专利名称：具有改进的操作点调整的、检测运转纱线中的缺陷的方法
技术领域：
如权利要求I中的前序部分所述，本发明涉及一种使用几何光学传感器单元非接触检测运转纱线(running thread)中的缺陷的方法。所述缺陷在这里被理解为具体指突出的丝线或丝线断裂，但也指运转纱线夹带的颗粒，例如棉绒片或污物颗粒。
背景技术：
为实施这样的方法，众所周知，在纱线生产的技术部门，丝线断裂传感器被用于保证质量。在此范畴内已经推出两款产品。一个是出自Enka Tecnica公司的所谓的“Fraytec系统”，另一个是出自Fibrevision公司的“FibreTQS系统”。这两个系统以不同的方式检测丝线断裂及其他瑕疵。“Fraytec系统”通过设置在不同位置的光栅(light barrier)检测丝线断裂，而“FibreTQS系统”利用遮挡光学器件通过噪声信号分析来测量丝线断裂。在 EP1288612 A2中对这两个系统都有描述。Fibrevision公司在2008年将这两种技术予以组合，提出一种双采集系统并被命名为“FraytecTQS”。在所述系统中，通过遮挡光学器件既监测来自丝线光栅监测的触发信号又监测纱线的结构。然而，这仍然涉及到两种不同的测量方法，虽然它们被组合在一个传感器外壳内，却仍然具有各自独立的评估技术。因此，例如，触发光栅用于检测非常短或细的丝线断裂，而遮挡光学器件用于检测更大的缺陷。该组合系统具有至少三个光栅，其中，称为遮挡光栅的光栅形成遮挡光学器件，运转纱线穿过该遮挡光学器件，并且该遮挡光学器件检测运转纱线的结构，而在所述三个光栅中，至少两个另外的触发光栅被设置为与纱线相距不同的距离和/或被设置在纱线的不同侧，使得只有运转纱线的缺陷才引起所述触发光栅的遮挡。因此在无缺陷的生产过程中触发光栅不会被纱线遮挡。从DE10353892A1已知晓一种用于测量对象的测量装置，其使用多个光栅来运行。与本发明的方法相反，该测量装置中始终是多个光栅被遮挡。进行这样的校准，即，通过逐步增加基准光栅上的传送功率来设定接收标称值(reception nominal value),然后,针对该传送功率，为所有其他的光栅确定校正系数，以便让其他光栅的实际值达到所期望的标称值。由于污物进入几何光学传感器单元，光栅输出会出现失真信号，这对期望的对运转纱线中的缺陷的检测造成损害。为了对这种污物累积进行补偿，可以一定的时间间隔或者甚至是持续地再次调整或跟踪触发光栅的操作点。但是，针对遮挡光栅而言，由于测量对象5引起的遮挡也会被补偿，因而这样的跟踪不能实现。
发明内容
本发明解决的问题是，提供一种对开头提到的类型的改进方法，无须费力就能很容易地实施该方法，并提供在遮挡光栅上补偿污物累积的改进的可能性。根据本发明，这个问题通过权利要求I的方法得以解决。
本发明的方法中至关重要的是，在触发光栅上发生的操作点漂移被应用到遮挡光栅，使得遮挡光栅的操作点基于与触发光栅的操作点漂移的预定依赖关系而被调整或跟
足示O以这种方式，即使是对遮挡光栅也能自动进行污物补偿。为此，由触发光栅预先确定的操作点漂移(该操作点漂移用于补偿触发光栅上的污物累积)被用于补偿同样出现在遮挡光栅的区域中的相似或相同的污物累积。因此，这是由触发光栅主导的污物补偿。根据本发明的一个具体优选实施例，提出这样的方案与触发光栅的操作点漂移成比例地调整遮挡光栅的操作点。本发明还涉及一种用于实施上述这类方法的装置。
根据下面的描述和附图所示的实施例的例子，本发明的进一步的优点和特征将变得显而易见，其中该附图示出实施本发明的方法的装置的示意图。
具体实施例方式所示出的包括几何光学传感器单元I的系统的背景是，将通过触发光栅2进行的丝线断裂检测与遮挡光学器件3的同时使用予以组合，以便检测和进一步处理沿着箭头4的方向行进的纱线5中出现的丝线断裂或缺陷。在所示出的例子中，提供6个触发光栅2，它们被设置在纱线5的两个不同侧且与纱线5的距离不同，并且沿着纱线的行程而位于不同位置。各触发光栅2的每一个都可由分立的光栅或由二极管阵列实现。遮挡光栅3使用准直光(光束彼此平行)进行操作。这里，所述触发光栅2的光束直径明显小于遮挡光栅3的光束直径，使得与当遮挡光栅被纱线直径3持续遮挡时的情形相比，在触发光栅2上由单个纱线凸起7形成的相对较小的遮挡导致相对较大的变化。如果由触发光栅2传送的信号被馈送到检查所述信号的可信度的评估单元，这种方案特别有利。在这种情况下，如果由触发光栅2传送的信号被认为是不可信的，该信号可以被忽略。优选地，可以基于来自触发光栅2的信号对时间的依赖性来检查可信度。以这种方式，还可以集成所谓的“闪烁控制”，即检查由于外部的光闪烁引起的错误信号。这种策略是基于沿纱线方向位于不同位置的各触发光栅2的布置而实现的。