一种多参数测试装置的制作方法-山东亚星游戏官网机床有限公司

专利名称：一种多参数测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于参数测试技术领域，具体地说，是涉及一种可以对交流电压或者交流电流的有效值、频率值、正负峰值和有功功率等多种参数进行快速测试的检测装置。
背景技术：
随着液晶电视的快速发展和普及应用，为电视机中的液晶显示屏提供工作电压的背光电源也得到了迅速发展并且种类层出不穷。目前，用于背光电源的测试方法还比较落后，大部分测试方法还是采用分压的办法利用数据采集卡来测试背光电源输出的电压和电流的有效值；利用功率表来测试背光电源的有功功率；利用电参表来测试背光电源输出的电压和电流的频率值。采用这种传统的测试方法在对背光电源的高压输出进行参数测试时，不仅需要使用众多的测量仪表，导致测量的精度和速度受到严重影响；而且传统的测量仪表通常都是采用AD�？槎栽夹藕沤胁裳⒔杉降哪Ｄ庑藕抛怀墒中藕� 后，通过软件进行计算，以获取相应的参数值，测试速度和测试精度普遍较低。另外，对于当前针对背光电源的高压输出所提出的某些最新测试参数，例如电压的开关机时序以及突发Burst模式下电压的频率和占空比参数的测试等，目前还没有有效的测量方法完成新参数的测试任务。基于此，如何设计一种测试仪表来实现对背光电源所有参数的有效测量，是本实用新型所要解决的一项主要问题。
发明内容本实用新型的目的在于提供一种多参数测试装置，以实现对多种类型参数的快速、准确测量。为了解决上述技术问题，本实用新型采用以下技术方案予以实现一种多参数测试装置，包括人机接口单元、CPU�？楹湍Ｄ獾缏纺？椋辉谒瞿Ｄ獾缏纺？橹邪械缌髌德什馐阅？�、电流有效值测试模块、有功功率测试模块、电压正负峰值测试�？椤⒌缪褂行е挡馐阅？�、电压频率测试�？�、电压开关机时序测试�？�、电压突发模式下频率和占空比测试�？橹械囊恢只蛘叨嘀郑直鹆硬饬客ǖ溃邮沾觳獾慕涣鞯缪够蛘呓涣鞯缌鞑⒔胁煌牟问馐裕凰鯟PU�？榻邮漳Ｄ獾缏纺？榧觳馐涑龅牟问饬恐担写砗蟠渲寥嘶涌诘ピ涑龈飨畈问�。进一步的，在所述模拟电路�？橹谢拱蠥D采集芯片，接收电流有效值测试模块、有功功率测试�？�、电压正负峰值测试�？橐约暗缪褂行е挡馐阅？榧觳馐涑龅牟问饬恐担⒆怀墒中藕攀涑鲋了龅腃PU�？�。对于模拟电路�？橹懈髯幽？榈木咛宓缏饭菇ǎ臼涤眯滦吞岢鲆韵掠叛∩杓品桨冈谒龅缌髌德什馐阅？楹偷缪蛊德什馐阅？橹蟹直鹕柚糜性怂惴糯笃骱筒ㄐ握蔚缏罚鲈怂惴糯笃魍ü饬客ǖ澜邮沾觳獾慕涣鞯缌骰蛘呓涣鞯缪梗行藕欧糯蟠砗螅涑鲋敛ㄐ握蔚缏纷簧煞讲ㄐ藕牛涑鲋了龅腃PU�？橐约扑闫德什问�。在所述电流有效值测试模块和电压有效值测试模块中分别设置有有效值检测芯片和运算放大器；所述有效值检测芯片通过测量通道接收待检测的交流电流或者交流电压，分别检测出其中的电流有效值和电压有效值后，输出至运算放大器进行信号放大处理，然后传输至所述的AD采集芯片转换成数字信号后，输出至所述的CPU�？�。在所述有功功率测试�？