专利名称：半导体原材料电阻率快速便携式测试仪器的制作方法
技术领域：
本实用新型属于一种电阻率测试仪器。
背景技术：
目前市场上存在的半导体原材料电阻率测试仪器器，通常采用控制芯片来实现， 其测试精度很高。对于某些精度要求不高的场合，例如半导体原材料筛选，但是其存在的缺陷为成本昂贵，可扩展性不强，而且基本上桌面仪器形式，便携性不够强。
发明内容为了克服现有半导体原材料电阻率测试仪器器的成本昂贵、可扩展性不强、使用不方便的不足，本实用新型提供一种降低成本、具有良好可扩展性、使用方便的半导体原材料电阻率快速便携式测试仪器。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种半导体原材料电阻率快速便携式测试仪器，所述测试仪器呈笔形，所述测试仪器包括笔壳和测试电路，所述测试电路位于所述笔壳内，所述测试电路包括分压电路、比较放大电路和指示电路，电源端通过分压电路与所述比较放大电路的标定端连接，与待检测半导体原材料电接触的接触端与所述比较放大电路的测试端连接，所述接触端外露在所述笔壳外，所述比较放大电路的输出端与所述指示电路连接。进一步，所述指示电路为第一限流电阻和发光二极管。所述指示电路为限流电阻和蜂鸣器。所述测试电路还包括降压电路，所述降压电路的输入端与第二限流电路和电源指示灯连接。本实用新型的有益效果主要表现在降低成本、具有良好可扩展性、使用方便。
图1是半导体原材料电阻率快速便携式测试仪器的外部示意图；图2是半导体原材料电阻率快速便携式测试仪器的电路图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步描述。参照图1和图2，一种半导体原材料电阻率快速便携式测试仪器，所述测试仪器呈笔形，所述测试仪器包括笔壳1和测试电路，所述测试电路位于所述笔壳1内，所述测试电路包括分压电路、比较放大电路和指示电路，电源端通过分压电路与所述比较放大电路的标定端连接，与待检测半导体原材料电接触的接触端2与所述比较放大电路的测试端连接，所述接触端2外露在所述笔壳1外，所述比较放大电路的输出端与所述指示电路连接。进一步，所述指示电路为第一限流电阻和发光二极管。[0015]所述指示电路为限流电阻和蜂鸣器。所述测试电路还包括降压电路，所述降压电路的输入端与第二限流电路和电源指示灯连接。使用微电子技术，将半导体原材料电阻率测试仪器，微型化、便捷化。所述接触端2为探针，即使用探测法，用比较电路实测试半导体电阻率，利用分压电阻的阻值搭配，分别对不同电阻率进行标定，采用LED指示灯及蜂鸣器提醒用户所测样品的是否为合格标定电阻率。采用笔型设计，方便携带。如果测试端的电压比标定端的高，则表示半导体原材料电阻率过高，不符合要求， 比较器输出高电压，发光二极管为变亮以及蜂鸣器发出警报声；反之，比较器输出低电压， 指示电路不工作。当电源有电时，电源指示用的发光二极管会变亮，提示操作人员可以正常使用测试仪器进行测试工作。
权利要求1.一种半导体原材料电阻率快速便携式测试仪器，其特征在于所述测试仪器呈笔形，所述测试仪器包括笔壳和测试电路，所述测试电路位于所述笔壳内，所述测试电路包括分压电路、比较放大电路和指示电路，电源端通过分压电路与所述比较放大电路的标定端连接，与待检测半导体原材料电接触的接触端与所述比较放大电路的测试端连接，所述接触端外露在所述笔壳外，所述比较放大电路的输出端与所述指示电路连接。
2.如权利要求1所述的半导体原材料电阻率快速便携式测试仪器，其特征在于所述指示电路为第一限流电阻和发光二极管。
3.如权利要求1所述的半导体原材料电阻率快速便携式测试仪器，其特征在于所述指示电路为限流电阻和蜂鸣器。
4.如权利要求1 3之一所述的半导体原材料电阻率快速便携式测试仪器，其特征在于所述测试电路还包括降压电路，所述降压电路的输入端与第二限流电路和电源指示灯连接。
专利摘要一种半导体原材料电阻率快速便携式测试仪器，所述测试仪器呈笔形，所述测试仪器包括笔壳和测试电路，所述测试电路位于所述笔壳内，所述测试电路包括分压电路、比较放大电路和指示电路，电源端通过分压电路与所述比较放大电路的标定端连接，与待检测半导体原材料电接触的接触端与所述比较放大电路的测试端连接，所述接触端外露在所述笔壳外，所述比较放大电路的输出端与所述指示电路连接。本实用新型提供一种降低成本、具有良好可扩展性、使用方便的半导体原材料电阻率快速便携式测试仪器。
文档编号G01R27/02GK202066911SQ20112016410
公开日2011年12月7日 申请日期2011年5月24日 优先权日2011年5月24日
发明者徐晓明, 毛小彦 申请人:杭州惠贤科技有限公司
专业数控铣床产品供应商
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