专利名称：托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于光谱空间分辨测量装置领域，具体涉及一种托卡马克系统中的空 间分辨狭缝装置。
背景技术：
真空紫外波段的光谱测量不能采用可见光谱普遍采用的光纤成像技术，其半径为 米量级的球面光栅更是真空紫外波段光谱成像的技术难点。国际上有采用视线扫描方式实 现空间分布测量的，也有用单入射狭缝借助于模拟计算得到空间分布测量的，或用多组入 射狭缝联合实现极向环向分布测量的。因带动整个系统扫描的频率有限，真空条件下快速 移动庞大的抽气系统，容易造成系统的真空破坏而存在安全隐患，而且系统庞大复杂。单入 射狭缝模拟方法假设太多，结果误差较大。多组入射狭缝造成光强损失大，严重影响信号质 量，系统结构也比较复杂，加工精度要求高。
发明内容本实用新型的目的是为了解决由于真空紫外波段的光谱测量不能采用可见光谱 普遍采用的光纤成像技术，其半径为米量级的球面光栅更是真空紫外波段光谱成像的技术 问题，提供一种托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置。实现本实用新型的技术方案是托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置，它包括真 空壳体、密封顶盖、转轴固定板、主动齿轮、过度齿轮、从动齿轮、狭缝组件、转轴、密封螺钉、 密封圈、调节旋钮和定位螺钉；所述的密封顶盖通过密封螺钉和密封圈固定在真空壳体上； 所述的密封顶盖的下部设有转轴固定板，所述的转轴固定板上通过转轴设置有从动齿轮， 所述的密封顶盖的外部设置有调节旋钮，在调节旋钮的内侧连接有主动齿轮，主动齿轮连 接设置在转轴固定板上的过度齿轮，过度齿轮连接从动齿轮；在所述的从动齿轮上开有若 干个圆孔，在所述的圆孔上设置有狭缝组件；在所述的各个圆孔之间设置有定位螺钉。所述的狭缝组件包括狭缝圆板、狭缝片和固定螺钉；在所述的狭缝圆板上开有槽 孔，所述的狭缝片上开有滑动槽孔；所述的狭缝片分别通过固定螺钉固定在槽孔的上下两 侧上。所述的调节旋钮上设置有刻度标示；所述的狭缝片之间的间隙调节范围为30 500umo本实用新型的效果是实现等离子体中各种杂质的空间分布测量，装置操作简单， 在不破坏真空条件下，很容易实现从杂质的纯光谱测量切换到杂质的空间分布测量，对光 谱强度的衰减�。墒迪肿钚】占浞直�2mm，时间分辨5. 6ms，光谱分辨0.15人。使用本实用 新型，可同时得到等离子体光谱随时间、空间和光谱的变化波形，和国际同类光谱空间分布 测量系统相比，本实用新型设计结构简单，易操作，对光强影响�。映》段Т螅约翱占浞� 辨率高等优势，可以观测从中心到边缘的多种杂质光谱分布，为等离子体中杂质输运和控 制提供重要依据，为未来聚变装置ITER提供宝贵的实验数据。
图1为本实用新型所述的托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置的示意图；图2为本实用新型的主动齿轮、过度齿轮和从动齿轮的示意图；图3为本实用新型所述的托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置的侧面示意图；图4为本实用新型所述的狭缝组件的示意图；图5为本实用新型所述的狭缝片的示意图。图中1、真空壳体；2、密封顶盖；3、转轴固定板；4、主动齿轮；5、过度齿轮；6、从 动齿轮；7、狭缝组件；8、转轴；9、密封螺钉；10、密封圈；11、调节旋钮；12、圆孔；13、定位螺 钉；14、狭缝圆板；15、狭缝片；16、固定螺钉；17、槽孔；18、滑动槽孔；
