一种透光结构的应力检测装置和检测方法
【专利摘要】本发明实施例公开了一种透光结构的应力检测装置和检测方法，涉及显示【技术领域】，能够对透光结构的应力分布状态进行检测。该透光结构的应力检测装置包括：光源、第一偏振片和光强分布状态检测单元和应力分布状态分析单元；其中，所述光源出射均匀的偏振光，检测过程中，所述第一偏振片和所述光源分别位于所述透光结构的两侧，所述光强分布状态检测单元用于获取射出所述第一偏振片的偏振光的光强分布状态；所述应力分布状态分析单元用于根据所述光强分布状态获得所述透光结构的应力分布状态。
【专利说明】一种透光结构的应力检测装置和检测方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及显示【技术领域】，尤其涉及一种透光材料的应力检测装置和检测方法。
【背景技术】
[0002] 液晶显示器是一种平面超薄的显示装置，其包括许多透光结构，例如导光板、玻璃 基板等结构。上述透光结构内部存在应力，这些应力会导致液晶显示器出现各种显示不良， 严重的情况下还会导致液晶显示器的弯曲或者破裂。
[0003] 通常这些应力是在透光结构的制作过程中产生的。示例性地，导光板的制作过程 如下：将导光板的原材料加热至熔融状态注射入导光板模具中，冷却塑化后即得到具有特 定形状的导光板。在导光板的制作过程中，由于处于熔融状态的导光板的原材料具有流动 性，因此原材料在冷却塑化的过程中不可避免地在导光板内部存在应力。
[0004] 发明人发现，现有技术中无法对透光结构的应力分布状态进行检测，进而无法有 效提升透光结构的质量以及显示装置的显示效果。
【发明内容】
[0005] 本发明所要解决的技术问题在于提供一种透光结构的应力检测装置和检测方法， 能够对透光结构的应力分布状态进行检测。
[0006] 为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种透光结构的应力检测装置，采用 如下技术方案：
[0007] -种透光结构的应力检测装置包括：光源、第一偏振片和光强分布状态检测单元 和应力分布状态分析单兀；
[0008] 其中，所述光源出射均匀的偏振光，检测过程中，所述第一偏振片和所述光源分别 位于所述透光结构的两侧，所述光强分布状态检测单元用于获取射出所述第一偏振片的偏 振光的光强分布状态；所述应力分布状态分析单元用于根据所述光强分布状态获得所述透 光结构的应力分布状态。
[0009] 所述应力分布状态还用于分析所述透光结构具有所述应力分布状态的原因。
[0010] 所述的透光结构的应力检测装置还包括工艺参数实时调整单元，所述工艺参数实 时调整单元用于根据所述应力分布状态分析单元分析出的所述透光结构具有所述应力分 布状态的原因实时调整制作所述透光结构的过程中的各项工艺参数。
[0011] 所述光源为发射偏振光的偏振光源，或者，所述光源包括自然光源和第二偏振片。
[0012] 所述第二偏振片的透光轴方向与所述第一偏振片的透光轴方向垂直。
[0013] 所述透光结构的应力检测装置还包括用于固定所述第一偏振片的上框架，用于固 定所述第二偏振片的下框架，用于承载所述透光结构的承载结构，用于固定所述上框架、所 述第一偏振片、所述下框架、所述第二偏振片、所述承载结构和所述透光结构的底座。
[0014] 所述上框架和所述下框架之间的距离可调。
[0015] 所述透光结构透明或者半透明。
[0016] 本发明实施例提供了一种透光结构的应力检测装置，该应力检测装置包括光源、 第一偏振片和光强分布状态检测单元和应力分布状态分析单元；其中，光源出射均匀的偏 振光，检测过程中，第一偏振片和光源分别位于透光结构的两侧，光源出射的偏振光依次经 过透光结构和第一偏振片，光强分布状态检测单兀获取射出第一偏振片的偏振光的光强 分布状态，应力分布状态分析单元根据光强分布状态获得透光结构的应力分布状态。因此， 本发明实施例中的透光结构的应力检测装置可以对透光结构的应力分布状态进行检测，进 而可以有效提升透光结构的质量以及显示装置的显示效果。
[0017] 为了进一步解决上述技术问题，本发明实施例还提供了一种透光结构的应力检测 方法，采用如下技术方案：
[0018] 一种透光结构的应力检测方法包括：
[0019] 将所述透光结构放置于光源和第一偏振片之间，所述光源出射均勻的偏振光；
[0020] 光强分布状态检测单兀获取射出所述第一偏振片的偏振光的光强分布状态；
[0021] 应力分布状态分析单元根据所述光强分布状态获得所述透光结构的应力分布状 态。
