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专利名称：激光测距机综合性能检测设备的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种综合性能检测设备，具体涉及一种激光测距机综合性能检测设备。
背景技术：
激光测距机，是利用激光对目标的距离进行准确测定的仪器。激光测距机在工作时向目标射出一束很细的激光，由光电元件接收目标反射的激光束，计时器测定激光束从发射到接收的时间，计算出从观测者到目标的距离。激光测距机重量轻、体积小、操作简单速度快而准确，其误差仅为其它光学测距仪的五分之一到数百分之一。激光测距机的综合性能包括测距精度、测距能力、测距逻辑和单脉冲能量等，传统的激光测距机的综合性能检测必须到室外对目标靶进行检测，并且受到天气条件的限制，使得技术普查和日常维护受到很大的制约。

实用新型内容发明目的为了克服现有技术中存在的不足，本实用新型提供一种便于对不同型号的激光测距机的综合性能进行数字化检测，并且可以大大提高检测效率和测试精度的激光测距机综合性能检测设备。技术方案为实现上述目的，本实用新型的激光测距机综合性能检测设备，包括主控装置、发射接收装置、被测激光测距机、三维调节装置，所述主控装置与发射接收装置连接，发射接收装置与被测激光测距机连接，三维调节装置与发射接收装置连接。所述三维调节装置包括用于采集数据的内设标靶和用于记录、处理数据的微处理器，所述微处理器与内设标靶连接。有益效果本实用新型的激光测距机综合性能检测设备，能对不同型号的激光测距机完成测距精度、测距能力、测距逻辑、单脉冲能量等的数字化检测，大大提高检测效率和测试精度。

图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作更进一步的说明。如图1所示，本实用新型的激光测距机综合性能检测设备，包括主控装置1、发射接收装置2、被测激光测距机3和三维调节装置4，主控装置I与发射接收装置2连接，发射接收装置2与被测激光测距机3连接，三维调节装置4与发射接收装置2连接。本实施例中，三维调节装置4包括用于采集数据的内设标靶和用于记录、处理数据的微处理器，微处理器与内设标靶连接。内设标靶构成三维调节装置4内的控制点，微处理器对处理采样的数据进行评测、平差、校对。发射接收装置2的数据通过这个三维调节装置4直接对数据进行采样评估，平差，调节，不需要外设标靶等，再将数据反馈到主控装置I内。本实用新型的激光测距机综合性能检测设备在使用时，打开主控装置1，通过发射接受装置2获取的数据(测距精度、测距能力、测距逻辑、单脉冲能量)，转至三维调节装置4进行评测、评差、调节，并对被测激光测距机3进行调控，这样使得一则检修效率大幅度提高，二则通过三维调节装置4和主控装置I的调节后，检测精度也会大大提高。本本实用新型的激光测距机综合性能检测设备，能对不同型号的激光测距机完成测距精度、测距能力、测距逻辑、单脉冲能量等的数字化检测，大大提高检测效率和测试精度。以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种激光测距机综合性能检测设备，其特征在于包括主控装置(I)、发射接收装置(2)、被测激光测距机(3)、三维调节装置(4)，所述主控装置⑴与发射接收装置(2)连接， 发射接收装置(2)与被测激光测距机(3)连接，三维调节装置(4)与发射接收装置(2)连接。
2.根据权利要求1所述的激光测距机综合性能检测设备，其特征在于所述三维调节装置(4)包括用于采集数据的内设标靶和用于记录、处理数据的微处理器，所述微处理器与内设标靶连接。
专利摘要本实用新型公开了一种激光测距机综合性能检测设备，包括主控装置、发射接收装置、被测激光测距机和三维调节装置，所述主控装置、被测激光测距机连接和三维调节装置均与发射接收装置连接。本实用新型的激光测距机综合性能检测设备，能对不同型号的激光测距机完成测距精度、测距能力、测距逻辑、单脉冲能量等的数字化检测，大大提高检测效率和测试精度。
文档编号G01S11/12GK202854333SQ20122054172
公开日2013年4月3日 申请日期2012年10月22日 优先权日2012年10月22日
发明者许淼, 包腾飞, 宋鹏, 黄文彬 申请人:河海大学