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专利名称：测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试装置，尤指一种用于屏蔽电磁波的测试装置。
背景技术：
随着电子技术的快速发展，使得我们的生活愈来愈多的依赖于电子产品，如手机、无线存取装置(wireless access point)等。为了确保电子产品的高质量，在电子产品的生产过程中，测试便成为一个非常重要的环节。通常，电子产品被放在一测试装置中来测试其各项性能是否达到标准。所述测试装置包括屏蔽箱和运动机构，所述运动机构用于驱使所述屏蔽箱运动。
然，现有的测试装置的运动机构安装于屏蔽箱中，这不仅使整个测试装置的结构复杂，而且因运动机构位于屏蔽箱中而不能有效屏蔽电磁波，进而影响电子产品的测试。

发明内容
有鉴于此，需提供一种结构简单的测试装置，在测试电子产品时可有效屏蔽电磁波。
一种测试装置，包括屏蔽箱和驱动机构。屏蔽箱包括上盖、下盖及收容空间，所述收容空间用于容纳待测试的产品。驱动机构包括外置于所述屏蔽箱上盖的第一运动机构和外置于所述屏蔽箱下盖的第二运动机构。第一运动机构用于驱使屏蔽箱的上盖垂直运动，其包括第一支架、第一汽缸和第一固定座。所述第一支架与上盖的外侧壁固定连接，所述第一汽缸用于驱使第一支架相对第一固定座垂直运动。第二运动机构用于驱使屏蔽箱的下盖水平运动，其包括第二支架、第二汽缸和第二固定座。第二支架与下盖的外侧壁固定连接，第二汽缸用于驱使第二支架相对第二固定座水平运动。
本发明的测试装置，利用驱动机构外置，不仅简化了测试装置的结构，降低了成本，而且可有效屏蔽屏蔽箱内外的电磁波。


图l为本发明的测试装置的立体分解图。
图2为本发明的测试装置的另一角度的立体分解图。
图3为本发明的测试装置的立体组装图。
图4为本发明的测试装置的使用状态图。
具体实施例方式
4图1和图2为本发明的测试装置100的立体分解图。本发明的测试装置100包括屏蔽箱20、驱动机构30 (请参照图3)及底座40。
屏蔽箱20用于容纳待测试的电子产品(未图标)，包括上盖22、下盖24及收容空间26。在本实施方式中，电子产品可以为移动电话、电路板或电子组件。
上盖22大致为方形，其内表面粘贴吸波材料(图未示)。从上盖22的一侧壁向外凸设一对相隔一定距离的凸块220。每个凸块包括一对安装孔222，用于将上盖22安装于驱动机构30。
下盖24大致为方形，其内表面粘贴吸波材料244。从下盖24的两相对侧边向外凸设一对凸缘240，每个凸缘240包括一对通孔242。透过所述通孔242下盖24被固定于驱动机构30。
收容空间26用于容纳电子产品。在本实施方式中，收容空间26位于下盖24，即在下盖24的中间形成一凹陷240，用于容纳电子产品。
在其它实施方式中，收容空间26位于上盖22或由上盖22和下盖24共同围成收容空间26。
屏蔽箱20之内表面粘贴吸波材料会有效反射与吸收从屏蔽箱20的细小缝隙进入屏蔽箱20的电磁波。从而有效保证了电子产品的性能测试的准确性，保证了电子产品的质量。
驱动机构30，用于驱动屏蔽箱20的开启和关闭。所述驱动机构30包括第一运动机构32及第二运动机构34，第一运动机构32用于驱动屏蔽箱20的上盖22的垂直运动。所述第一运动机构32包括第一支架320、第一汽缸322和第一固定座324，所述第一支架320固定连接所述上盖22。所述第一汽缸322用于驱使第一支架320相对第一固定座324垂直运动，从而驱使屏蔽箱20的上盖22垂直运动。所述第一汽缸322透过第一固定座324固定于底座40上。第一支架320包括两对通孔3202，所述通孔3202分别与上盖22的安装孔222—一对应。多个紧固件(未图示)分别穿过所述通孔3202和安装孔222将上盖22固定于第一支架320，从而第一运动机构32透过第一支架320外置于屏蔽箱20的上盖22。
第二运动机构34，用于驱使屏蔽箱20的下盖24水平运动。所述第二运动机构34包括第二支架340、第二汽缸342和第二固定座344。所述第二支架340固定连接所述下盖24，所述第二汽缸342用于驱使第二支架340相对第二固定座344水平运动，从而驱使屏蔽箱20的下盖24水平运动。所述第二支架340透过所述第二固定座344固定于底座40上。
所述第二固定座344包括一对导轨3442、限位块3444及一对固定块3446。所述导轨3442连接所述限位块3444和所述固定块3446 。所述限位块3444和所述固定块3446固定于底座40上
所述第二支架340包括滑块3402、挡止块3404、支撑板3406及一对连接杆3408。所述支撑板3406固定于滑块3402和挡止块3404上。螺钉(未图示)穿过屏蔽箱20的下盖24的通孔242
