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专利名称：箱式硅钢片环形对比试样的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及硅钢片性能测试，尤其涉及硅钢片环形对比试样。
背景技术：
硅钢片的磁性能受试样状态的影响，测试结果会有较大差异。试样的传递过程、自然锈蚀和重复装载会劣化试样的状态。因此，制作一种便于保存、不用重复装载的参考试样显得尤为必要。国家标准“软磁材料交流磁性能环形试样的测量方法”(GB/T 3658-2008) (修改采用IEC 60404-6 :2003)中规定了环形试样的一般制作要求，但为了能够与国际常用的爱泼斯坦方圈法的试样相一致，需要特殊考虑环形试样的制作细节，如环形试样尺寸、 初级及次级绕组的匝数、绕组铜线的规格等。制作同爱泼斯坦方圈相似的便于储存、传递、 比对的环形参考试样对工业常规检测的一致性检验是有意义的。
发明内容本实用新型旨在解决上述缺陷，提供一种箱式硅钢片环形对比试样。本实用新型能防止试样劣化，而且携带方便。本实用新型是这样实现的，一种箱式硅钢片环形对比试样，它包括绕有初级绕组和次级绕组的环形硅钢片试样，它还包括一个密封箱体，所述环形硅钢片试样置于其中；四个限位固定柱，它们分布于箱体底部四角，对角线上的两个限位固定柱距离等于环形硅钢片试样的外径；初级接线柱和次级接线柱，它们分别和初级绕组和次级绕组连接；所述硅钢片式样包括叠放的环形硅钢片，硅钢片外依次包裹的电磁绝缘层、单匝均勻绕的次级绕组、电磁绝缘层和双匝均勻绕的初级绕组，所述环形硅钢片有效磁路长度和对应的标准爱泼斯坦方圈的长度Im —致，所述环形硅钢片的层数η由如下公式确定，即
Γ , (D + d)Im = π: 2 ； D/d < 1. 25 ；M = P · π · (R2-r2) h ;n = h/δ ；其中，D和d分别为环形硅钢片的外径和内径；R和r分别归环形硅钢片内外半径和内半径；ρ为硅钢片密度；h为环形样厚度δ为环形硅钢片厚度。所述的箱式硅钢片环形对比试样，所述环形硅钢片试样是经过浸漆处理的。所述的箱式硅钢片环形对比试样，所述环形硅钢片试样无需经过浸漆处理，所述密封箱体内充有油性介质。本实用新型把式样放在密封箱内，能防止试样劣化，而且携带方便。为防止试样锈蚀箱体内部分干式和湿式两种，干式对试样和线圈进行浸漆处理，湿式则直接使试样和线圈浸没于油性介质中，湿式结构还可防止测量过程中试样过热。

下面，结合附图对本实用新型作进一步的说明图1为本实用新型的结构示意图；图2为所述环形试样的绕线示意图。
具体实施方式
如图1和图2所示，一种箱式硅钢片环形对比试样，它包括绕有初级绕组9和次级绕组8的环形硅钢片试样4，它还包括一个密封箱体2，所述环形硅钢片试样置于其中；四个限位固定柱5，它们分布于箱体底部四角，对角线上的两个限位固定柱距离等于环形硅钢片试样的外径；初级接线柱1和次级接线柱3，它们分别和初级绕组9和次级绕组8连接；本实用新型在制作时，将环形硅钢片叠放整齐，组成环形试样。根据需要模拟的爱泼斯坦方圈情况计算相应环形样参数，如环形样尺寸、叠加片数等。环形硅钢片叠装后，包裹电磁绝缘层7，外面再单匝均勻绕次级绕组8。次级绕组外包裹电磁绝缘层7，外面再双匝均勻绕初级绕组9。采用干式结构时，对绕制好的环形试样进行浸漆处理后，按图1放置在箱体2中， 固定柱体5固定好环形试样，防止试样在箱体中移动。