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专利名称：一种分光分色设备的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及检测设备，尤其是用于LED的分光分色设备。
背景技术：
随着中国逐渐成为世界的LED封装加工中心及LED应用领域对LED分光分色质量的不断提高；全自动的LED分光分色测试分选设备已逐渐成为LED封装生产线的必备设备。 目前LED的分光分色设备中一般包括一个光学探测头和一个色度学探测头，测量时，光学探测头用于测量LED的光强等光学特性，而色度学探测头则用于测量LED的色温、色品坐标等色度学参数。而LED由于在生产制造过程中导致的荧光粉分布不均勻等原因，导致LED左右发光区域光色不一致，即为LED制造过程中出现的阴阳色问题，这种有阴阳色问题的LED 光源，属于不良品，但在分光分色过程中单个色度学探头并不能检测出其差异，流入应用领域后，降低了照明质量。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种分光分色设备，多点测量，测量出LED 不同发光方向上的色品坐标，多点参数对比，剔除有阴阳色问题的不良品，保证LED的质量。为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案之一是一种分光分色设备用探测部分，包括支架、探测头、探测平台，所述探测头包括光学探测头和色度学探测头；所述支架上设有一个光学探测头和若干色度学探测头，形成色度学参数的多点测量作为改进，所述支架由横向弧形杆和纵向弧形杆相交而成，所述弧形杆的圆心位于探测平台固定LED光源处。作为改进，所述光学探测头设置在横向弧形杆与纵向弧形杆的相交点处，色度学探测头分布在光学探测头的四周。为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案之二是一种分光分色设备的探测部分，包括支架、探测头、探测平台，所述探测头包括光学探测头和色度学探测头；所述支架上设有一个光学探测头和一个色度学探测头，所述支架上设有供探测头滑动的轨道，所述色度学探测头与所述轨道滑动连接，形成多点测量机构。作为改进，所述支架由横向弧形杆和纵向弧形杆相交而成，所述弧形杆的圆心位于探测平台固定LED光源处。作为改进，所述光学探测头固定设置在横向弧形杆与纵向弧形杆的相交点处，色度学探测头分布在光学探测头的四周。作为改进，所述横向弧形杆和纵向弧形杆上均设有若干探测节点，每个探测节点代表一个探测位置，探测时，探测头滑动至探测节点处，然后固定，即可进行探测。为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案之三是一种分光分色设备的探测部分，包括支架、探测头、探测平台，所述探测头包括光学探测头和色度学探测头；所述支架上设 有一个光学探测头和一个色度学探测头，所述探测平台下设有供探测平台滑动的轨道，所述探测平台与轨道滑动连接，形成多点测量机构。作为改进，轨道由横向弧形轨道和纵向弧形轨道相交而成，所述弧轨道的圆心位于探测平台光源固定处。本实用新型与现有技术相比所带来的有益效果是探测部分的探测头或探测平台采用滑动连接方式，可以形成多点测量，测量出LED 不同发光方向上的色品坐标，多点参数对比，剔除有阴阳色问题的不良品，保证LED的质量。

