专利名称：一种贴片式元器件抗弯性能测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测试装置，特别是涉及一种贴片式元器件抗弯性能测试装置。
背景技术：
对抗弯强度的考核是半导体元器件或整机性能考核的重要部分。抗弯强度是指材 料抵抗弯曲不断裂的能力，又称挠曲强度，即在试件的两支点之间施加载荷，至试件破坏时 的单位面积载荷值。一般采用三点抗弯测试或四点测试方法评测。其中四点测试要两个加 载力，比较复杂；三点测试最常用。其值与承受的最大压力成正比，常见检测装置，通过一夹 具固定待测物品两端，然后用推拉计从待测物品的中部顶弯，直至听到有轻微的断裂声时 停止推拉计前进，从推拉计上可得到一个读数，读数越大则抗弯能力越强。此检测装置缺点 是，一、对测试的环境要求高，因需要靠人耳朵听到断裂声来判断抗弯极限，又因元器件尺 寸很�。⑸狭咽鄙艉苄∩踔撩挥校蛘咄馕Щ肪赤性邮本透俏薹ㄌ蕉狭焉贾� 很多时候无法做出判断；二、误差大，因在人工使用推拉计顶弯待测品时，施加的顶力的很 难保证在待测物品的中间，且施加力的方向很难保持垂直，而且每次测试顶的部位和方向 都不同，故导致推拉计读数有较大误差。
发明内容为解决现有技术中存在的问题，本申请提供一种对环境要求低且可准确测量贴片 式元器件抗弯性能测试装置，其包括受测试件夹具，还包括固定于所述受测试件夹具上的 高度计，以及由两根立式丝杆组成的支架、观测受测试件的表面变化的显微镜、安装在所述 支架上用于使所述受测试件夹具在所述支架的立式丝杆上下移动的调节旋钮和用于顶住 所述受测试件的顶块，所述显微镜、受测试件夹具和顶块自上而下依次安装在所述支架上， 所述高度计可根据受测试件夹具的上下移动情况显示出受测试件的形变量。优选的，所述两根立式丝杆中的一根丝杆的螺纹间距大，对应设置有粗调旋钮以 实现粗调功能；另一根丝杆的螺纹间距小，对应设置有微调旋钮以实现微调功能。进一步优选的，所述受测试件夹具呈槽形。再优选的，所述顶块正对所述受测试件夹具的中部。再优选的，还包括设置在所述受测试件夹具上的受测试件载板，用于承载和焊接 受测试件，并在测试时通过力的传递折弯待测产品。再优选的，所述受测试件载板是PCB板。再优选的，还包括设置在所述支架上用于照亮受测试件夹具的LED灯。再优选的，所述LED灯是以可移动的方式安装在所述支架上，呈针型。本申请技术方案的有益效果是由于采用了高度计，将力转换为高度从而更加直观；通过支架、顶块和调节旋钮的 操作，使得每次测试条件(比如施加力的部位、方向等)基本一致，从而大大减小了误差；通 过显微镜观察，将听觉判断改为视觉判断，可以避免车间噪音的干扰。[0013]通过调节旋钮具有粗调和微调功能，既可以在测试开始阶段开始弯曲受测试件， 又可以在最后阶段精细控制，从而取得更加准确的测试结果。通过使用槽形受测试件夹具，可以避免夹具对受测试件形变的影响，保证测试的 准确性。顶块正对所述受测试件夹具的中部，这样，测试时受测试件最容易产生形变，可以 保证测量得到的数据更加可靠，不至于偏大。通过使用受测试件载板，可以测量尺寸更小、不便直接测量的受测试件。通过设置 LED灯可以近距离照亮受测试件的表面，以便显微镜里清晰的看出测试过程中器件的形变， 从而提高测试的准确性。采用可移动的方式安装的针型的LED灯方便用于测试不同尺寸的受测试件。
图1是本实用新型一个具体实施方式
的测试装置结构组成示意图；图2是图1的测试装置中模拟顶块顶弯受测试件的示意图(图中仅画出高度计、 夹具、顶块及受测试件)。
具体实施方式
下面结合具体的实施方式并对照附图对本实用新型做进一步详细说明。实施例一如图1所示的贴片式元器件抗弯性能测试装置，它是由被测试产品夹具1、两个相 对设置的丝杆组成的支架2、显微镜3、高度计4、可微调的旋钮5和顶块6组成；将高度计 4、显微镜3和夹具1装配在两丝杆上，并能随所述丝杆上下移动，顶块6固定安装在所述丝 杆上并位于所述夹具1的中心附件，该顶块6固定不动，即不随所述夹具1移动。通过旋钮 5使夹具1随高度计4沿丝杆逐渐下降，此时固定在丝杆上的顶块6的上端部上顶被测试产 品7的中间部位，夹具1下压产品的边缘部位从而折弯夹具1中的被测试产品7，通过显微 镜3观看产品的机械性能的变化，当产品开始出现裂纹时，夹具1停止下降，此时高度计4 的读数表示的就是折弯时的弧高值，该读数越大表示被测试产品7的抗弯性能越强。如图2 所示，高度计4与夹具1和旋钮5是一体的，而夹具1两端的槽口是水平的，只需旋动旋钮 5，高度计4与夹具1和旋钮5整体即沿着丝杆上/下移动。使夹具槽口与丝杆上的固定顶 块6处于一个水平面上，从夹具槽口水平插入受测试件，后将高度计4数字复位归零，缓慢 下旋旋钮5，则高度计4每下降lum，夹具1拉动受测试件两端下降lum，而中间固定顶块6 不动，其弯曲高度就是lum，继续调节旋钮5，直至受测试件出现裂纹时停止。