专利名称：测试电致发光片的探针的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电致发光片测试领域，特别是涉及一种测试电致发光片的探针。
背景技术：
电致发光片(EL)是将发光粉置于两个平板电极之间而构成的。其为夹层式结构，上下各有一个电极，上电极为透明导电膜(IT0膜)，光从此面射出，下电极为背电极，其材料主要为银或碳，发光材料主要是硫化锌(ZnS)，当交流电压加在两个电极上时，电场使得(ZnS)粒子产生激发式跃迁，从而在每一个充放循环中发光，当它含有不同的激活剂时，可发出不同颜色的光。EL的亮度随电极间的电压、频率的改变而变化，一般情况下随电压及频率的增加亮度也相应增加。现有的EL测试经常在检测组件时经常出现“黑图”现象，探针经常烧毁需要进行更换，一般每天至少要更换10次，耽误时间，增加测试成本，经观察发现探针工作时电流过大，探针里面的弹簧长时间的动作导致弹簧烧坏，不能正常使用。同时，更换电致发光片的板型后，还需要对测试电致发光片的探针进行调整，费时费力。因此，如何提高测试电致发光片的探针的可靠性，延长此探针的使用寿命，降低电致发光片的测试成本，是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。
实用新型内容本实用新型的目的是提供一种测试电致发光片的探针，该探针可靠性高，使用寿命长，可以有效降低电致发光片的测试成本。为实现上述实用新型目的，本实用新型提供一种测试电致发光片的探针，包括支撑骨架和与所述支撑骨架固定连接的测试电极，所述测试电极包括耐高温柔性绝缘基带，以及与所述基带铰接的导流片，所述基带与所述支撑骨架铰接。优选地，所述测试电极包括两条所述基带，两所述基带的一端均与所述支撑骨架铰接，另一端均与所述导流片铰接。优选地，两所述基带与所述支撑骨架的两个铰接点之间的距离，等于两所述基带与所述导流片的两个铰接点之间的距离。优选地，所述基带具体为弹性层压布。优选地，所述基带与所述支撑骨架通过螺柱连接，所述基带具有容纳所述螺柱的通孔，该通孔的直径大于所述螺柱的外径。优选地，所述导流片与所述基带通过螺柱连接，所述基带具有容纳所述螺柱的通孔，该通孔的直径大于所述螺柱的外径。本实用新型所提供的探针，用于检测电致发光片，该探针包括支撑骨架和与所述支撑骨架固定连接的测试电极，与现有技术不同的是，所述测试电极包括耐高温柔性绝缘基带，以及与所述基带铰接的导流片，所述基带与所述支撑骨架铰接。测试电致发光片时，将两个测试电极分别与电致发光片正、负电极相连，导流片将组件的正、负极导通，实现检测功能。此探针中，实现导流片载体的是具有耐高温性能的绝缘基带，在检测过程中不易损坏，可以延长探针的使用寿命。同时，由于基带是柔性的，在检测不同型号的电致发光片时，基带可以变形，满足不同型号的检测需要。这样，既不会像现有的探针那样在支撑骨架上设置多个正、负极，简化结构，也不需要在检测过程中将不需要使用的正、负压短，更不需要在正、负极中设置弹簧，也就不会出现弹簧损坏的问题，从而避免更换探针，节省检测时间，提高检测效率，降低检测成本。在一种优选的实施方式中，所述测试电极包括两条所述基带，两所述基带的一端均与所述支撑骨架铰接，另一端均与所述导流片铰接。为了增大导流片与电致发光片的接触面积，确保正、负极连接，提高检测准确率和可靠性，导流片需要有一定的长度，在每一个测试电极中设置两条基带，且两条基带均一端与支撑骨架铰接，另一端与导流片铰接，两铰接点之间均具有预定的距离，以提高导流片的长度，从而提高导流效率，提高检测准确率和可靠性。在另一种优选的实施方式中，两所述基带与所述支撑骨架的两个铰接点之间的距离，等于两所述基带与所述导流片的两个铰接点之间的距离。即支撑骨架上的两个铰接点和导流片上的两个铰接点，一起形成平行四边形，在检测过程中，支撑骨架上的两个铰接点保持不动，由于基带是柔性的，另两个铰接点可以移动，从而扩大探针的使用范围，进一步提高探针的适用性。
图1为本实用新型所提供测试电致发光片的探针一种具体实施方式
的结构示意图。
具体实施方式
本实用新型的核心是提供一种测试电致发光片的探针，该探针可靠性高，使用寿命长，可以有效降低电致发光片的测试成本。为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步的详细说明。请参考图1，图1为本实用新型所提供测试电致发光片的探针一种具体实施方式
