专利名称：光学式测距装置及电子设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及光学式测距装置及搭载该装置的电子设备，该光学式测距装置用来以光学方式测量距测距对象物的距离，特别是即使在由于回流焊等导致温度变化而发生热膨胀或收缩的情况下也具有高测距精度。
背景技术：
图12是说明普通的三角测距法的原理的示意图。如图12所示，现有的普通光学式测距装置例如具有发光元件201、受光元件202、发光透镜203及受光透镜204。在该光学式测距装置中，从配置在原点(0，0)的发光元件201射出的光束通过配 置在A点(0，d)的发光透镜203，成为大致平行的光束(发光轴205)，作为点光源(7 ”卜光)，向测距对象物211上的B点(0，y)照射。被测距对象物211反射的光束(受光轴206)通过配置在C点(L，d)的受光透镜204 (聚光镜)聚光，在配置于沿X方向的轴上的受光元件202上的D点(L+1，0)成像，形成受光点(受光^ ”卜)。在此，如果将通过C点(受光透镜204的中心)且与y轴平行的线与受光元件202的受光面交叉而形成的点作为E点(L，0)，则三角形ABC与三角形E⑶相似。因此，检测出受光元件202上的受光点的位置，测量边长ED (=1)，根据下述公式(I)即可算出距测距对象物211的距离y。
L-dr 、y = —j-(I)如上所述，光学式测距装置检测出形成于受光元件202上的受光点的位置，根据公式(I)算出距测距对象物211的距离。为了正确求得该距离，需要固定发光透镜203和受光透镜204之间的距离L、以及受光透镜204和受光元件202之间的距离d。图13是表示利用了上述原理的普通光学式测距装置300的结构剖面图。如图13所示，光学式测距装置300具有上述发光元件201、受光元件202、发光透镜203及受光透镜204，并且由壳体301保持上述部件。通常，为了达到低价格的目的而由遮光性树脂形成壳体301。在该光学式测距装置300中，因为壳体301通常由具有较大的热膨胀系数的树脂形成，所以如果周围温度发生变化，则受其影响而发生伸缩。因此，例如如果由于周围温度上升而使壳体伸长，那么发光透镜203和受光透镜204分别向椭圆形虚线所示的位置移动，使透镜间的距离L发生变化(增大)。其结果为室温时的发光透镜203的光轴205a及受光透镜204的光轴206a分别如虚线所示的光轴205b及光轴206b那样发生变化。在该状态下，虽然测距对象物211的位置并未改变，形成于受光元件202上的受光点的位置与室温时相比，向外侧发生偏移。这样，例如在周围温度升高的情况下，会错误地测量出测距对象物211位于比实际位置近的位置。在专利文献1，2中已经公开了能够解决上述问题的技术。图14是表示专利文献I记载的光学式测距装置400的结构剖面图，图15是表示专利文献2记载的光学式测距装置500的结构剖面图。如图14所示，光学式测距装置400具有发光元件401、受光元件402、投光透镜403(发光透镜)及受光透镜404。收纳发光元件401的盒体405及投光透镜403被固定在同一个第一壳体406中，另一方面，收纳受光元件402的盒体407及受光透镜404被固定在同一个第二壳体408中，第一壳体406与第二壳体408通过主体部409连接，构成主体壳体410。在这样的光学式测距装置400中，即使主体壳体410发生热膨胀，也能够在第一壳体406中维持发光元件401与投光透镜403的位置关系、在第二壳体408中维持受光元件402及受光透镜404的位置关系。由此，因为从受光元件402的中心至反射光的光点位置的距离不发生改变，所以能够保证测距精度。如图15所示，光学式测距装置500具有成像透镜501a，501b、成像透镜501a，501b的保持部件502、CCD盒体503a，503b (光传感器阵列)、以及CCD盒体503a，503b的保 持部件504。在该光学式测距装置500中，成像透镜501a，50 Ib及保持部件502，504由不具有吸湿性的塑料形成的同一材料形成。在这样的光学式测距装置500中，成像透镜501a，501b及保持部件502，504因热膨胀而整体均匀地伸长，由此能够防止由于温度变化而使测距精度降低。这样，在上述光学式测距装置400，500中，在保持受光、发光元件及透镜的部件由于周围温度的变化而均匀地伸缩的情况下，能够维持受光、发光元件及透镜的位置关系，从而满足三角测量的原理。然而，在光学式测距装置400，500中，在受光、发光元件自行发热的情况下，由于装置整体的温度变化不均匀，所以受光、发光元件附近的部件与透镜附近的部件为不同的温度，其结果为按照不同的温度以不同的伸缩量进行伸缩。因此，不能维持受光、发光元件与透镜的位置关系。专利文献1，2中未记载关于在上述温度变化不均匀的情况下校正受光点位置的方法，因此，在专利文献1，2所记载的技术中，因为不能够防止由于受光、发光元件的自行发热所导致的测距精度的降低，所以不能够满足要求地利用三角测距法的原理。在专利文献3中已经公开了能够解决上述问题的技术。图16是表示专利文献3所记述的光学式测距装置600的结构剖面图。如图16所示，光学式测距装置600具有一对透镜601a，60lb、一对CCD盒体602a，602b、透镜保持部件603、CXD保持部件604以及温度传感器605，606。温度传感器605安装在透镜保持部件603上的透镜602a，602b之间，温度传感器606安装在CXD保持部件604上的CCD盒体602a，602b之间。在这样的光学式测距装置600中，利用温度传感器605，606的输出，计算出由于CXD盒体602a，602b内CXD芯片607a，607b (受光元件)的自行发热所导致的透镜保持部件603及CXD保持部件604的温度差。然后，利用该温度差，对CXD芯片607a，607b上的物像校正偏移量。由此，能够校正由于CXD芯片607a，607b的自行发热所导致的透镜保持部件603与CXD保持部件604的热膨胀之差，从而能够确保测距精度。但是，在光学式测距装置600中，为了防止测距精度降低，需要使用温度传感器605,606o而且，温度传感器605，606不能内置于CCD芯片607a，607b等中，必须配置为分别与透镜保持部件603及CCD保持部件604接触。并且，也需要用来传输温度传感器605，606所输出的信号的配线。因此，光学式测距装置600形成复杂结构的结果就是，增加组装的工时，并且难以廉价地提供光学式测距装置600。于是，考虑只设置温度传感器605，606中的任意一个，可以使光学式测距装置600的结构相对简单。但是，只设置温度传感器605，606中的任意一个将会带来下面所说明的问题。图17是表示现有光学式测距装置700的结构剖面图。如图17所示，在光学式测距装置700中，周围温度使包括光学式测距装置700的侧面在内的光学式测距装置700整体均匀地加热或冷却，使各部件膨胀或收缩。由此，使发光透镜703与受光透镜704之间的距离、以及发光元件701与受光元件702之间的距离发生变化。