专利名称：多芯电缆综合测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电缆测试装置，尤其涉及一种能够测试电缆短路、断路、错接、绝缘强度的装置。
背景技术：
目前，对电缆进行测试多采用万用表。把万用表的两支表笔接在电缆两端，然后进行测试。当对多芯电缆进行测试时，必须对每一根电缆芯逐一进行测试。采用这种方法需要投入大量人力、物力，而且因人为因素而产生错误的机率很大。如果要作高压实验还必须借助于其他仪器。使用不方便，影响工作效率。
实用新型内容针对上述不足，本实用新型提供一种使用方便、能够迅速准确测试大量电缆芯是否开路或短路的多芯电缆综合测试装置。
为达到上述目的，本实用新型采用以下技术方案本实用新型多芯电缆综合测试装置，包括多芯电缆测试端，该多芯电缆测试端与多芯电缆扫描、选择线路连接，该多芯电缆扫描、选择线路与探测器电路串联，该探测器电路与CPU相连。
在本实用新型多芯电缆综合测试装置中，所述探测器电路包括开路探测器电路、短路探测器电路、直流高压探测器电路、交流高压探测器电路。
在本实用新型多芯电缆综合测试装置中，所述开路探测器电路包括两个串联的分压电阻、该两个串联的分压电阻之间接有恒流源，所述两个串联的分压电阻的一端与所述多芯电缆扫描、选择线路连接，另一端与两级串联的比较放大器的一端串联，该两级串联的比较放大器的另一端与光电耦合器串联，该光电耦合器与所述CPU相连。
在本实用新型多芯电缆综合测试装置中，所述短路探测器电路包括两个并联的分流电阻，该两个并联的分流电阻一端接比较放大器的反向输入端，另一端接电源，所述比较放大器输出端接所述CPU。
在本实用新型多芯电缆综合测试装置中，所述直流高压探测器电路包括两个串联的分压电阻、该两个串联的分压电阻的接点与地之间接有五个串联的二极管，每个二极管都并联有电阻，所述两个串联的分压电阻的一端与所述多芯电缆扫描、选择线路连接，另一端与两级串联的比较放大器的一端串联，该两级串联的比较放大器的另一端与光电耦合器串联，该光电耦合器与所述CPU相连。
在本实用新型多芯电缆综合测试装置中，所述交流高压探测器电路包括一射随器，该射随器的输出接整流电路的输入端，该整流电路的输出端与比较放大器的一端串联，该比较放大器的另一端与所述CPU相连。
在本实用新型多芯电缆综合测试装置中，所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯涌诽讲馄鞯缏罚琄2n-1一端接测试输出端，另一端接地。
在本实用新型多芯电缆综合测试装置中，所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯拥兀诔１帐苯佣搪诽讲馄鞯缏罚琄2n-1一端接测试输出端，另一端接地。
在本实用新型多芯电缆综合测试装置中，所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯又绷鞲哐固讲馄鞯缏罚诔１帐苯又绷鞲哐梗琄2n-1一端接测试输出端，另一端悬空。
在本实用新型多芯电缆综合测试装置中，所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯咏涣鞲哐固讲馄鞯缏罚诔１帐苯咏涣鞲哐梗琄2n-1一端接测试输出端，另一端悬空。
在本实用新型多芯电缆综合测试装置中，所述CPU连接有显示器、打印机。
本实用新型具有以下有益效果本实用新型多芯电缆综合测试装置能够同时测试100～1000条线路。所述探测器电路包括开路探测器电路、短路探测器电路、直流高压探测器电路、交流高压探测器电路。当测试短路时，短路探测器工作，仪器将被测的N条线路中的一条线路提出，再分别与剩下的(N-1)条线路比较，看是否有短路现象。以此类推，直到线路被完全测试。同理，当交、直流耐压测试时，交、直流高压探测器工作，以上三种功能均可只接被测线路的一端(也可两端都接)。当测试开路时，开路探测器工作(此时必须将被测电缆的两端接入仪器)，恒流源接入被测电缆，通过测电势差降落来测试电缆两端的电阻，从而判定电缆是否开路。该系统同时具备串行通信和打印测试结果的功能，因此，可以通过计算机直接控制系统工作。