橹邪谐朔ㄆ鳌⒌屯瞬ㄆ骱驮怂惴糯笃鳎凰龀朔ㄆ鞫源觳獾慕涣鞯缌骱徒涣鞯缪菇谐朔ㄔ怂愫螅涑霭兄绷鞣至亢徒涣鞣至康牟ㄐ涡藕胖恋屯瞬ㄆ鳎ü屯瞬ㄆ髀顺羝渲械慕涣鞣至亢螅涑鲋绷鞣至恐猎怂惴糯笃鹘行藕诺姆糯蟠恚缓蟠渲了龅腁D采集芯片转换成数字信号后，输出至所述的CPU�？�。在所述电压正负峰值测试�？橹邪辛铰贩逯当３值缏泛土铰吩怂惴糯笃鳎黄渲幸宦贩逯当３值缏吠ü饬客ǖ澜邮沾觳獾慕涣鞯缪梗越涣鞯缪沟恼逯到胁裳３植⑸捎胫杂Φ牡缪剐藕牛涑鲋疗渲幸宦吩怂惴糯笃鹘行藕诺姆糯蟠砗螅渲了龅腁D采集芯片；另外一路峰值保持电路通过反向电路接收所述的交流电压，对交流电压进行反向运算和峰值采样保持处理后，生成与负峰值相对应的电压信号，输出至另外一路运算放大器进行信号的放大处理后，传输至所述的AD采集芯片；所述AD采集芯片对接收到的模拟电压信号进行模数转换后，生成数字信号输出至所述的CPU�？�。在所述电压开关机时序测试�？橹邪芯灾翟怂愕缏泛捅冉掀鳎凰鼍灾翟怂愕缏吠ü饬客ǖ澜邮沾觳獾慕涣鞯缪梗喊胫懿ㄐ握鞒烧胫懿ㄐ魏螅涑鲋帘冉掀饔肷瓒ǖ牡缪褂行е到斜冉希煞讲ㄐ藕攀涑鲋罜PU�？椋凰鯟PU�？榻邮沼糜诳刂拼獾缭纯氐拇シ⑿藕牛岷纤龃シ⑿藕藕头讲ㄐ藕偶扑愠龃獾缭词涑龅慕涣鞯缪沟目毙蚝凸鼗毙�。在所述电压突发模式下频率和占空比测试�？橹邪谐朔ㄆ�、低通滤波器和比较器；所述乘法器通过测量通道接收待检测的交流电压，进行平方运算后，输出至低通滤波器以生成方波包络波形，进而通过比较器进行波形整形处理后，输出方波至所述的CPU�？橐越衅德屎驼伎毡鹊募扑恪Ｔ俳徊降模谒瞿Ｄ獾缏纺？橹谢拱械缌魍ǖ懒砍糖谢荒？楹偷缪雇ǖ懒砍糖谢荒？椋邮誄PU�？槭涑龅牧砍糖谢恢噶睿直鸲阅Ｄ獾缏纺？橹械母髯幽？榈牧砍探械鹘�。为了实现数字信号与模拟信号的隔离，确保系统运行的可靠性，所述CPU�？橛叛⊥ü指衾肽？樾酒铀龅哪Ｄ獾缏纺？�。与现有技术相比，本实用新型的优点和积极效果是本实用新型的多参数测试装置基于模拟电路方式对待检测的交流电压或者交流电流进行测试，可以在一台仪表上实现对待测电源多种参数的测量，兼容性强，模拟电路可移植性强，测试速度快，测试精度高，尤其适用于对背光电源输出的各项参数进行测试的过程中。结合附图阅读本实用新型实施方式的详细描述后，本实用新型的其他特点和优点将变得更加清楚。
图I是本实用新型所提出的多参数测试装置的电路原理框图；图2是图I中电流频率测试模块和电压频率测试�？榈囊恢质凳├牡缏吩硗迹煌�3是图I中电流有效值测试�？楹偷缪褂行е挡馐阅？榈囊恢质凳├牡缏吩硗迹煌�4是图I中有功功率测试�？榈囊恢质凳├牡缏吩硗迹煌�5是图I中电压正峰值测试�？楹偷缪垢悍逯挡馐阅？榈囊恢质凳├牡缏吩硗迹煌�6是图I中电压开关机时序测试�？榈囊恢质凳├牡缏吩硗迹煌�7是图I中电压突发模式下频率和占空比测试模块的一种实施例的电路原理图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的具体实施方式