将环形试样的初级绕组9和次级绕组8接线引出，分别接入到箱体2上的初级接线柱1和次级接线柱3上。采用湿式结构时，将绕制好的环形试样按图1放置在箱体2中，固定柱体5固定好环形试样，防止试样在箱体中移动。将环形试样的初级绕组9和次级绕组8接线引出，分别接入到箱体2上的初级接线柱1和次级接线柱3上，最后在箱体中注入油性介质。使用时，直接将测量设备的初级和次级信号和测试线接入相应的初级接线柱1和次级接线柱3即可。以模拟0. 5Kg标准爱泼斯坦方圈为例，取0. 5kg标准爱泼斯坦方圈的指标计算环形试样相应参数，其中，主要参数计算如下环形试样的内径和外径的确定
γ π ι(D + d)1ιη=π·^-^其中，Im为试样的有效磁路长度，同爱泼斯坦方圈法一致，达到0. 94m ；D为环形试样外径；d为环形试样内径。计算得到D+d = 600mm。按照国家标准软磁材料交流磁性能环形试样的测量方法(GB/T3658-2008)要求， D/d 应小于 1. 25，因此，设定 D = 315mm, d = 285mm。试样片数η的确定[0040]按照国标爱泼斯坦方圈测量电工钢片磁性能方法(GB/T 3655-2008)规定，试样质量M应在0. 5kg左右。M = P · π · (R2-r2) h其中，P为硅钢片密度；R为环形样外圆半径；r为环形样内圆半径；h为环形样厚度。计算得到需要硅钢片叠片厚度h达到4. 5mm，对于0. 5mm厚度硅钢片，需要9层叠片。初级次级绕组选用同爱泼斯坦方圈相一致的漆包铜线，分别为初级绕组选用1. 8mm直径漆包铜线，共绕制700匝；次级绕组选用0. 8mm直径漆包铜线，共绕制700匝。
权利要求1.一种箱式硅钢片环形对比试样，它包括绕有初级绕组和次级绕组的环形硅钢片试样，其特征在于，它还包括一个密封箱体，所述环形硅钢片试样置于其中；四个限位固定柱，它们分布于箱体底部四角，对角线上的两个限位固定柱距离等于环形硅钢片试样的外径；初级接线柱和次级接线柱，它们分别和初级绕组和次级绕组连接；所述硅钢片式样包括叠放的环形硅钢片，硅钢片外依次包裹的电磁绝缘层、单匝均勻绕的次级绕组、电磁绝缘层和双匝均勻绕的初级绕组，所述环形硅钢片有效磁路长度和对应的标准爱泼斯坦方圈的长度Im —致，所述环形硅钢片的层数η由需要模拟的爱泼斯坦试样的有效质量来确定，即, ω+d),
2.根据权利要求1所述的箱式硅钢片环形对比试样，其特征在于，所述密封箱体内充有油性介质。
专利摘要本实用新型涉及硅钢片环形对比试样。一种箱式硅钢片环形对比试样，它包括绕有初级绕组和次级绕组的环形硅钢片试样，还包括一个密封箱体，所述环形硅钢片试样置于其中；四个限位固定柱，它们分布于箱体底部四角，对角线上的两个限位固定柱距离等于环形硅钢片试样的外径；初级接线柱和次级接线柱，它们分别和初级绕组和次级绕组连接；所述硅钢片式样包括叠放的环形硅钢片，硅钢片外依次包裹的电磁绝缘层、单匝均匀绕的次级绕组、电磁绝缘层和双匝均匀绕的初级绕组，所述环形硅钢片有效磁路长度和对应的标准爱泼斯坦方圈的长度lm一致。本实用新型能防止试样劣化，而且携带方便。
文档编号G01R33/12GK202102096SQ201120045938
公开日2012年1月4日 申请日期2011年2月24日 优先权日2011年2月24日
发明者周星, 李和平, 沈杰, 胡志远 申请人:上海宝钢工业检测公司