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专利名称：132线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，是能对132线0. 635节距陶瓷 四边引线扁平封装元器件可靠性进行高温老化筛选和性能测试的插座；该实用新型属于属 电子信息技术可靠性领域。
背景技术：
目前，在我国电子元器件可靠性技术领域，公知的国内一般老化试验插座的本 体材料大都采用的是非耐高温普通塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅 为-25°C +85°C，工作时间短、引线根数少、接触件节距宽、结构简单，存在着与被测器件 之间接触电阻大、老化温度低、一致性差和使用寿命短的重大缺陷，不能满足对器件的质量 筛选和性能指标的测试要求，容易引发工程质量事故。国内在可靠性技术领域内特别是对 配套于神舟飞船、大推力火箭、卫星、核潜艇、洲际导弹及其它国防军工、航天、航空、航海、 通信等重点国防尖端武器装备等重大项目的多引线、细节距微电子元器件，尚无高低温老 化可靠性试验和测试的专用测试装置，所使用的测试插座大量依赖国外进口，价格极为昂 贵，国家每年要花费大笔外汇进口产品，订货周期较长，特殊规格的产品无法订货，部分重 要产品还因禁运而影响我国军用电子元器件研发生产进度。
发明内容为克服现有老化试验插座在接触电阻、老化工作温度和一致性以及引线根数、接 触件节距和使用寿命方面的不足，本实用新型提供一种新型的专用于集成电路、微电子元 器件在线通电状态下进行高低温老化、测试、筛选及可靠性试验的132线0. 635节距陶瓷四 边引线扁平封装器件老化测试插座。该插座不仅能将老化工作温度范围从_25°C +85°C 扩展到_55°C +150°C，一次老化连续工作时间长达1500h(150°C )以上，插拔寿命10000 次以上，而且在对被测试器件进行高温老化试验和性能测试过程中，具有接触件节距细小、 引线根数多、接触电阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大 大提高了插座的可靠性和使用寿命。本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是按照132线陶瓷四边引线扁平封 装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即由插座体、接触件和定位 装置三个部分统一组成，插座体由座(10)、盖(4)和钩⑵组成，各部分间以轴⑴(6)和 扭簧(7)相连接，选用耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，用于 被试器件的定位安装。接触件以铍青铜材料冲压成型，经300°C高温淬火处理及电镀硬 金层技术表面镀金，采用与被试器件引出线相对应的方式，由轴向对称平均分布的132线、 0. 635mm细节距的镀金簧片纵向排列组成，分别安装于座(10)的4面凹槽中。该实用新型在 陶瓷四边引线扁平封装元器件系列插座中属于接触件数目多(132线)、接触件节距小(接 触件的节距仅为0.635mm)的结构，同时在接触件排列上，采用每面三排的排列结构。插座的压紧装置由座、盖、钩及压块组成，压块采用活动式。这种翻盖式结构把接触件设计成自 动压紧锁、零插拔力结构。插座的定位装置由座体上的斜面进行定位。当钩受力向下翻转 与座啮合时，使盖及安装在盖上的压块产生位移，压块向下运动，被试器件压紧接触件，而 压块上的凸台可使被试器件在压紧接触件的过程中受力均勻，这种结构可以避免接触件与 被试器件接触时磨损电镀层。通电后进行高温老化试验和性能测试。这种翻盖式结构设计 成零插拔力式的结构，可避免接触件插拔时磨损电镀层，影响电接触性能，彻底解决了在高 温老化试验和性能测试过程中的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术 难点，还可以满足被试器件不同引线(132线以内)的要求。本实用新型的有益效果是该实用新型可以满足军民通用132线和其它同类陶瓷 四边引线扁平封装元器件高温老化试验和性能测试，填补了国内空白，替代进口，为国家节 约了外汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效益。
以下结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。

图1是本实用新型的外形结构纵剖面构造图。图2是本实用新型外型结构俯视图。图1 :1轴、2钩、3压簧、4盖、5压块、6轴、7扭簧、8轴、9前脚接触件(簧片)10座、 11中脚接触件(簧片)、12后脚接触件(簧片)
具体实施方式
在图1中，先将接触件即前脚接触件(9)、中脚接触件(11)和后脚接触件(12)按 与被试器件引出线相对应结构插入座(10)中；将压块(5)和轴(6)装入插座体的盖(4)中； 再将轴(1)、钩⑵和压簧⑶装入插座体的盖⑷之中；最后将装好的盖(6)、轴⑶和扭 簧(7) —起装入插座体的座(10)中。该方案中，插座体用于接触件固定；座体可用被试器件的定位安装；同时插座体 和压块起自动压紧装置的作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，盖带动压块向下，使被试器 件自动压紧接触件；活动的压块可以保证被试器件受力均勻；接触件由镀金簧片按与被试 器件引出线相对应、自动压紧和零插拔力结构安装于插座体的座中。
权利要求1.一种132线0. 635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座，其特征是它是 由插座体、接触件和定位装置三个部分统一组成，插座体由座(10)、盖(4)和钩( 组成，各 部分间以轴(1) (6)和扭簧(7)相连接，接触件(9)、(11)、(12)由轴向对称平均分布的132 线、0.635mm细节距的镀金簧片纵向排列组成，分别安装于座(10)的4面凹槽中。
2.根据权利要求1所述的132线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插 座，其特征是插座的压紧装置由座(10)、盖、钩( 及压块( 组成，压块( 采用活 动式，这种翻盖式结构把接触件设计成自动压紧锁、零插拔力结构。
3.根据权利要求1所述的132线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插 座，其特征是插座的定位装置由座体上的斜面进行定位。
专利摘要本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，能对132线和其它同类陶瓷四边引线扁平封装元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。本实用新型按132线陶瓷四边引线扁平封装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和定位装置。插座体由座、盖和钩组成，插座体和压块还起压紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，盖带动压块向下，使被试器件压紧接触件。接触件采用与被试器件引出线相对应的方式，并由中心对称、四面排列形式细节距组成。插座座体斜面起定位装置作用，方便被试器件的放入和取出。
文档编号G01R31/00GK201910526SQ20102028194
公开日2011年7月27日 申请日期2010年8月2日 优先权日2010年8月2日
发明者曹金学 申请人:曹金学