专利名称：一种x射线荧光分析装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及X射线分析技术，特别涉及一种X射线荧光分析装置。
背景技术：
X射线荧光分析是现代分析技术的一种重要手段，它主要由X射线枪、探测系统以 及数据处理�？楣钩桑琗射线枪发出原级高能量X射线对被测样品辐射，样品中每一种元素 的原子均处于激发态，根据玻尔理论，电子发生能级跃迁，最终释放出X射线荧光，不同的 元素所放射出的X荧光具有特定的能量特性或波长特性，探测器接收X荧光，定量的分析出 样品中每种元素的种类及含量。利用X射线荧光系统，可分析固态、液态和气态等各种形态得物质，理论上可以测 量元素周期表中的每一种元素，并且具有无损、快速、环保、无污染、低成本、操作简单的优 点，因此广泛应用于金属冶炼、五金加工、采矿、考古、造纸、稀土、电子电器、商检、石化、建 材、钢铁、水泥、化工、环保、医药、实验室和科研院校等领域。
实用新型内容本实用新型的目的是提供一种稳定性好、测量精度高的X射线荧光分析装置。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种X射线荧光分析装置，包 括承载待测样品的基台、发出原级X射线轰击待测样品的X射线枪以及接收X荧光的探测 器，探测器上依次连接有前置放大器、对被放大的模拟信号进行降噪、整形和数字转换的 DPU处理器、对转换的数字信号进行二次处理的计算机，所述计算机通过分析系统�？橥瓿� 数据计算处理并通过显示器显示结果，所述的DPU处理器包括顺序连接的放大整形模块、 ADC转换模块、数字脉冲整形�？�、谱线图形成逻辑�？�、存储器和uPC单片机接口逻辑电 路，所述的ADC转换�？楹推紫咄夹纬陕呒？橹浠沽佑新龀逖≡衤呒砟？椋� 线图形成逻辑�？榛沽佑蠨AC转换硬件调试电路。此外，还包括直流的总电源�？椋米艿缭茨？槭涑隽佑卸嗤ǖ赖缭茨？楹透� 压电源�？椋嗤ǖ赖缭茨？榉直鹞讲馄�、前置放大器和DPU处理器提供工作电源，高压 电源�？槲猉射线枪提供工作需要的高压。本实用新型的有益效果是在对样品进行元素检测分析时，将样品放置在基台上， DPU处理器、计算机及分析系统�？榭赏瓿扇康氖衷怂悖ü允酒髦苯酉允境鲈氐� 含量，稳定性好，且测量精度高。
图1是本实用新型的结构示意图；图2是本实用新型DPU处理器的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步详细说明。参照图1、图2所示，一种X射线荧光分析装置，包括承载待测样品的基台2、发出原级X射线轰击待测样品的X射线枪1以及接收X荧光的探测器3，探测器3上依次连接有 前置放大器4、对被放大的模拟信号进行降噪、整形和数字转换的DPU处理器5、对转换的数 字信号进行二次处理的计算机6，其中，所述的计算机6通过分析系统�？�11完成数据计 算处理并通过显示器12显示结果，所述的DPU处理器5包括顺序连接的放大整形�？�51、 ADC转换模块52、数字脉冲整形�？�53、谱线图形成逻辑�？�55、存储器56和uPC单片机 接口逻辑电路57，所述的ADC转换模块52和谱线图形成逻辑�？�55之间还连接有脉冲选 择逻辑处理模块54，谱线图形成逻辑�？�55还连接有DAC转换硬件调试电路58，此外，本 分析装置还包括直流的总电源�？�9，为整个系统提供电源，总电源�？�9输出连接有多通 道电源�？�8和高压电源�？�10，多通道电源�？�8分别为探测器3、前置放大器4和DPU 处理器5提供工作电源，高压电源模块10为X射线枪1提供工作需要的高压，所述的计算 机6上连接有控制接口 7，该控制接口 7同时与总电源�？�9、多通道电源�？�8和高压电 源�？�10连接，控制接口 7完成计算机6的控制信号的转换工作。