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专利名称：热阻测试设备的校验装置的制作方法
热阻测试设备的校验装置
技术领域：
本发明有关一种校验装置，特别是有关一种热阻测试设备的校验装置。背景技术：
目前热阻测试设备，尤其是电子产品散热器的热阻测试设备在业界尚缺乏 一种精密的装置用来做设备本身的校验，只能用一般散热装置在各测试机台之 间做简单的对比测试，借此来减小各测试单元之间的测试误差，此方法有如下
弊端
1、 测试环境如环境温度、湿度，测试机台通过接触界面的热功率等变化引 起测试对比数据不够准确；
2、 测试设备没有做统一的标准的校验，测试数据缺乏通用性，因此测出的 数据只能做对比使用，并不能代表真实的热阻值；
3、 不同的测试设备可能由于采集数据的方法不同，可能使用的结构特征不 同而存在不等的系统误差。
有鉴于此，实有必要开发一种热阻测试设备的校验装置，利用该热阻测k 设备的校验装置可以实现对热阻测试设备的校验，从而解决热阻测试设备因为 上述原因而导致测试结果不准确的问题。
发明内容
因此，本发明的目的在于提供一种热阻测试设备的校验装置，利用该热阻 测试设备的校验装置可以实现对热阻测试设备的校验，从而解决由于测试环境 影响、测试设备没有做统一的标准的校验、不同的测试设备采集数据的方法不 同而导致测试结果不准确的问题。
为达成上述目的，本发明的热阻测试设备的校验装置，该装置可以用于对
热阻测试设备的校验，该装置包括 一导热底板；
一标准热阻块，设于上述导热底板上； 一散热器，设于上述标准热阻块上；
一风扇，设于上述散热器上，该风扇上设有一与之电性连接的受控电源线； 一控制器，其上设有一第一探头连接部、 一第二探头连接部、 一第三探头
连接部、一第三温度探头。
较佳地，上述标准热阻块底面设有一第一探头容置槽，该第一探头容置槽
内设有一第一温度探头，该标准热阻块于底面相对一面设有一第二探头容置槽，
该第二探头容置槽内设有一第二温度探头
较佳地，上述第一探头连接部与第一温度探头连接、第二探头连接部与第 二温度探头连接、第三探头连接部与第三温度探头连接。
较佳地，上述散热器底部设有---第一凸沿，上述导热底板顶部设有一第二 凸沿，而热阻测试设备的校验装置还包括一隔热材料，而上述标准热阻块、第 一凸沿、第二凸沿皆设于该隔热材料内。
较佳地，上述隔热材料为玻璃纤维，上述导热底板与散热器皆比标准热阻 块的热阻小。
相较于现有技术，本发明的热阻测试设备的校验装置，其等效热阻可以在 一段时间内达到--个预先设定的稳定值上，以此来校验热阻测试设备可以实现 对热阻测试设备的校验，从而解决由于测试环境影响、测试设备没有做统一的 标准的校验、不同的测试设备采集数据的方法不同而导致测试结果不准确的问题。
为对本发明的目的、构造特征及其功能有进一步的了解，兹配合附图详细 说明如下


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图1绘示本发明的热阻测试设备的校验装置一较佳实施例的立体组装结构图。
图2绘示本发明的热阻测试设备的校验装置一较佳实施例的正面剖示图。 图3绘示本发明的热阻测试设备的校验装置一较佳实施例的立体分解结构图。
图4绘示本发明的热阻测试设备的校验装置一较佳实施例的局部结构图。
具体实施方式
请共同参阅图1、图2、图3、图4，其分别绘示为本发明的热阻测试设备 的校验装置一较佳实施例的立体组装结构图、本发明的热阻测试设备的校验装 置一较佳实施例的正面剖示图、本发明的热阻测试设备的校验装置一较佳实施 例的立体分解结构图、本发明的热阻测试设备的校验装置一较佳实施例的局部
结构图。
本发明的热阻测试设备的校验装置，该装置可以用于对热阻测试设备的校
验，与本较佳实施例，该装置包括 一导热底板l;
一标准热阻块2，设于上述导热底板l上，该标准热阻块2底面设有一第一 探头容置槽22，该第一探头容置槽22内设有一第一温度探头5，该标准热阻块 2于底面相对一面设有一第二探头容置槽21，该第二探头容置槽21内设有一第
二温度探头6;
一散热器3，设于上述标准热阻块2上；
一风扇4，设于上述散热器3上，该风扇4上设有--与之电性连接的受控电
源线40;
一控制器8，其上设有一第一探头连接部81、 一第二探头连接部82、 一第 三探头连接部83、 一第三温度探头7，该第--探头连接部81与第一温度探头5 连接、第二探头连接部82与第二温度探头6连接、第三探头连接部83与第三 温度探头7连接。
