专利名称：一种晶棒性能连续测试架的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及半导体生产技术领域，涉及半导体晶棒测试装置，具体地说是涉及一种晶棒性能连续测试架。
背景技术：
晶棒性能测试架是安装晶棒并使晶棒连接到电脑上的装置，晶棒测试架两端具有固定晶棒的卡具，卡具上具有连接电脑的导线，在现有技术中，所述的卡具在测试架上是固定不动的，而且一个测试架上只有一个卡具，这样在测试过程中，安装好晶棒后还有等待电脑的反应数据，具有测试效率低的缺点。
发明内容本实用新型的目的就是针对上述缺点，提供一种测试效率更高、不用等待的晶棒性能连续测试架。本实用新型的技术方案是这样实现的一种晶棒性能连续测试架，包括两个测试支架，其特征是所述的两个测试支架分别转轴连接有圆形的转盘，两个转盘上具有对应的卡爪，所述的卡爪至少是两对，卡爪后边有导线连接电脑。进一步的讲，所述的转盘上还具有限位凸起，所述的测试架还具有挡着限位凸起的抵挡结构。本实用新型的有益效果是这样结构的晶棒性能连续测试架具有测试效率更高、 不用等待的优点。
图1是本实用新型的结构示意图。其中1、测试支架 2、转盘3、卡爪 4、限位凸起 5、抵挡结构。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步的描述。如图1所示，一种晶棒性能连续测试架，包括两个测试支架1，其特征是所述的两个测试支架1分别转轴连接有圆形的转盘2，两个转盘2上具有对应的卡爪3，所述的卡爪 3至少是两对，卡爪3后边有导线连接电脑。进一步的讲，所述的转盘2上还具有限位凸起4，所述的测试架还具有挡着限位凸起的抵挡结构5。使用时，在安装第二个个晶棒时可以对第一个晶棒进行测试，节约时间，可以达到提高效率的优点。所述的限位凸起可以起到，防止转盘朝着一个方向旋转的作用。在测试过程中转盘可以正转、倒转循环，不影响接电脑的导线。
权利要求1.一种晶棒性能连续测试架，包括两个测试支架，其特征是所述的两个测试支架分别转轴连接有圆形的转盘，两个转盘上具有对应的卡爪，所述的卡爪至少是两对，卡爪后边有导线连接电脑。
2.根据权利要求1所述的晶棒性能连续测试架，其特征是所述的转盘上还具有限位凸起，所述的测试架还具有挡着限位凸起的抵挡结构。
专利摘要本实用新型涉及半导体生产技术领域，涉及半导体晶棒测试装置，具体地说是涉及一种晶棒性能连续测试架。包括两个测试支架，其特征是所述的两个测试支架分别转轴连接有圆形的转盘，两个转盘上具有对应的卡爪，所述的卡爪至少是两对，卡爪后边有导线连接电脑，所述的转盘上还具有限位凸起，所述的测试架还具有挡着限位凸起的抵挡结构，这样结构的晶棒性能连续测试架具有测试效率更高、不用等待的优点。
文档编号G01R1/04GK202153233SQ20112028845
公开日2012年2月29日 申请日期2011年8月10日 优先权日2011年8月10日
发明者刘宝成 申请人:河南恒昌电子有限公司
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