5固定于支撑板3406上，从而第二运动机构34透过第二支架340外置于屏蔽箱20的下盖24。滑块3402位于挡止块3404和限位块3444之间，所述连接杆3408分别穿过固定块3446连接滑块3402和挡止块3404。第二汽缸342的一端与限位块3444连接，另一端穿过滑块3402连接于挡止块3404。滑块3402在第二汽缸342的驱动下沿着所述导轨3442向左或向右滑动，从而带动屏蔽箱20的下盖24向左或向右移动。限位块3444和挡止块3404用于限制滑块3402的行程。
驱动机构30固定于底座40上。底座40设有多个按钮42，用于控制驱动机构30。
图3为本发明的测试装置100的立体组装图。安装时，第一运动机构32和第二运动机构34分别固定于底座40上。屏蔽箱20的上盖22固定于第一运动机构32的第一支架320，屏蔽箱20的下盖24固定于第二运动机构34的第二支架340。
图4为本发明的测试装置100的使用状态图。使用时，第一运动机构32驱使屏蔽箱20的上盖22相对底座40向上运动，第二运动机构34驱使屏蔽箱20的下盖24相对底座40向右运动，从而使屏蔽箱20被开启且上盖22和下盖24的位置错开。此时，操作人员可以取放待测试的电子产品。然后，第二运动机构34驱使屏蔽箱20的下盖24相对底座40向左运动，第一运动机构32驱使屏蔽箱20的上盖22相对底座40向下运动，从而使屏蔽箱20的上盖22和下盖24紧密扣合。此时，可以有效测试电子产品。
因本发明的驱动机构30位于屏蔽箱20的外面，从而简化了屏蔽箱20的内部结构，縮小屏蔽箱20的尺寸，这不仅简化了测试装置100的结构，降低了成本；而且因驱动机构30外置而有效屏蔽了屏蔽箱20内外的电磁波，保证了电子产品的性能测试的准确性。
权利要求
1.一种测试装置，其特征在于，包括屏蔽箱，包括上盖、下盖及收容空间，所述收容空间用于容纳待测试的产品；及驱动机构，用于驱动所述屏蔽箱的开启和关闭，所述驱动机构包括第一运动机构，外置于所述屏蔽箱的上盖，用于驱使所述上盖垂直运动，所述第一运动机构包括第一支架、第一汽缸和第一固定座，所述第一支架与所述上盖固定连接，所述第一汽缸用于驱使第一支架相对第一固定座垂直运动；及第二运动机构，外置于所述屏蔽箱的下盖，用于驱使所述下盖水平运动，所述第二运动机构包括第二支架、第二汽缸和第二固定座，所述第二支架与所述下盖固定连接，所述第二汽缸用于驱使第二支架相对第二固定座水平运动。
2.如权利要求l所述的测试装置，还包括底座，所述驱动机构安装于 所述底座上。
3.如权利要求l所述的测试装置，其特征在于，所述上盖包括一对从 其侧壁向外凸设并相隔一定距离的凸块，所述上盖透过所述凸块固定于所述第一支架。
4.如权利要求l所述的测试装置，其特征在于，所述下盖包括一对从 其两相对侧边向外凸设的凸缘，所述下盖透过所述凸缘固定于所述第二支架。
5.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述第二固定座包括 一对导轨、限位块及一对固定块，所述导轨连接所述限位块和所述固定块。
6.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述限位块和所述固 定块固定于底座上。
7.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述第二支架包括滑 块、挡止块、支撑板及一对连接杆，所述支撑板固定于所述滑块和所述挡止块上。
8.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述连接杆穿过固定 块连接所述滑块和所述挡止块。
9.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述限位块和所述挡止块用于限制所述滑块的行程。
10.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述滑块在所述第 二汽缸的驱动下沿着所述导轨滑动。
全文摘要
一种测试装置，包括屏蔽箱和驱动机构。屏蔽箱包括上盖、下盖及收容空间，收容空间用于容纳待测试的产品。驱动机构包括外置于所述屏蔽箱上盖的第一运动机构和外置于所述屏蔽箱下盖的第二运动机构。第一运动机构用于驱使屏蔽箱的上盖垂直运动，其包括第一支架、第一汽缸和第一固定座。所述第一支架固定连接上盖，所述第一汽缸用于驱使第一支架相对第一固定座垂直运动。第二运动机构用于驱使屏蔽箱的下盖水平运动，其包括第二支架、第二汽缸和第二固定座。第二支架固定连接下盖，第二汽缸用于驱使第二支架相对第二固定座水平运动。本发明的测试装置，利用驱动机构外置，不仅简化了测试装置的结构，降低了成本，而且可有效屏蔽屏蔽箱内外的电磁波。
文档编号G01R31/00GK101661067SQ200810304209
公开日2010年3月3日 申请日期2008年8月26日 优先权日2008年8月26日
发明者陈建宜 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司