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专利名称：电弧放电检测电路、光源驱动设备和驱动光源的方法
技术领域：
本发明的示例性实施例涉及一种电弧放电检测电路、具有该电弧放电检测电路的光源驱动设备和使用该电弧放电检测电路驱动光源的方法。更具体地讲，本发明的示例性实施例涉及电流源类型的电弧放电检测电路、具有该电弧放电检测电路的光源驱动设备和使用该电弧放电检测电路驱动光源的方法
背景技术：
通常，在液晶显示器(IXD)设备中，光源产生用于在IXD面板上显示图像的光。 例如，光源可以是诸如冷阴极荧光灯(CCFL，Cold Cathode Fluorescent Lamp)、外部电极荧光灯(EEFL, External Electrode Fluorescent Lamp)或平板荧光灯(FFL, Flat Fluorescent Lamp)的荧光灯、发光二极管(LED)或各种其它类型的光源。用于驱动光源的驱动部一般根据从外部源提供的亮度控制电压将直流(DC)电压转换为交流(AC)电压，并将转换的电压提供给灯以打开启灯以及控制该灯的亮度。另外， 驱动部检测流过灯的电流并控制基于其检测的电流控制提供给灯的转换的电压。当荧光灯用作LCD设备的光源时，驱动部将高电压提供给荧光灯以初始地开启荧光灯，例如，荧光灯被提供高电压启动电压。当接收高电压的灯的端子没有被适当地绝缘， 或者在灯的端子与驱动部之间产生了接触电阻时，可产生不期望的电弧放电。电弧放电可对背光灯组件的操作具有负面影响，并且还可能引起火花或烟。此外，荧光灯通常在内部使用水银(Hg)，从而电弧放电还可经过内部水银的释放来弓I起环境污染。为了防止电弧放电，在制造驱动部之后，检验员一般视觉地检查灯与电极之间的电接触，或可选地，或除视觉检查之外，电弧放电检测电路可被包括在显示器内以在产生电弧放电时停止驱动部的操作。通常使用的电弧放电检测电路连接到荧光灯的两个电极(例如，荧光灯的正电极和负电极)中的每一个，从而电弧放电检测电路复杂并包括多个重复部分。此外，通过连接到两个电极的电容对提供给荧光灯的电压进行分压，并且从在电容处划分的电压输出在电容处检测的电压以检测电弧放电。因此，从在电容处划分的电压输出的检测的电压可能具有低电压电平，所以可能难以检测电弧放电。

发明内容
本发明的示例性实施例提供一种电弧放电检测电路，该电弧放电检测电路能够输出与电流源对应的检测电压并能够简化其设计。本发明的示例性实施例还提供一种具有上述电路的光源驱动设备。本发明的示例性实施例还提供一种使用上述电路驱动光源的方法。根据本发明的一方面，电弧放电检测电路的示例性实施例包括电压分压部、检测部和输出部。电压分压部对提供给光源的驱动电压进行分压。检测部包括与电压分压部相隔的环状的配线，检测部使用在检测部的环状的配线与电压分压部的配线之间产生的耦合电容来检测与流过电压分压部的电弧放电对应的电流。输出部连接到检测部以输出与电弧放电对应的检测电压。在示例性实施例中，与电弧放电对应的电流包括高频分量，并且检测部可使用所述耦合电容来使流过电压分压部的电流的高频分量通过以检测电弧放电的电流。在示例性实施例中，输出部可包括二极管和输出电容器。二极管可从检测部的第一端施加的与电弧放电对应的电流进行整流。输出电容器可包括连接到检测部的第二端的第一端子和连接到二极管的第二端子，并输出整流的电弧放电电流作为检测电压。在示例性实施例中，电压分压部可包括串联到光源的多个电阻器。可选示例性实施例包括电压分压部可包括串联到光源的多个电容器的配置。在示例性实施例中，所述电弧放电检测电路可布置于印刷电路板(PCB)之上。检测部可包括与电压分压部的配线相隔预定距离的铜(Cu)配线。根据本发明的另一方面，一种光源驱动设备的示例性实施例包括电弧放电检测电路和驱动部。