丝线缺陷7总是在多个触发光栅2上按照一定的顺序触发事件，而干扰性闪烁却几乎同时触发所有触发光栅2。这种同时性可以借助于评估电子器件或传感器程序予以评估、进一步加以利用和/或予以显示。由于测量系统基本上由多个平放在表面上的光栅组成，遮挡光栅3上的污物累积可以被检测和补偿。例如，在正常运转模式下，触发光栅2的操作点不会被测量对象5遮挡，通过对触发光栅2的操作点进行持续跟踪或以预定时间进行跟踪，对污物累积进行补偿。作为对比，并不能进行对遮挡光栅3的这种简单跟踪，因为此时由于测量对象5引起的遮挡也会被补偿。但是，如果利用由触发光栅2预先确定的操作点漂移，则此信息可用于补偿在遮挡光栅3的区域中发生的类似或相同的污物累积(由触发光栅2主导的污物补偿)。
权利要求
1.一种非接触检测运转纱线(5)中的缺陷的方法，其中，缺陷具体由突出的丝线(7)或由丝线断裂或由夹带的污物颗粒或棉绒片形成， 其中，在纺织机上，优选地在纺织机的卷绕位置或卷绕装置上，使用具有至少三个光栅(2,3)的几何光学传感器单元(1)，其中称为遮挡光栅的第一光栅(3)形成遮挡光学器件，所述运转纱线(5)穿过所述遮挡光学器件，并且所述遮挡光学器件检测所述运转纱线(5)的结构，而在所述三个光栅(2，3)中，至少两个另外的触发光栅(2)被设置为与所述纱线(5)相距不同的距离和/或设置在所述纱线(5)的不同侧，使得只有所述运转纱线(5)的缺陷才引起所述触发光栅的遮挡，以及 其中持续地或以预定时间调整或跟踪所述触发光栅的操作点，以补偿所述触发光栅上可能的污物累积或抑制所述几何光学传感器单元的组件的老化症状， 其特征在于， 在所述触发光栅(2)上发生的操作点漂移被应用于所述遮挡光栅(3)，使得所述遮挡光栅(3)的操作点基于与所述触发光栅(2)的操作点漂移的预定依赖关系而被调整或跟足示O
2.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，与所述触发光栅(2)的操作点漂移成比例地调整所述遮挡光栅(3)的操作点。
3.一种非接触检测运转纱线(5)中的缺陷的装置，包括 -具有至少三个光栅(2，3)的几何光学传感器单元(I )，其中称为遮挡光栅的第一光栅(3)形成遮挡光学器件，所述运转纱线(5)能够穿过所述遮挡光学器件，并且借助于所述遮挡光学器件能够检测所述运转纱线(5)的结构，而在所述几何光学传感器单元中，至少两个另外的触发光栅(2)被设置为与所述纱线(5)相距不同的距离和/或设置在所述纱线(5)的不同侧，使得只有所述运转纱线(5)的缺陷才引起所述触发光栅的遮挡，以及 -控制单元，借助于所述控制单元能够持续地或以预定时间调整或跟踪所述触发光栅的操作点，以补偿所述触发光栅上可能的污物累积或抑制所述几何光学传感器单元的组件的老化症状， 其特征在于， 借助于所述控制单元，在所述触发光栅(2)上发生的操作点的漂移能够被应用于所述遮挡光栅(3)，使得所述遮挡光栅(3)的操作点基于与所述触发光栅(2)的操作点漂移的预定依赖关系而被调整或跟踪。
4.所述非接触检测运转纱线(5)中的缺陷的装置，特别是根据权利要求3所述的非接触检测运转纱线(5)中的缺陷的装置，其特征在于，其被设计为用于执行根据权利要求I或2所述的方法。
全文摘要
本发明涉及一种非接触检测运转纱线(5)中的缺陷的方法，其中，缺陷具体由突出的丝线(7)或由丝线断裂或由夹带的污物颗粒或棉绒球形成，其中，在纺织机上，优选地在纺织机的卷绕位置或卷绕装置上，使用具有至少三个光栅(2，3)的几何光学传感器单元(1)，其中称为遮挡光栅的第一光栅(3)形成遮挡光学器件，所述运转纱线(5)穿过所述遮挡光学器件，并且所述遮挡光学器件检测所述运转纱线(5)的结构，而在所述三个光栅(2，3)中，至少两个另外的触发光栅(2)被设置为与所述纱线(5)相距不同的距离和/或设置在所述纱线(5)的不同侧，使得只有所述运转纱线(5)的缺陷才引起所述触发光栅的遮挡，其中，持续地或以预定时间调整或跟踪所述触发光栅的操作点，以补偿所述触发光栅上可能的污物累积或抑制所述几何光学传感器单元的组件的老化症状，其中，在所述触发光栅(2)上发生的操作点漂移被应用到所述遮挡光栅(3)，使得所述遮挡光栅(3)的操作点基于与所述触发光栅(2)的操作点漂移的预定依赖关系而被调整或跟踪。
文档编号G01N21/89GK102906560SQ201180012271
公开日2013年1月30日 申请日期2011年3月4日 优先权日2010年3月4日
发明者费迪南德·约瑟夫·赫尔曼斯, 罗尔夫·哈森 申请人:威克股份有限公司
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