另一方面，由于发光元件701及受光元件702的通电而使元件自行发热，该自行发热直接对密封这些元件的遮光性树脂部705进行加热，使之膨胀。而且，来自发光元件701及受光元件702的辐射热、以及从遮光性树脂部705向保持发光透镜703及受光透镜704 的透镜保持部件706的传导热也间接地对透镜保持部件706的透镜保持部分进行加热，使之膨胀。因此，在发生自行发热的情况下，遮光性树脂部705和透镜保持部件706因为温度不同，所以，依照固有的热膨胀系数，随着各自的温度变化而发生膨胀。因而，发光透镜703及受光透镜704之间的距离变化量在不同的情况下有所不同，在由于周围热量而使光学式测距装置700被加热的情况下按照箭头I变化；在由于自行发热而使光学式测距装置700被加热的情况下按照箭头J变化。因此，为了分别预测自行发热所导致的两元件701，702之间的距离变化和两透镜703，704之间的距离变化，需要具有分别检测遮光性树脂部705的温度和透镜保持部件706的温度的温度传感器。即使在光学式测距装置600中，透镜601a，601b之间的距离变化量在由于周围热量而使光学式测距装置600被加热的情况下和由于自行发热而使光学式测距装置600被加热的情况下有所不同。因此，如果只将温度传感器605，606安装在透镜保持部件603或CCD保持部件604上，那么，例如在温度升高的情况下，不清楚是因为周围温度的升高还是自行发热的影响导致温度发生变化。因此，存在不能正确掌握透镜601a，601b与CXD芯片607a，607b的位置关系、以及测距精度降低的问题。因此，为了抑制源于周围热量及自行发热的热膨胀所导致的受光、发光透镜之间的距离变化，例如在图13所示的光学式测距装置300中，考虑由金属形成保持发光透镜203及受光透镜204的壳体301的一部分。具体地说，由金属制的框架(透镜架)构成保持发光透镜203及受光透镜204的部分，将该透镜架安装在壳体301中。这样，壳体301的一部分为热膨胀系数较小的金属制成，因而能够抑制热膨胀所导致的受光、发光透镜之间的距离变化，并且能够消除起因于周围热量及自行发热的热膨胀所导致的受光、发光透镜之间的距离变化差异。而且，与壳体301整体为金属制相比，还能够抑制价格的升高。专利文献I :(日本)特开2006-337320号公报(2006年12月14日公开)专利文献2 :(日本)特开平11-281351号公报(1999年10月15日公开)专利文献3 :(日本)特开2001-99643号公报(2001年4月13日公开)可是，为了将光学式测距装置搭载在电子设备上，需要将光学式测距装置安装在基板等上。在安装中，为了相对于发光元件及受光元件输入输出信号或提供电源，将设置于安装有发光元件及受光元件的引线框的多个端子焊接在基板上。随着近年来光学式测距装置的小型化，上述端子间的间隔逐渐减小。而且也希望能够有效地、大量地生产搭载上述小型化的光学式测距装置的电子设备。作为接受这样的需求来焊接端子的方法，与现有的手工作业相比，对回流焊的需求非常高。如果光学式测距装置通过回流焊炉，则通常会在短时间内暴露于260°C以上的高温下。此时，密封受光、发光透镜、受光、发光兀件、壳体、受光、发光兀件的、形成兀件密封部等各部的各树脂将依照其热膨胀系数而发生膨胀，引线框及前述的透镜架也同样依照其热膨胀系数而发生膨胀。然而，构成引线框及透镜架的金属的热膨胀系数小于树脂的热膨胀系数，因此，对引线框与元件密封部的界面、透镜架与壳体的界面、以及透镜架与透镜的界面，因热膨胀系数之差而产生应力。而且，在从回流焊炉中排出时，光学 式测距装置反而要急剧冷却至室温附近，因此因高温环境导致膨胀的光学式测距装置将急剧收缩。在这样的从加热至冷却的过程中，例如如果关注透镜及透镜架，那么在透镜与透镜架之间没有足够的紧密结合力的情况下，由于在高温环境中升温所引发的、对这些界面的应力，导致透镜在透镜架上滑动。而且，在急剧降至室温的降温过程中对这些界面也作用有应力，致使透镜在透镜架上滑动。因此，由于回流焊，与安装前相比，受光、发光透镜与受光、发光元件的相对位置关系发生变化。其结果为，如前述的三角测距原理中所述，由于受光点的位置偏移，所以即使利用该位置进行前述公式(I)的演算，所得到的距离也偏离准确值。如果在冷却时与过热时发生完全相反的滑动，则受光、发光透镜与透镜架的位置关系恢复原状，因而不会由于回流焊发生上述的问题。但实际上，受光、发光透镜与透镜架的位置关系不会恢复原样。在关注受光、发光透镜与透镜架的界面的情况下，在加热时的膨胀与冷却时的收缩过程中，在该界面所产生的变形不是完全正相反的矢量。例如，回流焊的升温分布与降温分布不同，所以上述界面中的内部温度分布在加热时与冷却时不对称。因此，加热时所产生的滑动与冷却时所产生的滑动不同，受光、发光透镜相对于受光、发光元件的相对位置关系发生变化。这样，即使使用金属制的透镜架，也因为急剧的加热及冷却引发在透镜架和树脂部件的界面产生滑动，所以存在测距精度降低的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供高耐热且高精度的光学式测距装置。本发明的光学式测距装置是用来测量距测距对象物的距离的光学式测距装置，具有发光元件，安装在安装部件上；发光透镜，由透光性树脂形成，将所述发光元件的射出光照射至所述测距对象物；受光元件，安装在所述安装部件上，用来检测来自所述测距对象物的反射光会聚的位置；受光透镜，由透光性树脂形成，使所述反射光会聚于上述受光元件；透光性树脂体，密封上述发光元件及上述受光元件；第一遮光性树脂体，覆盖上述透光性树脂体，以形成使上述射出光从上述发光元件照射至上述发光透镜的空间，以及使上述反射光从上述受光透镜照射至上述受光元件的空间；透镜架，由金属形成，保持上述发光透镜及上述受光透镜；第二遮光性树脂体，密封上述透镜架及上述第一遮光性树脂体。上述透镜架在表面及背面的、至少形成上述发光透镜和受光透镜的区域上形成凹凸结构。在上述结构中，因为在透镜架的表面、背面或这两面形成凹凸结构，所以形成发光透镜及受光透镜的透光性树脂进入凹凸结构，提高该透光性树脂与透镜架的紧密结合性。由此，即使在回流焊时周围温度发生变化、导致应力作用于发光透镜及受光透镜与透镜架的界面的情况下，也不会分别发生滑动。因此，能够确保回流焊处理后的发光透镜及受光透镜与发光元件及受光元件的相对位置关系，因而能够提高光学式测距装置的耐热性及测距精度。本发明其他的光学式测距装置是用来测量距测距对象物的距离的光学式测距装置，具有发光元件，安装在安装部件上；发光透镜，由透光性树脂形成，将上述发光元件的射出光照射至上述测距对象物；受光元件，安装在上述安装部件上，用来检测来自上述测距对象物的反射光会聚的位置；受光透镜，由透光性树脂形成，使上述反射光会聚于上述受光 元件；透光性树脂体，密封上述发光元件及上述受光元件；第一遮光性树脂体，覆盖上述透光性树脂体，以形成使上述射出光从上述发光元件照射至上述发光透镜的空间，以及使上述反射光从上述受光透镜照射至上述受光元件的空间；透镜架，由金属形成，设有上述发光透镜及上述受光透镜；第二遮光性树脂体，密封上述透镜架及上述第一遮光性树脂体。在上述受光透镜及上述发光透镜与上述第一遮光性树脂体之间、以及上述受光透镜及上述发光透镜与上述第二遮光性树脂体之间的任一方形成间隙，使上述受光透镜及上述发光透镜与上述第一遮光性树脂体及上述第二遮光性树脂体不因发生热膨胀而相互接触。在上述结构中，在进行回流焊处理时，构成受光透镜及发光透镜的树脂和构成第一遮光性树脂体及第二遮光性树脂体的树脂以各自的热膨胀系数发生膨胀。对此，构成受光透镜及发光透镜的树脂与第一遮光性树脂体及第二遮光性树脂体在间隙内膨胀而不接触，所以不会作用有因相互膨胀而产生的应力。因此，在进行回流焊处理后，能够确保发光透镜及受光透镜与发光元件及受光元件的相对位置关系，因而能够提高光学式测距装置的耐热性及测距精度。本发明的光学式测距装置通过上述的结构，起到能够简单地力求光学式测距装置的高耐热化及高精度化的作用
