专利名称：导光板网点测量定位尺及其测量方法
技术领域：
本发明涉及一种导光板测量装置及其测量方法，特别是一种导光板网点测量定位尺及采用该定位尺的测量方法。
背景技术：
导光板是液晶显示器背光系统或前光系统等面光源装置中的关键组件，其与点光源或线光源配合引导光线传输方向，并将该点光源或线光源所发出的光线转换为均匀分布的面光源。
为实现由导光板出射光线的均匀分布，与导光板出光面相对的底面通常设置具一定形状的多个网点或开设多个V形槽。当由点光源或线光源所发出的光线传输至该网点或V形槽时，该网点或V形槽可破坏光线在导光板内部传输的全反射条件，使光线向不同方向传输，最终由导光板出光面射出。利用各种疏密、大小不同的网点或V形槽，可使导光板发光均匀。
其中，该网点可通过网版印刷方式直接印制于导光板底面，或者以非印刷方式与导光板一体射出成型。又因网点易于制作且方便控制大小、疏密，其较V形槽更容易实现导光板的均匀发光，从而得到广泛应用。
但是，导光板网点的区域分布特性如尺寸大小、厚度、相互距离等的设计通常需要通过试验验证，以便达到最佳的设计。在该试验验证阶段以及量产后的产品品质检测阶段，对导光板网点区域分布特性的测量、检验均显得尤为重要。
导光板网点的现有技术测量装置通常为影像仪、显微镜等尺寸分析装置。但是，采用该等尺寸分析装置对导光板网点进行测量时，因无任何参考点，仅能对待测导光板网点位置进行肉眼数算，其测量速度慢，且易错算，不易快速正确比对。
因此，改进导光板网点测量装置及其测量方法，提高导光板网点测量速度及准确性实为必要。
发明内容为克服现有技术导光板网点测量装置测量速度慢、容易出错的问题，本发明提供一种导光板网点测量定位尺，该种导光板网点测量定位尺可提高导光板网点测量速度及准确性。
本发明还提供了一种使用该导光板网点测量定位尺的测量方法。
本发明解决技术问题所采用的技术方案是提供一导光板网点测量定位尺，其包括一薄片及多个分布于该薄片的标示点，该多个标示点对导光板网点提供准确参考定位。
本发明导光板网点测量方法包括以下步骤提供一具多个标示点的定位尺；将该定位尺贴附于与导光板网点相对的一表面；通过一尺寸分析装置对贴附有定位尺的导光板网点进行测量。
相较于现有技术，因本发明导光板网点测量定位尺的标示点可对导光板的待测网点区域提供正确定位，便于导光板网点的准确、快速测量，且有助于标准产品与样品的比对。
图1是本发明导光板网点测量定位尺与待测导光板的立体分解图；图2是本发明导光板网点测量定位尺与待测导光板的立体组合图；图3是本发明导光板网点测量定位尺又一实施方式的平面示意图；图4是采用本发明导光板网点测量定位尺的尺寸分析装置的立体示意图。
具体实施方式如图1所示，是本发明导光板网点测量定位尺50与待测导光板20的立体分解图。其中，该导光板20包括一出光面23、一与出光面23相对的底面22，多个网点21设置于该导光板20的底面22上。该定位尺50包括一薄片(未标示)及多个标示点51，该薄片与导光板20出光面23的尺寸或者与导光板20的待测网点21区域大小相同。该多个标示点51为深色圆点，其规则分布于薄片，且其在薄片上分布的密度小于网点21在导光板20底面22的分布密度。
请配合参照图1与图2，该定位尺50应用时，可直接贴附于待测导光板20的出光面23。由于该导光板20是以透明材料制成，当定位尺50贴附于导光板20的出光面23后，经由导光板20的底面22亦可观测到标示点51。如此，各标示点51即对应一定区域的多个网点21，从而为该区域内的多个网点21提供一参考点。
如图3所示，是本发明导光板网点测量定位尺的又一实施方式，该定位尺40包括一薄片(未标示)及多个标示点，该多个标示点为规则设置于薄片表面的数字。当然，该多个标示点亦可为其它具标识功能的符号或图案。
该定位尺50及40可以常用的底片制得，其材料通常为膜用聚酯，如聚对苯二甲酸乙二酯等，其亦可用塑料制成。
