专利名称：磁共振质量控制综合测试体模的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种核磁共振的测试装置，具体地说是一种磁共振质量控 制综合测试体模。
二背景技术：
核磁共振设备出厂、以及常规检査中要对其进行参数测试，以达到检测所 需的精度，所以要对核磁共振进行定期的参数测定，而现有的测试装置具有如 下不足 一是功能单一，每次只能测量两三种参数，综合测试时需要几个体模 才能完成；二是测试精度不高；三是�？榛�、标准化不够，成本高。
三、 发明内容
本实用新型针对以上不足之处，提供一种测试参数多、精度高、�？榛� 计测试层可灵活组合的磁共振质量控制综合测试体模。 本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是-
一种磁共振质量控制综合测试体模，包括外壳和测试层，其特征在于外 壳上设有左封板和右封板，其中一封板上内侧设有定位构件，定位构件由拉杆 和套筒组成，拉杆上设有螺纹且一端固定在相应的封板上；每个测试层相同位 置处设有与拉杆相对应的定位孔；测试层套设在拉杆上，相邻测试层间拉杆上 套设有套筒，最外一测试层拉杆上设有紧固螺母；所述的测试层包括层厚测试 层、格栅测试层、高对比度分辨率测试层、调制传递函数测试层、定位层和溢 流层。
体模中各测试层为模块化设计，通过拉杆和套筒进行固定，可灵活拆卸、 更换和组合，改变搭配和排放顺序，使用者可根据研究测试目的任意组合测试 组件，具有测试层种类多，功能全、测试范围广等特点，解决了国内体模功能 单一，需几个体模才能完成常规参数测试相比的缺点，可测试十一个核磁共振 质量控制和质量保证参数，可完全满足核磁共振系统常规日测试、月测试和年 测试的绝大部分要求，且具有拓展的功能。
所述的层厚测试层包含有两个相互垂直的测试块，每个测试块包括两个测 试狭缝，此两测试狭缝空间交错。
层厚测试层包含垂直和水平两个方向的测试组件，可在不转动体模的情况下，测量横断、矢状和冠状三种断面的层厚、层间隔和层偏差。 格栅测试层由设置在测试板上的规则的矩形格栅组成。
格栅可有效测量纵横比、线性度、均匀度、信噪比以及图像畸变程度。同 时结合软件测试还可测量共振频率。格栅方块中可选择三块矩形框被填充为方 形实体，用于正交伪影测试等磁共振成像系统的伪影分析与研究。
高对比度分辨率测试层为孔式测试层，测试层上设有两个孔式测试�？椋� 每个测试模块上设有大小不同且与测试层垂直的测试孔，相同的测试孔位于同 一直线上，同直径测试孔的外轮廓间隔距离等于孔径；两�？樯贤本恫馐钥� 形成的直线相互垂直。
该层包含垂直和水平两个测试组件，可以在一次扫描，不需转动体模的情 况下，对比测量频率编码方向和相位编码方向分辨率。
调制传递函数测试层为星形MTF测试层，包括楔形块，楔形块楔角垂直于 测试层测试板；楔形块楔角朝向测试层中心彼此间隔均匀形成一圆弧或整圆，
间隔角等于楔角；以测试层中心为中心点设有横向和竖向的测试块。
设置的星形MTF测试层可进行360度的模糊带观察，易于测量极限分辨率， 可以在一次扫描，不需转动体模的情况下，有效比较相位编码方向和频率编码 方向的空间分辨率。
测试组件中具有横向和竖向的定位块，定位块定点连线过圆心，易于确定 水平和垂直方向，同时可以进行体模定位的校准。同时楔形块可拆卸，星形测 试组件可分拆为180度和120度的小型星形测试组件。高对比度测试层和调制 测试层上设有中心定位块，中心定位块一顶点对应测试层中心。
测试组件中具有中心定位块，定位块一个顶点标示为测试层的圆心，在模 糊带测量中，易于通过定位块测量�：刖叮狈奖慵扑惴糯舐�。圆心定 位块为均匀密度物体，可以进行刃边方法计算系统调制传递函数MTF。