图IA是表示本发明第一实施方式的光学式测距装置结构的俯视图；图IB是图IA的俯视图中M-M线向矢剖面图；图2是表示上述光学式测距装置中发光元件及受光元件的其他配置的侧面图；图3A是表示本发明第二实施方式的光学式测距装置结构的俯视图；图3B是图3A的俯视图中N-N线向矢剖面图；图4是表示第二实施方式的光学式测距装置中发光透镜端部的周边一部分的剖面放大图；图5A是表示本发明第三实施方式的光学式测距装置结构的俯视图；图5B是图5A的俯视图中0_0线向矢剖面图；图6表示第三实施方式的变形例，是表示形成有透镜的透镜架结构的俯视图7是表示第一实施方式的光学式测距装置的透镜架中发光透镜的保持结构的剖面放大图；图8是表示本发明第四实施方式的光学式测距装置结构的剖面图；图9A是表示图8的光学式测距装置中带透镜的透镜架结构的俯视图；图9B是图9A的俯视图中P_P线向矢剖面图；图10是表示本发明第五实施方式中计算机结构的立体图；图IlA是表示对应本发明实施方式的比较例中光学式测距装置结构的俯视图；图IlB是图IlA的俯视图中Q-Q线向矢剖面图；
图12是用来说明普通的三角测距法原理的示意图；图13是表示普通测距装置的结构的剖面图；图14是表示专利文献I所述的测距装置的结构的剖面图；图15是表示专利文献2所述的测距装置的结构的剖面图；图16是表示专利文献3所述的测距装置的结构的剖面图；图17是用来说明在测距装置中因周围热量及自行发热导致的透镜间距离的变化量分别不同的示意图；图18A是透镜架及发光透镜的俯视图，用来说明第三实施方式的光学式测距装置中透镜架的透镜狭缝间的距离与从透镜狭缝至保持孔的距离之间的关系；图18B是图18A的俯视图中R-R线向矢剖面图；图19是表示从上述透镜狭缝之间剥离发光透镜的状态的透镜架及发光透镜的部分俯视图；图20是表示在上述透镜狭缝之间应力作用于透镜架的透镜架及发光透镜的部分俯视图。附图标记说明I光学式测距装置；2发光元件；3受光元件；4引线框(安装部件)；5发光透镜；6受光透镜；7发光侧一次模制件(I次 一& K)(透光性树脂体)；8受光侧一次模制件(透光性树脂体);9 二次模制件(第一遮光性树脂体)；10三次模制件(第二遮光性树脂体)；10a开口部；lla镀层；llb凹凸结构；1广15透镜架；13a，13b保持孔；13c透镜狭缝(狭缝孔)；14a，14b保持孔；14c凹部；21光学式测距装置；31光学式测距装置；41光学式测距装置；42带透镜的透镜架；43薄膜部；51计算机(电子设备)；G间隙。
具体实施例方式第一实施方式下面参照图IA及图1B、图2及图7，说明本发明的第一实施方式。[光学式测距装置的结构]图IA及图IB是表示本发明第一实施方式的光学式测距装置I的结构的俯视图及剖面图，图2是表示光学式测距装置I中发光元件2及受光元件3的配置的侧面图。本实施方式的光学式测距装置I是用来测量距测距对象物的距离的装置。如图IA及图IB所示，光学式测距装置I具有发光元件2、受光元件3、引线框4、发光透镜5、受光透镜6、发光侧一次模制件7、受光侧一次模制件( 一 ^卜'')8、二次模制件9、三次模制件10及透镜架11。引线框4 (安装部件)具有搭载部4a和多个端子4b，搭载部4a形成为平板状，搭载发光元件2及受光元件3。端子4b从光学式测距装置I长边侧的相对的两个外壁面向与M-M线方向正交的方向相互平行地延伸，与搭载部4a —体形成。发光元件2搭载于引线框4的搭载部4a上的一端侧，通过由透光性树脂形成的发光侧一次模制件7 (透光性树脂体)进行密封。另一方面，受光元件3搭载于引线框4的搭载部4a上的另一端侧，利用与发光侧一次模制件7相同的透光性树脂形成的受光侧一次模制件8 (透光性树脂体)进行密封。这些发光侧一次模 制件7及受光侧一次模制件8被由遮光性树脂形成的二次模制件9 (第一遮光性树脂体)覆盖。由此，能够防止光从发光元件2直接射入受光元件3。作为受光元件3,使用PSD (Position Sensitive Detector :位置灵敏探测器)、配置多个光电二极管(PD)的线性传感器、图像传感器等。该受光元件3为了检测接收的反射光所会聚的点的位置，将受光光量转换为电信号，并内置有对该电信号进行规定的演算处理的信号处理部。或者也可以如图2所示，信号处理部12作为与受光元件3不同的元件构成于引线框4上。另外，发光元件2及受光元件3也可以配置在表面形成有配线的基板(安装部件)上，来取代引线框4。上述的二次模制件9具有开口部9a，％。开口部9a在发光元件2的上方开口，并且在中间形成为具有台阶的钵状。另一方面，开口部9b在受光元件3的上方开口，并且在中间形成为具有台阶的钵状。在二次模制件9的上端部配置分别覆盖开口部9a，9b的发光透镜5及受光透镜6。通过开口部9a形成使来自发光元件2的射出光照射至发光透镜5的空间，通过开口部％，形成入射到受光透镜6的、来自测距对象物的反射光照射至受光元件3的空间。发光透镜5由具有透光性的透光性树脂形成，将来自发光元件2的射出光转换为平行光束，向测距对象物照射。受光透镜6由具有透光性的透光性树脂形成，将来自测距对象物的反射光会聚在受光元件3的受光面上。发光透镜5及受光透镜6由透镜架11保持，将该透镜架11配置在二次模制件9上的规定位置上，由此将发光透镜5及受光透镜6分别配置在开口部9a，9b。还有，作为形成发光透镜5及受光透镜6的透光性树脂，可以使用用来形成透镜的、通常所使用的公知的透光性树脂(例如环氧树脂)。另外，发光透镜5及受光透镜6可以由同一种透光性树脂构成，也可以由分别不同的透光性树脂构成。由遮光性树脂形成的三次模制件10(第二遮光性树脂体)覆盖二次模制件9的外周面及透镜架11的上端面，并且具有露出发光透镜5及受光透镜6的开口部10a，10b。由此，三次模制件10保持二次模制件9和透镜架11。二次模制件9及三次模制件10通过注射成型而形成。而且，作为构成二次模制件9及三次模制件10的遮光性树脂，可以使用公知的遮光性树脂。作为这样的树脂，例如可以适当使用聚邻苯二甲酰胺、聚苯硫醚(PPS)、液晶聚合物(LCP，热膨胀系数5E-5)。这样，由遮光性树脂形成的二次模制件9及三次模制件10具有比由后述的金属形成的透镜架11更大的热膨胀系数。