作进一步详细地说明。实施例一，本实施例为了满足待测电源的各种参数测试要求，采用模拟电路构建方式设计多参数测试装置，在提高测试速度的同时，保证了参数测试的准确度。参见图I所示，本实施例的背光电源高压输出测试装置主要包括人机接口单元、CPU�？楹湍Ｄ獾缏纺？槿糠�。其中，人机接口单元提供人机交互界面，接收测试人员输入的量程切换指令或者参数选择指令，并显示参数测试的结果，反馈给测试人员。CPU�？榱釉谌嘶涌诘ピ肽Ｄ獾缏纺？橹洌环矫娼邮杖嘶涌诘ピ淙氲母飨钪噶睿阅Ｄ獾缏纺？橹械母髯幽？榻型骋豢刂疲咛謇唇玻梢愿萦没淙氲牧砍糖谢恢噶羁刂颇Ｄ獾缏纺？橹械牡缌魍ǖ懒砍糖谢荒？楹偷缪雇ǖ懒砍糖谢荒？榉直鸲阅Ｄ獾缏纺？橹杏氲缌髁肯喙氐牟馐阅？楹偷缪沽肯喙氐牟馐阅？榈牧砍探星谢唬蕴岣卟问饬康木龋涣硪环矫妫邮崭髀凡问饬孔幽？榉蠢〉牟问馐越峁莶馐匀嗽笔淙氲牟问≡裰噶睿馐猿龅南嘤Σ问低ü嘶涌诘ピ涑鱿允尽Ｔ诒臼凳├哪Ｄ獾缏纺？橹信渲糜械缌髌德什馐阅？�、电流有效值测试�？�、有功功率测试�？�、电压正峰值测试�？�、电压负峰值测试�？�、电压有效值测试�？�、电压频率测试�？椤⒌缪箍鼗毙虿馐阅？�、电压突发模式下频率和占空比测试�？�,参见图I所示。当然，也可以根据测试装置的具体功能要求选择其中的一种或者多种参数测量子�？槔瓷杓颇Ｄ獾缏纺？椋臼凳├⒉唤鱿抻谝陨暇倮＝鲜龈鞑问饬孔幽？榉直鹩氩饬客ǖ老嗔樱邮沾觳獾慕涣鞯缪够蛘呓涣鞯缌�。对于像背光电源这种输出的交流电压为交流高压的情况，为了保证测试装置的安全运行，需要首先对背光电源输出的交流高压经由分压电路进行分压处理，然后生成小幅值的交流电压，作为待检测的交流电压输入到测试装置以进行与电压量相关的参数测试。对于背光电源输出的交流电流可以在分压输出的小幅值交流电压的传输线路中串联采样电阻，通过检测采样电阻两端的压降，结合采样电阻的阻值即可计算出与背光电源输出的交流电流相对应的交流电流小信号，作为待检测的交流电流输入到测试装置以进行与电流量相关的参数测试。所述的各参数测量子�？槎源觳獾慕涣鞯缪够蛘呓涣鞯缌鹘胁裳馐院螅捎氩馐越峁喽杂Φ哪Ｄ�、信号输出至CPU�？椋宰怀上嘤Φ牟问饬恐担ü嘶涌诘ピ允臼涑�。为了对上述各参数测量子�？榈牧砍探锌刂疲缌髌德什馐阅？椤⒌缌饔行е挡馐阅？�、有功功率测试�？榱拥缌魍ǖ懒砍糖谢荒？椋唤泄β什馐阅？�、电压正峰值测试�？椤⒌缪垢悍逯挡馐阅？�、电压有效值测试�？�、电压频率测试�？�、电压开关机时序测试�？�、电压突发模式下频率和占空比测试�？榱拥缪雇ǖ懒砍糖谢荒？椋ü愿鞑问饬孔幽？榈牧砍探惺实鼻谢唬蕴岣卟问牟馐跃�。在所述模拟电路�？橹谢箍梢越徊缴柚肁D采集芯片，接收电流有效值测试�？�、有功功率测试�？�、电压正峰值测试�？�、电压负峰值测试模块以及电压有效值测试�？槭涑龅哪Ｄ庑藕牛怀墒中藕牛涑鲋罜PU�？椋约跚酑PU�？榈墓ぷ髁俊５比唬鯝D采集芯片可以选择配置，对于自身集成有ADC的CPU�？槔此担梢灾苯咏Ｄ獾缏纺？槭涑龅母髀纺Ｄ庑藕糯渲罜PU�？榈腁DC端口进行模数转换后再行处理,本实施例对此不进行具体限制。此外，为了实现CPU�？椴嗟氖中藕庞肽Ｄ獾缏纺？