图1为本实用新型多芯电缆综合测试装置的电路方框图。
图2为多芯电缆扫描、选择线路的具体电路图。
图3为开路探测器电路图。
图4为短路探测器电路图。
图5为直流高压探测器电路图。
图6为交流高压探测器电路图。
具体实施例参照附图1，本实用新型多芯电缆综合测试装置在多芯电缆测试端连接有多芯电缆，该多芯电缆测试端与多芯电缆扫描、选择线路连接，该多芯电缆扫描、选择线路与探测器电路串联，该探测器电路与CPU相连。探测器电路包括开路探测器电路、短路探测器电路、直流高压探测器电路、交流高压探测器电路。CPU发送控制信号给多芯电缆扫描、选择线路。
参照附图2、3所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯涌诽讲馄鞯缏罚琄2n-1一端接测试输出端，另一端接地。所述开路探测器电路包括两个串联的分压电阻、该两个串联的分压电阻之间接有恒流源，所述两个串联的分压电阻的一端与所述多芯电缆扫描、选择线路连接，另一端与两级串联的比较放大器的一端串联，该两级串联的比较放大器的另一端与光电耦合器串联，该光电耦合器与所述CPU相连。
开路探测器工作，GRD接地，CONT与开路探测器连接，CPU发送控制信号给多芯电缆扫描、选择线路。CPU发出第n(1＜＝n＜＝N)条控制命令，第n组继电器闭合，本实用新型多芯电缆综合测试装置将被测的N条线路中的第n条线路的两端分别与CONT和地相连接，恒流源接入被测电缆，调整N2的放大系数，通过测试被测电缆对地的电压来测试电缆两端的电阻，从而判定电缆是否开路。
参照附图2、4所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯拥兀诔１帐苯佣搪诽讲馄鞯缏罚琄2n-1一端接测试输出端，另一端接地。所述短路探测器电路包括两个并联的分流电阻，该两个并联的分流电阻一端接比较放大器的反向输入端，另一端接电源，所述比较放大器输出端接所述CPU。
短路探测器工作，GRD和CONT接地，CPU发送控制信号给多芯电缆扫描、选择线路。CPU发出第n(1＜＝n＜＝N)条控制命令，第n组继电器闭合，本实用新型多芯电缆综合测试装置将被测的N条线路中的第n条线路提出，再分别与剩下的(N-1)条线路比较，若有短路现象，则SHORT接地，返回低电平经N1比较放大送回CPU判定；若无短路现象，则SHORT返回高电平经N1比较放大送回CPU判定。
参照附图2、5所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯又绷鞲哐固讲馄鞯缏罚诔１帐苯又绷鞲哐梗琄2n-1一端接测试输出端，另一端悬空。所述直流高压探测器电路包括两个串联的分压电阻、该两个串联的分压电阻的接点与地之间接有五个串联的二极管，每个二极管都并联有电阻，所述两个串联的分压电阻的一端与所述多芯电缆扫描、选择线路连接，另一端与两级串联的比较放大器的一端串联，该两级串联的比较放大器的另一端与光电耦合器串联，该光电耦合器与所述CPU相连。
直流高压探测器工作，GRD悬空，SHORT为直流高压输入线，将直流高压加到被测试的N条线路上，CONT作为返回信号线与直流高压探测器相连。CPU发出第n(1＜＝n＜＝N)条控制命令，第n组继电器闭合，本实用新型多芯电缆综合测试装置将被测的N条线路中的第n条线路与直流高压探测器相连，同时将高压下第n条线路与剩下的(N-1)条线路间绝缘性能最差的信号通过CONT返回直流高压探测器处理，并报CPU判定。
参照附图2、6所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯咏涣鞲哐固讲馄鞯缏罚诔１帐苯咏涣鞲哐梗琄2n-1一端接测试输出端，另一端悬空。所述交流高压探测器电路包括一整流电路，该整流电路接射随器的输入端，该射随器的输出端与两级串联的比较放大器的一端串联，该两级串联的比较放大器的另一端与所述CPU相连。