透镜架11形成为由金属形成的长方形平板状，而且，透镜架11具有用来保持发光透镜5及受光透镜6的保持孔。作为构成透镜架11的金属材料，优选例如42合金(热膨胀系数5. 5E-6),但不限于此。图7是表示透镜架11中的发光透镜5的保持结构的剖面放大图。另外，图7中虽然未表示受光透镜6的保持结构，但受光透镜6当然也以同样的保持结构由透镜架11保持。如图7所示，在透镜架11的表面、背面或这两面中的、至少形成发光透镜5的区域形成微小的凹凸结构11b，该凹凸结构Ilb虽然例如通过进行粗糙化处理(梨地処理)而形成，但只要能得到同样的效果，也可以通过其他的表面处理形成。例如，凹凸结构Ilb能够 通过压模形成，也能够通过喷砂(7' 5 7卜)加工或激光加工形成。而且，形成凹凸结构Ilb的其他方法还包括镀敷处理，通过镀敷的前处理，能够在透镜架11的表面、背面或这两面形成数μ m左右的微细的凹凸结构lib。通过如上所述在透镜架11上形成凹凸结构11b，构成发光透镜5及受光透镜6的透光性树脂与透镜架11的紧密结合力增大，由此，能够使发光透镜5及受光透镜6在它们分别与透镜架11的界面上难以滑动。另外，在后述的各实施方式的透镜架上也可以形成与上述凹凸结构Ilb相同的凹凸结构。[防止发光透镜及受光透镜滑动的效果]在此，针对光学式测距装置I在由于回流焊等而处于高温环境或低温环境中的情况下发生热膨胀或收缩的状态进行说明。光学式测距装置I通过回流焊炉时，如前所述处于260°C以上的高温中，由此，形成发光透镜5、受光透镜6、发光侧一次模制件7、受光侧一次模制件8、二次模制件9及三次模制件10的各树脂依照各自的热膨胀系数而膨胀。同时，由金属形成的引线框4及透镜架11也依照各自的膨胀系数而膨胀，但不像上述树脂膨胀得那么大。此时，特别是由于形成发光透镜5及受光透镜6的透光性树脂的热膨胀系数与形成透镜架11的金属的热膨胀系数之差，发光透镜5及受光透镜6相对于透镜架11产生滑动。还有，当光学式测距装置I从回流焊炉中排出时，相反地由于温度急剧冷却至室温附近而急剧收缩，此时，由于收缩之差，发光透镜5及受光透镜6相对于透镜架11也产生滑动。对此，在上述结构中，在透镜架11的表面、背面或这两面形成凹凸结构lib。由此，能够大幅提高发光透镜5、受光透镜6各自与透镜架11之间的紧密结合力。因此，能够防止发光透镜5、受光透镜6分别相对于透镜架11的滑动。还有，在对透镜架11进行镀敷的情况下，作为镀层的材质，使用能够增加与树脂的紧密结合力的Au-Pd镀层，由此能够进一步大幅提高发光透镜5及受光透镜6与透镜架11的紧密结合力。由此，能够确保发光元件2及受光元件3与发光透镜5及受光透镜6的相对位置关系。因此，能够简单地谋求光学式测距装置I的高耐热化及高精度化。[光学式测距装置的制造]针对光学式测距装置I的制造流程(制造方法)进行说明。另外，在此，为了形成前述的凹凸结构11b，针对在透镜架11的表面及背面进行镀敷处理的实例进行说明。首先，在引线框4上配置发光元件2和受光元件3，在该状态下，利用Au线，将发光元件2及受光元件3与端子4b电连接。接着，利用透光性树脂密封发光元件2，由此形成发光侧一次模制件7。同时，利用透光性树脂密封受光元件3，由此形成受光侧一次模制件8。在其他的工序中，通过在透镜架11的表面及背面进行镀敷处理，形成具有数ym凹凸的镀层11a。而且，在形成镀层Ila的透镜架11上由透光性树脂形成发光透镜5及受光透镜6。在该状态下，由于硬化透光性树脂，在发光透镜5、受光透镜6与透镜架11之间产生内部应力。于是，在通过三次模制件10将形成有发光透镜5、受光透镜6的透镜架11组装在光学式测距装置I中之前，对透镜架11进行相当于回流焊的热处理，由此，发光透镜5及受光透镜6发生热膨胀，所以能够在进行后面的回流焊处理之前，将残留于发光透镜5、 受光透镜6与透镜架11之间的内部应力释放。之后，利用遮光性树脂形成二次模制件9。进而以在二次模制件9上配置透镜架11的状态，利用遮光性树脂，密封二次模制件9及透镜架11，形成三次模制件10。由此，完成光学式测距装置I的制造。另外，在将制造完成的光学式测距装置I安装在基板等的情况下，使光学式测距装置I通过回流焊炉。此时，因为在发光透镜5、受光透镜6与透镜架11之间存在较大的热膨胀系数差，所以，在它们的界面由于回流焊的高温而产生变形。在该状态下，由于上述内部应力已经释放，所以只要通过镀层Ila抑制变形的产生即可。由此，能够有效地防止发光透镜5及受光透镜6与透镜架11的滑动。在此，对于除了形成有发光透镜5及受光透镜6的透镜架11 (带透镜的透镜架)以外的其他部件，在进行回流焊处理前不进行上述的、相当于回流焊的热处理的原因如下。例如，搭载发光元件2及受光元件3的引线框4通过Au线电连接发光元件2及受光元件3，进而通过由透光性树脂形成的发光侧一次模制件7及受光侧一次模制件8进行密封。因此，如果过多施加相当于回流焊的热量，则可能出现由于树脂的膨胀导致Au线切断等可靠性方面的问题。与之相对，带透镜的透镜架因为不像引线框4那样搭载IC等配件，所以即使施加相当于(或者大于)回流焊的热量，也不会出现上述问题。另外，这样的热处理也可适用于后述的第二 第四实施方式中的任一个实施方式中。第二实施方式下面参照图3A、图3B及图4说明本发明其他的实施方式。在本实施方式中，对于具有与前述第一实施方式中的结构部件相同功能的结构部件，使用相同的标记，省略其说明。[光学式测距装置的结构]图3A及图3B是表示本发明其他实施方式中光学式测距装置21的结构的俯视图及剖面图，图4是表示光学式测距装置21中发光透镜5的端部的周边一部分的剖面放大图。如图3A及图3B所示，光学式测距装置21与光学式测距装置I相同，具有发光元件2、受光元件3、引线框4、发光透镜5、受光透镜6、发光侧一次模制件7、受光侧一次模制件8、二次模制件9及三次模制件10。而且，光学式测距装置21具有透镜架12，取代光学式测距装置I中的透镜架11。透镜架12与透镜架11相同，形成为由金属形成的长方形平板状，而且，作为构成透镜架12的金属材料，可以使用构成透镜架11的、前述的金属材料。另外，透镜架12与透镜架11不同，在表面及背面不具有镀层11a。三次模制件10中的开口部10a，IOb为了在分别与发光透镜5、受光透镜6之间形成规定间隔的间隙G，形成为具有大于发光透镜5及受光透镜6的外径的内径。上述间隙G被设定为，在光学式测距装置21放置于回流焊炉内处于设定温度最大值的高温环境中的状态下，即使三次模制件10与发光透镜5及受光透镜6发生热膨胀也相互不接触的距离(规定间隔)。[防止发光透镜及受光透镜滑动的效果] 光学式测距装置21也与光学式测距装置I相同，如前所述，在通过回流焊炉时，由于暴露于如前所述的260°C以上的高温下，各部分依照各自的热膨胀系数发生膨胀。此时，发光透镜5及受光透镜6相对于透镜架12发生滑动。而且，光学式测距装置21在从回流焊炉排出时，发光透镜5及受光透镜6相对于透镜架12也发生滑动。