[0022] 在将所述透光结构放置于光源和第一偏振片之间，之前还包括：
[0023] 获取所述透光结构的材料和厚度信息；
[0024] 根据所述透光结构的材料和厚度信息调节所述光源的亮度。
[0025] 所述透光结构的应力检测方法还包括：
[0026] 所述应力分布状态分析单元分析所述透光结构具有所述应力分布状态的原因。
[0027] 所述透光结构的应力检测方法还包括：
[0028] 工艺参数实时调整单元根据所述应力分布状态分析单元分析出的所述透光结构 具有所述应力分布状态的原因实时调整制作所述透光结构的过程中的各项工艺参数。
[0029] 本发明实施例提供了一种透光结构的应力检测方法，该应力检测方法包括将透光 结构放置于光源和第一偏振片之间，光强分布状态检测单兀获取射出第一偏振片的偏振光 的光强分布状态，应力分布状态分析单元根据光强分布状态获得透光结构的应力分布状 态。因此，本发明实施例中的透光结构的应力检测装置可以对透光结构的应力分布状态进 行检测，进而可以有效提升透光结构的质量以及显示装置的显示效果。
【专利附图】
【附图说明】
[0030] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述 中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些 实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附 图获得其他的附图。
[0031] 图1为本发明实施例中的第一种透光结构的应力检测装置的示意图；
[0032] 图2为本发明实施例中的第二种透光结构的应力检测装置的示意图；
[0033] 图3为本发明实施例中的第三种透光结构的应力检测装置的示意图；
[0034] 图4为本发明实施例中的第四种透光结构的应力检测装置的示意图；
[0035] 图5为本发明实施例中的透光结构的应力检测方法流程图。
[0036] 附图标记说明：
[0037] 1 一光源； 11 -自然光源； 12-第二偏振片；
[0038] 2-第一偏振片； 3-光强分布状态检测单元； 4 一应力分布状态分析单 元；
[0039] 5-透光结构； 6-工艺参数实时调整单元； 7-上框架；
[0040] 8-下框架； 9 一 7承载结构； 10-底座。
【具体实施方式】
[0041] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完 整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发 明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施 例，都属于本发明保护的范围。
[0042] 实施例一
[0043] 本发明实施例提供了一种透光结构的应力检测装置，能够对透光结构的应力分布 状态进行检测。
[0044] 具体地，如图1所示，该透光结构的应力检测装置包括：光源1、第一偏振片2和光 强分布状态检测单元3和应力分布状态分析单元4。
[0045] 其中，光源1出射均匀的偏振光，光源1的亮度可以根据透光结构5的材料及厚度 信息等调节。检测过程中，第一偏振片2和光源1分别位于透光结构5的两侧，透光结构5 与第一偏振片2以及光源1所在平面平行，光强分布状态检测单元3用于获取射出第一偏 振片2的偏振光的光强分布状态，示例性地，光强分布状态可以以图片的方式呈现，通过不 同区域的颜色不同表现光强的不同，应力分布状态分析单元4用于根据光强分布状态获得 透光结构5的应力分布状态，示例性地，应力分布状态也可以以图片的方式呈现，通过不同 区域的颜色不同表现应力的不同。
[0046] 需要补充的是，应力分布状态分析单元4可以根据光强分布状态获得透光结构5 的应力分布状态的原因在于，光源1出射的均勻的偏振光经过透光结构5时，透光结构5内 存在应力，透光结构5内应力不同的区域的密度不同，使得穿过透光结构5的不同区域进而 透过第一偏振片2的偏振光的强度不同，示例性地，透过结构5内的应力越大的区域，密度 越大，穿过透光结构5的不同区域进而透过第一偏振片2的偏振光的强度越小。
[0047] 优选地，应力分布状态分析单元4在根据光强分布状态获得透光结构5的应力分 布状态的同时，还可以分析透光结构5具有上述应力分布状态的原因。
[0048] 此时，如图2所示，透光结构的应力检测装置还可以包括工艺参数实时调整单元 6,该工艺参数实时调整单元6用于根据应力分布状态分析单元4分析出的透光结构5具有 上述应力分布状态的原因实时调整制作透光结构5的过程中的各项工艺参数。
