，进而影响 探针与晶圆接触的稳定性。再者，若所有探针20其倾斜部21偏摆的角度、方向无法统一限 定，不仅相邻两探针的倾斜部21会有相互干扰之虞，更无法将治具所能容置各探针的间距 缩�。蛊溆τ貌忝媸艿较拗疲屑右愿牧嫉谋匾�。
实用新型内容本实用新型所解决的技术问题即在提供一种测试探针，目的在避免各测试探针组 装固定或测试使用时产生不当的偏摆变形，并能增加该等测试探针受压变形稳定性的测试 探针。本实用新型的技术方案为一种测试探针，该测试探针装设于治具中，该治具设有 间隔配置的上支持体以及下支持体，该上支持体设有上下相邻的第一、第二上支持板，该第 一、第二上支持板设有第一、第二穿孔，而该下支持体设有上下相邻的第一、第二下支持板， 该第一、第二下支持板设有第三、第四穿孔，该第三、第四穿孔错位配置，该测试探针则穿设 于第一、第二、第三、第四穿孔中而定位。[0008]其中，该测试探针具有一上部穿设于第一、第二穿孔中，该测试探针具有一下部穿 设于第三、第四穿孔中，而该测试探针并具有一中部连接于上、下部间，该中部形成弯曲状。该下部进一步连接有电极。该第一、第二穿孔中心对位配置。该第一、第二穿孔错位配置，而该第一、第二穿孔的错位偏移量小于第三、第四穿 孔的错位偏移量。该第二、第三穿孔错位配置。该第一上支持板上表面进一步设有一沉孔。本实用新型的有益效果为本实用新型的测试探针装设于治具中，该治具设有间 隔配置的上支持体以及下支持体，该上支持体设有上下相邻的第一、第二上支持板，该第 一、第二上支持板设有第一、第二穿孔，而该下支持体设有上下相邻的第一、第二下支持板， 该第一、第二下支持板设有第三、第四穿孔，该第三、第四穿孔错位配置，该测试探针则穿设 于第一、第二、第三、第四穿孔中而定位，令该测试探针受压时能统一朝相同方向变形，避免 产生空间上的冲突，而能缩小各测试探针的间距。
图1 一般检测治具与被测物的立体示意图。图2为习有探针的结构示意图。图3为习有探针受压变形的结构示意图。图4为本实用新型中测试探针第一实施例的结构示意图。图5为本实用新型中测试探针第一实施例受压变形的结构示意图。图6为本实用新型中测试探针第二实施例的结构示意图。图7为本实用新型中测试探针第二实施例受压变形的结构示意图。图号说明中心A1、A2、A3、A4 ；治具10 ；接头11 ；上支持体12 ；第一穿孔121 ；下支 持体13 ；第二穿孔131 ；探针20 ；倾斜部21 ；被测物30 ；测试探针40 ；上部41 ；下部42 ；中 部43 ；电极44 ；承接板45 ；治具50 ；上支持体51 ；第一上支持板511 ；第二上支持板512 ；第 一穿孔513 ；第二穿孔514 ；沉孔515 ；下支持体52 ；第一下支持板521 ；第二下支持板522 ； 第三穿孔523;第四穿孔524。
具体实施方式
本实用新型测试探针，该测试探针40同样装设于治具50中，该治具50设有间隔 配置的上支持体51以及下支持体52，如图4的第一实施例所示，该上支持体51设有上下相 邻的第一、第二上支持板511、512，该第一、第二上支持板511、512设有第一、第二穿孔513、 514，而该下支持体52设有上下相邻的第一、第二下支持板521、522，该第一、第二下支持板 521、522设有第三、第四穿孔523、524，该第一、第二穿孔513、514中心对位配置，该第三、第 四穿孔523、5M错位配置，且该第二、第三穿孔514、523错位配置，如图所示，该第一、第二 穿孔513、514的中心A1、A2位于同一轴向位置，该第三、第四穿孔523、524的中心A3、A4位 于不同轴向位置，该第二、第三穿孔514、523的中心A2、A3位于不同轴向位置；该第一上支 持板511上表面可进一步设有一沉孔515可避免线路板上沾黏的异物堆积，影响探针动作顺畅度。