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专利名称：一种测量产品对位精度的工具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量产品对位精度的工具。
背景技术：
目前，对于测量产品(如量测PCB板对位热铆后的重叠精度)对位精度一般采用以下方式制作与制品相同的模型，然后对模型采用专门的测量工具一一进行测量，从而判断产品是否合格。这样的测量方法虽然比较精准，但是比较耗费时间，且模型容易变形，寿命短，成本也比较大。
发明内容本实用新型的目的是提供一种测量产品对位精度的工具。为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是一种测量产品对位精度的工具，该工具包括第一本体、第二本体，所述的第一本体的表面相对的开设有两排第一孔，所述的第二本体的表面相对的开设有两排第二孔，所述的第一孔的孔径大于所述的第二孔的孔径，当所述的第一本体、第二本体相重叠时，所述的第二孔位于所述的第一孔内。优选地，两排所述的第一孔开设在所述的第一本体靠近两条边的表面，两排所述的第二孔开设在所述的第二本体靠近两条边的表面。优选地，所述的第一本体、第二本体为两块钢材片体。由于上述技术方案运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点本实用新型通过设置开设有孔的两个本体，将其重叠后采用测量两孔之间的偏差量来测量产品的对位精度，操作比较简便，制作成本低。

附图1为本实用新型的结构示意图；附图2为实施例中对位状态示意图；附图3为实施例中偏差状态示意图。其中1、第一本体；10、第一孔；2、第二本体；20、第二孔。
具体实施方式
以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述如图1所示的一种测量产品对位精度的工具，该工具包括第一本体1、第二本体2， 第一本体1、第二本体2为了方便制作可以选择两块钢材片体。第一本体1的表面相对的开设有两排第一孔10，两排第一孔10开设在第一本体1 靠近两条边的表面；第二本体2的表面相对的开设有两排第二孔20，两排第二孔20开设在第二本体2靠近两条边的表面，并且第一孔10的孔径大于第二孔20的孔径，第一本体10、第二本体20相重叠时，第二孔20位于第一孔10内。两排第一孔10、第二孔20的每个孔径大小按照递增或递减设计，便于人员目视，孔与孔之间距离大约10mm。以下具体阐述下本实施例的工作原理第一本体1、第二本体2是根据产品所制作的模型，第一孔10、第二孔20的孔径是根据产品的偏差范围进行开设，如第一孔10的孔径为Φ1. Omm ；第二孔的孔径为Φ0. 5mm, 进行对位测量时，将第一本体1、第二本体2完全重叠，此时，第二孔20会落入第一孔10内。 当产品完全对位时，第一孔10、第二孔20的圆心重合，第一孔10的孔径减去第二孔20的孔径1.0- 0.5=0. 5mm，这样单边存在0.25mm的相等量，如图2所示；当产品不完全对位时，第一孔10、第二孔20的圆心偏差，这样单边存在不相等的偏差量，如0. lmm、0. 4mm或 0. 2mm、0. 3mm等，如图3所示，此时根据产品所允许的偏差范围来判断其是否在允许范围之内，从而确定产品是否合格。上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。 凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种测量产品对位精度的工具，其特征在于该工具包括第一本体、第二本体，所述的第一本体的表面相对的开设有两排第一孔，所述的第二本体的表面相对的开设有两排第二孔，所述的第一孔的孔径大于所述的第二孔的孔径，当所述的第一本体、第二本体相重叠时，所述的第二孔位于所述的第一孔内。
2.根据权利要求1所述的一种测量产品对位精度的工具，其特征在于两排所述的第一孔开设在所述的第一本体靠近两条边的表面，两排所述的第二孔开设在所述的第二本体靠近两条边的表面。
3.根据权利要求1所述的一种测量产品对位精度的工具，其特征在于所述的第一本体、第二本体为两块钢材片体。
专利摘要本实用新型涉及一种测量产品对位精度的工具，该工具包括第一本体、第二本体，所述的第一本体的表面开设有两排第一孔，所述的第二本体的表面开设有两排第二孔，所述的第一孔的孔径大于所述的第二孔的孔径，当所述的第一本体、第二本体相重叠时，所述的第二孔位于所述的第一孔内。本实用新型通过设置开设有孔的两个本体，将其重叠后采用测量两孔之间的偏差量来测量产品的对位精度，操作比较简便，制作成本低。
文档编号G01B5/00GK202284937SQ20112040827
公开日2012年6月27日 申请日期2011年10月25日 优先权日2011年10月25日
发明者冯友利, 郑昌新 申请人:昆山鼎鑫电子有限公司