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专利名称：Jtag链路测试装置及其测试方法
技术领域：
本发明涉及一种链路测试装置及其测试方法，特别是涉及一种使用JTAG的链路测试装置及其测试方法。
背景技术：
JTAG (Joint Test Action Group联合测试行动组)是一种国际标准测试协议(与IEEE 1149. I兼容)。所述JTAG的主要功能是对芯片及其硬件电路进行边界扫描和故障检 测。标准的JTAG接口包括四个接口，所述接口分别为TMS (测试模式选择)、TCK(测试时钟)、TDI (测试数据输入)和TDO (测试数据输出)。由于现在的硬件电路集成度更高、频率更快以及寄存器数目更大、而且总线上的外部设备也更多，所以使得对硬件的检测变得更加重要，而其对硬件的检测也更加复杂。目前，现有的测试外围设备主要有两种方法，第一、通过软件点灯和硬件飞线的方式来验证外部设备状态；第二、通过仿真器JTAG来测试待测设备的状态。但是这两种方法都有具有很强的局限性，其中第一种方法要求中要求最小的系统必须要正常，否则无法判断硬件链路的断路是由整个硬件电路链路断路导致还是由最小系统不能够正常工作导致。在第二种方法中则必须要采用昂贵的在线仿真器来判断整个硬件电路中的链路状态，不但检测成本很高而且还需要相关人员熟悉对应于所述在线仿真器的脚本指令。

发明内容
本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术的链路测试装置需要最小的系统正常工作以及需要特定的在线仿真器来测试硬件电路的链路的缺陷，提供一种JTAG链路测试装置及其测试方法，通过检测硬件电路中各个芯片或设备的工作状态来确定所述硬件电路的链路的通路或断路。本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的本发明提供了一种JTAG链路测试方法，用于检测硬件设备的通路状况，其特点是包括以下步骤=Sltll、在一边界扫描单元中设置设备状态数据；s1(l2、所述边界扫描单元发送硬件设备状态扫描指令至一边界扫描寄存器；S1(13、所述边界扫描寄存器基于所述硬件设备状态扫描指令通过JTAG的TDI 口查询一硬件设备的状态；S1(I4、所述边界扫描寄存器通过JTAG的TDO 口读取所述硬件设备的状态；S1(I5、所述边界扫描单元比较所述硬件设备的状态和设备状态数据是否一致，若所述硬件设备的状态和预设的设备状态数据一致，则所述JTAG链路通路，否则所述JTAG链路断路。较佳地，所述硬件设备的状态包括边界扫描寄存器从所述TDO 口读取的所述硬件设备的设备号。较佳地，所述设备状态数据中包括所述硬件设备的设备号。本发明还提供了一种JTAG通路测试装置，用于检测硬件设备的通路状况，所述JTAG链路测试装置包括一边界扫描单元和一边界扫描寄存器；其中用户在所述边界扫描单元中设置一设备状态数据，所述边界扫描单元还输出硬件设备状态扫描指令至所述边界扫描寄存器；所述边界扫描寄存器基于所述硬件设备状态扫描指令通过JTAG的TDI 口查询一硬件设备的状态，并通过JTAG的TDO 口读取所述硬件设备的状态；所述边界扫描单元比较所述硬件设备的状态和设备状态数据是否一致，若所述硬件设备的状态和预设的设备状态数据一致，则所述JTAG链路通路，否则所述JTAG链路断路。较佳地，所述硬件设备的状态包括边界扫描寄存器从所述TDO 口读取的所述硬件设备的设备号。较佳地，所述设备状态数据中包括所述硬件设备的设备号。本发明的积极进步效果在于
本发明的JTAG链路测试装置及其测试方法，通过检测硬件电路中各个芯片或设备的工作状态，从而判断所述硬件电路的链路的通路或断路，所以在能够准确判断链路的通路或断路的同时，还简化了用户的操作，降低了测试的成本。


图I为本发明的JTAG链路测试装置的较佳实施例的结构示意图。图2为本发明的JTAG链路测试方法的较佳实施例的流程图。
具体实施例方式下面结合附图给出本发明较佳实施例，以详细说明本发明的技术方案。实施例如图I所示,本实施例的所述JTAG通路测试装置中包括一边界扫描单元I和一边界扫描寄存器2，。其中用户在所述边界扫描单元I中设置一设备状态数据Dt，所述边界扫描单元I还输出硬件设备状态扫描指令C至所述边界扫描寄存器2。其中本实施例中所述设备状态数据Dt中包括所述硬件设备的设备号。一般所述硬件设备的设备号为32位的设备号。其中所述设备状态数据Dt可以根据通路检测的需要包含多个位于链路中的硬件设备的32位的设备号。此外所述设备状态数据Dt还可以根据用户的需要检测的硬件设备的通路包含不同数量和种类的设备号。其中本实施例中所述硬件设备状态扫描指令C由JTAG标准命令构成，例如，IDCODE、SET和PEEK等JTAG标准命令。