专利名称：用于动态试验台的测力滑套机构的制作方法
技术领域：
本实用新型是一种滑套机构，特别涉及一种用于联轴器动态试验台的测力滑套机构。
背景技术：
现有技术中的没有专门用于联轴器动态试验台，导致试验数据不准确，产品质量
无法掌握。
发明内容本实用新型主要是解决现有技术中存在的不足，提供一种结构简单的用于动态试验台的测力滑套机构。本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的一种用于动态试验台的测力滑套机构，包括支架台，所述的支架台的上端中设有测力轴，所述的测力轴通过测力滑套机构相固定，所述的测力滑套机构包括滑套座、滑套和挡圈，所述的滑套座与支架台相固定，所述的滑套座中设有滑套，所述的滑套与测力轴相套接，所述的滑套与测力轴通过挡圈相挡接。因此，本实用新型提供的用于动态试验台的测力滑套机构，结构简单，稳定性高， 操作方便。
图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。实施例如图1所示，一种用于动态试验台的测力滑套机构，包括支架台1，所述的支架台1的上端中设有测力轴2，所述的测力轴2通过测力滑套机构相固定，所述的测力滑套机构包括滑套座3、滑套4和挡圈5，所述的滑套座3与支架台1相固定，所述的滑套座3 中设有滑套4，所述的滑套4与测力轴2相套接，所述的滑套4与测力轴2通过挡圈5相挡接。
权利要求1. 一种用于动态试验台的测力滑套机构，其特征在于包括支架台(1)，所述的支架台 (1)的上端中设有测力轴O)，所述的测力轴( 通过测力滑套机构相固定，所述的测力滑套机构包括滑套座(3)、滑套(4)和挡圈(5)，所述的滑套座C3)与支架台(1)相固定，所述的滑套座(3)中设有滑套G)，所述的滑套(4)与测力轴( 相套接，所述的滑套(4)与测力轴⑵通过挡圈(5)相挡接。
专利摘要本实用新型是一种滑套机构，特别涉及一种用于联轴器动态试验台的测力滑套机构。包括支架台，所述的支架台的上端中设有测力轴，所述的测力轴通过测力滑套机构相固定，所述的测力滑套机构包括滑套座、滑套和挡圈，所述的滑套座与支架台相固定，所述的滑套座中设有滑套，所述的滑套与测力轴相套接，所述的滑套与测力轴通过挡圈相挡接。用于动态试验台的测力滑套机构结构简单，稳定性高，操作方便。
文档编号G01M13/02GK202141591SQ201120271799
公开日2012年2月8日 申请日期2011年7月25日 优先权日2011年7月25日
发明者陈玉珍 申请人:沈艳艳
专业数控铣床产品供应商
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