专利名称：检测三棱镜矢高用基座的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种用于测量高精度三棱镜产品的矢高的装置，具体是一种检测三棱镜矢高用基座。
背景技术：
现有的技术在对三棱镜进行失高测量的过程中存在效率低，测量精度低，对光学产品表面光洁度有不利影响。
实用新型内容本实用新型提供一种检测准确，不破坏棱镜表面光洁度，提高产品的合格率的检测三棱镜矢高用基座。 本实用新型解决技术问题提供如下方案一种检测三棱镜矢高用基座，包括底板，其特征在于所述底板表面固定安装有左、右两块斜块，所述左、右两斜块的侧壁上具有对应三棱镜两侧面的斜面，所述两斜面之间设有三棱镜安放槽。所述左、右两块斜块之间的相邻斜面上贴附有镜面保护膜。所述左、右两块斜块由2个标准45度三棱镜组成。本实用新型三棱镜矢高用基座，由2个标准45度三棱镜和大小适中的平板玻璃一块组成，检测时将被测三棱镜和基座槽擦拭干净，三棱镜轻放槽内，然后用数显千分表测量，就可以直接显示被测棱镜矢高大小。
图I为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
参见附图，一种检测三棱镜矢高用基座，包括底板1，所述底板I表面固定安装有左、右两块斜块2、3，所述左、右两斜块2、3的侧壁上具有对应三棱镜两侧面的斜面4，所述两斜面4之间设有三棱镜安放槽5，所述左、右两块斜块2、3之间的相邻斜面4上贴附有镜面保护膜6，所述左、右两块斜块2、3由2个标准45度三棱镜组成。
权利要求1.一种检测三棱镜矢高用基座，包括底板，其特征在于所述底板表面固定安装有左、右两块斜块，所述左、右两斜块的侧壁上具有对应三棱镜两侧面的斜面，所述两斜面之间设有三棱镜安放槽。
2.根据权利要求I所述检测三棱镜矢高用基座，其特征在于所述左、右两块斜块之间的相邻斜面上贴附有镜面保护膜。
3.根据权利要求I所述检测三棱镜矢高用基座，其特征在于所述左、右两块斜块由2个标准45度三棱镜组成。
专利摘要本实用新型公开了一种检测三棱镜矢高用基座，包括底板，所述底板表面固定安装有左、右两块斜块，所述左、右两斜块的侧壁上具有对应三棱镜两侧面的斜面，所述两斜面之间设有三棱镜安放槽，所述左、右两块斜块之间的相邻斜面上贴附有镜面保护膜。本实用新型检测准确，不破坏棱镜表面光洁度。
文档编号G01B21/02GK202793352SQ20122016396
公开日2013年3月13日 申请日期2012年4月17日 优先权日2012年4月17日
发明者马成 申请人:马鞍山市江南光学有限公司
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