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专利名称：Rfid大板测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及RFID测试技术领域，特别涉及一种RFID大板测试仪。
背景技术：
在RFID卡制造过程中，将RFID芯片与基板结合，通常基板的面积较大，每个基板包括多个RFID卡。当RFID芯片与基板结合后通常需要通过专用的测试装置检测一个基板上每个RFID芯片是否能正常工作，才能进入下一个工序。现有的RFID大板测试仪主要是在RFID大板对应位置设置采集RFID芯片信号，当RFID大板放置在测试仪后，通过人工的方式开启检测开关进行检测，虽然该装置可以检测RFID大板上每一个RFID芯片，但其检测的效率较低。同时也无法有效地区分RFID大板上每个RFID芯片厂商，当多种不同厂商的RFID芯片混在一起时无法有效地分离。

实用新型内容本实用新型主要解决的技术问题是提供一种RFID大板测试仪，该RFID大板测试仪可以避免采用人工方式启动检测时的检测效率较低，同时可以在检测同一个RFID大板上每个RFID芯片区分不同的厂商，方便快速地分离各种厂商RFID卡。为了解决上述问题，本实用新型提供一种RFID大板测试仪，该RFID大板测试仪包括测试台和设置于测试台的控制器，该控制器分别与电连接呈矩阵分布的RFID芯片检测探头电连接，以及与RFID芯片检测探头对应的指示灯，还包括与控制器连接自动启动检测的至少两个位置检测探头。进一步地说，所述指示灯为彩色指示灯。进一步地说，所述RFID大板测试仪包括还包括存储不同RFID芯片厂商的RFID芯片特征信息的存储器。进一步地说，所述测试台上设有至少两个限位块。进一步地说，所述限位块呈L形。进一步地说，所述RFID大板测试仪呈L型，其中矩阵分布的RFID芯片检测探头设置在L的平水方向，指示灯分布于竖直方向。本实用新型RFID大板测试仪，包括主体和设置于主体的测试台，在该主体内设有控制器，该控制器分别与呈矩阵分布的且设于测试台的RFID芯片检测探头电连接，用于显示RFID大板RFID芯片状态的指示灯分别与控制器和RFID芯片检测探头电连接，该指示灯的数量与RFID芯片检测探头相当，还包括与控制器连接且同时输入位置信号时自动启动对RFID大板进行检测的至少两个位置检测探头。当所述RFID大板放置在测试仪对应位置由两个位置都检测探头采集到RFID大板存在时，控制器根据RFID大板存的信息输出控制信号由RFID芯片检测探头采集对应位置RFID芯片。由于该测试装置实现自动检测RFID大板测试仪相应位置是否存在待检测的RFID大板，并输出相应的检测结果，提高检测效率。
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，而描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来说，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。图1是本实用新型RFID大板测试仪实施例结构示意图。图2是本实用新型RFID大板测试仪实施例原理示意图。下面结合实施例，并参照附图，对本实用新型目的的实现、功能特点及优点作进一步说明。
具体实施方式
为了使要实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。如图1和图2所示，本实用新型提供一种RFID大板测试仪实施例。该RFID大板测试仪包括主体I和设置于主体I的测试台2，在该主体I内设有控制器I’，该控制器I’分别与呈矩阵分布的且设于测试台2的RFID芯片检测探头4电连接，用于显示RFID大板RFID芯片状态的指示灯4分别与控制器I’和RFID芯片检测探头3电连接，该指示灯4’的数量与RFID芯片检测探头4相当，还包括与控制器I’连接且同时输入位置信号时自动启动对RFID大板进行检测的至少两个位置检测探头3。具体地说，所述控制器I’根据位置检测探头3输入的信号自动启动对RFID大板的检测，即当两个位置检测探头3同时检测到待检测的RFID大板时，两个位置检测探头3同时出出位置信号给控制器1’，由控制器I’根据设置好的程序启动对RFID大板上的每个RFID芯片检测程序，由RFID芯片检测探头实时检测对应位置RFID大板RFID芯片好坏状态。