本装置采用显微镜3来实时观察元器件抗弯时表面的变化状况和出现裂纹的时 刻，解决了以前靠人耳听到元器件断裂声来界定其抗弯强度的缺点，因为声音传播的速率 要比光速慢得多，因此器件断裂后要经过一定延时，人才能听到断裂声。不能及时停止对器 件施加的压力，导致实测结果的不正确。另外，环境噪音、测试人听力、注意力等都会造成相 当大的判断误差，导致测试数据的误差很大。采用显微镜3观察折弯时元器件表面在刚出 现裂纹时，人即可立即做出反应，停止微调旋钮5的旋动，则下拉的高度就能够较准确的确 定了，并显示在高度计4上。[0024]如图1所示，本装置的使用方法是先将被测试产品7放置在抗弯测试装置的夹具 1上，打开LED灯，使被测试产品7正对着显微镜3 ；再微调旋钮5使高度计4和夹具1整体 沿着丝杆下降从而折弯被测试产品7，同时通过显微镜3观察产品折弯的状况；当产品7表 面出现裂纹时，停止旋动微调旋钮5并从高度计4上读数。该装置操作简单方便，可较为准 确的测量出半导体器件的抗弯强度，性价比高。实施例二本实施例与实施例一的区别之一是，本实施例中夹具1采用槽型结构，从而有足 够的空间容纳顶块6，避免对被测试产品7形变造成任何影响。同时，还设置有节能环保型 的针型LED灯，该LED灯以可移动方式安装在支架2或夹具1上，其可随夹具1 一起上下移 动(当然，也可以手动移动位置，以适应不同形状、尺寸的收测试件。)，从而能够始终近距 离照亮待测元器件的表面，以便显微镜3里清晰的看出测试过程中器件的形变。另一个区 别是，还设有用于承载被测试产品7的PCB板，将PCB板两端镶嵌在槽型的夹具1中(当然， 也可以采用带螺丝孔小板块，通过螺丝将PCB两端固定在夹具1上等方式。)，从而使固定 在中部的元器件位置正对丝杆上的固定顶块上。当测试件很小而无法直接用夹具夹持时， 采用该实施例的方式就非常有优势。以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能 认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术 人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视 为属于本实用新型的保护范围。
权利要求一种贴片式元器件抗弯性能测试装置，包括受测试件夹具，其特征在于还包括固定于所述受测试件夹具上的高度计，以及由两根立式丝杆组成的支架、观测受测试件的表面变化的显微镜、安装在所述支架上用于使所述受测试件夹具在所述支架的立式丝杆上下移动的调节旋钮和用于顶住所述受测试件的顶块，所述显微镜、受测试件夹具和顶块自上而下依次安装在所述支架上，所述高度计可根据受测试件夹具的上下移动情况显示出受测试件的形变量。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述两根立式丝杆中的一根丝杆的螺 纹间距大，另一根丝杆的螺纹间距小。
3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于所述受测试件夹具呈槽形。
4.如权利要求3所述的测试装置，其特征在于所述顶块正对所述受测试件夹具的中部。
5.如权利要求1-4任一所述的测试装置，其特征在于还包括设置在所述受测试件夹 具上的受测试件载板。
6.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于所述受测试件载板是PCB板。
7.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于还包括设置在所述支架上用于照亮受 测试件夹具的LED灯。
8.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于还包括设置在所述支架上用于照亮受 测试件夹具的LED灯。
9.如权利要求8所述的测试装置，其特征在于所述LED灯是以可移动的方式安装在 所述支架上，呈针型。专利摘要本实用新型涉及一种贴片式元器件抗弯性能测试装置，包括受测试件夹具，其特征在于还包括固定于所述受测试件夹具上的高度计，以及由两根立式丝杆组成的支架、观测受测试件的表面变化的显微镜、安装在所述支架上用于使所述受测试件夹具在所述支架的立式丝杆上下移动的调节旋钮和用于顶住所述受测试件的顶块，所述显微镜、受测试件夹具和顶块自上而下依次安装在所述支架上，所述高度计可根据受测试件夹具的上下移动情况显示出受测试件的形变量。本实用新型观察直观；能够避免噪音的干扰并大大减小误差。
文档编号G01N3/20GK201653820SQ20102005650
公开日2010年11月24日 申请日期2010年1月8日 优先权日2010年1月8日
发明者莫小玲, 邵庆云, 黄德林 申请人:深圳顺络电子股份有限公司
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