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型所述的一种托卡马克系统中的空间分 辨狭缝装置作进一步的详细描述。如图1、图2和图3所示托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置，它包括真空壳体 1、密封顶盖2、转轴固定板3、主动齿轮4、过度齿轮5、从动齿轮6、狭缝组件7、转轴8、密封 螺钉9、密封圈10、调节旋钮11和定位螺钉13 ；所述的密封顶盖2通过密封螺钉9和密封圈 10固定在真空壳体1上；所述的密封顶盖2的下部安装转轴固定板3，所述的转轴固定板3 上通过转轴8设置有从动齿轮6，所述的密封顶盖2的外部设置有调节旋钮11，在调节旋钮 11的内侧连接有主动齿轮4，主动齿轮4连接设置在转轴固定板3上的过度齿轮5，过度齿 轮5连接从动齿轮6 ；在所述的从动齿轮6上开有5个圆孔12，在所述的圆孔12上设置有 狭缝组件7 ；在所述的各个圆孔12之间设置有定位螺钉13。如图4和图5所示所述的狭缝组件7包括狭缝圆板14、狭缝片15和固定螺钉16 ； 在所述的狭缝圆板14上开有槽孔17，所述的狭缝片15上开有滑动槽孔18 ；所述的狭缝片 15分别通过固定螺钉16固定在槽孔17的上下两侧上。所述的调节旋钮11上设置有刻度标示；所述的狭缝片15之间的间隙调节范围为 30 500um。在使用时可转动调节旋钮11使所需的狭缝组件7转动到水平位置。使用本实用新型，可同时得到等离子体光谱随时间、空间和光谱的变化波形，和国 际同类光谱空间分布测量系统相比，本实用新型设计结构简单，易操作，对光强影响�。� 场范围大，以及空间分辨率高等优势，可以观测从中心到边缘的多种杂质光谱分布，为等离 子体中杂质输运和控制提供重要依据，为未来聚变装置ITER提供宝贵的实验数据。
权利要求1.托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置，其特征在于它包括真空壳体(1)、密封顶盖 (2)、转轴固定板(3)、主动齿轮(4)、过度齿轮(5)、从动齿轮(6)、狭缝组件(7)、转轴(8)、 密封螺钉(9)、密封圈(10)、调节旋钮(11)和定位螺钉(13)；所述的密封顶盖(2)通过密 封螺钉(9)和密封圈(10)固定在真空壳体(1)上；所述的密封顶盖( 的下部设有转轴固 定板(3)，所述的转轴固定板C3)上通过转轴(8)设置有从动齿轮(6)，所述的密封顶盖(2) 的外部设置有调节旋钮(11)，在调节旋钮(11)的内侧连接有主动齿轮G)，主动齿轮(4) 连接设置在转轴固定板C3)上的过度齿轮(5)，过度齿轮( 连接从动齿轮(6)；在所述的 从动齿轮(6)上开有若干个圆孔(12)，在所述的圆孔(12)上设置有狭缝组件(7)；在所述 的各个圆孔(1 之间设置有定位螺钉(13)。
2.根据权利要求1所述的托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置，其特征在于所述的 狭缝组件⑵包括狭缝圆板(14)、狭缝片(15)和固定螺钉(16)；在所述的狭缝圆板(14) 上开有槽孔(17)，所述的狭缝片(1 上开有滑动槽孔(18)；所述的狭缝片(1 分别通过 固定螺钉(16)固定在槽孔(17)的上下两侧上。
3.根据权利要求1所述的托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置，其特征在于所述的 调节旋钮(11)上设置有刻度标示；所述的狭缝片(巧)之间的间隙调节范围为30 500um。
专利摘要本实用新型属于光谱空间分辨测量装置领域，具体涉及一种托卡马克系统中的空间分辨狭缝装置。它包括真空壳体、密封顶盖、转轴固定板、主动齿轮、过度齿轮、从动齿轮、狭缝组件、转轴、密封螺钉、密封圈、调节旋钮和定位螺钉。实现等离子体中各种杂质的空间分布测量，系统操作简单，在不破坏真空条件下，很容易实现从杂质的纯光谱测量切换到杂质的空间分布测量，对光谱强度的衰减�。墒迪肿钚】占浞直�2mm，时间分辨5.6ms，光谱分辨
文档编号G01J3/04GK201819740SQ20102020670
公开日2011年5月4日 申请日期2010年5月28日 优先权日2010年5月28日
发明者傅柄忠, 崔正英 申请人:核工业西南物理研究院
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