的结构示意图。本实用新型所提供的探针，用于检测电致发光片，该探针包括支撑骨架I和与支撑骨架I固定连接的测试电极，如图1所示，每一个探针有两个测试电极，分别连接电致发光片的正极和负极。本实用新型仅以一个测试电极为说明对象，说明探针的具体结构。与现有技术不同的是，本实用新型所提供的探针的测试电极包括耐高温柔性绝缘基带2，以及与基带2铰接的导流片3基带2与支撑骨架I铰接。测试电致发光片时，将两个测试电极分别与电致发光片正、负电极相连，导流片3将组件的正、负极导通，实现检测功能。此探针中，实现导流片3载体的是具有耐高温性能的绝缘基带2，在检测过程中不易损坏，可以延长探针的使用寿命。同时，由于基带2是柔性的，在检测不同型号的电致发光片时，基带2可以变形，满足不同型号的检测需要。这样，既不会像现有的探针那样在支撑骨架I上设置多个正、负极，简化结构，也不需要在检测过程中将不需要使用的正、负压短，更不需要在正、负极中设置弹簧，也就不会出现弹簧损坏的问题，从而避免更换探针，节省检测时间，提高检测效率，降低检测成本。在一种具体的实施方式中，测试电极可以包括两条基带2，两基带2的一端均与支撑骨架I铰接，另一端均与导流片3铰接。为了增大导流片3与电致发光片的接触面积，确保正、负极连接，提高检测准确率和可靠性，导流片3需要有一定的长度，在每一个测试电极中设置两条基带2，且两条基带2均一端与支撑骨架I铰接，另一端与导流片3铰接，两铰接点之间均具有预定的距离，以提高导流片3的长度，从而提高导流效率，提高检测准确率和可靠性。进一步地，两基带2与支撑骨架I的两个铰接点之间的距离，等于两基带2与导流片3的两个铰接点之间的距离。即支撑骨架I上的两个铰接点和导流片3上的两个铰接点，一起形成平行四边形，在检测过程中，支撑骨架I上的两个铰接点保持不动，由于基带2是柔性的，另两个铰接点可以移动，从而扩大探针的使用范围，进一步提高探针的适用性。其中，上述的探针中基带2具体可以为弹性层压布。具有弹性的层压布可以在测试过程中支持一定的形变，从而进一步扩大探针的使用范围，提高探针的适用性。同时，基带2与支撑骨架I可以通过螺柱4连接，导流片3也可以与基带2通过螺柱4连接，基带2具有容纳螺柱4的通孔，该通孔的直径大于螺柱4的外径。这样，基带2可以绕螺柱4旋转，导流片3也可以绕螺柱4旋转，检测过程中探针可检测到的距离更长，使用范围更广，更便捷高效。而且，通过螺柱4连接简单方便，易于实现，可以降低探针的成本。以上对本实用新型所提供的测试电致发光片的探针进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以对本实用新型进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本实用新型权利要求的保护范围内。
权利要求1.一种测试电致发光片的探针，包括支撑骨架和与所述支撑骨架固定连接的测试电极，其特征在于，所述测试电极包括耐高温柔性绝缘基带，以及与所述基带铰接的导流片， 所述基带与所述支撑骨架铰接。
2.根据权利要求1所述的测试电致发光片的探针，其特征在于，所述测试电极包括两条所述基带，两所述基带的一端均与所述支撑骨架铰接，另一端均与所述导流片铰接。
3.根据权利要求1所述的测试电致发光片的探针，其特征在于，两所述基带与所述支撑骨架的两个铰接点之间的距离，等于两所述基带与所述导流片的两个铰接点之间的距离。
4.根据权利要求1至3任一项所述的测试电致发光片的探针，其特征在于，所述基带具体为弹性层压布。
5.根据权利要求1至3任一项所述的测试电致发光片的探针，其特征在于，所述基带与所述支撑骨架通过螺柱连接，所述基带具有容纳所述螺柱的通孔，该通孔的直径大于所述螺柱的外径。
6.根据权利要求1至3任一项所述的测试电致发光片的探针，其特征在于，所述导流片与所述基带通过螺柱连接，所述基带具有容纳所述螺柱的通孔，该通孔的直径大于所述螺柱的外径。
专利摘要本实用新型公开了一种测试电致发光片的探针，包括支撑骨架和与所述支撑骨架固定连接的测试电极，其特征在于，所述测试电极包括耐高温柔性绝缘基带，以及与所述基带铰接的导流片，所述基带与所述支撑骨架铰接。此探针中，实现导流片载体的是具有耐高温性能的绝缘基带，在检测过程中不易损坏，可以延长探针的使用寿命。同时，由于基带是柔性的，在检测不同型号的电致发光片时，基带可以变形，满足不同型号的检测需要。从而避免更换探针，节省检测时间，提高检测效率，降低检测成本。
文档编号G01R1/067GK202837353SQ201220546459
公开日2013年3月27日 申请日期2012年10月23日 优先权日2012年10月23日
发明者宋明亮, 张佳, 张宏彬, 苏哲 申请人:蠡县英利新能源有限公司
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