专利名称：一种led单灯测试通用治具的制作方法
技术领域：
一种LED单灯测试通用治具技术领域[0001]本实用新型涉及灯具检测技术领域，特别是涉及一种LED单灯测试通用治具。
背景技术：
[0002]通常，在使用LED单灯时，需要对其性能的有效性进行检测。由于LED单灯存在体 积非常�。贾露云浣械懔敛馐源嬖谝欢ǖ睦�。现有技术中，通常采用焊接方式将LED 单灯进行固定，然后进行点亮测试，这样在测试过程中容易造成LED灯损坏，并且焊接后的 LED灯在测试结束后将无法继续使用，导致浪费生产成本，同时使得测试效率低下。另外，对 已固定住的样品LED灯进行点亮测试，只能通过样品的性能来评估整批LED灯的性能，使得 整批LED灯的使用性能得不到保障。实用新型内容[0003](一)要解决的技术问题[0004]本实用新型要解决的技术问题是提供一种LED单灯测试通用治具，以克服现有技 术中的测试方式存在效率低且浪费资源的缺陷。[0005](二)技术方案[0006]为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种LED单灯测试通用治具，包括基 板，所述基板上固定设有固定块和固定卡合块，所述固定块为凹字形，所述凹字形的空腔内 设有移动卡合块，所述移动卡合块和固定卡合块相对设置，且两者的相对面上分别设有半 圆卡合槽，所述两个半圆卡合槽合并构成一个完整的用于放置待测LED灯的卡合槽；[0007]所述固定卡合块设有导电片固定位和导线槽，导电片和导线分别设于导电片固定 位和导线槽中，所述LED灯底部抵触所述导电片。[0008]进一步地，所述移动卡合块与凹字形固定块横向部分的内壁之间设有弹性块。[0009]进一步地，所述弹性块为弹簧。[0010]进一步地，所述移动卡合块朝向内腔横向部分的内壁的一面设有凹槽，所述弹簧 部分设于凹槽中。[0011]进一步地，所述固定卡合块与移动卡合块相对的一面为二级台阶状，包括朝向移 动卡合块的第一台阶和远离移动卡合块的第二台阶，所述第二台阶的侧面设有半圆卡合 槽；[0012]所述移动卡合块与固定卡合块的一面设有凸台，所述凸台搭接在所述固定块的第 一台阶上，所述凸台的侧面设有半圆卡合槽。[0013]进一步地，所述移动卡合块的上表面设有便于操作的把持结构。[0014]进一步地，还包括支架，所述支架用于支撑基板。[0015](三)有益效果[0016]本实用新型提供的LED单灯测试通用治具，通过由移动卡合块和固定块合并共同 形成一个完整的、可对LED灯进行卡合固定的卡合槽，可快速实现对LED灯进行点亮性能测试，同时确保测试后的LED灯可继续使用，降低了测试损耗，并且提高了测试效率。
[0017]图1为本实用新型实施例LED单灯测试通用治具整体结构示意图；[0018]图2为本实用新型实施例LED单灯测试通用治具中固定块结构示意图；[0019]图3为本实用新型实施例LED单灯测试通用治具中移动卡合块结构示意图；[0020]图4为本实用新型实施例LED单灯测试通用治具中移动卡合块的俯视图；[0021]图5为本实用新型实施例LED单灯测试通用治具中固定卡合块结构示意图；[0022]图6为本实用新型实施例LED单灯测试通用治具中固定卡合块的俯视图。[0023]图中[0024]1:支架；2 :基板；3 ;固定块；4 :移动卡合块；41 :凸台；42 :凹槽；5 :固定卡合块 51 :第一台阶；52 :第二台阶；6 :导线；8 :弹簧；91 :半圆卡合槽；9 :卡合槽。
具体实施方式
[0025]下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始 至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参 考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的 限制。[0026]在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、 “前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底” “内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示 或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解 为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或 暗示相对重要性。[0027]在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安 装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体 地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相 连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述 术语在本实用新型中的具体含义。[0028]此外，在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。