如图4所示，该定位尺50与导光板20贴合后，即可利用尺寸分析装置30进行测量。本实施方式的尺寸分析装置30为一显微镜，当然，亦可采用其它常用的微观领域测量、分析装置。
该尺寸分析装置30包括目镜31、物镜32、支架33、工作台34、反射镜35、底座36及摇柄37。其中，该目镜31及物镜32设置于支架33上端，且物镜32与工作台34相对。该工作台34用以放置贴合后的定位尺50与导光板20，反射镜35用以提供照明，以便清楚观察导光板20的网点21。摇柄37可以调节工作台34的升降，以准确对焦。
本发明导光板网点测量方法详述如下提供一定位尺50，其与导光板20的待测网点21区域大小相同，且该定位尺50包括一薄片及规则分布于该薄片的多个标示点51，该标示点51于薄片上分布的密度小于网点21于导光板20底面22的分布密度；将该定位尺50贴附于待测导光板20的出光面23；将贴合为一体的定位尺50与导光板20置于一尺寸分析装置30的工作台34进行测量。
本发明定位尺50的标示点51可对导光板20的待测网点区域提供正确定位，便于导光板20网点21的准确、快速测量，且有助于标准产品与样品的比对。
该定位尺除可应用于导光板网点的设计验证外，其亦可应用于量产产品的品质检测；其同样可以应用于所有以尺寸分析装置测量的其它透光类产品。
权利要求
1.一种导光板网点测量定位尺，其特征在于包括一薄片与多个规则分布于该薄片的标示点，该多个标示点对导光板网点提供准确参考定位。
2.根据权利要求1所述的导光板网点测量定位尺，其特征在于该薄片是以塑料制成。
3.根据权利要求1所述的导光板网点测量定位尺，其特征在于该薄片是以膜用聚酯材料制成。
4.根据权利要求3所述的导光板网点测量定位尺，其特征在于该膜用聚酯材料是聚对苯二甲酸乙二酯。
5.根据权利要求1所述的导光板网点测量定位尺，其特征在于该标示点于薄片上分布的密度小于导光板网点的分布密度。
6.根据权利要求1所述的导光板网点测量定位尺，其特征在于该标示点是深色圆点、或者是以数字标识。
7.一种导光板网点测量方法，其特征在于包括以下步骤提供一具多个标示点的定位尺；将该定位尺贴附于与导光板网点相对的一表面；通过一尺寸分析装置对贴附有定位尺的导光板网点进行测量。
8.根据权利要求7所述的导光板网点测量方法，其特征在于该定位尺为一薄片，该标示点规则分布于该薄片上。
9.根据权利要求8所述的导光板网点测量方法，其特征在于该薄片是以塑料制成。
10.根据权利要求8所述的导光板网点测量方法，其特征在于该薄片是以膜用聚酯材料制成。
11.根据权利要求10所述的导光板网点测量方法，其特征在于该膜用聚酯材料是聚对苯二甲酸乙二酯。
12.根据权利要求8所述的导光板网点测量方法，其特征在于该标示点于薄片上分布的密度小于导光板网点的分布密度。
13.根据权利要求7所述的导光板网点测量方法，其特征在于该标示点是深色圆点、或者是以数字标识。
14.根据权利要求7所述的导光板网点测量方法，其特征在于该尺寸分析装置可以为影像仪或显微镜。
全文摘要
一种导光板网点测量定位尺及其测量方法。其中，该导光板网点测量定位尺包括一薄片及多个规则分布的标示点，且该标示点在薄片上分布的密度小于导光板网点的分布密度。对导光板网点进行测量时，可先将该定位尺贴附于与导光板网点相对的一表面，再通过一尺寸分析装置对贴附有定位尺的导光板网点进行测量。该定位尺的标示点可对导光板网点提供准确参考定位，便于导光板网点的准确、快速测量。
文档编号G01B9/04GK1504719SQ0215210
公开日2004年6月16日 申请日期2002年11月28日 优先权日2002年11月28日
发明者黄全德 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
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