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专利名称：测试电路的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种电路技术，尤其是一种测试电路。
背景技术：
对电子设备的I/O端口进行检测时，通常仅通过亮灯指示检测结果，没有声音报警装置，操作者易疲劳出错。而且，在检测过程中，I/o端口的信号一般通过三极管等常用电子器件直接输入到检测电路的单片机，有可能由于输入信号的电压过高而损坏单片机。

发明内容
有鉴于此，有必要提供一种具有较佳检测能力且不易损坏的测试电路。一种测试电路，其包括一光耦合器、一单片机、一开关三极管以及一驱动芯片。所述光耦合器包括两个输入端以及两个输出端，所述光耦合器的两个输入端与待测端口连接，光耦合器的其中一个输出端与所述单片机的输入端连接，光耦合器的另一个输出端接地。单片机的输出端与所述开关三极管的基极连接。所述开关三极管的发射极与一外接电源连接，所述开关三极管的集电极与驱动芯片的输入端连接。所述驱动芯片的输出端与一警示设备连接。当光耦合器向所述单片机输入低电平信号时，所述单片机输出低电平信号使得开关三极管导通而输入所述外接电源的电压，所述驱动芯片输出驱动信号以驱动所述警示设备工作。本发明的测试电路通过使用光耦合器来输出信号至所述单片机，避免当被测端口存在高电压时，该高电压被输出至单片机而损坏所述单片机。另外，通过增加一个开关三极管来接入所述外接电源，能够稳定地为所述驱动芯片提供工作电压。而且，除该光耦合器可发出光信号以提示用户外，该驱动芯片输出的信号可驱动各种警示设备发出警示信号，能够更加方便地帮助用户获知待测电路的工作性能。


图I是本发明实施方式提供的测试电路的电路图。主要元件符号说明测试电路100待测端口200光稱合器10发光二极管11光I禹合器的输入端111、113光I禹合器的输出端115、117感光三极管13
单片机20单片机的输入端20a
单片机的输出 端20b开关三极管30驱动心片40信号输入端40a电源输入端41驱动芯片的输出端43外接电源50直流电源60警示设备70第一电阻Rl第二电阻R具体实施例方式以下将结合附图，对本发明作进一步的详细说明。如图I所示，本发明实施方式提供一种测试电路100，其包括一光耦合器10、一单片机20、一开关三极管30、一驱动芯片40及一警不设备70。所述光稱合器10用于测试一待测电路的待测端口 200，并将测试信号传送到单片机20，单片机20根据该测试信号的电平高低输出一相应的电平信号。当单片机20输出低电平信号时,开关三极管30导通,并使得驱动芯片40输出一驱动信号，该驱动信号驱使该警示设备70示警。当单片机20输出高电平信号时，开关三极管30截止，驱动芯片40处于高阻态，不输出驱动信号，警示设备70不发出示警信号，使得用户能够根据警示设备70是否示警来测试待测电路的性能。本实施方式中，该待测电路为电脑主板，该测试电路100用于测试该待测电路的I/o接口是否正常工作。本实施方式中，所述光I禹合器10包括一发光二极管11以及一与发光二极管11正对设置的感光三极管13。所述发光二极管11根据输入电压发出光信号，所述感光三极管13用于感测所述发光二极管11发射的光信号。所述光稱合器10包括两个输入端111、113以及两个输出端115、117，所述两个输入端111、113分别与待测电路的待测端口 200连接，而其中一个输出端115与所述单片机20的输入端20a连接，另一个输出端117接地。具体的，所述输入端111为正输入端，所述正输入端111连接于所述发光二极管11的阳极，并通过一第一电阻Rl与所述待测端口 200的正极连接。所述输入端113为负输入端，所述负输入端113连接于所述发光二极管11的阴极，并直接与所述待测端口 200的负极连接。所述感光三极管13的基极与所述发光二极管11正对设置，用于感测发光二极管11发射的光。所述感光三极管13的集电极通过所述输出端115连接到所述单片机20的输入端20a，所述感光三极管13的发射极通过所述输出端117接地。所述单片机20内设置有多个逻辑电路(图未示)，用于根据所述光耦合器10的信号输出对应的高/低电平信号。本实施方式中，所述单片机20支持5V电压输入。所述开关三极管30的基极与所述单片机20的输出端20b连接。本实施方式中，所述开关三极管30的基极通过一第二电阻R2与所述单片机20的输出端20b连接，发射极与一外接电源50连接，集电极与驱动芯片40的信号输入端40a连接。本实施方式中，所述外接电源50的输入电压为5V。优选的，所述开关三极管30为pnp型。所述驱动芯片40包括一电源输入端41以及多个输出端43，该电源输入端41与一直流电源60连接，所述输出端43与该警示设备70连接，并用于输出驱动信号以驱动所述警示设备70工作。本实施方式中，所述直流电源60为12V，所述警示设备70为蜂鸣器。可以理解，所述警示设备70还可以为发光设备或者其他驱动电路。