所述边界扫描寄存器2基于所述硬件设备状态扫描指令C通过TDI 口查询需要检测的一硬件设备的状态，即所述边界扫描寄存器2执行所述硬件设备状态扫描指令C中的JTAG标准命令，其中本实施例中主要利用IDCODE命令获得待检测硬件的ID (身份信息)。此外用户还可以根据实际需要构建包含IDCODE命令的硬件设备状态扫描指令C。而且所述边界扫描寄存器2通过TDO 口读取所述硬件设备的状态D。其中本实施例中所述硬件设备的状态D包括边界扫描寄存器2从所述TDO 口读取的所述硬件设备的设备号，即获取到通路链路上的硬件设备的32位设备号。所述边界扫描单元I比较所述硬件设备的状态D和设备状态数据Dt是否一致，若所述硬件设备的状态D和预设的设备状态数据Dt —致，说明需要检测的硬件设备处于通路的链路上，即所述JTAG链路通路，否则所述JTAG链路断路。如图2所示，本实施例的JTAG通路测试装置进行测试时包括以下步骤步骤SlOl，在边界扫描单元I中设置设备状态数据DT。步骤S102，所述边界扫描单元I发送硬件设备状态扫描指令C至所述边界扫描寄存器2。步骤S103，所述边界扫描寄存器2基于所述硬件设备状态扫描指令C通过JTAG的TDI 口查询硬件设备的状态D。步骤S104，所述边界扫描寄存器2还通过TDO 口读取所述硬件设备的状态D。
步骤S105，所述边界扫描单元I比较所述硬件设备的状态D和设备状态数据Dt是否一致，若所述硬件设备的状态和预设的设备状态数据一致，则所述JTAG链路通路，否则所述JTAG链路断路。所以本实施例在能够准确判断链路的通路或断路的同时，还简化了用户的操作，从而降低了测试的成本。虽然以上描述了本发明的具体实施方式
，但是本领域的技术人员应当理解，这些仅是举例说明，本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。
权利要求
1.一种JTAG链路测试方法，用于检测硬件设备的通路状况，其特征在于，包括以下步骤 Sltll、在一边界扫描单元中设置设备状态数据； Sltl2、所述边界扫描单元发送硬件设备状态扫描指令至一边界扫描寄存器； Slt 、所述边界扫描寄存器基于所述硬件设备状态扫描指令通过JTAG的TDI 口查询一硬件设备的状态； Sltl4、所述边界扫描寄存器通过JTAG的TDO 口读取所述硬件设备的状态；Sltl5、所述边界扫描单元比较所述硬件设备的状态和设备状态数据是否一致，若所述硬件设备的状态和预设的设备状态数据一致，则所述JTAG链路通路，否则所述JTAG链路断路。
2.如权利要求I所述的JTAG链路测试方法，其特征在于，所述硬件设备的状态包括边界扫描寄存器从所述TDO 口读取的所述硬件设备的设备号。
3.如权利要求2所述的JTAG链路测试方法，其特征在于，所述设备状态数据中包括所述硬件设备的设备号。
4.一种JTAG链路测试装置，用于检测硬件设备的通路状况，所述JTAG链路测试装置包括一边界扫描单兀和一边界扫描寄存器； 其中用户在所述边界扫描单元中设置一设备状态数据，所述边界扫描单元还输出硬件设备状态扫描指令至所述边界扫描寄存器； 所述边界扫描寄存器基于所述硬件设备状态扫描指令通过JTAG的TDI 口查询一硬件设备的状态，并通过JTAG的TDO 口读取所述硬件设备的状态； 所述边界扫描单元比较所述硬件设备的状态和设备状态数据是否一致，若所述硬件设备的状态和预设的设备状态数据一致，则所述JTAG链路通路，否则所述JTAG链路断路。
5.如权利要求4所述的JTAG链路测试装置，其特征在于，所述硬件设备的状态包括边界扫描寄存器从所述TDO 口读取的所述硬件设备的设备号。
6.如权利要求5所述的JTAG链路测试装置，其特征在于，所述设备状态数据中包括所述硬件设备的设备号。
全文摘要
本发明公开了JTAG链路测试装置及其测试方法，用于检测硬件设备的通路状况，其包括一边界扫描单元和一边界扫描寄存器；其中用户在所述边界扫描单元中设置一设备状态数据，所述边界扫描单元还输出硬件设备状态扫描指令至所述边界扫描寄存器；所述边界扫描寄存器基于所述硬件设备状态扫描指令通过TDI口查询一硬件设备的状态，并通过TDO口读取所述硬件设备的状态；所述边界扫描单元比较所述硬件设备的状态和设备状态数据是否一致，若所述硬件设备的状态和预设的设备状态数据一致，则所述JTAG链路通路，否则所述JTAG链路断路。本发明在能够准确判断链路的通路或断路的同时，还简化了用户的操作，降低了测试的成本。
文档编号G01R31/02GK102645609SQ201210090599
公开日2012年8月22日 申请日期2012年3月30日 优先权日2012年3月30日
发明者田臻 申请人:上海斐讯数据通信技术有限公司