[0049] 上述透光结构的应力检测装置在实际应用过程中具有许多优势，为了便于本领域 技术人员理解，本发明实施例以透光结构5为导光板为例，对该透光结构的应力检测装置 的一种具体应用过程描述如下：
[0050] 首先，使用MoldFlow等软件进行模拟计算，初步设定一系列导光板制作过程中的 工艺参数，然后根据这些参数制作导光板样品。
[0051] 然后，将透光结构4放置于光源1和第一偏振片2之间，光强分布状态检测单元3 获取射出第一偏振片2的偏振光的光强分布状态，应力分布状态分析单兀4根据光强分布 状态获得透光结构5的应力分布状态并分析出的导光板样品具有上述应力分布状态的原 因。
[0052] 最后，工艺参数实时调整单元6根据上述原因实时调整导光板制作过程中的各项 工艺参数，例如处于熔融状态的材料的射出速度、模具温度、模具开口尺寸以及位置等，进 而总结出制作导光板的最佳工艺参数，并按照上述最佳工艺参数进行导光板的批量生产。
[0053] 优选地，在总结制作导光板的最佳工艺参数的过程中，也可以预先设定好一个限 度样本，并检测该限度样本的应力分布状态，然后将测试的导光板样品的应力分布状态进 行对比，若不符合规格则应力分布状态分析单元4分析原因并且工艺参数实时调整单元6 对工艺参数进行实时调整，若符合规格则进行导光板的批量生产。
[0054] 此外，本发明实施例中所述的透光结构5不局限于导光板，透光结构5只要是能使 光线透过的结构均可，透光结构5可以透明也可以半透明，示例性地，透光结构5可以为导 光板或者玻璃基板等结构。
[0055] 具体地，光源1可以为发射偏振光的偏振光源，或者，如图3所示，光源1也可以包 括自然光源11和第二偏振片12,自然光源11发出的自然光经过第二偏振片12后变为偏振 光。当光源1包括自然光源11和第二偏振片12时，第二偏振片12的透光轴方向与第一偏 振片2的透光轴方向可以呈多种角度设置，其中当第二偏振片12的透光轴方向与第一偏振 片2的透光轴方向垂直时，理论上不会有光线通过第一偏振片2,但实际上会有微弱的偏振 光透过第一偏振片2,在此情况下，透光结构5中的应力对透过第一偏振片2的偏振光的光 强影响最明显，因此，本发明实施例中优选第二偏振片12的透光轴方向与第一偏振片2的 透光轴方向垂直。
[0056] 进一步地，如图4所示，透光结构的应力检测装置还包括用于固定第一偏振片2的 上框架7,用于固定第二偏振片12的下框架8,用于承载透光结构5的承载结构9,用于固定 上框架7、第一偏振片2、下框架8、第二偏振片12和承载结构9的底座10。其中，承载结构 9为无应力存在的PET膜，承载结构9可以承载具有不同尺寸、不同材料的透光结构5。此 夕卜，为了使本发明实施例中的透光结构的应力检测装置可以检测不同厚度的透光结构5的 应力分布状态，本发明实施例中优选上框架7和下框架8之间的距离可调，示例性地，可以 通过动力装置或者人工调节螺丝等方式调节。
[0057] 本发明实施例提供了一种透光结构的应力检测装置，该应力检测装置包括光源、 第一偏振片和光强分布状态检测单元和应力分布状态分析单元；其中，光源出射均匀的偏 振光，检测过程中，第一偏振片和光源分别位于透光结构的两侧，光源出射的偏振光依次经 过透光结构和第一偏振片，光强分布状态检测单兀获取射出第一偏振片的偏振光的光强分 布状态，应力分布状态分析单元根据光强分布状态获得透光结构的应力分布状态。因此，本 发明实施例中的透光结构的应力检测装置可以对透光结构的应力分布状态进行检测，进而 可以有效提升透光结构的质量以及显示装置的显示效果。
[0058] 实施例二
[0059] 本发明实施例提供了一种透光结构的应力检测方法，如图5所示，该应力检测方 法包括：
[0060] 步骤S501、将透光结构放置于光源和第一偏振片之间，光源出射均勻的偏振光。
[0061] 为了获得最准确的检测结果，本发明实施例中优选在将透光结构5放置于光源1 和第一偏振片2之间，之前还包括：首先，获取透光结构5的材料和厚度信息；然后，根据透 光结构5的材料和厚度信息调节光源1的亮度。
[0062] 步骤S502、光强分布状态检测单元获取射出第一偏振片的偏振光的光强分布状 态。
[0063] 示例性地，光强分布状态可以以图片的方式呈现，通过不同区域的颜色不同以表 现光强的不同，
[0064] 步骤S503、应力分布状态分析单元根据光强分布状态获得透光结构的应力分布状 态。
[0065] 示例性地，应力分布状态也可以以图片的方式呈现，通过不同区域的颜色不同以 表现应力的不同。