椴嗟哪Ｄ庑藕胖涞母衾胪ㄑ叮臼凳├叛≡谒鯟PU模块与模拟电路模块之间连接数字隔离�？樾酒缤糏所示，以实现数字信号与模拟信号的隔离。所述数字隔离�？樾酒梢允腔诠獾绺衾爰际�、磁耦合隔离技术或者电容式隔离技术的集成芯片，本实施例不限于此。下面对模拟电路�？橹懈鞑问饬孔幽？榈木咛宓缏饭菇ǚ绞阶鼋徊较晗傅乃得鳎⒁源獾缭次彻獾缭次愿鞑问饬孔幽？榈墓ぷ髟斫胁�。其中，输入到各参数测量子�？橹械拇觳饨涣鞯缪购徒涣鞯缌魑彻獾缭词涑龅慕涣鞲哐咕鲜龇盅棺缓偷缌鞑裳砗笊傻慕涣鞯缪筕和交流电流I小信号。图2为电流频率测试�？楹偷缪蛊德什馐阅？榈囊恢钟叛〉缏纷榻ㄐ问剑ㄔ怂惴糯笃鱑21和波形整形电路。所述运算放大器U21通过测量通道接收待检测的交流电流I或者交流电压V，进行至少11倍的信号放大处理后，输出至波形整形电路以转换生成方波信号。所述波形整形电路包括两部分一部分为由运放芯片U22配合外围电路组建形成的正反馈电路，对运算放大器U21放大输出的交流波形进行第一级整形处理后，输出至由NPN型三极管Tl配合外围电路组成第二部分波形整形电路中，以生成基于零电平的标准方波信号，经由数字隔离模块芯片输出至所述的CPU�？椋约扑愠銎德什问�。图3为电流有效值测试�？楹偷缪褂行е挡馐阅？榈囊恢钟叛〉缏纷榻ㄐ问剑伎梢圆捎糜行е导觳庑酒琔31和运算放大器U32设计实现。将有效值检测芯片U31的输入端连接测量通道，接收待检测的交流电压V和交流电流I，分别检测出其中的电压有效值和电流有效值，并生成与之对应的直流电压信号输出至运算放大器U32进行信号放大处理后，送往AD采集芯片进行模数转换，进而生成数字形式的电压有效值和电流有效值传输至(PU�？椋钥刂迫嘶涌诘ピ涑稣饬礁霾问�。对于电流和电压有效值的传统测试方法通常都是利用高速的AD芯片对交流信号进行符合采样定理的采点，然后通过软件的办法进行被测对象的有效值计算。这种方法的缺陷就是计算周期较长，不如本实施例所提出的硬件电路方式得到有效值的速度快，同时也没有硬件方法测试得准确。图4为有功功率测试�？榈囊恢钟叛〉缏纷榻ㄐ问剑ǔ朔ㄆ鱑41、低通滤波器U42和运算放大器U43。其中，乘法器U41可以采用硬件模拟电路组建而成，也可以采用专门的IC芯片，其两个输入端子分别接收待检测的交流电压V和交流电流I，进行乘法运算后输出包含有直流分量和交流分量的波形信号，传输至低通滤波器U42以滤除掉其中的交流分量。在本实施例中，所述低通滤波器U42优选采用截止频率为IKHz的二阶巴特沃斯低通滤波器进行电路设计，以保证交流分量的彻底滤除。将通过所述低通滤波器U42输出的直流电压信号传输至运算放大器U43进行放大处理，进而经由AD采集芯片进行模式转换后，生成有功功率数字信号输出至CPU�？椋钥刂迫嘶涌诘ピ允靖貌问�。对于背光电源的有功功率测试，传统的测试方法是用两个AD芯片分别对背光电源输出的电压和电流进行采样，然后再通过软件进行计算得到有功功率值。这种测试方法的缺点是1、测试速度没有模拟乘法器的测试响应速度快；2、两个AD芯片的同步很难保证；3、测试精度也没有硬件方法测试得准确。