专利名称：大米加工精度的检测方法
技术领域：
本发明涉及大米加工技术领域，尤其涉及大米加工精度的检测。
背景技术：
现有的大米加工精度的检验，一般按照国家标准《大米GB1354-2009》，主要有以下 几种方法
1.直接比较法利用米类与相应的加工精度等级标准样品对照比较，通过观测判定加 工精度等级。2.染色法利用大米各不同组织成分对各种染色基团分子的亲和力不同，经染色 处理后，米粒各组织呈现不同的颜色，从而判定大米的加工精度。.
上述两种方法主要存在如下缺点直接比较法和染色法，是一种定性检测，主观性强、 随意性大、准确性不高和效率低。除上述方法外，还有以下见报道的方法化学方法，如磷含量分析法、脂肪萃取法 等；光电法；计算机图像识别法，如染色图象识别法(其原理实质认为染色法)、透射图象识 别法等、光谱分析检测法等等。这些检测方法所需要的检验仪器(设备)复杂、投入较高、对 检验人员的操作要求高、检验程序复杂、耗时较长等，而且除直接对比法外，其他方法的检 验样品无法回收而只能作为废弃物。在实际生产中各工厂广泛将成品出米率(以稻谷或糙米为基数)作为一项重要的 技术经济指标，而现有上述的检测方法无法进行与成品出米率的量化关联研究，无法对实 际生产起到很好的指导作用。同时现有检测方法主要针对成品大米，而不适合加工过程中 的中间产品的加工精度检测。
发明内容
针对现有技术存在的上述不足，申请人公开了一种大米加工精度的检测方法，检 测成本低且检测效率高，检测操作简单方便。本发明所采用的技术方案如下 本发明采用如下步骤检验
(1)、米粒取样对加工前米粒以及加工后米粒的取样；
(2)、取样米粒的整理剔除取样米粒中的杂质以及不完整米粒；
(3)、取样米粒的称重称取单位数量的加工前取样米粒的重量以及加 工后取样米粒的重量；
(4)、大米加工精度的计算，计算公式如下 MDr=ffr/ffb
式中
MDr—加工后米粒的加工精度；
Wb—单位数量的加工前取样米粒的重量；Wr_单位数量的加工后取样米粒的重量。进一步地技术方案是上述加工前米粒为糙米，加工后米粒为半成品米。本法明的技术效果在于检测成本低且检测效率高，检验步骤简单明确，可以通过 量化的数值来反映大米的加工精度，有利于生产管理及研究。
具体实施例方式大米加工的过程就是将糙米皮层碾去，并达到某个精度要求。一般大米加工厂的 加工采用一机出米、或二机出米、或三机出米甚至更多机出米等不同工艺流程。每一道表皮 碾除，糙米颗粒的重量就相应减少一些。本发明的思路是根据糙米、不同的半成品米(指已 被碾去部分皮层、但尚未达到精度要求的糙米)、成品大米(指达到精度要求)各自的单位数 量颗粒的重量变化，检验大米的加工精度。前述的一机或多机出米指通过一道或多道碾米 机加工出米，碾米机的道数越多，大米的加工精度越高，碾米机及其具体加工工序为本领域 的公知技术。实施例1
为测定成品大米加工精度的具体实施步骤 步骤一取样
分别提取约500至1000克的糙米及成品大米样品。糙米样品的提取位置在头道碾米 机入料口前，成品大米样品的提取位置在最后一道碾米机或抛光机出料口处。步骤二 对取样样品进行整理