对此，在上述结构中，在三次模制件10的开口部10a，IOb与发光透镜5、受光透镜6之间形成间隙G，由此，如图4所示，三次模制件10向S方向膨胀，发光透镜5向T方向膨胀，但在间隙G的范围内只是相互靠近，并不接触。同样，即使受光透镜6及三次模制件10发生热膨胀，也只是在间隙G的范围内相互靠近，并不接触。因此，发光透镜5、受光透镜6不会由于接触而被施加来自三次模制件10的应力。因而，能够防止发光透镜5、受光透镜6由于来自三次模制件10的应力而相对于透镜架12发生滑动。由此，能够确保发光元件2及受光元件3与发光透镜5及受光透镜6的相对位置关系，因而能够简单地谋求光学式测距装置21的高耐热化及高精度化。另外，在上述实例中，因为不能消除发光透镜5及受光透镜6与透镜架12在界面所发生的滑动，所以通过将本实施方式的结构与第一实施方式的结构组合，能够进一步提高防止滑动的效果。还有，在上述实例中，虽然针对用来避免发光透镜5及受光透镜6与三次模制件10接触的间隙G进行了说明，但也可以在发光透镜5、受光透镜6与二次模制件9之间设置相同的间隙。具体地说，在发光透镜5、受光透镜6的下部的外周端部与二次模制件9的开口部9a，9b之间形成上述间隙。由此也能够获得与上述相同的效果。第三实施方式下面参照图5A及图5B、图6、图18A、图18B、图19及图20，说明本发明的另一种实
施方式。在本实施方式中，对于具有与前述的第一、第二实施方式中的结构部件相同功能的结构部件，使用相同的标记，省略其说明。[光学式测距装置的结构]图5A及图5B是表示本发明另一种实施方式中光学式测距装置31的结构的俯视图及剖面图。
如图5所示，光学式测距装置31与光学式测距装置21相同，具有发光元件2、受光兀件3、引线框4、发光侧一次模制件7、受光侧一次模制件8、二次模制件9及三次模制件10。而且，光学式测距装置31具有透镜架13，取代光学式测距装置21中的透镜架12。透镜架13与透镜架12相同，形成为由金属形成的长方形平板状，而且，作为构成透镜架13的金属材料，可以使用构成透镜架12的、前述的金属材料。透镜架13具有用来保持发光透镜5及受光透镜6的保持孔13a，13b，而且透镜架13在保持孔13a，13b的周缘端部附近的相向位置上形成贯通透镜架13的两个透镜狭缝13c (狭缝孔)。发光透镜5及受光透镜6在形成于透镜架13时，通过在图5A中虚线所示范围内向模具中填充透光性树脂而形成。此时，透光性树脂侵入至透镜狭缝13c的内部。由此，在透光性树脂硬化的状态下，发光透镜5及受光透镜6具有经由透镜狭缝13c结合的结合部，由此，形成相对于透镜架13 “打桩”(杭打6)的状态。
[防止发光透镜及受光透镜滑动的效果]光学式测距装置31也与光学式测距装置21相同，如前所述，在通过回流焊炉时，由于暴露于如前所述的260°C以上的高温下，各部分依照各自的热膨胀系数发生膨胀。此时，发光透镜5及受光透镜6相对于透镜架13发生滑动。而且，光学式测距装置31在从回流焊炉排出时，发光透镜5及受光透镜6相对于透镜架13也发生滑动。对此，在上述结构中，发光透镜5及受光透镜6具有经由透镜狭缝13c结合的结合部，由此，相对透镜架13进行“打桩”。由此，在发光透镜5及受光透镜6中，在回流焊导致的升温及降温时产生与透镜架13的面平行的应力，相对于应力方向，形成于与透镜狭缝13c垂直的方向上的结合部压制该应力，由此能够防止发光透镜5及受光透镜6滑动。而且，如图5A所示，在透镜架13中，使保持孔13a，13b位于中间，在分别相向的两个位置上设有透镜狭缝13c。如果只在一个位置上设有透镜狭缝13c，则随着应力的增大，可能以透镜狭缝13c为中心分散应力，在以透镜狭缝13c为中心旋转的方向上发光透镜5及受光透镜6发生滑动。与此相对，在两个位置上设有透镜狭缝13c，通过这两个透镜狭缝13c均匀地分散应力，所以能够有效地防止在旋转方向上的滑动。最优选如图5A所示，在作为受光点的移动方向的0-0线(通过发光透镜5及受光透镜6中心的线)上配置透镜狭缝13c0另外，对于发光透镜5及受光透镜6不限于分别设有两个透镜狭缝13c，也可以分别设有三个透镜狭缝13c。在该情况下，优选以使应力均匀地分散的方式配置透镜狭缝13c0还有，本实施方式包括后述的变形例，都能够适用于前述的第一、第二实施方式，由此，能够进一步提高防止发光透镜5及受光透镜6滑动的效果。[狭缝孔间距离的设定]图18A及图18B是透镜架13及发光透镜5的俯视图及剖面图，用来说明透镜狭缝13c间的距离与从透镜狭缝13c至保持孔13a的距离之间的关系。图19是表示从透镜狭缝13c之间剥离发光透镜5的状态的透镜架13及发光透镜5的部分俯视图。图20是表示向透镜狭缝13c之间作用应力的透镜架13及发光透镜5的部分俯视图。如图18A所示，透镜狭缝13c沿着保持孔13a的周边配置为与保持孔13a同心的圆状。各透镜狭缝13c优选配置为透镜狭缝13c与保持孔13a之间的距离(狭缝孔-保持孔间距离Dl)大于或等于相邻的透镜狭缝13c之间的距离(狭缝孔间距离D2)。下面说明其原因。另外，为了方便，在图18A及图18B、图19以及图20中只表示了发光透镜5，并且在以下的说明也只谈到发光透镜5，但受光透镜6的情况当然也是相同的。如果光学式测距装置31因温度而发生膨胀或收缩，则对透镜架13作用有因膨胀或收缩而产生的应力。如果该应力大于或等于发光透镜5与透镜架13之间的紧密结合力，则如图18A及图18B所示，发光透镜5由于从外周部开始剥离与透镜架13的表面紧密接触的界面而形成剥离区域5a，该剥离区域5a随着剥离向保持孔13a侧发展而增大。在透镜狭缝13c中，因为填充有透镜树脂，所以发光透镜5与透镜架13的表面不存在界面。因此，剥离被透镜狭缝13c阻止，不会发展下去。另一方面，从相邻的透镜狭缝13c之间所进行的剥离，由于填充至两侧的透镜狭缝13c的透镜树脂，使接近透镜狭缝13c 的剥离被抑制。因此，如图19所示，能够考虑将剥离区域5a从相邻的透镜狭缝13c之间向保持孔13a侧扩展为近似以狭缝孔间距离D2为直径的圆形。因此，通过将狭缝孔-保持孔间距离Dl设定为大于或等于狭缝孔间距离D2，能够防止剥离区域5a超过保持孔13a (透镜内径)而扩展。因而能够避免由于剥离所导致的应力，使发光透镜5和发光元件2的相对位置发生改变。而且，在狭缝孔-保持孔间距离Dl等于狭缝孔间距离D2的情况下，即使剥离区域5a抵达保持孔13a (透镜内径)，也能够防止进一步扩大。还有，在该情况下，能够以狭缝孔-保持孔间距离Dl与狭缝孔间距离D2的关系简单地设定保持孔13a和透镜狭缝13c的配置关系。因此，尽可能短地设定狭缝孔间距离D2，并且据此设定狭缝孔-保持孔间距离Dl,由此能够将发光透镜5的面积减少至最佳。但是，如果狭缝孔间距离D2非常短，那么透镜架13中透镜狭缝13c与保持孔13a之间的区域不具有足够的强度，一旦受到上述的应力，则透镜架13在该区域内可能发生变形。因此，优选狭缝孔间距离D2大于或等于透镜架13的厚度，使透镜架13具有能够避免发生上述变形的强度。下面说明其原因。