电弧放电检测电路包括电压分压部，对提供给光源的驱动电压进行分压；检测部，包括与电压分压部相隔的环状的配线，并使用检测部的环状的配线与电压分压部的配线之间产生的耦合电容来检测与流过电压分压部的电弧放电对应的电流；输出部，连接到检测部并输出电弧放电作为检测电压。驱动部基于检测电压控制提供给光源的驱动电压。在示例性实施例中，当检测电压等于或大于参考电压时，驱动部可阻止驱动电压。在示例性实施例中，驱动部可包括第一变压器、第二变压器和控制部。第一变压器可将第一驱动电压提供给光源的第一电极。第二变压器可将第二驱动电压提供给光源的第二电极，该第二驱动电压具有与第一驱动电压的相位基本相反的相位，即180度的异相。当检测电压等于或大于参考电压时，控制部可阻止第一驱动电压和第二驱动电压。在示例性实施例中，电弧放电检测电路和驱动部可布置于相同基底上。检测部可包括与电压分压部的配线相隔预定距离的铜配线。电弧放电检测电路可布置于PCB之上。在示例性实施例中，与电弧放电对应的电流可包括高频分量，检测部可使用耦合电容使流过电压分压部的电流的高频分量通过以检测电流的电弧放电。在示例性实施例中，输出部可包括二极管和输出电容器。二极管可对从检测部的第一端施加的与电弧放电对应的电流进行整流。输出电容器可包括连接到检测部的第二端的第一端子和连接到二极管的第二端子，该输出电容器输出整流的电弧放电电流作为检测电压。在示例性实施例中，电压分压部可包括串联到光源的多个电阻器。在可选示例性实施例中，电压分压部可包括串联到光源的多个电容器。根据本发明的另一方面，提供了如下的一种驱动光源的方法的示例性实施例。使用电压分压部对提供给光源的电压进行分压。使用电压分压部与检测部之间的耦合电容检测与流过电压分压部的电弧放电对应的电流，其中，所述检测部包括与电压分压部相隔的环状的配线。输出与电弧放电对应的电流作为检测电压。基于检测电压控制提供给光源的驱动电压。在示例性实施例中，可按如下方式控制提供给光源的驱动电压，即，当检测电压等于或大于参考电压时，阻止驱动电压。
在示例性实施例中，可对与电弧放电对应的电流进行整流。可输出与电弧放电对应的整流的电流(还被称作整流的电弧放电电流)作为检测电压。根据本发明，使用耦合电容输出检测电压，从而可增加用于检测电弧错误的灵敏度。此外，电弧放电检测电路可形成于PCB之上，光源驱动设备形成于该PCB之上，从而可简化设计并降低成本。


通过结合附图对本发明的示例性实施例进行的详细描述，本发明的这些和其他特征和优点将会变得更清楚，其中图1是根据本发明的光源驱动设备的示例性实施例的等效电路图；图2是图1的电弧放电检测电路的示例性实施例的等效电路图；图3是在图2的第一电极与电压驱动部之间流动的电流的波形图；图4是在图2的第二电极与电压驱动部之间流动的电流的波形图；图5是在图2的节点“A”处的电流的波形图；图6是图5的部分“P”的放大波形图；图7是在图2的节点“B”处的检测的电压的波形图；图8是解释使用图1的电弧放电检测电路的示例性实施例来驱动光源的示例性实施例的方法的示例性实施例的流程图；图9是根据本发明的光源驱动设备的另一示例性实施例的等效电路图。
具体实施例方式在下文中参照附图更充分地描述了本发明，在附图中示出了本发明的示例实施例。然而，本发明可以以许多不同的形式来实施，且不应该解释为局限于在这里阐述的示例实施例。相反，提供这些示例实施例使得本公开将是彻底和完全的，并将本发明的范围充分地传达给本领域技术人员。在附图中，为了清晰起见，会夸大层和区域的尺寸和相对尺寸。 相同标号始终表示相同元件。应该理解的是，当元件被称作在另一元件“上”、时，该元件可以直接在另一元件上，或者可以存在中间元件。相反，当元件被称作“直接”在另一元件“上”时，不存在中间元件。如在这里使用的，术语“和/或”包括一个或多个相关所列项的任意组合和所有组合。