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专利名称：小样品高频及高加速度的三轴振动测试用夹具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种可靠性试验夹具，特别是一种用于小样品高频及高加速度的三轴振动测试用的夹具。
背景技术：
振动试验是用于评定元器件、零部件及整机在预期的运输及使用环境中的抵抗能力。振动试验的主要参数有加速度、交越频率、扫频速率、振动时间、振动方向等参数。普通的振动试验都是采用钢板及螺杆等材料进行固定，通常是使用钢板夹住需要进行测试的产品，再用螺杆拴住钢板将钢板进行固定，从而对待测产品进行振动测试。对于小样品的高频和高加速度振动测试，经常出现因为样品固定不牢固，引起样品测试过程中飞出或者损坏样品的现象，因此，如果对小样品进行有效固定，从而顺利进行高频和高加速度振动测试成为可靠性测试领域亟待解决的问题。

实用新型内容为解决现有小样品进行高频及高加速度振动测试不能进行有效固定的问题，本实用新型提供以下技术方案:一种小样品高频及高加速度的三轴振动测试用夹具，该夹具包括本体,所述本体为正方体结构，所述本体的至少一个面同时开设有模型A和模型B，所述本体上设有多个螺纹孔，该夹具还包括卡盖，所述卡盖上开设有多个通孔。作为本实用新型的一种优选方案，所述本体为空心结构。作为本实用新型的另一种优选方案，每一面所述模型A和所述模型B与相邻面的所述模型A和所述模型B方向不同。作为本实用新型的又一种优选方案，所述本体和所述卡盖的材质为铝。本实用新型优点是:1、本实用新型结构简单，使用方便，可快速将待测小样品进行安装；2、由于本实用新型每个面的模型A和模型B都与相邻方向面上的模型A和模型B方向不同，因此，只要通过将待测小样品换一个面进行安装测试，即可实现振动轴向的转换；3、本实用新型通过卡盖将小样品压紧于模型A或者模型B，有效对小样品进行固定，从而保证小样品在振动测试过程中不会从振动台上飞出，提高了试验的安全性以及可靠性。

图1为本实用新型结构示意图；图2为卡盖结构示意图。图中标号为:[0015]I一本体11一螺纹孔2—模型A3一丰旲型B4一卡盖41 一通孔
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。如附图1本实用新型结构不意图和附图2卡盖结构意图所不,一种小样品闻频及高加速度的三轴振动测试用夹具，该夹具包括本体1，本体I为正方体结构，本体I的至少一个面同时开设有模型A2和模型B3，本体I上设有多个螺纹孔11，该夹具还包括卡盖4，卡盖4上开设有多个通孔41。本体I为空心结构。每一面模型A2和模型B3与相邻面的模型A2和模型B3方向不同。通过将小样品安装于不同的面上，实现小样品不同轴向的振动测试。本体I和卡盖4的材质为铝，从而减轻了本体I的重量，提高了测试的安全性。卡盖4上的多个通孔41可以与模型A2或者模型B3实现多种方式的压合，从而实现本实用新型适用范围的广泛性。以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式
，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本领域的技术人员在本实用新型所揭露的技术范围内，可不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求书所限定的 保护范围为准。
权利要求1.种小样品高频及高加速度的三轴振动测试用夹具，其特征在于:该夹具包括本体(1)，所述本体(I)为正方体结构，所述本体(I)的至少一个面同时开设有模型A (2)和模型B (3)，所述本体(I)上设有多个螺纹孔(11)，该夹具还包括卡盖(4)，所述卡盖(4)上开设有多个通孔(41)。
2.据权利要求1所述的小样品高频及高加速度的三轴振动测试用夹具，其特征在于:所述本体(I)为空心结构。
3.据权利要求1所述的小样品高频及高加速度的三轴振动测试用夹具，其特征在于:每一面所述模型A (2)和所述模型B (3)与相邻面的所述模型A (2)和所述模型B (3)方向不同。
4.据权利要求1所述的小样品高频及高加速度的三轴振动测试用夹具，其特征在于:所述本体(I)和所述卡盖(4)的材质为铝。
专利摘要本实用新型提供了一种小样品高频及高加速度的三轴振动测试用夹具，该夹具包括本体，所述本体为正方体结构，所述本体的至少一个面同时开设有模型A和模型B，所述本体上设有多个螺纹孔，该夹具还包括卡盖，所述卡盖上开设有多个通孔。本实用新型结构简单，使用方便，可快速将待测小样品进行安装；由于本实用新型每个面的模型A和模型B都与相邻方向面上的模型A和模型B方向不同，因此，只要通过将待测小样品换一个面进行安装测试，即可实现振动轴向的转换；本实用新型通过卡盖将小样品压紧于模型A或者模型B，有效对小样品进行固定，从而保证小样品在振动测试过程中不会从振动台上飞出，提高了试验的安全性以及可靠性。
文档编号G01M7/06GK202928770SQ20122060404
公开日2013年5月8日 申请日期2012年11月15日 优先权日2012年11月15日
发明者钱学峰 申请人:苏州华碧微科检测技术有限公司