步骤2. 1，按GB/T5494的规定去除样品中的杂质、不完善米粒等，具体步骤如下 每次取试样约100克放入直径1. Omm圆孔筛内，用电动筛选器法或手筛法进行筛选。 其中电动筛选器法如下按GB/T5494中规定的筛层套好(大孔筛在上，小孔筛在下，套上筛 底)，按规定取试样放入筛上，盖上筛盖，放在电动筛选器上，接通电源，打开开关，选筛速度 为llOr/min—120r/min，筛后静止片刻，筛后轻拍筛子使糠粉落入筛底，将筛上物和筛下物 分别倒入分析盘内，卡在筛孔中间的颗粒属于筛上物，从中捡出稻谷粒、带壳稗粒及其他杂 质等。上述筛选步骤也可用手筛法代替，具体步骤如下按电动筛选器法将筛层套好，倒 入试样，盖好筛盖。然后将筛选器放在玻璃板或光滑的桌面上，用双手以Iio次/ min-120次/ min的速度，按顺时针和反时针方向各筛动lmin，筛动的范围掌握在选筛直径扩大 Scm-IOcm0筛后的操作与电动筛选器法相同。步骤2. 2，按GB/T 5503的规定去除样品中的碎粒
(1)小碎粒的捡出先由上至下将2. OmmU. Omm的筛和筛底套装好，再将约100克试样 置于直径2. Omm圆孔筛内，盖上盖，安装于电动筛选器(转速IlOr/ min—120r/ min，可自动 控制以lmin为间隔顺时针和逆时针个转动1次)上进行自动筛�。蚪沧昂玫墓任锷秆� 器置于光滑平面上，用双手以约lOOr/min左右的速度，顺时针及逆时针方向个转动1 min， 控制转动范围在选筛直径的基础上扩大约8cm— 10cm。(2)大碎粒的捡出将捡出的小碎粒留存于2. Omm圆孔筛上，将卡在筛孔中的颗粒 倒入碎米分离器，根据粒型调整碎米斗的倾斜角度，使分离效果最佳，分离2min。将初步分 离出的整�：退榱７直鸬谷敕治雠讨校媚景羟崆崆没鞣掷胪玻辛粼诜掷胪仓械目帕２⑷胨榱Ｖ校鸪鏊榱Ｖ胁恍∮谡Ｆ骄ざ�3/4的颗粒并入整粒，拣出整粒中小于整粒 平均长度3/4的颗粒并入碎粒。在缺少碎米分离器的情况下，可将2. Omm圆孔筛上的颗粒连同卡在筛孔中的颗粒 倒入分析盘中，手工拣出小于整粒平均长度3/4的颗粒。步骤2. 3，按GB5491的规定进行分样，即四分法或分样器法。四分法将样品倒在光滑平坦的桌面上或玻璃板上，用两块分样板将样品摊成正 方形，然后从样品左右两边铲起样品约IOcm高，对准中心同时倒落，再换一个方向同样操 作(中心点不动)，如此反复混合四、五次，将样品摊成等厚的正方形，用分样板在样品上划 两条对角线，分成四个三角形，取出其中两个对顶三角形的样品，剩下的样品再按上述方法 反复分�。敝磷詈笫Ｏ碌牧礁龆远ト切蔚难方咏枋匝芰�(30—50克)为止。分样器法将清洁的分样器放稳，关闭漏斗开关，放好接样斗，将样品从高于漏斗 口约5cm处倒入漏斗，刮平样品，打开漏斗开关，待样品流尽后，轻拍分样器外壳，关闭漏斗 开关，再将两个接样斗内的样品同时倒入漏斗内，继续照上法重复混合两次。以后每次用 一个接样斗内的样品按上述方法继续分样，直至一个接样斗内的样品接近所需试样总量 (30—50克)为止。通过该步骤得到为完整粒的糙米试样及成品大米试样。步骤三称重
按GB/T5519-2008的规定测定单倍千粒重、或数倍千粒重。以谷粒计数器计数、或手工计数或它们相结合的方法得到千粒或数倍千粒糙米及 成品大米后，称重并记录其单位数量颗粒重Wb及Wr，以克为单位，保留到小数点后一位以 上。本步骤的称重也可以根据实际情况取米粒的其他整数倍。该步骤使用的仪器设备有(1)自动数粒仪，(2)天平，分度值O.Olg，(3)表面皿、 分析盘、镊子。步骤四结果计算