当只有一个位置检测探头检测到待检测的RFID大板时，通常出现RFID大板位置放置不正确或未完全放置好，致使部分RFID芯片检测探头无法检测对应的RFID芯片好坏的状态，因此在此情况下，所述控制器不启动检测程序。工作时，将所述RFID大板放置在测试台时，当所述测试台上的位置检测探头检测到该RFID大板后，由控制器自动控制RFID芯片检测探头采集对应位置RFID芯片信号，并输出相应的结果。当RFID芯片合格后，由与该RFID芯片对应位置的指示灯通过不同顔色，例如可以采用绿色为正常合格，红色为不合格。由于该测试装置实现自动检测RFID大板测试仪相应位置是否存在待检测的RFID大板，并输出相应的检测结果，提高检测效率。在上述实施例中，所述RFID大板测试仪包括还包括存储不同RFID芯片厂商的RFID芯片特征信息的存储器5’。当所述RFID芯片检测探头检测RFID芯片时，由于每个厂商的RFID芯片特征信息不同，该RFID芯片检测探头将对应位置的每个RFID芯片特征信息读取，并由控制器将读取的信息与存储器内的数据进行比对和认别，并通过不同顔色指示灯输出不同厂商RFID芯片，当多种不同厂商的RFID芯片混在一起时可以有效地进行分离，方便更好地认别由不同厂商RFID芯片的RFID卡。所述指示灯为彩色指示灯，可以通过控制器控制通过不同顔色来区分不同状态的RFID芯片，例如红色可以表示与RFID芯片检测探头对应位置RFID大板上的RFID芯片为坏的，而绿色可以表示与RFID芯片检测探头对应位置RFID大板上的RFID芯片为好的。所述RFID大板测试仪呈L型，其中矩阵分布的RFID芯片检测探头设置在L的平水方向，指示灯分布于竖直方向，可以更好方便检测和观察指示灯工作状态。所述测试台上设有至少两个限位块5，当RFID大板通过限位块5可以方便地使RFID大板上的RFID芯片能与RFID芯片检测探头对应置，同时能保证两个位置检测探头3’都能出输位置信号，方便定位和自动检测，优选地，该限位块6呈L形，可以设置于RFID大板在测试台正投影的拐角处，最好是对角线的拐角分布。以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，而这些修改或替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。
权利要求1.RFID大板测试仪，包括主体和设置于主体的测试台，在该主体内设有控制器，该控制器分别与呈矩阵分布的且设于测试台的RFID芯片检测探头电连接，用于显示RFID大板RFID芯片状态的指示灯分别与控制器和RFID芯片检测探头电连接，该指示灯的数量与 RFID芯片检测探头相当，其特征在于还包括与控制器连接且同时输入位置信号时自动启动对RFID大板进行检测的至少两个位置检测探头。
2.根据权利要求1所述的RFID大板测试仪，其特征在于所述指示灯为彩色指示灯。
3.根据权利要求1或2所述的RFID大板测试仪，其特征在于所述RFID大板测试仪包括还包括存储不同RFID芯片厂商的RFID芯片特征信息的存储器。
4.根据权利要求3所述的RFID大板测试仪，其特征在于所述测试台上设有至少两个限位块。
5.根据权利要求4所述的RFID大板测试仪，其特征在于所述限位块呈L形。
6.根据权利要求5所述的RFID大板测试仪，其特征在于所述RFID大板测试仪呈L型，其中矩阵分布的RFID芯片检测探头设置在L的平水方向，指示灯分布于竖直方向
专利摘要本实用新型RFID大板测试仪，包括主体和设置于主体的测试台，在该主体内设有控制器，该控制器分别与呈矩阵分布的且设于测试台的RFID芯片检测探头电连接，用于显示RFID大板RFID芯片状态的指示灯分别与控制器和RFID芯片检测探头电连接，该指示灯的数量与RFID芯片检测探头相当，还包括与控制器连接且同时输入位置信号时自动启动对RFID大板进行检测的至少两个位置检测探头。当所述RFID大板放置在测试仪对应位置由两个位置都检测探头采集到RFID大板存在时，控制器根据RFID大板存的信息输出控制信号由RFID芯片检测探头采集对应位置RFID芯片。由于该测试装置实现自动检测RFID大板测试仪相应位置是否存在待检测的RFID大板，并输出相应的检测结果，提高检测效率。
文档编号G01R31/00GK202837441SQ20122051490
公开日2013年3月27日 申请日期2012年9月28日 优先权日2012年9月28日
发明者兰荣 申请人:兰荣