如图20所示，在相邻的透镜狭缝13c之间形成狭缝间区域13e，如果狭缝孔间距离D2大于或等于透镜架13的厚度，则该狭缝间区域13e具有高强度，该强度不但能够对抗作用于X方向(与发光透镜5的直径方向正交的方向)的应力，而且还能够对抗作用于透镜架13的厚度方向的应力。而且，另一方面，如果狭缝孔间距离D2短于透镜架13的厚度，则狭缝间区域13e的强度降低，不能对抗作用于X方向的应力，因而发生变形，使狭缝孔间距离D2缩短。与之相伴，透镜狭缝13c和保持孔13a之间的区域也发生变形。作为决定相对于X方向的应力的狭缝间区域13e的强度的主要因素，也包括发光透镜5的直径方向的长度L (透镜狭缝13c的宽度)。但是，狭缝孔间距离D2比长度L对上述强度具有更大的影响。在此，因为为抑制发光透镜5的剥离而设置透镜狭缝13c，所以只要具有能够取得其效果的最低限度的大小即可。但是，在增大透镜狭缝13c的情况下，为了不使剥离超越保持孔13a而发展，不使上述的强度降低，需要将狭缝孔-保持孔间距离Dl及狭缝孔间距离D2设定为满足上述条件的值。因此，必须增大透镜架13整体的大�。⑶矣纱艘脖匦朐龃蠊庋讲饩嘧爸�31的大小。因此，从避免光学式测距装置31大型化的观点出发，优选透镜狭缝13c能够填入透镜树脂，并且狭缝孔-保持孔间距离Dl及狭缝孔间距离D2在满足前述条件的范围内形成得尽量小。如上所述，在透镜架13中，优选合理设定狭缝孔-保持孔间距离Dl及狭缝孔间距离D2，由此，不会导致透镜架13大型化，并且能够抑制发光透镜5及受光透镜6的剥离，而且能够提高透镜架13对热应力的强度。[变形例]针对本实施方式的一变形例进行说明。图6是表示本实施方式的变形例中光学式测距装置31的透镜架14的结构的俯视图。在本变形例中，使用透镜架14取代上述透镜架13。
该透镜架14具有用来保持发光透镜5及受光透镜6的保持孔14a，14b，而且，透镜架14中，在保持孔14a，14b上以适当的间隔形成多个凹部14c，保持孔14a，14b由于具有凹部14c而形成为齿轮状。通过使用透镜架14，在形成发光透镜5及受光透镜6时，透光性树脂侵入凹部14c的内部，所以增加透光性树脂与透镜架14的结合力。由此，能够通过保持孔14a，14b的齿轮状结构，阻挡与透镜架14的面方向平行作用的、进行回流焊时所产生的应力，因而能够防止发光透镜5及受光透镜6滑动。而且，因为透镜架14具有保持孔14a，14b的齿轮状结构，所以，与设置需要相对较大面积的透镜狭缝13c相比，上述齿轮状结构以较小的面积就能够提高发光透镜5及受光透镜6的结合力。因此，从小型化的观点出发，透镜架14比透镜架13有用。第四实施方式下面参照图8、图9A及图9B说明本发明的另一其他的实施方式。在本实施方式中，对于具有与前述第一实施方式的结构部件相同功能的结构部件，使用相同的标记，省略其说明。[光学式测距装置的结构]图8是表示本发明另一其他实施方式中光学式测距装置41的结构的剖面图，图9A及图9B是表示光学式测距装置41中带透镜的透镜架42的结构的俯视图及剖面图。如图8所示，光学式测距装置41与光学式测距装置I相同，具有发光元件2、受光兀件3、引线框4、发光侧一次模制件7、受光侧一次模制件8、二次模制件9及三次模制件10。而且，光学式测距装置41具有带透镜的透镜架42。如图9A及图9B所示，带透镜的透镜架42具有薄膜部43，薄膜部43在除了安装发光透镜5及受光透镜6部分以外的透镜架15的表面及背面的区域，由与形成发光透镜5及受光透镜6的树脂相同的透光性树脂一体形成。在如上述构成的光学式测距装置41中，因为由薄膜部43覆盖带透镜的透镜架42的透镜架15，所以透镜架15与二次模制件9及三次模制件10不接触。由此，在以图8中的虚线所表示的U部、V部及W部，带透镜的透镜架42与二次模制件9及三次模制件10通过树脂彼此接触，提高紧密结合力。因此，与透镜架11与二次模制件9及三次模制件10接触的结构相比较，能够进一步减少滑动的发生。例如，为了在发光透镜5的三次模制件10的外侧端部的U部发生滑动，那么在三次模制件10的中心侧的V部及相反侧的外侧端部的W部也需要发生同样的滑动。因此，只要不作用非常大的应力，就不会发生滑动，因而能够期待具有防止滑动的巨大效果。但是，V部的透镜架15的下表面侧的薄膜部43，根据其膜厚的不同，可能成为发光元件2射出光的光波导(導波路)，从而会成为光直接入射至受光元件3侧的路径。因此，薄膜部43优选采用光不能侵入的厚膜设计、或薄膜部43内成为光的迷宫的薄膜结构。还有，在上述结构中，薄膜部43由与形成发光透镜5及受光透镜6的树脂相同的树脂一体形成，由此，在透镜架15上形成发光透镜5及受光透镜6时，也能够同时形成薄膜部43。因此，能够简单地形成薄膜部43。第五实施方式下面参照图10说明本发明另一其他的实施方式。 图10是表示作为电子设备的个人计算机(计算机)51的立体图。如图10所示，计算机51具有主体部52及显示部53，在显示部53框架部分的上端部安装光学式测距装置54。作为光学式测距装置54，可以使用前述的高耐热且高性能的光学式测距装置1，21，31，41中任意一种光学式测距装置。在该计算机51中，通过光学式测距装置54，能够正确地检测到计算机51前是否有人。由此，如果检测出计算机51前无人，则通过将计算机51的动作切换为睡眠模式，能够有效地节省能源。而且，由于光学式测距装置54为高耐热且高性能，所以能够通过回流焊简单地在短时间内大量安装在基板上。另外，能够搭载光学式测距装置54的电子设备不限于计算机51，例如，光学式测距装置54可用于非接触式的操作中，具体地说，在厨房家电及卫生设备中，作为以非接触式进行0N/0FF动作的非接触式开关，能够利用光学式测距装置54。而且，在检测出至人手之间的距离而进行音量控制等、以及手湿或手脏的情况下的电子设备的操作中，能够利用光学式测距装置54。比较例下面参照图IlA及图IlB说明本发明的比较例。图IlA及图IlB是表示本比较例中光学式测距装置61的结构的俯视图及剖面图。如图IlA及图IlB所示，光学式测距装置61具有发光元件62、受光元件63、引线框64、发光透镜65、受:光透镜66、基座67、壳体68及透镜架69。形成于引线框64上的发光元件62及受光元件63通过由遮光性树脂形成的基座67进行密封,基座67具有相互遮蔽来自发光兀件62的射出光及射向受光兀件63的入射光的遮光壁67a、以及形成于侧面的侧壁67b，进而形成由遮光性树脂形成的壳体68，用来覆盖侧壁67b。透镜架69由金属形成为平板状,保持发光透镜65及受光透镜66,该透镜架69被夹持保持在基座67及壳体68之间。在如上所述构成的光学式测距装置61中，透镜架69由热膨胀系数小于形成基座67及壳体68的遮光性树脂的热膨胀系数的金属形成，由此，即使由于周围热量或发光元件62及受光元件63的自行发热而使得基座67及壳体68发生热膨胀，透镜架69也几乎不会膨胀。所以，不会由于周围热量及自行发热使发光透镜65及受光透镜66之间距离的变化量出现差异。因此，如前述的光学式测距装置600，不会由于周围热量及自行发热使透镜间距离的变化量出现差异，因而能够防止测距精度降低。