应该理解的是，尽管在这里可使用术语第一、第二、第三等来描述不同的元件、组件、区域、层和/或部分，但是这些元件、组件、区域、层和/或部分不应该受这些术语的限制。这些术语仅是用来将一个元件、组件、区域、层或部分与另一个区域、层或部分区分开来。因此，在不脱离本发明的教导的情况下，下面讨论的第一元件、组件、区域、层或部分可被称作第二元件、组件、区域、层或部分。为了便于描述，在这里可使用空间相对术语，如“在…之下”、“在…下方”、“下面的”、“在…上方”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个元件或特征与其它元件或特征的关系。应该理解的是，空间相对术语意在包含除了在附图中描述的方位之外的装置在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的装置被翻转，则描述为“在”其它元件或特征“下方”或“之下”的元件随后将被定位为“在”其它元件或特征“上方”。因而，示例性术语“在…下方”可包括“在…上方”和“在…下方”两种方位。所述装置可被另外定位(旋转 90度或者在其它方位)，并对在这里使用的空间相对描述符做出相应的解释。这里使用的术语仅为了描述特定示例实施例的目的，而不意图限制本发明。如这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式。还应理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，说明存在所述特征、整体、步骤、操作、元件和/或组件，但不排除存在或附加一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。在此参照作为本发明的理想实施例(和中间结构)的示意图的剖面图来描述本发明的实施例。这样，预计会出现例如由制造技术和/或公差引起的图示的形状的变化。因此，本发明的示例实施例不应该被解释为局限于在此示出的区域的具体形状，而将包括例如由制造导致的形状偏差。例如，示出为矩形的注入区域将通常在其边缘具有倒圆或弯曲的特征和/或具有注入浓度的梯度，而不是从注入区域到非注入区域的二元变化。同样，通过注入形成的埋区会导致在埋区和通过其发生注入的表面之间的区域中的一些注入。因此，在图中示出的区域本质上是示意性的，它们的形状并不意图示出装置的区域的实际形状，也不意图限制本发明的范围。除非另有定义，否则这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本发明所属领域的普通技术人员所通常理解的意思相同的意思。还将理解的是，除非这里明确定义，否则术语(诸如在通用字典中定义的术语)应该被解释为具有与相关领域的环境中它们的意思一致的意思，而将不以理想的或者过于正式的含义来解释它们。除非在此另有说明或由上下文清楚的矛盾，可以以适当的顺序执行在此描述的所有方法。任意和所有示例的使用，或示例性语言(例如，“例如”)，除非另有声明，仅试图更好的示出本发明，不形成对本发明的的范围的限制。说明书中的语言不应解释为指示在此使用的本发明的实践所必须的任何没有声明的元件。以下，参照附图将详细描述本发明。图1是根据本发明的光源驱动设备的示例性实施例的等效电路图。参照图1，光源驱动设备的本示例性实施例包括电弧放电检测电路100和驱动部 300。此外，为了便于理解，在图1中还示出光源部500。光源部500从驱动部300接收驱动电压并产生光。光源部500可包括至少一个单独光源510。在一示例性实施例中，其中，光源部500包括多个光源510，可平行地布置光源510。在一示例性实施例中，光源510 可以是荧光灯，例如，冷阴极荧光灯(CCFL)。