专利名称：用于多芯电缆综合测试装置的扫描选择电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种扫描选择电路。
背景技术：
目前，对电缆进行测试多采用万用表。把万用表的两支表笔接在电缆两端，然后进行测试。当对多芯电缆进行测试时，必须对每一根电缆芯逐一进行测试。采用这种方法需要投入大量人力、物力，而且因人为因素而产生错误的机率很大。如果要作高压实验还必须借助于其他仪器。使用不方便，影响工作效率。
实用新型内容针对上述不足，本实用新型提供一种能够迅速准确测试大量电缆芯是否开路或短路的用于多芯电缆综合测试装置的扫描选择电路。
为达到上述目的，本实用新型采用以下技术方案一种用于多芯电缆综合测试装置的扫描选择电路，包括若干并联的相同的扫描选择单元，该扫描选择单元包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接控制信号源，另一端接电源，所述继电器的开关K2n、K2n-1一端接被测电缆，另一端接探测器电路。
本实用新型具有以下有益效果多芯电缆综合测试装置主要由主控部分和本实用新型用于多芯电缆综合测试装置的扫描选择电路组成。扫描选择单元完成线路的切换。每个扫描选择单元，可测试100条电缆，并受主控部分控制。这样，可根据用户实际需要任意组合成若干个扫描选择单元。能够同时测试若干条线路。
图1为多芯电缆综合测试装置的电路方框图。
图2为本实用新型用于多芯电缆综合测试装置的扫描选择电路图。
图3为开路探测器电路图。
图4为短路探测器电路图。
图5为直流高压探测器电路图。
图6为交流高压探测器电路图。
具体实施例参照附图1，本实用新型多芯电缆综合测试装置在多芯电缆测试端连接有多芯电缆，该多芯电缆测试端与多芯电缆扫描、选择线路连接，该多芯电缆扫描、选择线路与探测器电路串联，该探测器电路与CPU相连。探测器电路包括开路探测器电路、短路探测器电路、直流高压探测器电路、交流高压探测器电路。CPU发送控制信号给多芯电缆扫描、选择线路。
参照附图2、3所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在常开时接开路探测器电路，K2n-1一端接测试输出端，另一端接地。所述开路探测器电路包括两个串联的分压电阻、该两个串联的分压电阻之间接有恒流源，所述两个串联的分压电阻的一端与所述多芯电缆扫描、选择线路连接，另一端与两级串联的比较放大器的一端串联，该两级串联的比较放大器的另一端与光电耦合器串联，该光电耦合器与所述CPU相连。
开路探测器工作，GRD接地，CONT与开路探测器连接，CPU发送控制信号给多芯电缆扫描、选择线路。CPU发出第n(1＜＝n＜＝N)条控制命令，第n组继电器闭合，本实用新型多芯电缆综合测试装置将被测的N条线路中的第n条线路的两端分别与CONT和地相连接，恒流源接入被测电缆，调整N2的放大系数，通过测试被测电缆对地的电压来测试电缆两端的电阻，从而判定电缆是否开路。
参照附图2、4所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯拥兀诔１帐苯佣搪诽讲馄鞯缏罚琄2n-1一端接测试输出端，另一端接地。所述短路探测器电路包括两个并联的分流电阻，该两个并联的分流电阻一端接比较放大器的反向输入端，另一端接电源，所述比较放大器输出端接所述CPU。
短路探测器工作，GRD和CONT接地，CPU发送控制信号给多芯电缆扫描、选择线路。CPU发出第n(1＜＝n＜＝N)条控制命令，第n组继电器闭合，本实用新型多芯电缆综合测试装置将被测的N条线路中的第n条线路提出，再分别与剩下的(N-1)条线路比较，若有短路现象，则SHORT接地，返回低电平经N1比较放大送回CPU判定；若无短路现象，则SHORT返回高电平经N1比较放大送回CPU判定。
参照附图2、5所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯又绷鞲哐固讲馄鞯缏罚诔１帐苯又绷鞲哐梗琄2n-1一端接测试输出端，另一端悬空。所述直流高压探测器电路包括两个串联的分压电阻、该两个串联的分压电阻的接点与地之间接有五个串联的二极管，每个二极管都并联有电阻，所述两个串联的分压电阻的一端与所述多芯电缆扫描、选择线路连接，另一端与两级串联的比较放大器的一端串联，该两级串联的比较放大器的另一端与光电耦合器串联，该光电耦合器与所述CPU相连。
直流高压探测器工作，GRD悬空，SHORT为直流高压输入线，将直流高压加到被测试的N条线路上，CONT作为返回信号线与直流高压探测器相连。CPU发出第n(1＜＝n＜＝N)条控制命令，第n组继电器闭合，本实用新型多芯电缆综合测试装置将被测的N条线路中的第n条线路与直流高压探测器相连，同时将高压下第n条线路与剩下的(N-1)条线路间绝缘性能最差的信号通过CONT返回直流高压探测器处理，并报CPU判定。
参照附图2、6所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯咏涣鞲哐固讲馄鞯缏罚诔１帐苯咏涣鞲哐梗琄2n-1一端接测试输出端，另一端悬空。所述交流高压探测器电路包括一整流电路，该整流电路接射随器的输入端，该射随器的输出端与两级串联的比较放大器的一端串联，该两级串联的比较放大器的另一端与所述CPU相连。
交流高压探测器工作，GRD悬空，SHORT为交流高压输入线，将交流高压加到被测试的N条线路上，CONT作为返回信号线与交流高压探测器相连。CPU发出第n(1＜＝n＜＝N)条控制命令，第n组继电器闭合，本实用新型多芯电缆综合测试装置将被测的N条线路中的第n条线路与交流高压探测器相连，同时将高压下第n条线路与剩下的(N-1)条线路间绝缘性能最差的信号通过CONT返回交流高压探测器处理，并报CPU判定。
权利要求1.一种用于多芯电缆综合测试装置的扫描选择电路，其特征在于包括若干并联的相同的扫描选择单元，该扫描选择单元包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接控制信号源，另一端接电源，所述继电器的开关K2n、K2n-1一端接被测电缆，另一端接探测器电路。
专利摘要本实用新型公开了一种用于多芯电缆综合测试装置的扫描选择电路，解决了现有多芯电缆综合测试装置测试效率差的问题。包括若干并联的相同的扫描选择单元，该扫描选择单元包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接控制信号源，另一端接电源，所述继电器的开关K
文档编号G01R31/08GK2779418SQ20042007758
公开日2006年5月10日 申请日期2004年7月12日 优先权日2004年7月12日
发明者林星山, 王槐 申请人:林星山, 王槐
专业数控铣床产品供应商
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