于本实施例，上述散热器3底部设有一第一凸沿30，上述导热底板l顶部 设有一第二凸沿10，而该热阻测试设备的校验装置还包括一隔热材料9，而上 述标准热阻块2、第一凸沿30、第二凸沿10皆设于该隔热材料内。
于本实施例，上述隔热材料9为玻璃纤维，上述散热器3带有鳍片，上述 导热底板1与散热器3皆比标准热阻块的热阻小。
其中，风扇4通过一般方式安装在散热器3上，散热器3在风扇4的作用 下作强制对流散热；热阻块2与导热底板1、散热器3之间设有的第一温度探头 5，第二温度探头6，用于测量标准热阻块2两个面的温度，风扇4上方设有第 三温度探头7，用于测量吹入散热器3中空气的原始温度，也称为散热器3的环 境温度，控制器8，负责提供风扇4电源，采集三个温度探头的信号，其中风扇 4电源是一受控电源，输出电压大小受限于控制器8，通过受控电源线40电性 连接风扇4并根据上述三个温度探头采集的信号来控制风扇4，进而控制整个装 置在一段时间内达到一个预先设定的稳定值。上述导热底板1上增加第二凸沿 10以及上述散热器3上的第一凸沿30，以及上述隔热材料9的设置，此处隔热 材料9为玻璃纤维，都是为了整个装置的精度。且导热底板1与散热器3所用 材料皆为纯铜，而标准热阻块2的材料为纯铝。
忽略材料不均匀的修正系数，设导热底板1的热阻为R。，标准热阻块2的 横截面积为A。，长度为Xo，导热系数为K。，其两端的温度差为T。；散热器3输 入端与环境端的温差为T，散热器3的热阻为Rs，校验装置总热阻为Rth,贝ij:
Rs=(T* Xo)/( K0* A0* To);
Rth=R0+Rs+ Xo/( K0* A0)
控制器8通过控制供给风扇4的电压使Rth为预定值。从而实现整个装置 的热阻不变。由于同一材料在不同温度下的导热系数不同，因此控制器8还需 根据标准热阻块2的温度高低按预定变化规律校准整个装置的总热阻。
而将该热阻测试设备的校验装置设定为一预定热阻，将其热阻在待校验热 阻测试设备上测试得到一测试热阻，通过预定热阻和测试热阻的比较进而对待 校验热阻测试设备进行校验。
权利要求
1、一种热阻测试设备的校验装置，该装置可以用于对热阻测试设备的校验，其特征在于，该装置包括一导热底板；一标准热阻块，设于上述导热底板上；一散热器，设于上述标准热阻块上；一风扇，设于上述散热器上，该风扇上设有一与之电性连接的受控电源线；一控制器，其上设有一第一探头连接部、一第二探头连接部、一第三探头连接部、一第三温度探头。
2、 如权利要求l所述的热阻测试设备的校验装置，其特征在于，上述标准 热阻块底面设有一第一探头容置槽，该第一探头容置槽内设有一第一温度探头， 该标准热阻块于底面相对一面设有一第二探头容置槽，该第二探头容置槽内设 有一第二温度探头。
3、 如权利要求2所述的热阻测试设备的校验装置，其特征在于，该第一探 头连接部与第一温度探头连接、第二探头连接部与第二温度探头连接、第三探 头连接部与第三温度探头连接。
4、 如权利要求3所述的热阻测试设备的校验装置，其特征在于，上述散热器底部设有一第一凸沿。
5、 如权利要求3所述的热阻测试设备的校验装置，其特征在于，上述导热 底板顶部设有一第二凸沿。
6、 如权利要求3或4或5所述的热阻测试设备的校验装置，其特征在于， 热阻测试设备的校验装置还包括一隔热材料。
7、 如权利要求6所述的热阻测试设备的校验装置，其特征在于，上述标准 热阻块设于该隔热材料内。
8、 如权利要求6所述的热阻测试设备的校验装置，其特征在于，上述第一 凸沿设于该隔热材料内。
9、 如权利要求6所述的热阻测试设备的校验装置，其特征在于，上述第二凸沿设于该隔热材料内。
10、 如权利要求6所述的热阻测试设备的校验装置，其特征在于，上述隔 热材料为玻璃纤维。 一
全文摘要
发明揭示一种热阻测试设备的校验装置，该装置包括一导热底板；一标准热阻块，设于上述导热底板上，该标准热阻块底面设有一第一探头容置槽，该标准热阻块于底面相对一面设有一第二探头容置槽，该第一、第二探头容置槽内分别设有一第一、第二温度探头；一散热器，设于上述标准热阻块上；一风扇，设于上述散热器上，该风扇上设有一与之电性连接的受控电源线；一控制器，其上设有一第一探头连接部、一第二探头连接部、一第三探头连接部、一第三温度探头，该第一、第二、第三探头连接部分别与第一、第二、第三温度探头连接。利用该热阻测试设备的校验装置可以实现对热阻测试设备的校验。
文档编号G01M99/00GK101349613SQ20071002494
公开日2009年1月21日 申请日期2007年7月16日 优先权日2007年7月16日
发明者江大阳 申请人:汉达精密电子(昆山)有限公司