根据测得的单位数量颗粒重Wb及Wr，按照公式MDr=Wr/Wb，得到成品大米加工精度MDr 值，保留到小数点后二位以上。实施例2 以本发明方法测定糙米及中间米品加工精度的具体实施步骤 步骤1 分别提取足够重量的糙米及某个第η道糙米中间品。糙米的提取位置在头道碾米机入料口前，糙米中间品的提取位置在相应的第η道 碾米机或抛光机出料口处。步骤2 同实施例1之步骤2。通过该步骤得到为完整粒的糙米试样及糙米中间品试样。步骤3 同实施例1之步骤3。通过该步骤，测得单位数量颗粒重Wb及Wmn，以克为单位。步骤4 结果计算，根据测得的单位数量颗粒重Wb及Wmn，按照公式MDmn=Wmn/Wb， 得到糙米中间品加工精度MDmn值，保留到小数点后二位(或更多位)。下表1为利用本发明方法的在大米加工流程中进行出米加工精度检验的数据表。原料品种优质籼稻谷一丰两优6号，试验地点安徽桐城青草香米业集团大米 厂。样品1及样品2的糙米以及成品米均为千粒重(单位克)。成品经现有直接比较法检验为合格的一级籼米。从表1中可以看出，由一机出米到四机出米，加工精度MD值逐渐降 低，出米实际加工精度逐渐升高，符合实际情况。最终成品大米加工精度MDr值为0. 8597， 相当于去除了 10%左右的杂质，属于较高的加工精度，与现有直接比较法的检验结论基本 一致。样品1和样品2的MD值基本一致，证明了该本发明方法的稳定性。
利用本发明测定糙米加工中间品的加工精度，可以进一步地研究糙米与成品出米率相 互之间的量化关联性，在生产管理系统中得到成品出米率值，并记录。以单位时间(小时、或 班、或天等)建立相关数据库，用统计学、函数、图表等方法，研究出二者之间的量化关联性。本说明书中未特别说明的仪器、器具(如前述抛光机、碎米分离器、谷粒计数器等) 为本领域的公知技术。
权利要求
一种大米加工精度的检测方法，其特征在于检测步骤如下(1)、米粒取样对加工前米粒以及加工后米粒的取样；(2)、取样米粒的整理剔除取样米粒中的杂质以及不完整米粒；(3)、取样米粒的称重称取单位数量的加工前取样米粒的重量以及加工后取样米粒的重量；(4)、大米加工精度的计算，计算公式如下 MDr=Wr/Wb式中MDr—加工后米粒的加工精度；Wb—单位数量的加工前取样米粒的重量；Wr—单位数量的加工后取样米粒的重量。
2.按照权利要求1所述大米加工精度的检测方法，其特征在于所述加工前米粒为糙 米，加工后米粒为半成品米。
全文摘要
本发明公开了一种大米加工精度的检测方法，属于大米加工技术领域，主要采用如下步骤(1)米粒取样对加工前米粒以及加工后米粒的取样；(2)取样米粒的整理剔除取样米粒中的杂质以及不完整米粒；(3)取样米粒的称重称取单位数量的加工前取样米粒的重量以及加工后取样米粒的重量；(4)大米加工精度的计算，计算公式如下MDr=Wr/Wb，式中MDr—加工后米粒的加工精度；Wb—单位数量的加工前取样米粒的重量；Wr—单位数量的加工后取样米粒的重量。本发明的技术效果在于检验步骤简单明确，可以通过量化的数值来反映大米的加工精度，有利于生产管理及研究。
文档编号G01N5/04GK101915712SQ201010255140
公开日2010年12月15日 申请日期2010年8月17日 优先权日2010年8月17日
发明者华钦, 方辉, 赵永进, 邓小春, 韩赟, 黄海军 申请人:国家粮食储备局无锡科学研究设计院
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