所述的定位测试层包括三组定位块，每组定位块包括两直角三角形，此两 直角三角形两相同直角边重合，斜边交叉设置，三组定位块分别指向体模的矢 状切面、冠状切面和横断切面，方便进行三个切面的定位。
定位层可进行体模定位，防止体模摆放倾斜，影响各测试层的测试精度。
溢流层包含纯液体测试组件，由以上两任意测试层或任一测试层与底板或 顶板相间隔出的纯液体区域构成，液体构成等同于体模配液。纯液体组件可测试信噪比、均匀度、线性度、纵横比和几何畸变。 作为本实用新型的改进和简化，可将一测试层作为封板固定在外壳上，比
如将经常使用的定位层作为封板固定在外壳上;定位层上的直角三角形改为直
角梯形或者其他满足斜边交叉设置的形状。
四
图1磁共振质量控制综合测试体模立体结构示意图； 图2层厚测试层俯视图3层厚测试层正视图； 图4层厚测试层左视图5层厚测试层立体图
图6格栅测试层俯视图7格栅测试层侧视图8格栅测试层立体图9高对比度分辨率测试层俯视图
图10高对比度分辨率测试层左视图11高对比度分辨率测试层立体图12高对比度分辨率测试层主视图13调制传递函数测试层俯视图 图14调制传递函数测试层侧视图； 图15调制传递函数测试层立体图； 图16定位层的俯视图； 图17定位层的立体图； 图18溢流层俯视图19溢流层立体图。
五具体实施方式
一种磁共振质量控制综合测试体模，如图l所示，包括圆柱状的外壳、测
试层；外壳上设有左封板和右封板，右封板上朝外壳方向设有定位构件，定位 构件由拉杆和套筒组成，拉杆上设有螺纹且一端固定在右封板上，右封板上共 设有四根拉杆，此拉杆与外壳的轴线平行；测试层包括层厚测试层、格栅测试 层、高对比度分辨率测试层、调制传递函数测试层、定位层和溢流层；每个测试层相同位置处设有定位孔，测试层上的定位孔与外壳上的拉杆相对应；测试 层套设在拉杆上，相邻测试层间拉杆上套设有套筒，最外一测试层拉杆上设有 紧固螺母；各层位置可随意互换，也可根据需要仅选择所需的测试层。
定位层如图16和图17所示，其包括三组定位块，每组定位块包括两直角 三角形，此两直角三角形两相同直角边重合，斜边交叉设置，三组定位块分别 指向体模的矢状切面、冠状切面和横断切面。将定位层作为左封板固定在外壳
上，可便于观察体模位置，防止体模摆放倾斜。
层厚测试层如图2、图3、图4和图5所示，为相互垂直的测试块，每个 测试块包括两个平行的测试单元，每个测试测试单元包括两首尾上下搭接的楔 形块，两楔形块形成一狭缝，缝高《lmm，缝宽》10mm，缝与基板夹角《45 度，相邻的平行的测试单元狭缝为空间交错直线。
格栅测试层如图6、图7和图8所示，由规则的矩形格栅组成即四个缺顶 角的8X8的方格格栅组成，方格尺寸《15mmX15咖，高^15mm。根据需要选 择其中三块填充为实体，可用来正交伪影测试等磁共振成像系统的伪影分析与 研究。
高对比度分辨率测试层为孔式测试层，如图9、图10、图11和图12所示， 测试层上设有孔式测试�？楹椭行亩ㄎ豢椋行亩ㄎ豢榈囊欢ǖ阌胛馐圆愕� 圆心，每个测试模块上设有孔径0.25mm 2.5mm且与测试层垂直的测试孔， 相同的测试孔位于同一直线上且间距与孔径相等，测试层上包括两个测试模 块，此两个测试模块相同测试孔形成的直线相互垂直。
调制传递函数测试层为星形计算调制传递函数MTF测试层，如图13、图 14和图15所示，包括垂直于测试层测试层的楔形块，楔形块顶角3度，间隔 3度形成一圆弧或整圆；楔块一端弧长《0.75mm， 一端弧长《3mm，高>10 mm，测试层中心设有均匀密度材料的中心定位块，定位块一个顶点标示为测 试层的圆心，在�：饬恐校子谕üㄎ豢椴饬磕：刖逗图扑惴糯舐剩� 同时可以进行刃边方法计算系统调制传递函数MTF。测试层上设有四个楔形 定位块，楔角朝向测试层中心，具有水平和垂直方向定位块，相对的定位块顶 点连线过圆心，易于确定水平和处置方向，同时可以进行体模定位的校准。