然而，在对光学式测距装置61通过回流焊进行焊接的情况下，虽然时间短，但周围温度上升至260°C左右，因此，构成发光透镜65及受光透镜66、基座67及壳体68的树脂大幅度膨胀，而另一方面，构成引线框64及透镜架69的金属与树脂相比，其热膨胀系数小，几乎不发生膨胀。因此，在发光透镜65及受光透镜66与透镜架69的界面上，起因于热膨胀系数之差的应力增大，其结果为发光透镜65及受光透镜66相对透镜架69发生滑动。如果发生该滑动，则在进行回流焊后恢复为常温时，进行回流焊前的发光透镜65及受光透镜66与发光元件62及受光元件63的相对位置关系发生变化。因此，根据前述的三角测量原理所得到的反射光的光点位置发生变化，所以出现测距值与准确值偏离的问题。对此，在前述的各实施方式的光学式测距装置1，21，31，41中，通过分别具有如前 所述的、防止透镜滑动的结构，能够抑制发生上述滑动。因此，即使对于由于回流焊引起的高温，也能够防止测距精度降低。[备注事项]本实施方式还能够表现如下。光学式测距装置是用来测量距测距对象物的距离的光学式测距装置，具有发光元件，安装在安装部件上；发光透镜，由透光性树脂形成，将上述发光元件的射出光照射至上述测距对象物；受光元件，安装在上述安装部件上，用来检测来自上述测距对象物的反射光会聚的位置；受光透镜，由透光性树脂形成，使上述反射光会聚于上述受光元件；透光性树脂体，密封上述发光元件及上述受光元件；第一遮光性树脂体，密封上述透光性树脂体；透镜架，由金属形成，设有上述发光透镜及上述受光透镜；第二遮光性树脂体，密封上述透镜架及上述第一遮光性树脂体。上述透镜架在表面及背面形成镀层。在上述结构中，因为在透镜架的表面及背面形成镀层，所以形成发光透镜及受光透镜的透光性树脂与透镜架的紧密结合性增加。由此，即使在进行回流焊时由于周围温度变化、导致应力作用于发光透镜及受光透镜与透镜架的界面的情况下，也不会分别发生滑动。因此，能够确保进行回流焊处理后的发光透镜及受光透镜与发光元件及受光元件的相对位置关系，因而能够提高光学式测距装置的耐热性及测距精度。在所述光学式测距装置中，优选上述镀层由Au-Pd镀层形成。在上述结构中，因为使用Au-Pd镀层，所以能够有效提高与透镜树脂的紧密结合性。因此，能够防止发光透镜及受光透镜与透镜架在界面上滑动。光学式测距装置的制造方法为制造上述光学式测距装置的方法，对设有上述发光透镜及上述受光透镜的上述透镜架进行热处理后，通过上述第二遮光性树脂体密封该透镜架。在上述结构中，例如在进行相当于回流焊的规定的热处理后在第二遮光性树脂体上装配设有发光透镜及受光透镜的透镜架，所以事先对发光透镜及受光透镜进行相当于回流焊的热处理，此时，能够事先释放残留于发光透镜及受光透镜与透镜架中的内部应力，由此，能够降低在进行回流焊处理时对发光透镜及受光透镜与透镜架的界面所产生的应力。或者，本实施方式还能够表现如下。
光学式测距装置是用来测量距测距对象物的距离的光学式测距装置，具有发光元件，安装在安装部件上；发光透镜，由透光性树脂形成，将上述发光元件的射出光照射至上述测距对象物；受光元件，安装在上述安装部件上，用来检测被上述测距对象物反射的反射光会聚的位置；受光透镜，由透光性树脂形成，使上述反射光会聚于上述受光元件；透光性树脂体，密封上述发光元件及上述受光元件；第一遮光性树脂体，覆盖上述透光性树脂体，形成使上述射出光从上述发光元件照射至上述发光透镜的空间，以及使上述反射光从上述受光透镜照射至上述受光元件的空间；透镜架，由金属形成，保持上述发光透镜及上述受光透镜；第二遮光性树脂体，密封上述透镜架及上述第一遮光性树脂体。上述透镜架在表面及背面的、至少形成上述发光透镜和上述受光透镜的区域形成凹凸结构。在所述光学式测距装置中，上述凹凸结构优选由Au-Pd镀层形成。在上述结构中，为形成凹凸结构而使用Au-Pd镀层，所以能够有效地提高与透镜树脂的紧密结合性。因此，能够防止发光透镜及受光透镜与透镜架在界面发生滑动。
在所述光学式测距装置中，优选上述凹凸结构通过粗糙化处理形成。在上述结构中，前述的透光性树脂浸入由粗糙化处理所形成的微小凹凸结构中，能够提高发光透镜及受光透镜与透镜架的紧密结合力。因此，能够防止在进行回流焊处理时发光透镜及受光透镜与透镜架在界面发生滑动。在所述光学式测距装置中，上述透镜架具有分别保持上述发光透镜及上述受光透镜的保持孔、以及形成于该保持孔周边的狭缝孔，优选向该狭缝孔填充形成上述发光透镜及上述受光透镜的透光性树脂。在上述结构中，在透镜架保持孔的周边形成狭缝孔，并且向狭缝孔填充形成发光透镜及受光透镜的透光性树脂，所以，在发光透镜及受光透镜中，经由狭缝孔夹住透镜架。由此，发光透镜及受光透镜被牢固地固定在透镜架上，因此，在进行回流焊处理时，能够防止发光透镜及受光透镜与透镜架在界面发生滑动。而且，如果光学式测距装置由于温度而发生膨胀或收缩，则对透镜架作用有因膨胀或收缩所产生的应力。如果该应力大于或等于发光透镜、受光透镜与透镜架之间的紧密结合力，则从发光透镜、受光透镜与透镜架的表面紧密接触的界面的外周部发光透镜、受光透镜开始剥离。在狭缝孔中，因为填充有透光性树脂，所以不存在发光透镜及受光透镜与透镜架表面的界面。因此能够通过狭缝孔阻止剥离的发展。在所述光学式测距装置中，优选对于上述发光透镜及上述受光透镜至少分别形成两个上述狭缝孔。在上述结构中，因为对于发光透镜及受光透镜至少形成两个狭缝孔，所以能够稳定地固定发光透镜及受光透镜。因此能够提高防止滑动的强度。在所述光学式测距装置中，对于上述狭缝孔，优选上述狭缝孔与上述保持孔之间的狭缝孔-保持孔间距离大于或等于相邻的上述狭缝孔之间的狭缝孔间距离。在上述结构中，即使前述的剥离超过相邻的狭缝孔之间而发展，也通过在两侧的狭缝孔中所填充的透光性树脂，抑制接近狭缝孔的剥离的发展，所以，能够考虑将剥离从相邻的狭缝孔之间向保持孔侧近似地扩展为以狭缝孔间距离为直径的圆形状。因此，通过使狭缝孔-保持孔间距离大于或等于狭缝孔间距离，能够防止剥离超越保持孔而扩展，因而能够避免由于剥离引起的应力导致发光透镜与发光元件的相对位置、以及受光透镜与受光元件的相对位置发生变化。在所述光学式测距装置中，优选上述狭缝孔-保持孔间距离与上述狭缝孔间距离相等。在上述结构中，通过使狭缝孔-保持孔间距离与狭缝孔间距离相等，即使剥离抵达保持孔，也能够防止剥离进一步进行。而且，通过使狭缝孔-保持孔间距离与狭缝孔间距离相等，能够简单地通过狭缝孔-保持孔间距离与狭缝孔间距离的关系设定保持孔与狭缝孔的配置关系。因此，通过尽可能短地设定狭缝孔间距离，并且根据上述狭缝孔间距离设定狭缝孔-保持孔间距离，能够最合理地减少发光透镜及受光透镜的面积。在所述光学式测距装置中，优选相邻的上述狭缝孔之间的狭缝孔间距离大于或等于上述透镜架的厚度。如果狭缝孔间距离大于或等于透镜架的厚度，则形成于相邻的狭缝孔之间的狭缝 间区域具有高强度，能够对抗作用于与发光透镜及受光透镜的直径方向正交的方向的应力。另一方面，如果狭缝孔间距离短于透镜架的厚度，则狭缝间区域的强度降低，不能对抗作用于上述方向的应力，狭缝孔间距离缩短，发生变形，随之，狭缝孔与保持孔之间的区域也发生变形。