图5是电压正峰值测试�？楹偷缪垢悍逯挡馐阅？榈囊恢钟叛〉缏纷榻ㄐ问剑渲校缪拐逯挡馐阅？榭梢圆捎靡桓龇逯当３值缏稶51和一个运算放大器U52连接而成；电压负峰值测试�？榭梢悦子靡桓龇聪虻缏稶53、一个峰值保持电路U54和一个运算放大器U55连接而成。所述峰值保持电路U51、U54可以采用美国AD公司的IC芯片PKDOl进行电路设计，也可以采用�？榈缏反罱ㄊ迪�。在对待检测的交流电压V的正峰值进行测试时，通过峰值保持电路U51接收待检测的交流电压V，进行采样保持后，输出与电压正峰值相对应的直流信号，传输至运算放大器U52进行信号放大处理，然后输出至AD采集芯片转换生成数字形式的电压正峰值，通过CPU�？榭刂迫嘶涌诘ピ允靖孟畈问�。在对待检测的交流电压V的负峰值进行测试时，首先利用反向电路U53对交流电压V的波形进行方向处理，然后输出至峰值保持电路U54进行正向电压的采样保持，此时的正向电压即为交流电压V的负半周电压。通过峰值保持电路U54生成的与交流电压V的负峰值相对应的直流信号传输至运算放大器U55进行适当的放大处理后，经由AD采样芯片生成数字形式的电压负峰值，通过CPU�？榭刂迫嘶涌诘ピ允靖孟畈问�。在CPU�？橹校眉觳獾降牡缪拐逯岛偷缪垢悍逯悼梢约扑愠霰彻獾缭吹牡缪狗宸逯担纱丝梢允迪�3个参数的检测输出。对于背光电源输出的交流电压的正峰值和负峰值测试，传统的测试方法是用AD芯片对其进行大量采样，然后从中寻找最大点和最小点，这种测试方法相比本实施例所提出的硬件电路构建方式，其测试响应速度明显缓慢。图6是电压开关机时序测试�？榈囊恢钟叛〉缏纷榻ㄐ问剑ň灾翟怂愕缏稶61和比较器U62。将待检测的交流电压V通过测量通道传输至绝对值运算电路U61进行绝对值运算，由此可以将交流电压的负半周波形整流到正半周上，得到全部为正半周的电压波形，输出至比较器U62与设定的电压有效值E进行比较。所述电压有效值E可以利用被测背光电源的产品规格书中提供的输出电压峰值Um除以
及，再进行同级分压变换后计算获得，作为阈值与绝对值运算电路U61输出的电压波形进行比较，进而生成方波信号(即TTL电平)输出至CPU�？榈闹卸辖涌�。所述CPU�？橥苯邮沼糜诳刂票彻獾缭词涑龅拇シ⑿藕臫RIG，所述触发信号TRIG是一种用于控制背光电源启停的控制信号，目前的背光电源都是在检测到触发信号TRIG的上升沿时启动运行，产生并输出交流高压；在检测到触发信号TRIG的下降沿时停止运行，结束交流高压的产生和输出过程。本实施例利用CPU�？椋捎萌砑喑痰姆绞蕉员冉掀鱑62输出的方波信号进行检测，从触发信号TRIG的上升沿开始计时，直到检测到方波信号的第一个脉冲波时停止计时，这段计时时间即为电压的开机时间；从触发信号TRIG的下降沿开始计时，直到检测到方波信号的最后一个脉冲波时停止计时，这段计时时间即为电压的关机时间，由此生成电压开关机时序参数，通过人机接口单元显示输出。图7是电压突发Burst模式下频率和占空比测试�？榈囊恢钟叛〉缏纷榻ㄐ问剑糜诩觳馕薷涸厍榭鱿禄蛘弑彻獾缭唇胍斐Ｌ贾碌缪辜涠鲜涑銮榭鍪苯涣鞯缪沟钠德屎驼伎毡龋ǔ朔ㄆ鱑71、低通滤波器U72和比较器U73。