交流高压探测器工作，GRD悬空，SHORT为交流高压输入线，将交流高压加到被测试的N条线路上，CONT作为返回信号线与交流高压探测器相连。CPU发出第n(1＜＝n＜＝N)条控制命令，第n组继电器闭合，本实用新型多芯电缆综合测试装置将被测的N条线路中的第n条线路与交流高压探测器相连，同时将高压下第n条线路与剩下的(N-1)条线路间绝缘性能最差的信号通过CONT返回交流高压探测器处理，并报CPU判定。
权利要求1.一种多芯电缆综合测试装置，其特征在于包括多芯电缆测试端，该多芯电缆测试端与多芯电缆扫描、选择线路连接，该多芯电缆扫描、选择线路与探测器电路串联，该探测器电路与CPU相连。
2.根据权利要求1所述的多芯电缆综合测试装置，其特征在于所述探测器电路包括开路探测器电路、短路探测器电路、直流高压探测器电路、交流高压探测器电路。
3.根据权利要求2所述的多芯电缆综合测试装置，其特征在于所述开路探测器电路包括两个串联的分压电阻、该两个串联的分压电阻之间接有恒流源，所述两个串联的分压电阻的一端与所述多芯电缆扫描、选择线路连接，另一端与两级串联的比较放大器的一端串联，该两级串联的比较放大器的另一端与光电耦合器串联，该光电耦合器与所述CPU相连。
4.根据权利要求2所述的多芯电缆综合测试装置，其特征在于所述短路探测器电路包括两个并联的分流电阻，该两个并联的分流电阻一端接比较放大器的反向输入端，另一端接电源，所述比较放大器输出端接所述CPU。
5.根据权利要求2所述的多芯电缆综合测试装置，其特征在于所述直流高压探测器电路包括两个串联的分压电阻、该两个串联的分压电阻的接点与地之间接有五个串联的二极管，每个二极管都并联有电阻，所述两个串联的分压电阻的一端与所述多芯电缆扫描、选择线路连接，另一端与两级串联的比较放大器的一端串联，该两级串联的比较放大器的另一端与光电耦合器串联，该光电耦合器与所述CPU相连。
6.根据权利要求2所述的多芯电缆综合测试装置，其特征在于所述交流高压探测器电路包括一射随器，该射随器的输出接整流电路的输入端，该整流电路的输出端与比较放大器的一端串联，该比较放大器的另一端与所述CPU相连。
7.根据权利要求1或3所述的多芯电缆综合测试装置，其特征在于所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯涌诽讲馄鞯缏罚琄2n-1一端接测试输出端，另一端接地。
8.根据权利要求1或4所述的多芯电缆综合测试装置，其特征在于所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯拥兀诔１帐苯佣搪诽讲馄鞯缏罚琄2n-1一端接测试输出端，另一端接地。
9.根据权利要求1或5所述的多芯电缆综合测试装置，其特征在于所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯又绷鞲哐固讲馄鞯缏罚诔１帐苯又绷鞲哐梗琄2n-1一端接测试输出端，另一端悬空。
10.根据权利要求1或6所述的多芯电缆综合测试装置，其特征在于所述多芯电缆扫描、选择线路包括若干并联的相同的单个选择测试电路，该单个选择测试电路包括两个并联的继电器，所述继电器的线圈并联后一端接所述CPU，另一端接电源，所述继电器的开关K2n一端接测试输入端，另一端在�？苯咏涣鞲哐固讲馄鞯缏罚诔１帐苯咏涣鞲哐梗琄2n-1一端接测试输出端，另一端悬空。
11.根据权利要求1所述的多芯电缆综合测试装置，其特征在于所述CPU连接有显示器、打印机。
专利摘要本实用新型公开了一种多芯电缆综合测试装置，解决了现有测试装置使用不方便，工作效率差的问题。包括多芯电缆测试端，该多芯电缆测试端与多芯电缆扫描、选择线路连接，该多芯电缆扫描、选择线路与探测器电路串联，该探测器电路与CPU相连。所述探测器电路包括开路探测器电路、短路探测器电路、直流高压探测器电路、交流高压探测器电路。本实用新型多芯电缆综合测试装置能够同时测试若干条线路，提高了工作效率。
文档编号G01R31/08GK2709995SQ20042007757
公开日2005年7月13日 申请日期2004年7月12日 优先权日2004年7月12日
发明者林星山, 王槐 申请人:林星山, 王槐
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