多个光源510的单独光源包括第一电极501和第二电极502，第一电极501和第二电极502分别连接到其对应端。将驱动电压提供给第一电极501和第二电极502，因此光源 510被开启以发射光。在一示例性实施例中，驱动电压可以是正弦波。在本示例性实施例中，光源500具有包括连接在第一电极501和光源510之间的电容530和连接在第二电极502和光源510之间的电容550的平衡电容结构。平衡电容结构的电容530和550可一致地将驱动电压并联地提供给光源部500。例如，在一示例性实施例中，电容器501和503的电容可以是大约22pF。驱动部300将驱动电压提供给光源部500。光源部500被开启/关闭，并且光源部500的亮度根据驱动电压的施加被控制。驱动部300包括第一变压器Tl、第二变压器T2和控制部350。控制部350对外部提供的直流(DC)控制电压VDC的脉宽进行调制并将控制电压VDC转换为交流(AC)电压，然后，控制部350将AC电压提供给第一变压器Tl和第二变压器T2。第一变压器Tl和第二电压器T2基于其线圈匝数比对AC电压进行增压以将增压的AC电压提供给光源500。例如，第一变压器Tl对从控制部350提供的AC电压进行增压以将增压的AC电压提供给第一电极501。第二变压器T2对从控制部350提供的AC电压进行增压以将增压的AC电压提供给第二电极502。在一示例性实施例中，提供给第一电极 501的驱动电压和提供给第二电极502的驱动电压可具有相互基本相同的幅度，并且可具有相互相反的相位，例如，施加到相对电极501和502的AC电压可以是180度异相。然而，在驱动电压被施加且例如由于制造缺陷而造成第一变压器Tl与第一电极 501之间的连接或第二变压器T2与第二电极502之间的连接错误的情况下，在第一电极 501或第二电极502附近可能产生电弧放电ARC。或者，当第一电极501或第二电极502没有被适当的电绝缘时，可能在第一电极501或第二电极502与其它元件(例如，电源部500 的外壳，等)之间产生电弧放电ARC。当产生电弧放电ARC时，提供给光源部500的驱动电压可能是不稳定的并且会包括大量高频噪声。由电弧放电ARC引起的噪声具有比驱动电压更高的频率。例如，在一示例性实施例中，驱动电压的频率可以是大约48kHz，电弧放电ARC频率等于或高于大约3MHz。根据本示例性实施例，驱动部300的控制部350可基于从电弧放电检测电路100 提供的检测电压Vdet阻止提供给光源部500的驱动电压。因此，在本示例性实施例中，当电弧放电ARC事件发生时，驱动部300可切断施加到光源部500的电压，从而防止不期望的其它电弧放电。例如，在一示例性实施例中，当检测电压Vdet等于或大于参考电压时，控制部350 关闭光源部500。换言之，当检测电压Vdet小于参考电压时，控制部350保持光源部500 的发光。可从外部提供参考电压(例如，在控制部350的制造期间预定)，或者可由控制部 350设置参考电压。本领域的普通技术人员理解这只是利用检测电压Vdet的一个配置，并且可选示例性实施例可包括这样的配置根据电弧放电检测电路100，仅当检测电压大于参考电压时，控制部350保持光源部500的发光。电弧放电检测电路100包括电压驱动部100、检测部130和输出部150。电弧放电检测电路100检测包括在驱动电压中的电弧放电ARC (例如，电弧事件引起的高频噪声)，并输出与电弧放电ARC对应的检测电压Vdet。检测电压Vdet被提供给控制部350，并用于确定光源部500是开启还是关闭。电压分压部110对提供给光源510的驱动电压进行分压并确定过电压 (overvoltage)是否被提供给光源部500。在一示例性实施例中，电压分压部110可连接在第一电极501与第二电极502之间。可选示例性实施例包括电压分压部110可连接到第一电极501和第二电极502中的每一个的配置。当电压分压部110连接在第一电极501与第二电极502之间时，虚接地(Virtual ground)可形成在电压分压部110的中心处。当电压分压部110连接到第一电极501和第二电极502中的每一个时，虚接地可连接到电压分压部110，该电压分压部110连接到第一电极501和第二电极502中的每一个。
