专利名称：温度测试系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试系统，特别是指一种高精度的温度测试系统。
背景技术：
在对电脑进行测试时，往往需要测试电脑在不同温度环境下的工作稳定性。现有的测试装置是将待测电脑放置于一恒温控制箱内进行测试，在设定好测试温度后即可对放置于恒温控制箱内的待测电脑进行测试。现有的恒温控制箱无法对放置于其内各点处待测电脑的温度进行精确测试，无法满足某些高精度测试的需求。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种高精度的温度测试系统。一种温度测试系统，用以对一恒温控制箱内不同点处的温度进行侦测，包括一开关�？�、一控制�？�、一感测�？椤⒁唤饴肽？楹鸵幌允灸？椋隹啬？橛靡韵蚩刂颇？槭淙氩馐灾噶钜匝≡褚徊馐缘悖龈胁饽？楦莞貌馐灾噶钫觳夂阄驴刂葡淠谙嘤Σ馐缘愦Φ奈露刃藕牛⒔觳獾降奈露刃藕欧⑺透隹刂颇？椋隹刂颇？榻邮盏降奈露刃藕抛晃露戎凳涑龈鼋饴肽？椋鼋饴肽？榻邮障嘤Σ馐缘愦Φ奈露戎担⒔鑫露戎到饴氤墒中藕攀涑霾⑾允驹谒鱿允灸？樯稀�
相较于现有技术，上述温度测试系统通过所述感测�？檎觳夂阄驴刂葡淠谙嘤Σ馐缘愦Φ奈露刃藕牛⒔觳獾降奈露刃藕欧⑺透隹刂颇？椋隹刂颇？榻邮盏降奈露刃藕抛晃露戎凳涑龈鼋饴肽？椋鼋饴肽？榻邮障嘤Σ馐缘愦Φ奈露戎担⒔鑫露戎到饴氤墒中藕攀涑霾⑾允驹谒鱿允灸？樯希鑫露炔馐韵低晨煞奖阏觳夂阄驴刂葡淠诓煌愦Φ奈露龋本哂薪细叩牟馐跃�。
图1是本发明温度测试系统的一较佳实施例的框图，所述温度测试系统包括一开关�？椤⒁豢刂颇？�、一感测�？�、一解码�？楹鸵幌允灸？�。图2是图1的开关�？�、控制�？楹透胁饽？榈牡缏吠�。图3是图1的解码�？楹拖允灸？榈牡缏吠�。主要元件符号说明
权利要求
1.一种温度测试系统，用以对一恒温控制箱内不同点处的温度进行侦测，包括一开关�？�、一控制�？�、一感测�？椤⒁唤饴肽？楹鸵幌允灸？椋涮卣髟谟�:所述开关�？橛靡韵蚩刂颇？槭淙氩馐灾噶钜匝≡褚徊馐缘悖龈胁饽？楦莞貌馐灾噶钫觳夂阄驴刂葡淠谙嘤Σ馐缘愦Φ奈露刃藕牛⒔觳獾降奈露刃藕欧⑺透隹刂颇？椋隹刂颇？榻邮盏降奈露刃藕抛晃露戎凳涑龈鼋饴肽？椋鼋饴肽？榻邮障嘤Σ馐缘愦Φ奈露戎担⒔鑫露戎到饴氤墒中藕攀涑霾⑾允驹谒鱿允灸？樯�。
2.如权利要求1所述的温度测试系统，其特征在于:所述开关�？榘ㄖ辽僖坏谝豢睾鸵坏诙兀隹刂颇？榘ㄒ坏谝豢刂菩藕攀淙攵�、一第二控制信号输入端和一第三控制信号输入端，所述第一开关和第二开关一端分别电性连接所述第一控制信号输入端和第二控制信号输入端，所述第一开关和第二开关另一端相连后电性连接所述第三控制信号输入端。
3.如权利要求2所述的温度测试系统，其特征在于:所述控制�？榛拱ㄖ辽僖豢刂菩藕攀涑龆撕鸵坏谝皇中藕攀淙攵耍龈胁饽？榘ㄖ辽僖晃露却衅骱鸵患痰缙鳎鑫露却衅靼ㄒ坏谝皇中藕攀涑龆耍黾痰缙靼ㄒ幌呷Φピ鸵豢氐ピ隹刂菩藕攀涑龆司上呷Φピ拥兀龅谝皇中藕攀淙攵司煽氐ピ缧粤铀龅谝皇中藕攀涑龆艘越邮瘴露却衅髡觳獾降奈露刃藕�。
4.如权利要求3所述的温度测试系统，其特征在于:所述开关单元为常开触点开关。
5.如权利要求4所述的温度测试系统，其特征在于:所述控制�？榛拱ㄒ淮惺菪藕攀涑龆耍鼋饴肽？榘ㄖ辽僖灰莆患拇嫫鳎鲆莆患拇嫫靼酱惺菪藕攀淙攵耍龃惺菪藕攀涑龆朔直鸬缧粤恿酱惺菪藕攀淙攵艘允涑鱿嘤Σ馐缘愦Φ奈露戎�。
6.如权利要求5所述的温度测试系统，其特征在于:所述解码�？榛拱ㄈ舾傻诙中藕攀涑龆耍鱿允灸？榘ㄖ辽僖话硕问牍埽霭硕问牍馨ㄈ舾傻诙中藕攀淙攵耍鋈舾傻诙中藕攀涑龆说缧粤尤舾傻诙中藕攀淙攵艘允涑鱿嘤Σ馐缘愦ξ露戎档氖中藕�。
7.如权利要求1至6中任意一项所述的温度测试系统，其特征在于:所述第一开关和第二开关为按钮开关。
全文摘要
一种温度测试系统，用以对一恒温控制箱内不同点处的温度进行侦测，包括一开关�？�、一控制�？�、一感测�？�、一解码�？楹鸵幌允灸？椋隹啬？橛靡韵蚩刂颇？槭淙氩馐灾噶钜匝≡褚徊馐缘悖龈胁饽？楦莞貌馐灾噶钫觳夂阄驴刂葡淠谙嘤Σ馐缘愦Φ奈露刃藕牛⒔觳獾降奈露刃藕欧⑺透隹刂颇？椋隹刂颇？榻邮盏降奈露刃藕抛晃露戎凳涑龈鼋饴肽？椋鼋饴肽？榻邮障嘤Σ馐缘愦Φ奈露戎担⒔鑫露戎到饴氤墒中藕攀涑霾⑾允驹谒鱿允灸？樯稀�
文档编号G01K13/00GK103175631SQ20111042932
公开日2013年6月26日 申请日期2011年12月20日 优先权日2011年12月20日
发明者高志勇, 刘玉林, 张云飞 申请人:鸿富锦精密工业(武汉)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
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