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专利名称：治具防护装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种治具的防护装置。
背景技术：
电子组件、半导体组件、电路板的电性检测，一般使用测试机来完成。以印刷电路板为例，印刷电路板测试装置设置于测试机台上，以测试印刷电路板的线路是否有短路。印刷电路板测试装置主要包括一治具，该治具由数片测试板所构成，各片测试板则根据实际需要以数组固定杆组结合成一体，其上具有根据待测印刷电路板接点位置钻设的通孔，各通孔还设置有弹簧针，弹簧针的一端作为接触印刷电路板待测接点，另一端则连结一导线； 此外，也有由治具、针床所构成的印刷电路板测试装置，其通常由数片测试板所构成，各片测试板则根据实际需要以数组固定杆组结合成一体，其上具有依据待测印刷电路板接点位置钻设的通孔，并在通孔内设测试针，以实现探针斜率，测试针二端凸伸出治具，一端与待测电路板待测接点接触，另一端则与针床弹簧针接触；该针床布设有弹簧针，弹簧针二端凸伸于针床，一端与治具测试针接触，另一端则连结一导线。常用的印刷电路板测试装置，其治具制作精密且配置有大量的探针，故制作成本较高。当上模下压进行电测时，有时压力过大，轻则造成治具的精密度变差，寿命减短，当下压力道失控时，会造成治具的损坏，这对于动辄数万到数百万的治具制造费用，可谓损失不轻，此即为现有技术种存在的最大问题。

实用新型内容有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种治具防护装置。为了达成上述目的，本实用新型提供一种治具防护装置，所述治具防护装置在测试装置上设置有依治具高度的防护件，其中，治具包括上治具和下治具。作为优选方案，其中所述防护件设于测试装置的下治具二侧。作为优选方案，其中所述防护件设于测试装置的下治具四周。作为优选方案，其中所述防护件对应设置于上治具及下治具。作为优选方案，其中所述防护件设于测试装置的治具内。作为优选方案，其中所述防护件直接穿设于下治具，其一端设置于下治具上端部， 作为上治具相对应防护件设置的接触部，另一端接触于测试机台。作为优选方案，其中所述防护件对应设置于上治具及下治具。作为优选方案，其中所述防护件为板状。作为优选方案，其中所述防护件为杆状。本实用新型提供的治具防护装置，通过防护件的设置，除可降低测试机下压对治具的冲击，有效提高治具的精密度与寿命外，当测试机失控下压时，还可有效保护治具不受破坏。


[0015]图1为本实用新型第--实施例侧视图[0016]图2为本实用新型第--实施例俯视图[0017]图3为本实用新型第二二实施例侧视图[0018]主要组件符号说明[0019]防护件-ι ；[0020]下治具-2 ；[0021]上治具-3 ；[0022]防护件-4 ；[0023]下治具-5 ；[0024]上治具-6。
具体实施方式
为达成上述的各项目的以及功效，下面将结合实施例和附图说明如后，使得本领域的普通技术人员根据以下所述能够实施本实用新型。本实用新型主要在测试装置上设置有根据治具设计预定高度的防护件，通过防护件的设置，除可降低测试机下压对治具的冲击，有效提高治具的精密度与寿命外，当测试机失控下压时，还可有效保护治具不受破坏。请参阅图1所示，治具包括上治具3和下治具 2，防护件1设于测试装置的下治具2 二侧，还可在下治具2四周均设置(请参阅图2)，并在上治具3对应设置防护件1，上、下对应设置的防护件1接触点设计为上治具3下压的最佳长度，故当上治具3下压时，其下死点固定于防护件1的接触点上，防护件1承受大部份测试下压的冲击力，所以不论测试多少次都不会对精密且昂贵的治具产生任何的冲击或破坏，如此即可达到降低测试机下压对治具的冲击，以有效提高治具的精密度与寿命，就算测试机失控下压时，也能有效保护治具不受破坏的设计目的。请再参阅图3所示，治具包括上治具6和下治具5，防护件4设置于下治具5上的设计，防护件4直接穿设于下治具5的未利用作为电检处，一端设置于下治具5上端部，作为上治具6相对应防护件1设置的接触部，另一端接触于测试机台，上、下对应设置的防护件1接触点设计为上治具6下压的最佳长度，故当上治具6下压时，其下死点固定于防护件 1的接触点上，防护件1承受大部分测试下压的冲击力，所以不论测试多少次都不会对精密且昂贵的治具产生任何的冲击或破坏，同样能达到降低测试机下压对治具的冲击，以有效提高治具的精密度与寿命，就算测试机失控下压时，也能有效保护治具不受破坏的设计目的。本实用新型上述防护件1和防护件4可为板状或杆状。以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例，并非用以限制本实用新型的保护范围， 故举凡本领域的普通技术人员运用本实用新型说明书及权利要求书所作的等效结构变化， 皆应同理应属于本实用新型的专利保护范围内。
权利要求1.一种治具防护装置，其特征在于，所述治具防护装置在测试装置上设置有依治具高度的防护件，其中，治具包括上治具和下治具。
2.如权利要求1所述的治具防护装置，其特征在于，所述防护件设于测试装置的下治具二侧。
3.如权利要求1项所述的治具防护装置，其特征在于，所述防护件设于测试装置的下治具四周。
4.如权利要求2或3所述的治具防护装置，其特征在于，所述防护件对应设置于上治具及下治具。
5.如权利要求1所述的治具防护装置，其特征在于，所述防护件设于测试装置的下治具内。
6.如权利要求5所述的治具防护装置，其特征在于，所述防护件直接穿设于下治具，其一端设置于下治具上端部，作为上治具相对应防护件设置的接触部，另一端接触于测试机台。
7.如权利要求6所述的治具防护装置，其特征在于，所述防护件对应设置于上治具及下治具。
8.如权利要求1所述的治具防护装置，其特征在于，所述防护件为板状。
9.如权利要求1所述的治具防护装置，其特征在于，所述防护件为杆状。
专利摘要本实用新型涉及一种治具防护装置，所述治具防护装置在测试装置上设置有依治具高度的防护件，其中，治具包括上治具和下治具，所述防护件设于下治具二侧，或设于下治具四周，或对应设置于上治具及下治具，或设置于下治具内，所述防护件为板状、杆状。本实用新型提供的治具防护装置，通过防护件的设置，除可降低测试机下压对治具的冲击，有效提高治具的精密度与寿命外，当测试机失控下压时，还可有效保护治具不受破坏。
文档编号G01R1/04GK202008494SQ20102070107
公开日2011年10月12日 申请日期2010年12月30日 优先权日2010年12月30日
发明者黄信宏, 黄鸿斌 申请人:自然兴电通科技股份有限公司