电压分压部110可包括串联到第一电极501和第二电极502的多个电容器Cl、C2、 C3 禾P C4。检测部130包括从电压分压部110分离的环状的配线(wiring)；具体地讲，检测部130的环状的配线没有与电压分压部110电连接。检测部130通过在检测部130的环状的配线与电压分压部100之间产生的耦合电容效应检测流过电压分压部110的由电弧放电 ARC引起的电流。稍后将参照图2至图7进一步详细描述检测部130。输出部150输出与从检测部130检测的电弧放电ARC对应的电压作为检测电压 Vdet。输出部150连接到检测部130的环状的配线。在本示例性实施例中，输出部150包括二极管Dl和输出电容器C5。如参照图2更详细描述的，二极管Dl包括从检测部130的第一端接收与电弧放电 ARC对应的电流的第一节点A和输出电流的整流的电弧放电ARC的第二节点B。在本示例性实施例中，二极管Dl可沿一个方向通过电弧放电ARC的一半，这被称作半波整流。输出电容器C5包括连接到检测部130的第二端的第一端子和连接到二极管Dl的第二节点B的第二端子。在一示例性实施例中，输出电容器C5的第一端子可连接到虚接地。 连接到输出整流的电弧放电ARC的第二节点B的输出电容器C5的第二端子输出整流的电弧放电ARC作为检测电压Vdet。将检测电压Vdet提供给驱动部300的控制部350。当检测电压Vdet等于或大于参考电压时，控制部350阻止提供给光源部500的驱动电压。虽未在附图中示出，但是可选示例性实施例包括输出部150还可包括对检测电压 Vdet进行放大的放大器的配置。在一示例性实施例中，电弧放电检测电路100和驱动部300可形成在相同基底上。 例如，驱动部300可形成在印刷电路板(PCB)上，PCB可布置于在液晶显示器(IXD)设备中容纳光源部500的容器的下表面。在一示例性实施例中，电弧放电检测电路100和驱动部300可集成在PCB上。在一示例性实施例中，电弧放电检测部130可以是环状的并与电压分压部110相隔预定距离的铜(Cu)配线。图2是图1的电弧放电检测电路的示例性实施例的等效电路图。图3是在图2的第一电极501与电压驱动部110之间流动的电流的波形图。图4是在图2的第二电极502 与电压驱动部110之间流动的电流的波形图。图5是在图2的节点“A”处的电流的波形图。 图6是图5的部分“P”的放大波形图。图7是在图2的节点“B”处的检测电压的波形图。参照图2至图7，虚耦合(virtual coupling)电容器Ccl和Cc2连接在检测部130 的环状的配线与电压分压部110的配线之间。当驱动部300将驱动电压提供给光源部500时，电流流过电压分压部110和驱动电压被包括在电压分压部110的电容器C1、C2、C3和C4分压。例如，在一示例性实施例中，第一电流Il流过连接到第一电极501的电压分压部 110，第二电流12流过连接到第二电极502的电压分压部110。如图3和图4所示，第一电流Il和第二电流12可以是正弦波并且可具有基本上相同的幅度，第一电流Il和第二电流12的相位可彼此相反，例如，正弦波的相位可以与另一正弦波相差180度。当第一电极501或第二电极502的连接或绝缘错误时，电弧放电ARC引起的高频噪声可包括在第一电流Il或第二电流12中。如上所述，电弧放电ARC的频率