其中，乘法器U71同样可以采用硬件模拟电路组建而成，也可以采用专门的IC芯片，其两个输入端子同时接收待检测的交流电压V，进行平方运算后，得到上升沿和下降沿更陡的交流波形输出至低通滤波器U72以滤除掉其中的交流分量。在本实施例中，所述低通滤波器U72同样可以采用截止频率为IKHz的二阶巴特沃斯低通滤波器进行电路设计，以输出近似于方波的包络波形传输至比较器U73与设定的阈值电压Ur进行比较，进而获得整形后的方波信号输出至CPU�？榈闹卸辖涌冢约扑愠龅缪雇环⒛Ｊ较碌钠德什问驼伎毡炔问ü嘶涌诘ピ蠢「馐匀嗽�。本实用新型的背光电源高压输出测试装置电路结构简单，易于实现，可以有效降低CPU�？樵诖砗图扑惴矫娴难沽Γ哂胁饬克俣瓤�、测试精度高等显著优势，可以很好地满足目前背光电源的各项参数测试要求。应当指出的是，上述说明并非是对本实用新型的限制，本实用新型也并不仅限于上述举例，本技术领域的普通技术人员在本实用新型的实质范围内所做出的变化、改型、添加或替换，也应属于本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种多參数测试装置，其特征在于包括人机接ロ単元、CPU�？楹湍Ｄ獾缏纺？椋辉谒瞿Ｄ獾缏纺？橹邪械缌髌德什馐阅？�、电流有效值测试�？�、有功功率测试�？�、电压正负峰值测试�？�、电压有效值测试�？�、电压频率测试�？�、电压开关机时序测试模块、电压突发模式下频率和占空比测试模块中的ー种或者多种，分别连接測量通道，接收待检测的交流电压或者交流电流并进行不同的參数测试；所述CPU�？榻邮漳Ｄ獾缏纺？榧觳馐涑龅膮⑹饬恐担写砗蟠渲寥嘶鹰淼ピ涑龈飨顓⑹�。
2.根据权利要求I所述的多參数测试装置，其特征在于在所述模拟电路�？橹谢拱蠥D采集芯片，接收电流有效值测试�？�、有功功率测试�？椤⒌缪拐悍逯挡馐阅？橐约暗缪褂行е挡馐阅？榧觳馐涑龅膮⑹饬恐担⒆怀墒中藕攀涑鲋了龅腃PU�？�。
3.根据权利要求I所述的多參数测试装置，其特征在于在所述电流频率测试�？楹偷缪蛊德什馐阅？橹蟹直鹕柚糜性怂惴糯笃骱筒ㄐ握蔚缏罚鲈怂惴糯笃魍ü饬客ǖ澜邮沾觳獾慕涣鞯缌骰蛘呓涣鞯缪梗行藕欧糯蟠砗螅涑鲋敛ㄐ握蔚缏纷簧煞讲ㄐ藕牛涑鲋了龅腃PU�？橐约扑闫德蕝⑹�。·
4.根据权利要求2所述的多參数测试装置，其特征在于在所述电流有效值测试�？楹偷缪褂行е挡馐阅？橹蟹直鹕柚糜杏行е导觳庑酒驮怂惴糯笃鳎凰鲇行е导觳庑酒ü饬客ǖ澜邮沾觳獾慕涣鞯缌骰蛘呓涣鞯缪梗直鸺觳獬銎渲械牡缌饔行е岛偷缪褂行е岛螅涑鲋猎怂惴糯笃鹘行藕欧糯蟠恚缓蟠渲了龅腁D采集芯片转换成数字信号后，输出至所述的CPU模块。
5.根据权利要求2所述的多參数测试装置，其特征在于在所述有功功率测试�？橹邪谐朔ㄆ�、低通滤波器和运算放大器；所述乘法器对待检测的交流电流和交流电压进行乘法运算后，输出包含有直流分量和交流分量的波形信号至低通滤波器，通过低通滤波器滤除掉其中的交流分量后，输出直流分量至运算放大器进行信号的放大处理，然后传输至所述的AD采集芯片转换成数字信号后，输出至所述的CPU�？椤�
6.根据权利要求2所述的多參数测试装置，其特征在于在所述电压正负峰值测试�？橹邪辛铰贩逯当３值缏泛土铰吩怂惴糯笃鳎黄渲幸宦贩逯当３值缏吠ü饬客ǖ澜邮沾觳獾慕涣鞯缪梗越涣鞯缪沟恼逯到胁裳３植⑸捎胫杂Φ牡缪剐藕牛涑鲋疗渲幸宦吩怂惴糯笃鹘行藕诺姆糯蟠砗螅渲了龅腁D采集芯片；另外一路峰值保持电路通过反向电路接收所述的交流电压，对交流电压进行反向运算和峰值采样保持处理后，生成与负峰值相对应的电压信号，输出至另外一路运算放大器进行信号的放大处理后，传输至所述的AD采集芯片；所述AD采集芯片对接收到的模拟电压信号进行模数转换后，生成数字信号输出至所述的CPU�？�。
7.根据权利要求I所述的多參数测试装置，其特征在于在所述电压开关机时序测试模块中包含有绝对值运算电路和比较器；所述绝对值运算电路通过测量通道接收待检测的交流电压，将负半周波形整流成正半周波形后，输出至比较器与设定的电压有效值进行比较，进而生成方波信号输出至CPU�？椋凰鯟PU�？榻邮沼糜诳刂拼獾缭纯氐拇シ⑿藕牛岷纤龃シ⑿藕藕头讲ㄐ藕偶扑愠龃獾缭词涑龅慕涣鞯缪沟目毙蚝凸鼗毙�。
8.根据权利要求I所述的多參数测试装置，其特征在于在所述电压突发模式下频率和占空比测试�？橹邪谐朔ㄆ鳌⒌屯瞬ㄆ骱捅冉掀鳎凰龀朔ㄆ魍ü饬客ǖ澜邮沾觳獾慕涣鞯缪梗衅椒皆怂愫螅涑鲋恋屯瞬ㄆ饕陨煞讲ò绮ㄐ危ü冉掀鹘胁ㄐ握未砗螅涑龇讲ㄖ了龅腃PU�？橐越衅德屎驼伎毡鹊募扑�。
9.根据权利要求I至8中任一项所述的多參数测试装置，其特征在于在所述模拟电路�？橹谢拱械缌魍ǖ懒砍糖谢荒？楹偷缪雇ǖ懒砍糖谢荒？椋邮誄PU�？槭涑龅牧砍糖袚Q指令，分别对模拟电路模块中的各子�？榈牧砍探械鹘�。
10.根据权利要求I至8中任一项所述的多參数测试装置，其特征在于所述CPU模块通过数字隔离�？樾酒铀龅哪Ｄ獾缏纺？�。
专利摘要本实用新型公开了一种多参数测试装置，包括人机接口单元、CPU�？楹湍Ｄ獾缏纺？椋辉谒瞿Ｄ獾缏纺？橹邪械缌髌德什馐阅？�、电流有效值测试�？�、有功功率测试�？�、电压正负峰值测试�？椤⒌缪褂行е挡馐阅？椤⒌缪蛊德什馐阅？�、电压开关机时序测试�？�、电压突发模式下频率和占空比测试模块中的一种或者多种，分别连接测量通道，接收待检测的交流电压或者交流电流并进行不同的参数测试；所述CPU模块接收模拟电路�？榧觳馐涑龅牟问饬恐担写砗蟠渲寥嘶涌诘ピ涑龈飨畈问�。本实用新型的多参数测试装置可以实现对待测电源多种参数的测量，兼容性强，测试速度快，测试精度高，尤其适合对背光电源进行各项参数的测试。
文档编号G01R21/06GK202421479SQ20112054760
公开日2012年9月5日申请日期2011年12月24日优先权日2011年12月24日
发明者孙涛, 彭文敏, 汤承昭申请人:青岛艾诺智能仪器有限公司

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一种多参数测试装置的制作方法