测试时，所述光耦合器10的正输入端111、负输入端113从待测电路采集到一电压信号，例如0V，5V或12V的电压信号。当电压信号为5V或12V的高电平信号时，说明待测电路正常工作，发光二极管11发光，感光三极管13导通,使得光稱合器10的输出端115输出低电平信号至单片机20。当单片机20接收到低电平信号之后，单片机20的输出端20b输出低电平信号，开关三极管30导通，外接电源50输入5V电压信号至所述驱动芯片40，驱 动芯片40接收到稳定的5V电压信号之后,输出一低电平信号，以驱动所述警不设备70发出警示信号。当电压信号为OV时，说明待测电路未能处于工作状态，光耦合器10的输出端115输出高电平信号至单片机20，单片机20输出高电平信号至所述开关三极管30，开关三极管30截止，使得外接电源50无法输入5V电压信号至所述驱动芯片40，驱动芯片40处于高阻态，无法驱动警示设备70工作。本发明的测试电路100通过使用光耦合器10来输出信号至所述单片机20，避免当待测端口 200存在高电压时，该高电压被输出至单片机20而损坏所述单片机20。另外，通过增加一个开关三极管30来接入所述外接电源50，能够稳定地为所述驱动芯片40提供工作电压。而且，除该光耦合器10可发出光信号以提示用户外，该驱动芯片40输出的信号可驱动各种警示设备70发出警示信号，能够更加方便地帮助用户获知待测电路的工作性能。可以理解的是，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术构思做出其它各种像应的改变与变形，而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
权利要求
1.一种测试电路,其包括一光稱合器、一单片机、一开关三极管以及一驱动芯片，所述光耦合器包括两个输入端以及两个输出端，所述光耦合器的两个输入端与一待测端口连接，光耦合器的其中一个输出端与所述单片机的输入端连接，光耦合器的另一个输出端接地，单片机的输出端与所述开关三极管的基极连接，所述开关三极管的发射极与一外接电源连接，所述开关三极管的集电极与驱动芯片的输入端连接，所述驱动芯片的输出端与一警示设备连接；当光耦合器向所述单片机输入低电平信号时，所述单片机输出低电平信号使得开关三极管导通而输入所述外接电源的电压，所述驱动芯片输出驱动信号以驱动所述警示设备工作。
2.如权利要求I所述的测试电路，其特征在于所述光耦合器的两个输入端包括一正输入端以及一负输入端，所述正输入端通过一第一电阻与所述待测端口连接，所述负输入端直接连接所述待测端口。
3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于所述光耦合器包括一发光二极管以及一与发光二极管正对设置的感光三极管，所述发光二极管根据输入电压发出光信号，所述感光三极管用于感测所述发光二极管发射的光信号，所述正输入端连接于所述发光二极管 的阳极，所述负输入端连接于所述发光二极管的阴极。
4.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于所述感光三极管的基极与所述发光二极管正对设置，用于感测发光二极管发射的光。
5.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于所述感光三极管的集电极通过所述光耦合器的其中一个输出端与所述单片机连接，所述感光三极管的发射极通过所述光耦合器的另一个输出端接地。
6.如权利要求I所述的测试电路，其特征在于所述开关三极管为pnp型。
7.如权利要求I所述的测试电路，其特征在于所述开关三极管的基极通过一第二电阻与所述单片机的输出端连接。
8.如权利要求I所述的测试电路，其特征在于所述驱动芯片包括一电源输入端，该电源输入端与一直流电源连接。
9.如权利要求I所述的测试电路，其特征在于所述直流电源的输入电压为12V。
10.如权利要求I所述的测试电路，其特征在于所述外接电源的输入电压为5V。
全文摘要
本发明提供一种测试电路，其包括一光耦合器、一单片机、一开关三极管以及一驱动芯片。所述光耦合器包括两个输入端以及两个输出端，所述光耦合器的两个输入端与待测端口连接，光耦合器的其中一个输出端与所述单片机的输入端连接，光耦合器的另一个输出端接地。单片机的输出端与所述开关三极管的基极连接。所述开关三极管的发射极与一外接电源连接，所述开关三极管的集电极与驱动芯片的输入端连接。所述驱动芯片的输出端与一警示设备连接。当光耦合器向所述单片机输入低电平信号时，所述单片机输出低电平信号使得开关三极管导通而输入所述外接电源的电压，所述驱动芯片输出驱动信号以驱动所述警示设备工作。该测试电路具有较佳检测能力且不易损坏。
文档编号G01R31/28GK102645624SQ201110042560
公开日2012年8月22日 申请日期2011年2月22日 优先权日2011年2月22日
发明者崔振山, 王立平, 郭张贤 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司