非常高。检测部130包括与电压分压部110相隔的环状的配线。检测部130与电压分压部 110相隔预定距离，并且没有物理连接到电压分压部110。检测部130可以是形成在PCB上的配线，因而虚耦合电容器Ccl和Cc2连接在检测部130的环状的配线与电压分压部110 的配线之间。虚耦合电容器Ccl和Cc2使流过电压分压部110的电流的高频通过，以检测包括在电流中的电弧放电ARC。这种高频电流的通过也被称作高通滤波。虚耦合电容器Ccl和Cc2的电容远低于包括在电压分压部110的电容器Cl、C2、 C3和C4的电容。因此，当电弧电容ARC被产生时，耦合电容器Ccl和Cc2仅使包括在电流中的高频通过，因此仅电弧放电ARC可被检测。例如，在与连接到第一电极501的电压分压部110的配线相邻的检测部130处检测包括在第一电流Il中的电弧放电ARC。此外，在与连接到第二电极502的电压分压部110 的配线相邻的检测部130处检测包括在第二电流12中的电弧放电ARC。检测部130从流过连接到第一电极501和第二电极502的电压分压部110的电流检测电弧放电ARC，从而即使在第一电极501或第二电极502，发生电弧放电或可能在二处都发生电弧放电，检测部130也可检测电弧放电ARC。如图5和图6所示，由检测部130检测的电弧放电ARC被提供给二极管Dl的第一电极A作为电流源。二极管Dl对与电弧放电ARC对应的电流进行整流以将与电弧放电ARC对应的整流的电流输出给第二节点B。例如，在一示例性实施例中，二极管Dl可沿一个方向使与电弧放电ARC对应的电流的一半通过。这种通过一半电流也可被称作半波整流。如图7所示，电弧放电ARC的整流的电流对输出电容器C5充电，并在第二节点B 处被输出作为检测电压Vdet。输出的检测电压Vdet的源是流过电压分压部110的电流，从而检测电压Vdet的幅度可高于通过从分压的电压检测电弧放电的传统方法检测的检测电压的幅度。因此，可有效地检测第一电极501或第二电极502的无穷小的间隙(gap)引起的非常小量的电弧放 H1^ ο图8是解释使用图1的电弧放电检测电路的示例性实施例来驱动光源的方法的示例性实施例的流程图。参照图1至图8，在驱动光源的方法的本示例性实施例中，电压分压部110对提供给光源510的驱动电压进行分压(步骤S100)。在一示例性实施例中，电压分压部110可连接在光源510的第一电极501与第二电极502之间。可选示例性实施例包括电压分压部110可连接到第一电极501和第二电极 502中的每一个的配置。在一示例性实施例中，电压分压部110可包括串联翅第一电极501和第二电极502 的电容器C1、C2、C3和C4。可选示例性实施例包括电压分压部110可包括串联到第一电极 501和第二电极502的多个电阻器(参照图9更详细的论述)的配置。检测部130使用在电压分压部110与检测部130之间产生的虚耦合电容器Ccl和Cc2来检测与流过电压分压部110的电弧放电ARC对应的电流，其中，检测部130包括与电压分压部110相隔的环状的配线(步骤S300)。检测部130与电压分压部110相隔预定距离，并且没有物理地连接到电压分压部 110。在一示例性实施例中，检测部130可以是形成在PCB上的配线，因此，耦合电容器Ccl 和Cc2连接在检测部130的环状的配线与电压分压部110的配线之间。在还被称作高通滤波的处理中，虚耦合电容器Ccl和Cc2使流过电压分压部110的电流的高频分量通过，以检测包括在该电流中的电弧放电ARC。输出部150输出与电弧放电ARC对应的电流作为检测电压Vdet (步骤S500)。输出部150连接到检测部130的环状的配线。输出电弧放电ARC作为检测电压Vdet (步骤S500)包括使用二极管Dl来对与电弧放电ARC对应的电流进行整流(步骤S510)和使用输出电容器C5输出整流的电弧放电 ARC作为检测电压Vdet (步骤S530)。