图1为实施例1探测部分结构示意图。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本实用新型作进一步说明。实施例1如图1所示，一种分光分色设备，其探测部分包括支架、探测头、用于承载被测LED 的探测平台6，所述探测头包括光学探测头1和色度学探测头2。所述支架由横向弧形杆3 和纵向弧形杆4相交而成，所述弧形杆3、4的圆心位于探测平台固定芯片5处。所述支架上设有一个光学探测头1和四个色度学探测头2，所述光学探测头1设置在横向弧形杆3与纵向弧形杆4的相交点处，色度学探测头2分布在光学探测头1的四周，形成多点测量机构。 色度学探测头2在不同方向测量LED芯片5发出来的光的颜色，然后输入分析仪器进行综合分析，得出LED的综合颜色，该种多点测量的方式，测量的精确度更高。实施例2一种分光分色设备，其探测部分包括支架、探测头、用于承载被测LED的探测平台，所述探测头包括一个光学探测头和一个色度学探测头。所述支架由横向弧形杆和纵向弧形杆相交而成，所述弧形杆的圆心位于探测平台固定芯片处。所述光学探测头固定设置在横向弧形杆与纵向弧形杆的相交点处，色度学探测头分布在光学探测头的四周。所述支架上设有供探测头滑动的轨道，所述色度学探测头与所述轨道滑动连接，所述横向弧形杆和纵向弧形杆上均设有若干探测节点，每个探测节点代表一个探测位置，探测时，色度学探测头可滑动至各个探测节点处，然后固定，即可进行探测，形成多点测量机构，该种多点测量的方式，测量的精确度更高。实施例3一种分光分色设备用探测机构，包括支架、探测头用于承载被测LED的探测平台， 所述探测头包括光学探测头和色度学探测头。所述支架上设有一个光学探测头和一个色度学探测头，所述探测平台下设有供探测平台滑动的轨道，所述探测平台与轨道滑动连接， 轨道由横向弧形轨道和纵向弧形轨道相交而成，所述弧轨道的圆心位于探测平台光源固定处，探测平台采用滑动连接方式，可以形成多点测量，有助于提高测量的精度。
权利要求1.一种分光分色设备，其探测部分包括支架、探测头、探测平台，所述探测头包括光学探测头和色度学探测头；其特征在于所述支架上设有一个光学探测头和若干色度学探测头，形成多点测试。
2.根据权利要求1所述的一种分光分色设备，其特征在于所述支架由横向弧形杆和纵向弧形杆相交而成，所述弧形杆的圆心位于探测平台固定LED光源处。
3.根据权利要求2所述的一种分光分色设备，其特征在于所述探测部分的光学探测头设置在横向弧形杆与纵向弧形杆的相交点处，色度学探测头分布在光学探测头的四周。
4.一种分光分色设备，其探测部分包括支架、探测头、探测平台，所述探测头包括光学探测头和色度学探测头；其特征在于所述支架上设有一个光学探测头和一个色度学探测头，所述支架上设有供探测头滑动的轨道，所述色度学探测头与所述轨道滑动连接，形成多点测试。
5.根据权利要求4所述的一种分光分色设备，其特征在于所述探测部分的支架由横向弧形杆和纵向弧形杆相交而成，所述弧形杆的圆心位于探测平台固定LED光源处。
6.根据权利要求5所述的一种分光分色设备，其特征在于所述探测部分的光学探测头固定设置在横向弧形杆与纵向弧形杆的相交点处，色度学探测头分布在光学探测头的四周。
7.根据权利要求6所述的一种分光分色设备，其特征在于所述横向弧形杆和纵向弧形杆上均设有若干探测节点。
8.一种分光分色设备，其探测部分包括支架、探测头、探测平台，所述探测头包括光学探测头和色度学探测头；其特征在于所述支架上设有一个光学探测头和一个色度学探测头，所述探测平台下设有供探测平台滑动的轨道，所述探测平台与轨道滑动连接，形成多点测试。
9.根据权利要求8所述的一种分光分色设备，其特征在于轨道由横向弧形轨道和纵向弧形轨道相交而成，所述弧轨道的圆心位于探测平台光源固定处。
专利摘要一种分光分色设备的探测部分，包括支架、探测头、探测平台，所述探测头包括光学探测头和色度学探测头。所述探测头或探测平台采用滑动连接方式，可以形成多点测试，有助于辨别有阴阳色问题的LED不良品，使分光分色结果更准确。
文档编号G01M11/02GK202075116SQ20112017424
公开日2011年12月14日 申请日期2011年5月27日 优先权日2011年5月27日
发明者彭学斌, 李国平, 李泽锋, 洪琴 申请人:广州市鸿利光电股份有限公司