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专利名称：一种太阳能晶硅电池片衰减测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种太阳能电池的生产设备，尤其是一种太阳能电池片衰减检测装置，适用于硅片质量的检验。
背景技术：
全球太阳能背景，当电力、煤炭、石油等不可再生能源频频告急，能源问题日益成为制约国际社会经济发展的瓶颈时，越来越多的国家开始实行"阳光计划"，开发太阳能资源，寻求经济发展的新动力。太阳能作为一种可再生的新能源，越来越引起人们的关注。 预计到2030年，可再生能源在总能源结构中将占到30%以上，而太阳能光伏发电在世界总电力供应中的占比也将达到10%以上；到2040年，可再生能源将占总能耗的50%以上，太阳能光伏发电将占总电力的20%以上；到21世纪末，可再生能源在能源结构中将占到80% 以上，太阳能发电将占到60%以上。这些数字足以显示出太阳能光伏产业的发展前景及其在能源领域重要的战略地位。由此可以看出，太阳能电池市场前景广阔。而生产太阳能产品最关键的硅片，硅片的质量直接决定了太阳能电池片的效率。目前市场上的太阳能电池片衰减装置虽然设计原理和结构都符合标准规定，但是作为太阳能晶硅电池片的专用检测依据具有以下缺点(1)传统电池片光衰减采用自然光， 但自然光光源不稳定、不均勻，对测出的电池片衰减值有很大的影响；( 传统自然光衰减由于在露天环境下，电池片表面易粘上杂质，使电池片无法正常光衰减；C3)传统自然光衰减常常受到天气等外界因素的干扰，光衰减十分被动，且操作繁琐，易造成电池片的缺角、 隐裂ο

发明内容
本发明要解决的技术问题是提出一种操作简单，造价成本低，光衰减值准确，并且不易损伤太阳能晶硅电池片的检测装置。本发明所采用的技术方案为一种太阳能晶硅电池片衰减测试装置，包括衰减箱， 所述的衰减箱内分有上下两个衰减区域，每个衰减区域内都设置有多个光源灯，光源灯的下方放置有太阳能晶硅电池片，光源灯的上方为排线层，所述的衰减箱的箱壁上设置有风扇。进一步的说，为了能够完全模仿自然光的光波，使电池片衰减值更加准确，本发明所述的光源灯为发射的光波中含有紫外线、能够模拟太阳光光源的卤素灯。更进一步的说，为了能够方便快捷的使用、收纳光源灯，本发明所述的衰减箱的底部设置有放置光源灯的存储层。本发明是利用太阳电池光衰减原理，模拟太阳光灯光源在衰减箱内对电池片进行光衰减，测试电池片在光衰过程中丢失的效率值来确定硅片原材料质量。所述的衰减箱全体采用PP材料制成，PP材料耐高温，即使长时间被光照也不会变形弯曲。本发明的有益效果是，解决了背景技术中存在的缺陷，利用太阳电池光衰减原理，模拟太阳光灯光源在衰减箱内对电池片进行光衰减，测试电池片在光衰过程中丢失的效率值来确定硅片原材料质量，以此标准来评审硅片质量的依据之一，保证电池片效率的稳定。


下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。图1是本发明的优选实施例的结构示意图；图中1、衰减箱；2、光源灯；3、电池片；4、排线层；5、风扇；6、存储层。
具体实施例方式现在结合附图和优选实施例对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。如图1所示的一种太阳能晶硅电池片衰减测试装置，包括衰减箱1，所述的衰减箱内分有上下两个衰减区域，每个衰减区域内都设置有多个光源灯2，光源灯2的下方放置有太阳能晶硅电池片3，光源灯2的上方为排线层4，所述的衰减箱1的箱壁上设置有风扇5。 所述的光源灯2为发射的光波中含有紫外线、能够模拟太阳光光源的卤素灯。衰减箱1的底部设置有放置光源灯的存储层6。本发明的实际操作过程也相当的简单，将光源灯2先打开，使光源灯2释放稳定的光波，在将已测过效率的电池片3平铺放入衰减箱1内，等衰减稳定时拿出，等电池片3冷却后再次测试效率，将前后两组数据对比，就可测出电池片的衰减值。以上说明书中描述的只是本发明的具体实施方式
，各种举例说明不对本发明的实质内容构成限制，所属技术领域的普通技术人员在阅读了说明书后可以对以前所述的具体实施方式
做修改或变形，而不背离发明的实质和范围。
权利要求
1.一种太阳能晶硅电池片衰减测试装置，其特征在于包括衰减箱(1)，所述的衰减箱(1)内分有上下两个衰减区域，每个衰减区域内都设置有多个光源灯0)，光源灯O)的下方放置有太阳能晶硅电池片(3)，光源灯O)的上方为排线层G)，所述的衰减箱(1)的箱壁上设置有风(5)。
2.如权利要求1所述的太阳能晶硅电池片衰减测试装置，其特征在于所述的光源灯(2)为模拟太阳光光源的卤素灯。
3.如权利要求1所述的太阳能晶硅电池片衰减测试装置，其特征在于所述的衰减箱 (1)的底部设置有放置光源灯的存储层(6)。
全文摘要
本发明涉及一种太阳能晶硅电池片衰减测试装置，所述的太阳能晶硅电池片衰减测试装置为利用太阳电池光衰减原理，模拟太阳光灯光源在衰减箱内对电池片进行光衰减，测试电池片在光衰过程中丢失的效率值来确定硅片原材料质量，以此标准来评审硅片质量的依据之一，保证电池片效率的稳定。本发明结构简单，操作方便，大大地提高了对硅片质量的稳定性。
文档编号G01R31/26GK102478621SQ20101056658
公开日2012年5月30日 申请日期2010年11月30日 优先权日2010年11月30日
发明者何文超, 童彩霞, 陈剑锋 申请人:江苏顺风光电科技有限公司