控制部350基于输出的检测电压Vdet控制提供给光源部500的驱动电压(步骤 S700)。控制部350通过将检测电压Vdet与参考电压相比较来关闭光源部500或保持光源部500的发光。当检测电压Vdet等于或大于参考电压时，控制部350可阻止提供给光源部500的驱动电压。示例性实施例包括可以从外部提供参考电压或可以由控制部350设置参考电压的配置。图9是根据本发明的光源驱动设备的另一示例性实施例的等效电路图。参照图9，光源驱动设备的示例性实施例包括电弧放电检测电路700和驱动部 300。除电压分压部710之外，光源驱动设备的本示例性实施例与先前针对图1描述的光源驱动设备的示例性实施例基本相似。因此，相同标号将被用于指示在图1中的先前示例性实施例中描述的相同或相似部分，并将省略涉及上述元件的任何进一步重复解释。此外，驱动光源驱动设备的示例性实施例的光源的方法的示例性实施例与先前描述的图8中示出的方法的示例性实施例基本相同，因此将省略任何进一步重复解释。在本示例性实施例中，电压分压部710包括串联到第一电极501和第二电极502 的多个电阻器R1、R2、R3和R4。电压分压部710对提供给第一电极501和第二电极502的驱动电压进行分压，并确定过电压是否被提供给光源部500。在一示例性实施例中，电压分压部710可连接在第一电极501与第二电极502之间。可选示例性实施例包括电压分压部710可连接到第一电极501和第二电极502中的每一个的配置。当电压分压部710连接在第一电极501与第二电极502之间时，虚接地可形成在电压分压部710的中心处。当电压分压部710连接到第一电极501和第二电极502中的每一个时，虚接地可连接到电压分压部710，该电压分压部710连接到第一电极501和第二电极502中的每一个。光源驱动设备的本示例性实施例可改变电阻器Rl、R2、R3和R4的电阻，从而流过电压分压部710流动的电流的电平可被调整。因此，检测电压Vdet可被调整，从而可高灵敏度地检测电弧放电。根据本发明，电弧放电检测电路可使用耦合电容器改进检测作为电流源类型的电弧放电的灵敏度，从而可提高可靠性。
此外，电弧放电检测电路可检测在第一电极501或第二电极502产生的电弧放电 ARC,从而可简化电弧放电检测电路。此外，电弧放电检测电路可以是实现在PCB上的环状图案，从而可简化用于电弧放电检测电路的设计，并且可不需要额外的成本。上述是本发明的示例，并且不应解释为对其的限制。虽然描述了本发明的一些示例性实施例，但是，本领域技术人员应该理解，在没有实质地脱离本发明的新的教导和优点的情况下，可以进行示例性实施例的可能的修改。因此，所有这些修改试图被包括在如权利要求限定的本发明的范围内。在权利要求中，装置加功能条款试图覆盖在此描述的结构作为执行整流的功能，并且不仅覆盖结构等同物还覆盖等效结构。因此，应该理解的是，上述是本发明的示例，不应解释对公开的特定示例性实施例的限制，并且这些对公共的示例性实施例的修改和其他示例性实施例试图包括在所附的权利要求的范围内。本发明使用包括在其的权利要求的等效由以下权利要求限定。
权利要求
1.一种电弧放电检测电路，包括电压分压部，对提供给光源的驱动电压进行分压；检测部，包括与电压分压部相隔的环状的配线，该检测部使用检测部的环状的配线与电压分压部的配线之间的耦合电容来检测与流过电压分压部的电弧放电对应的电流； 输出部，连接到检测部以输出与电弧放电对应的检测电压。
2.如权利要求1所述的电弧放电检测电路，其中，与电弧放电对应的电流包括高频分量，并且检测部使用所述耦合电容来使流过电压分压部的电流的高频分量通过以检测电弧放电的电流。
3.如权利要求1所述的电弧放电检测电路，其中，输出部包括二极管，对从检测部的第一端施加的与电弧放电对应的电流进行整流； 输出电容器，包括连接到检测部的第二端的第一端子和连接到二极管的第二端子，并且该输出电容器输出整流的电弧放电电流作为检测电压。