X射线枪1发出原级X射线，轰击基台2上的待测样品，待测样品的原子由于X射线 的辐射而产生核外电子的能级跃迁，进而产生次级辐射-X荧光，X荧光被探测器3接收，通过 前置放大器4进入DPU处理器5，根据量子物理的相关知识，X荧光是以光子的形式表现的，探 测器3接收到每一个X荧光光子将产生一个脉冲，接收的脉冲数量代表X荧光光子的数量，和 对应此种X荧光的元素有一定的比例关系，经过对比分析就可以定量的分析出样品中元素的 含量，DPU处理器5输出的多道数字信号通过USB或RS232进入计算机6进行二次处理。所 述的探测器3和前置放大器4安装于密闭的金属壳内，藉此提高信噪比和抗干扰性。本实用新型在对样品进行元素检测分析时，将样品放置在基台2上，DPU处理器5、 计算机6及分析系统模块11可完成全部的数字运算，通过显示器12直接显示出元素的含 量，稳定性好，且测量精度高。上述实施例仅例示性说明本实用新型的原理及其功效，以及部分运用的实施例， 对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若 干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。
权利要求一种X射线荧光分析装置，包括承载待测样品的基台(2)、发出原级X射线轰击待测样品的X射线枪(1)以及接收X荧光的探测器(3)，探测器(3)上依次连接有前置放大器(4)、对被放大的模拟信号进行降噪、整形和数字转换的DPU处理器(5)、对转换的数字信号进行二次处理的计算机(6)，所述计算机(6)通过分析系统�？�(11)完成数据计算处理并通过显示器(12)显示结果，其特征在于所述的DPU处理器(5)包括顺序连接的放大整形�？�(51)、ADC转换模块(52)、数字脉冲整形�？�(53)、谱线图形成逻辑�？�(55)、存储器(56)和uPC单片机接口逻辑电路(57)，所述的ADC转换�？�(52)和谱线图形成逻辑�？�(55)之间还连接有脉冲选择逻辑处理模块(54)，谱线图形成逻辑�？�(55)还连接有DAC转换硬件调试电路(58)。
2.根据权利要求1所述的一种X射线荧光分析装置，其特征在于，还包括直流的总电源 �？�(9)，该总电源模块(9)输出连接有多通道电源�？�(8)和高压电源�？�(10)，多通道 电源�？�(8)分别为探测器(3)、前置放大器(4)和DPU处理器(5)提供工作电源，高压电 源�？�(10)为X射线枪(1)提供工作需要的高压。
3.根据权利要求1或2所述的一种X射线荧光分析装置，其特征在于，所述的计算机 (6)上连接有控制接口(7)，该控制接口(7)同时与总电源�？�(9)、多通道电源�？棰呛� 高压电源�？�(10)连接。
4.根据权利要求3所述的一种X射线荧光分析装置，其特征在于，所述的探测器(3)和 前置放大器(4)安装于密闭的金属壳内。
5.根据权利要求4所述的一种X射线荧光分析装置，其特征在于，所述的DPU处理器(5)通过USB接口或RS232接口与计算机(6)连接。
专利摘要本实用新型公开了一种X射线荧光分析装置，包括承载待测样品的基台、发出原级X射线轰击待测样品的X射线枪以及接收X荧光的探测器，探测器上依次连接有前置放大器、DPU处理器和计算机，所述的DPU处理器包括顺序连接的放大整形模块、ADC转换模块、数字脉冲整形�？�、谱线图形成逻辑�？�、存储器和uPC单片机接口逻辑电路，所述的ADC转换�？楹推紫咄夹纬陕呒？橹浠沽佑新龀逖≡衤呒砟？椋紫咄夹纬陕呒？榛沽佑蠨AC转换硬件调试电路；本实用新型在对样品进行元素检测分析时，将样品放置在基台上，DPU处理器、计算机及分析系统�？榭赏瓿扇康氖衷怂悖ü允酒髦苯酉允境鲈氐暮浚⒖纱蛴∈荼ǜ妫榷ㄐ院茫也饬烤雀�。
文档编号G01N23/223GK201600338SQ20092029357
公开日2010年10月6日 申请日期2009年12月7日 优先权日2009年12月7日
发明者韩晓朋 申请人:韩晓朋
专业数控铣床产品供应商
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