溢流层如图18和图19所示，包含纯液体测试组件，由两任意测试层或测 试层与底板或顶板相间隔出的纯液体区域构成，液体构成等同于体模配液，区域高度^20mm。
使用时将定位层放置在体模的最外层，有利于观察体模测试层的方向，然 后用拉杆将测试层和套筒紧固安装在外壳上，然后将体模放入核磁共振仪器中 对其进行参数检测。
权利要求1、一种磁共振质量控制综合测试体模，包括外壳和测试层，其特征在于外壳上设有左封板和右封板，其中一封板上内侧设有定位构件，定位构件由拉杆和套筒组成，拉杆上设有螺纹且一端固定在相应的封板上；每个测试层相同位置处设有与拉杆相对应的定位孔；测试层套设在拉杆上，相邻测试层间拉杆上套设有套筒，最外一测试层拉杆上设有紧固螺母。
2、 根据权利要求1所述的磁共振质量控制综合测试体模，其特征在于所述 的测试层包括层厚测试层、格栅测试层、高对比度分辨率测试层、调制传递 函数测试层、定位层和溢流层。
3、 根据权利要求2所述的磁共振质量控制综合测试体模，其特征在于所述 的层厚测试层包含有两个相互垂直的测试块，每个测试块包括两个测试狭缝， 此两测试狭缝空间交错。
4、 根据权利要求2所述的磁共振质量控制综合测试体模，其特征在于格栅 测试层由设置在测试板上的规则的矩形格栅组成。
5、 根据权利要求2所述的磁共振质量控制综合测试体模，其特征在于高对 比度分辨率测试层为孔式测试层，测试层上设有两个孔式测试�？椋扛霾� 试�？樯仙栌写笮〔煌矣氩馐圆愦怪钡牟馐钥祝嗤牟馐钥孜挥谕恢� 线上，同直径测试孔的外轮廓间隔距离等于孔径；两�？樯贤本恫馐钥仔� 成的直线相互垂直。
6、 根据权利要求2所述的磁共振质量控制综合测试体模，其特征在于调制 测试层为星形计算调制传递函数测试层，包括楔形块，楔形块楔角垂直于测 试层测试板；楔形块楔角朝向测试层中心彼此间隔均匀形成一圆弧或整圆， 间隔角等于楔角。
7、 根据权利要求2所述的磁共振质量控制综合测试体模，其特征在于所述 的调制传递函数测试层上以测试层中心为中心点均匀布置的横向和竖向的定 位块。
8、 根据权利要求2或5或7所述的磁共振质量控制综合测试体模，其特征在于高对比度分辨率测试层和调制传递函数测试层上设有中心定位块，中心 定位块一顶点对应测试层中心。
9、 根据权利要求2所述的磁共振质量控制综合测试体模，其特征在于所述的定位测试层包括三组定位块，每组定位块包括两直角三角形，此两直角三 角形两相同直角边重合，斜边交叉设置，三组定位块分别指向体模的矢状切 面、冠状切面和横断切面。
10、根据权利要求1所述的磁共振质量控制综合测试体模，其特征在于外 壳为圆柱状，测试层所在的平面与圆柱的径向线平行。
专利摘要本实用新型公开了一种磁共振质量控制综合测试体模，包括外壳和测试层，外壳上设有左封板和右封板，其中一封板上内侧设有定位构件，定位构件由拉杆和套筒组成，拉杆上设有螺纹且一端固定在相应的封板上；每个测试层相同位置处设有与拉杆相对应的定位孔；测试层套设在拉杆上，相邻测试层间拉杆上套设有套筒，最外一测试层拉杆上设有紧固螺母，测试层包括层厚测试层、格栅测试层、高对比度分辨率测试层、调制传递函数测试层、定位层和溢流层；本实用新型和现有技术相比具有测试参数多、精度高、�？榛杓频忍氐�。
文档编号G01R35/00GK201259534SQ20082017212
公开日2009年6月17日 申请日期2008年9月23日 优先权日2008年9月23日
发明者王国柱, 邱建峰 申请人:邱建峰
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