而该测试探针40则穿设于第一、第二、第三、第四穿孔513、514、523、524中而定 位，该测试探针40具有一上部41穿设于第一、第二穿孔513、514中，该测试探针40具有一 下部42穿设于第三、第四穿孔523、524中，而该测试探针40并具有一中部43连接于上、下 部41、42间，该中部43形成弯曲状，该下部42进一步连接有电极44，该电极44用以透过接 头与电路检测机的排线(图未示)相连接导通，且该电极44处可进一步设有一承接板45， 垓承接板45用以承接治具50。当与被测物30接触时，如图5所示，其瞬间碰触的冲击力道藉由该等测试探针40 的弹性变形减缓，而该等测试探针40受压吸收撞击外力时，其最大变形部位在其中段处的 中部43，而该中部43因受压变形能统一朝相同方向变形，避免产生空间上的冲突，并防止 相邻两测试探针的中部43会有相互干扰的缺失。如图6的第二实施例所示，该第一、第二穿孔513、514错位配置，该第三、第四穿 孔523、5M错位配置，且该第二、第三穿孔514、523错位配置，如图所示，该第一、第二穿孔 513,514的中心A1、A2位于不同轴向位置，该第三、第四穿孔523、524的中心A3、A4位于不 同轴向位置，该第二、第三穿孔514、523的中心A2、A3位于不同轴向位置，而该第一、第二穿 孔513、514的错位偏移量小于第三、第四穿孔523、524的错位偏移量；当然，该等测试探针 40受压变形时同样能统一朝相同方向变形，如图7所示。值得一提的是，本实用新型相较于习有测试探针可避免各测试探针组装固定或测 试使用时产生不当的偏摆变形，并能增加该等测试探针受压变形稳定性，且该等测试探针 受压时能统一朝相同方向变形，避免产生空间上的冲突，而能增加设置的数量。
权利要求1.一种测试探针，其特征在于，该测试探针装设于治具中，该治具设有间隔配置的上支 持体以及下支持体，该上支持体设有上下相邻的第一、第二上支持板，该第一、第二上支持 板设有第一、第二穿孔，而该下支持体设有上下相邻的第一、第二下支持板，该第一、第二下 支持板设有第三、第四穿孔，该第三、第四穿孔错位配置，该测试探针则穿设于第一、第二、 第三、第四穿孔中而定位。
2.如权利要求1所述的测试探针，其特征在于，该测试探针具有一上部穿设于第一、第 二穿孔中，该测试探针具有一下部穿设于第三、第四穿孔中，而该测试探针并具有一中部连 接于上、下部间，该中部形成弯曲状。
3.如权利要求2所述的测试探针，其特征在于，该下部进一步连接有电极。
4.如权利要求1、2或3所述的测试探针，其特征在于，该第一、第二穿孔中心对位配置。
5.如权利要求1、2或3所述的测试探针，其特征在于，该第一、第二穿孔错位配置，而该 第一、第二穿孔的错位偏移量小于第三、第四穿孔的错位偏移量。
6.如权利要求1、2或3所述的测试探针，其特征在于，该第二、第三穿孔错位配置。
7.如权利要求1、2或3所述的测试探针，其特征在于，该第一上支持板上表面进一步设 有一沉孔。
专利摘要本实用新型测试探针装设于治具中，该治具设有间隔配置的上支持体以及下支持体，该上支持体设有上下相邻的第一、第二上支持板，该第一、第二上支持板设有第一、第二穿孔，而该下支持体设有上下相邻的第一、第二下支持板，该第一、第二下支持板设有第三、第四穿孔，该第三、第四穿孔错位配置，该测试探针则穿设于第一、第二、第三、第四穿孔中而定位，令该测试探针受压时能统一朝相同方向变形，避免产生空间上的冲突，而能缩小可布测试探针间距。
文档编号G01R1/067GK201845029SQ20102059570
公开日2011年5月25日 申请日期2010年11月8日 优先权日2010年11月8日
发明者土屋利彦, 堀诚一 申请人:港建日置股份有限公司
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