因此，在上述结构中，通过使狭缝孔间距离为上述透镜架的厚度，能够避免上述变形。其他的光学式测距装置是用来测量距测距对象物的距离的光学式测距装置，具有发光元件，安装在安装部件上；发光透镜，由透光性树脂形成，将上述发光元件的射出光照射至上述测距对象物；受光元件，安装在上述安装部件上，用来检测来自上述测距对象物的反射光会聚的位置；受光透镜，由透光性树脂形成，使上述反射光会聚于上述受光元件；透光性树脂体，密封上述发光元件及上述受光元件；第一遮光性树脂体，覆盖上述透光性树脂体，形成使上述射出光从上述发光元件照射至上述发光透镜的空间，以及使上述反射光从上述受光透镜照射至上述受光元件的空间；透镜架，由金属形成，设有上述发光透镜及上述受光透镜；第二遮光性树脂体，密封上述透镜架及上述第一遮光性树脂体。在上述受光透镜、上述发光透镜与上述第一遮光性树脂体之间、以及上述受光透镜、上述发光透镜与上述第二遮光性树脂体之间的至少任一方形成间隙，使上述受光透镜、上述发光透镜与上述第一遮光性树脂体、上述第二遮光性树脂体不会由于热膨胀而相互接触。 在所述光学式测距装置中，上述透镜架优选具有分别保持上述发光透镜及上述受光透镜的保持孔，并且在该保持孔中形成多个凹部。在上述结构中，因为在保持孔中形成多个凹部，所以在凹部内填充前述的透光性树脂，将发光透镜及受光透镜牢固地固定在透镜架上。由此，相对于由于进行回流焊处理时的温度变化而产生滑动的应力，能够提高发光透镜、受光透镜各自与透镜架之间的紧密结合力。在所述光学式测距装置中，优选在上述透镜架的表面、背面或这两面，由形成上述发光透镜及上述受光透镜的透光性树脂形成薄膜。在上述结构中，因为在上述透镜架的表面、背面或这两面，由形成发光透镜及上述受光透镜的透光性树脂形成薄膜，所以提高金属制的透镜架与第一及第二遮光性树脂体之间的紧密结合力，由此能够防止透镜架滑动。电子设备搭载上述任一种光学式测距装置。
由此，将光学式测距装置搭载于计算机、厨房家电、卫生设备等电子设备中，能够作为传感器加以利用，通过检测出距人体的距离而对设备进行控制，或者作为非接触式开关或非接触式控制器对电子设备进行控制。本发明不限于上述实施方式，可以在权利要求所示的范围内进行各种变更。S卩、在权利要求所示的范围内适当变更的技术方法进行组合所得到的实施方式也包含在本发明的技术范围内。工业实用性 本发明的光学式测距装置适合应用安装在通过回流焊而进行焊接的电子设备中。
权利要求
1.ー种光学式测距装置，是用来测量距测距对象物的距离的光学式测距装置； 该光学式测距装置的特征在于，具有 发光元件，安装在安装部件上； 发光透镜，由透光性树脂形成，将所述发光元件的射出光照射至所述测距对象物； 受光元件，安装在所述安装部件上，用来检测来自所述测距对象物的反射光会聚的位置； 受光透镜，由透光性树脂形成，使所述反射光会聚于所述受光元件； 透光性树脂体，密封所述发光元件及所述受光元件；第一遮光性树脂体，覆盖所述透光性树脂体，以形成使所述射出光从所述发光元件照射至所述发光透镜的空间，以及使所述反射光从所述受光透镜照射至所述受光元件的空间； 透镜架，由金属形成，保持所述发光透镜及所述受光透镜； 第二遮光性树脂体，密封所述透镜架及所述第一遮光性树脂体； 所述透镜架在表面及背面的、至少形成所述发光透镜及受光透镜的区域形成凹凸结构。
2.如权利要求I所述的光学式测距装置，其特征在于，所述凹凸结构由Au-Pd镀层形成。
3.如权利要求I所述的光学式测距装置，其特征在于，所述凹凸结构通过粗糙化处理形成。
4.如权利要求I所述的光学式测距装置，其特征在于，所述透镜架具有分别保持所述发光透镜及所述受光透镜的保持孔、以及形成于该保持孔周边的狭缝孔，向该狭缝孔中填充形成所述发光透镜及所述受光透镜的透光性树脂。
5.如权利要求4所述的光学式测距装置，其特征在于，对所述发光透镜及所述受光透镜分别至少形成两个所述狭缝孔。
6.如权利要求5所述的光学式测距装置，其特征在于，所述狭缝孔与所述保持孔之间的狭缝孔-保持孔间距离大于等于相邻的所述狭缝孔之间的狭缝孔间距离。
7.如权利要求6所述的光学式测距装置，其特征在于，所述狭缝孔-保持孔间距离等于所述狭缝孔间距离。
8.如权利要求5所述的光学式测距装置，其特征在于，相邻的所述狭缝孔之间的狭缝孔间距离大于等于所述透镜架的厚度。
9.如权利要求I所述的光学式测距装置，其特征在于，所述透镜架具有分别保持所述发光透镜及所述受光透镜的保持孔，在该保持孔中形成多个凹部。
10.如权利要求I所述的光学式测距装置，其特征在于，在所述透镜架的表面、背面或两面，由形成所述发光透镜及所述受光透镜的透光性树脂形成薄膜。
11.ー种电子设备，其特征在于，该电子设备搭载权利要求I至10中任一项所述的光学式测距装置。
12.ー种光学式测距装置，是用来测量距测距对象物的距离的光学式测距装置； 该光学式测距装置的特征在于，具有 发光元件，安装在安装部件上；发光透镜，由透光性树脂形成，将所述发光元件的射出光照射至所述测距对象物； 受光元件，安装在所述安装部件上，用来检测来自所述测距对象物的反射光会聚的位置； 受光透镜，由透光性树脂形成，使所述反射光会聚于所述受光元件； 透光性树脂，密封所述发光元件及所述受光元件； 第一遮光性树脂体，覆盖所述透光性树脂体，以形成使所述射出光从所述发光元件照射至所述发光透镜的空间，以及使所述反射光从所述受光透镜照射至所述受光元件的空间； 透镜架，由金属形成，设有所述发光透镜及所述受光透镜； 第二遮光性树脂体，密封所述透镜架及所述第一遮光性树脂体； 在所述受光透镜及所述发光透镜与所述第一遮光性树脂体之间、以及在所述受光透镜及所述发光透镜与所述第二遮光性树脂体之间的至少任一方形成间隙，使所述受光透镜及所述发光透镜与所述第一遮光性树脂体及所述第二遮光性树脂体不因热膨胀而相互接触。
13.如权利要求12所述的光学式测距装置，其特征在于，所述透镜架具有分别保持所述发光透镜及所述受光透镜的保持孔，在该保持孔形成多个凹部。
14.如权利要求12所述的光学式测距装置，其特征在于，在所述透镜架的表面、背面或这两面，由形成所述发光透镜及所述受光透镜的透光性树脂形成薄膜。
15.—种电子设备,其特征在于,该电子设备搭载权利要求12至14中任一项所述的光学式测距装置。
全文摘要
本发明提供一种光学式测距装置及电子设备。该光学式测距装置中，在由遮光性树脂形成的二次模制件(9)及三次模制件(10)之间保持透镜架(11)，该透镜架(11)由金属形成，保持发光透镜(5)及受光透镜(6)。透镜架(11)在表面及背面具有凹凸结构(11b)。因为大幅提高发光透镜(5)及受光透镜(6)与透镜架(11)的紧密结合力，所以能够防止发光透镜(5)、受光透镜(6)与透镜架(11)之间发生滑动。
文档编号G01C3/00GK102853809SQ20121022255
公开日2013年1月2日 申请日期2012年6月28日 优先权日2011年6月29日
发明者和田秀夫, 山口阳史, 久保胜 申请人:夏普株式会社
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