4.如权利要求1所述的电弧放电检测电路，其中，电压分压部包括串联到光源的多个电阻器。
5.如权利要求1所述的电弧放电检测电路，其中，电压分压部包括串联到光源的多个电容器。
6.如权利要求1所述的电弧放电检测电路，其中，所述电弧放电检测电路布置于印刷电路板之上。
7.如权利要求6所述的电弧放电检测电路，其中，检测部包括与电压分压部的配线相隔预定距离的铜配线。
8.一种光源驱动设备，包括 电弧放电检测电路和驱动部，其中，电弧放电检测电路包括电压分压部、检测部和输出部，电压分压部对提供给光源的驱动电压进行分压，检测部包括环状的配线，该环状的配线与电压分压部相隔并且使用检测部的环状的配线与电压分压部的配线之间产生的耦合电容来检测与流过电压分压部的电弧放电对应的电流，输出部连接到检测部并输出与电弧放电对应的检测电压， 驱动部基于检测电压控制提供给光源的驱动电压。
9.如权利要求8所述的光源驱动设备，其中，当检测电压等于或大于参考电压时，驱动部阻止驱动电压。
10.如权利要求8所述的光源，其中，驱动部包括 第一变压器，将第一驱动电压提供给光源的第一电极；第二变压器，将第二驱动电压提供给光源的第二电极，该第二驱动电压具有与第一驱动电压的相位相反的相位；控制部，当检测电压等于或大于参考电压时，该控制部阻止第一驱动电压和第二驱动电压。
11.如权利要求8所述的光源驱动设备，其中，电弧放电检测电路和驱动部布置于相同基底上。
12.如权利要求8所述的光源驱动设备，其中，检测部包括与电压分压部的配线相隔预定距离的铜配线。
13.如权利要求12所述的光源驱动设备，其中，电弧放电检测电路布置于印刷电路板之上。
14.如权利要求8所述的光源驱动设备，其中，与电弧放电对应的电流包括高频分量， 检测部使用耦合电容使流过电压分压部的电流的高频分量通过以检测电流的电弧放电。
15.如权利要求8所述的光源驱动设备，其中，输出部包括二极管，对从检测部的第一端施加的与电弧放电对应的电流进行整流；输出电容器，包括连接到检测部的第二端的第一端子和连接到二极管的第二端子，该输出电容器输出整流的电弧放电电流作为检测电压。
16.如权利要求8所述的光源驱动设备，其中，电压分压部包括串联到光源的多个电阻ο
17.如权利要求8所述的光源驱动设备，其中，电压分压部包括串联到多个电容器。
18.—种驱动光源的方法，所述方法包括步骤使用电压分压部对提供给光源的电压进行分压；使用电压分压部与检测部之间的耦合电容检测与流过电压分压部的电弧放电对应的电流，其中，所述检测部包括与电压分压部相隔的环状的配线；输出与电弧放电对应的电流作为检测电压；基于检测电压控制提供给光源的驱动电压。
19.如权利要求18所述的方法，其中，所述基于检测电压控制提供给光源的驱动电压的步骤包括当检测电压等于或大于参考电压时，阻止驱动电压。
20.如权利要求18所述的方法，其中，输出与电弧放电对应的电流作为检测电压的步骤包括对与电弧放电对应的电流进行整流；输出整流的电弧放电电流作为检测电压。
全文摘要
一种电弧放电检测电路、光源驱动设备和驱动光源的方法。所述电弧放电检测电路包括电压分压部，对提供给光源的驱动电压进行分压；检测部，包括与电压分压部相隔的环状的配线，该检测部使用检测部的环状的配线与电压分压部的配线之间的耦合电容来检测与流过电压分压部的电弧放电对应的电流；输出部，连接到检测部以输出与电弧放电对应的检测电压。因此，电弧放电检测电路可使用耦合电容器改进检测作为电流源类型的电弧放电的灵敏度，可简化设计并可降低制造成本。
文档编号G01R19/00GK102183684SQ201110006369
公开日2011年9月14日 申请日期2011年1月5日 优先权日2010年1月15日
发明者张铉龙, 李综宰 申请人:三星电子株式会社