[0066] 进一步地，透光结构的应力检测方法还包括：应力分布状态分析单元4分析透光 结构5具有应力分布状态的原因。
[0067] 进一步地，透光结构的应力检测方法还包括：工艺参数实时调整单元6根据应力 分布状态分析单元4分析出的透光结构5具有上述应力分布状态的原因实时调整制作透光 结构5的过程中的各项工艺参数。
[0068] 本发明实施例提供了一种透光结构的应力检测方法，该应力检测方法包括将透光 结构放置于光源和第一偏振片之间，光强分布状态检测单兀获取射出第一偏振片的偏振光 的光强分布状态，应力分布状态分析单元根据光强分布状态获得透光结构的应力分布状 态。因此，本发明实施例中的透光结构的应力检测装置可以对透光结构的应力分布状态进 行检测，进而可以有效提升透光结构的质量以及显示装置的显示效果。
[〇〇69] 以上所述，仅为本发明的【具体实施方式】，但本发明的保护范围并不局限于此，任何 熟悉本【技术领域】的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵 盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
【权利要求】
1. 一种透光结构的应力检测装置，其特征在于，包括：光源、第一偏振片和光强分布状 态检测单元和应力分布状态分析单元； 其中，所述光源出射均匀的偏振光，检测过程中，所述第一偏振片和所述光源分别位于 所述透光结构的两侧，所述光强分布状态检测单元用于获取射出所述第一偏振片的偏振光 的光强分布状态；所述应力分布状态分析单元用于根据所述光强分布状态获得所述透光结 构的应力分布状态。
2. 根据权利要求1所述的透光结构的应力检测装置，其特征在于，所述应力分布状态 还用于分析所述透光结构具有所述应力分布状态的原因。
3. 根据权利要求2所述的透光结构的应力检测装置，其特征在于，还包括工艺参数实 时调整单元，所述工艺参数实时调整单元用于根据所述应力分布状态分析单元分析出的所 述透光结构具有所述应力分布状态的原因实时调整制作所述透光结构的过程中的各项工 艺参数。
4. 根据权利要求1所述的透光结构的应力检测装置，其特征在于，所述光源为发射偏 振光的偏振光源，或者，所述光源包括自然光源和第二偏振片。
5. 根据权利要求4所述的透光结构的应力检测装置，其特征在于，所述第二偏振片的 透光轴方向与所述第一偏振片的透光轴方向垂直。
6. 根据权利要求4所述的透光结构的应力检测装置，其特征在于，还包括用于固定所 述第一偏振片的上框架，用于固定所述第二偏振片的下框架，用于承载所述透光结构的承 载结构，用于固定所述上框架、所述第一偏振片、所述下框架、所述第二偏振片、所述承载结 构和所述透光结构的底座。
7. 根据权利要求6所述的透光结构的应力检测装置，其特征在于，所述上框架和所述 下框架之间的距离可调。
8. 根据权利要求1-7任一项所述的透光结构的应力检测装置，其特征在于，所述透光 结构透明或者半透明。
9. 一种透光结构的应力检测方法，其特征在于，包括： 将所述透光结构放置于光源和第一偏振片之间，所述光源出射均勻的偏振光； 光强分布状态检测单兀获取射出所述第一偏振片的偏振光的光强分布状态； 应力分布状态分析单元根据所述光强分布状态获得所述透光结构的应力分布状态。
10. 根据权利要求9所述的透光结构的应力检测方法，其特征在于，在将所述透光结构 放置于光源和第一偏振片之间，之前还包括： 获取所述透光结构的材料和厚度信息； 根据所述透光结构的材料和厚度信息调节所述光源的亮度。
11. 根据权利要求9或10所述的透光结构的应力检测方法，其特征在于，还包括： 所述应力分布状态分析单元分析所述透光结构具有所述应力分布状态的原因。
12. 根据权利要求11所述的透光结构的应力检测方法，其特征在于，还包括： 工艺参数实时调整单元根据所述应力分布状态分析单元分析出的所述透光结构具有 所述应力分布状态的原因实时调整制作所述透光结构的过程中的各项工艺参数。
【文档编号】G01L1/24GK104089728SQ201410295714
【公开日】2014年10月8日 申请日期:2014年6月26日 优先权日:2014年6月26日
【发明者】曾智辉, 刘芳, 冯鸿博, 苏跃峰, 董瑞君 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方光电科技有限公司
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