[0029]如图1-2所示，本实用新型提供的LED单灯测试通用治具，包括支架1、基板2、固 定块3、移动卡合块4、固定卡合块5、导线6、导电片以及弹簧8。该支架I支撑整个基板2 及基板2上的部件。[0030]基板2上固定设有固定块3和固定卡合块5，固定块3为凹字形，凹字形的空腔内 设有移动卡合块4，所述移动卡合块4和固定卡合块5相对设置，且两者的相对面上分别设 有半圆卡合槽91，所述两个半圆卡合槽91合并构成一个完整的用于放置待测LED灯的卡合 槽9 ;[0031]移动卡合块4与凹字形固定块3横向部分的内壁之间设有弹性块。较优地，本实 施例中的弹性块米用弹簧8。移动卡合块4朝向内腔横向部分内壁的一面设有凹槽42,弹簧8部分设于凹槽42中。该弹簧8的设置为移动卡合块4的移动提供回弹力。[0032]固定卡合块5设有导电片固定位和导线槽，导电片和导线6分别设于导电片固定 位和导线槽中，LED灯底部抵触所述导电片。[0033]其中，固定卡合块5与移动卡合块4相对的一面为二级台阶状，包括朝向移动卡合 块4的第一台阶51和远离移动卡合块4的第二台阶52，所述第二台阶52的侧面设有半圆 卡合槽91，参考图5和图6。[0034]设置移动卡合块4与固定卡合块5的一面设有凸台41，所述凸台41搭接在所述固 定卡合块5的第一台阶51上,所述凸台41的侧面设有半圆卡合槽91,参考图3和图4。[0035]移动卡合块4的上表面设有便于操作的把持结构，本实施例中在移动卡合块4的 上表面开槽，形成把持部件。[0036]当需要进行检测LED灯性能时，可将移动卡合块4推向固定块3空腔内部(即箭头 A指向的方向)，此时，弹簧8处于压缩状态；将LED灯放置在卡合槽相对应的位置上，待放 置后，松开移动卡合块4，由于该弹性块8具有一定回弹性，因此，该在弹簧8延伸的状态下， 将移动卡合块4推向固定卡合槽，从而使得两个半圆卡合槽91形成一个完成的卡合槽9，在 移动卡合块4和固定卡合块5相互作用下,使得该LED灯较稳定地固定在卡合槽内。固定 在卡合槽的LED灯将抵触导电片，在通电状态下，即可判断出该LED灯的发亮状态，进而判 断出该LED灯的使用性能。[0037]本实用新型提供的LED单灯测试通用治具，通过由移动卡合块和固定块合并共同 形成一个完整的、可对LED灯进行卡合固定的卡合槽，可快速实现对LED灯进行点亮性能测 试，同时确保测试后的LED灯可继续使用，降低了测试损耗，并且提高了测试效率。[0038]以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技 术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改 进和替换也应视为本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种LED单灯测试通用治具，其特征在于，包括基板，固定卡合块和移动卡合块，所述固定卡合块固定在基板上，所述移动卡合块和固定卡合块相对设置，且两者的相对面上分别设有半圆卡合槽，所述两个半圆卡合槽合并构成一个完整的用于放置待测LED灯的卡合槽；所述固定卡合块设有导电片固定位和导线槽，导电片和导线分别设于导电片固定位和导线槽中，所述LED灯底部接触所述导电片。
2.如权利要求1所述的LED单灯测试通用治具，其特征在于，还包括固定块，所述固定块为凹字形，所述移动卡合块设于所述固定块的空腔中，所述移动卡合块与内腔横向部分的内壁之间设有弹性块。
3.如权利要求2所述的LED单灯测试通用治具，其特征在于，所述弹性块为弹簧。
4.如权利要求3所述的LED单灯测试通用治具，其特征在于，所述移动卡合块朝向内腔横向部分的内壁的一面设有凹槽，所述弹簧部分设于凹槽中。
5.如权利要求1所述的LED单灯测试通用治具，其特征在于，所述固定卡合块与移动卡合块相对的一面为二级台阶状，包括朝向移动卡合块的第一台阶和远离移动卡合块的第二台阶，所述第二台阶的侧面设有半圆卡合槽；所述移动卡合块与固定卡合块的一面设有凸台，所述凸台搭接在所述固定卡合块的第一台阶上，所述凸台的侧面设有半圆卡合槽。
6.如权利要求1所述的LED单灯测试通用治具，其特征在于，所述移动卡合块的上表面设有便于操作的把持结构。
7.如权利要求1所述的LED单灯测试通用治具，其特征在于，还包括支架，所述支架用于支撑基板。
专利摘要本实用新型涉及灯具检测技术领域，特别是涉及一种LED单灯测试通用治具。该LED单灯测试通用治具包括基板，固定卡合块和移动卡合块，固定卡合块固定在基板上，移动卡合块和固定卡合块相对设置，且两者的相对面上分别设有半圆卡合槽，两个半圆卡合槽合并构成一个完整的用于放置待测LED灯的卡合槽；固定卡合块设有导电片固定位和导线槽，导电片和导线分别设于导电片固定位和导线槽中，所述LED灯底部抵触所述导电片。本实用新型提供的LED单灯测试通用治具，可快速实现对LED灯进行点亮性能测试，同时确保测试后的LED灯可继续使用，降低了测试损耗，并且提高了测试效率。
文档编号G01R31/44GK202886415SQ201220572800
公开日2013年4月17日 申请日期2012年11月1日 优先权日2012年11月1日
发明者金世佳 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方茶谷电子有限公司
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